FR2841991A1 - Dispositif permettant de tester des circuits de type electronique, comme des puces electroniques, regulierement repartis sur une bande continue - Google Patents
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Abstract
La présente invention concerne les dispositifs permettant de tester des circuits électroniques 1 répartis suivant un pas P sur une bande 2.Le dispositif selon l'invention se caractérise essentiellement par le fait qu'il comporte un tambour 10, des moyens 11 pour animer le tambour 10 en rotation, des connecteurs 14 ayant X broches de connexion 15 situés à la périphérie 13 du tambour 10 suivant le même pas P, des moyens 20 pour maintenir la bande 2 en boucle 22 sur une partie 21 de la périphérie 13 du tambour 10 de façon, d'une part que la bande 2 soit entraînée en translation à la vitesse linéaire V en continu et en même temps que tourne le tambour 10, et d'autre part que les X bornes de sortie 3 de chacun des circuits électroniques 1 soient en contact électrique avec les X broches 15 d'un connecteur 14, et des moyens 30 pour tester les circuits électroniques 1.Application, notamment, aux dispositifs pour tester des puces électroniques pour les cartes à puce.
Description
DISPOSITIF PERMETTANT DE TESTER DES CIRCUITS
DE TYPE ELECTRONIQUE, COMME DES PUCES ELECTRONIQUES,
REGULIEREMENT REPARTIS SUR UNE BANDE CONTINUE
La présente invention concerne les dispositifs permettant de tester des circuits de type électronique, comme des puces électroniques, qui sont
régulièrement répartis sur une bande continue relativement souple.
Il existe actuellement des systèmes électroniques connus sous le terme de "cartes à puce" qui trouvent des applications dans de nombreux domaines. Il est donc devenu nécessaire de produire de grandes quantités de telles puces et de les tester avant de les utiliser pour réaliser les systèmes électroniques dont elles
sont les éléments essentiels et vitaux.
Il est bien évident que, étant donné la quantité de puces électroniques produites, il est impossible de les tester, par exemple de façon manuelle. Aussi,
a-t-il été réalisé des dispositifs pour tester de façon automatique de telles puces.
Cependant, les dispositifs de ce type connus actuellement sont, ou très complexes et onéreux, ou d'une réalisation simple et donc moins onéreuse, mais ne permettent pas alors de tester un nombre important de puces par unité de temps. La présente invention a donc pour but de réaliser un dispositif permettant de tester des circuits de type électronique, comme des puces électroniques, régulièrement répartis sur une bande continue relativement souple, qui pallie en grande partie les inconvénients des dispositifs connus de l'art antérieur dans le domaine. Plus précisément, la présente invention a pour objet un dispositif permettant de tester des circuits de type électronique comportant un nombre X de bornes de sortie, comme des puces électroniques, régulièrement répartis suivant un pas donné P sur une bande continue, caractérisé par le fait qu'il comporte: - un tambour de forme sensiblement cylindrique de révolution, - des moyens pour animer le tambour d'un mouvement de rotation continu autour de son axe de façon que sa périphérie se déplace linéairement à une vitesse donnée V, un nombre N de connecteurs, chaque connecteur ayant un nombre de broches de connexion au moins égal à X, les positions desdites broches de connexion de chaque connecteur étant définies en correspondance spatiale avec celles des bornes de sortie de chaque circuit électronique à tester, lesdits connecteurs étant situés à la périphérie du tambour de façon que leur face de contact portant les broches de connexion affleurent à la périphérie dudit tambour et qu'ils soient en outre répartis à la périphérie du tambour suivant le même pas donné P que les circuits électroniques sur la bande continue, - des moyens pour faire passer et maintenir ladite bande continue en boucle sur une partie de la périphérie du tambour de façon, d'une part que la bande soit entraînée en translation à la vitesse linéaire donnée, en continu et en même temps que tourne ledit tambour, et que d'autre part les X bornes de sortie de chacun des circuits électroniques à tester positionnés sur la portion de bande située sur la partie de périphérie dudit tambour soient respectivement en contact électrique avec les X broches de connexion d'un connecteur, et - des moyens pour tester les circuits électroniques dont les X bornes de sortie sont au contact des X broches de connexion des connecteurs situés sur la
périphérie du tambour.
D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront au cours
de la description suivante donnée en regard des dessins annexés à titre illustratif
mais nullement limitatif, dans lesquels: Les figures 1 et 2 représentent, sous forme schématique, respectivement en vue de côté et en vue de dessus, un mode de réalisation d'un dispositif selon l'invention permettant de tester des circuits du type électronique, comme des
puces électroniques, répartis sur une bande continue relativement souple.
Il est bien précisé que, sur les figures, les mêmes références désignent les mêmes éléments, quelle que soit la figure sur laquelle elles apparaissent et quelle que soit la forme de représentation de ces éléments. De même, si des éléments ne sont pas spécifiquement référencés sur l'une des figures, leurs références
peuvent être aisément retrouvées en se reportant à l'autre figure.
La Demanderesse tient aussi à préciser que les deux figures représentent un mode de réalisation de l'objet selon l'invention, mais qu'il peut exister d'autres
modes de réalisation qui répondent à la définition de cette invention.
Elle précise en outre que, lorsque, selon la définition de l'invention, l'objet de l'invention comporte "au moins un" élément ayant une fonction donnée, le
mode de réalisation décrit peut comporter plusieurs de ces éléments.
Elle précise aussi que, si le mode de réalisation de l'objet selon l'invention tel qu'illustré comporte plusieurs éléments de fonction identique et que si, dans la
description, il n'est pas spécifié que l'objet selon cette invention doit
obligatoirement comporter un nombre particulier de ces éléments, l'objet de l'invention pourra être défini comme comportant "au moins un" de ces éléments. Le dispositif dont un mode de réalisation est schématiquement illustré sur les figures permet de tester des circuits 1 de type électronique comportant un nombre X de bornes de sortie 3, comme des puces électroniques, régulièrement
répartis suivant un pas donné P sur une bande continue 2 relativement souple.
Ce dispositif comporte un tambour 10 de forme sensiblement cylindrique de révolution et des moyens 11 pour animer le tambour 10 d'un mouvement de rotation continu autour de son axe 12 de façon que sa périphérie 13 se déplace linéairement à une vitesse donnée V. Ces moyens 11 peuvent être constitués par un moteur de type électrique, le tambour étant solidaire de l'arbre de sortie de ce moteur de façon que l'axe 12 du tambour et l'axe de l'arbre du moteur soient confondus. En outre, le moteur est choisi d'un type permettant à son arbre d'avoir une vitesse de rotation constante. De tels moteurs sont connus en eux-mêmes et ne seront donc pas plus amplement décrits ici. Bien entendu, selon la vitesse de rotation du moteur, l'arbre de ce dernier peut être relié au tambour par un réducteur éventuellement commandable, permettant d'ajuster la vitesse de
rotation du tambour à la vitesse donnée V souhaitée.
Le dispositif comporte en outre un nombre N de connecteurs 14, chaque connecteur ayant un nombre de broches de connexion 15 au moins égal à X. Les positions des broches de connexion de chaque connecteur sont définies en correspondance spatiale avec celles des bornes de sortie 3 de chaque circuit électronique 1 à tester, de façon que les connecteurs puissent s'appliquer sur les circuits électroniques à tester, avec leurs broches de connexion respectivement
au contact électrique des bornes de sortie 3 des circuits à tester.
De plus, les connecteurs 14 sont situés à la périphérie 13 du tambour 10 de façon que leur face de contact 16 portant les broches de connexion 15 affleurent à la périphérie du tambour et qu'ils soient en outre répartis à cette périphérie suivant le même pas donné P que les circuits électroniques 1 sur la
bande continue 2.
Sont en outre prévus des moyens 20 pour faire passer et maintenir la bande continue 2 en boucle 22 sur une partie 21 de la périphérie 13 du tambour de façon, d'une part que la bande 2 soit entraînée en translation à la vitesse donnée V, en continu et en même temps que tourne le tambour 10, et que d'autre part les X bornes de sortie 3 de chacun des circuits électroniques 1 à tester positionnés sur la portion de bande en forme de boucle située sur la partie 21 de périphérie 13 du tambour 10 soient respectivement en contact électrique avec les
X broches de connexion 15 d'un connecteur 14.
Ces moyens 20 pour faire passer et maintenir la bande continue 2 en boucle sur une partie 21 de la périphérie 13 du tambour 10 peuvent être constitués de différentes façons. Comme illustré sur les figures, ils peuvent comporter des moyens pour plaquer la bande contre la partie 21 de la périphérie 13 du tambour, par exemple des presseurs 32 montés en coopération avec le tambour 10. Ces presseurs 32 ont été représentés schématiquement et relativement éloignés du tambour 10 mais, dans une autre configuration possible, ils peuvent être au contact de la périphérie du tambour sous l'action de ressorts de pression, la bande 2 passant alors entre ces presseurs et la périphérie du tambour. Il est aussi possible que la périphérie 13 du tambour 10 comporte des picots ou analogues aptes à coopérer avec des orifices réalisés dans la bande 2,
de la même façon que les films cinématographiques.
Ces moyens 20 peuvent comporter aussi des moyens pour exercer une
traction sur la bande 2 de façon qu'elle se translate à la vitesse V définie ci-avant.
Ces moyens n'ont pas été illustrés dans l'unique de souci de simplifier les dessins, mais peuvent par exemple être constitués d'une bobine réceptrice sur laquelle s'enroule la bande 2 après son passage sur la périphérie du tambour, la bobine réceptrice étant entraînée en rotation au moyen d'un moteur qui, dans une réalisation avantageuse, peut être constitué par le même moteur que celui qui entraîne le tambour en rotation. Cette dernière réalisation permet d'obtenir plus aisément la synchronisation entre le défilement de la bande 2 et la rotation du
tambour 10.
Le dispositif peut éventuellement comporter en outre des moyens pour tendre la bande 2 de façon qu'il n'y ait pas de glissement de cette bande sur la partie 21 de la périphérie 13 du tambour 10. Ces moyens sont par exemple constitués d'un tendeur comportant, de façon connue, un bras de levier pivotant terminé par un galet monté en coopération avec la bande et un ressort agissant
sur le bras de levier.
Le dispositif comporte en outre des moyens 30 pour tester les circuits électroniques 1 dont les X bornes de sortie 3 sont au contact des X broches de
connexion 15 des connecteurs situés sur la périphérie 13 du tambour 10.
Ces moyens 30 sont avantageusement constitués par au moins un testeur électronique 40 dont les entrées 42 sont reliées à au moins un connecteur 14. De façon avantageuse, ce testeur électronique est intégré dans le tambour et tourne
en même temps que lui.
Si, comme dans le mode de réalisation illustré, le dispositif comporte autant de testeurs électroniques 40 que de connecteurs 14, les entrées 42 de chaque testeur électronique 40 sont reliées à un connecteur. Cette réalisation présente l'avantage de pouvoir obtenir une boucle de la bande sur la périphérie du tambour présentant un angle au centre important, par exemple 2700, et de permettre à un
nombre important de circuits d'être testé dans un temps donné.
Dans ce cas, avec le mode de réalisation illustré, huit circuits électroniques à tester 1 pourraient, à un instant donné, être reliés à huit testeurs électroniques 40. La boucle 22 telle que représentée ne permet, elle, que la coopération entre
cinq circuits à tester et cinq testeurs.
Cependant, comme, dans la pratique, ces testeurs électroniques ont un prix de revient relativement élevé, il est possible, dans un autre mode de réalisation, de réaliser un tambour avec un nombre pair de connecteurs 14 et un nombre de testeurs électroniques 40 égal à la moitié du nombre de connecteurs 14, les entrées 42 de chaque testeur électronique 40 étant reliées en parallèle à deux connecteurs 14 situés en deux endroits diamétralement opposés sur la périphérie 13 du tambour 10, la partie 21 de la périphérie 13 du tambour 10 comportant la moitié du nombre pair des connecteurs situés sur toute la périphérie du tambour. Dans ce cas, la boucle 22 que fait la bande 2 sur la partie
21 de la périphérie du tambour présente un angle au centre inférieur à 1800.
Ainsi, en se reportant à l'exemple illustré sur les figures, il y aurait, à un instant donné, un maximum de quatre circuits, parmi les huit à tester, reliés aux
quatre testeurs.
Dans la pratique, les tests qui doivent être effectués sur les circuits électroniques, comme les puces électroniques, ne sont pas instantanés et demandent un certain temps T. En conséquence, la longueur de la portion 22 de bande 2 qui est en contact avec la partie 21 de la périphérie 13 du tambour 10, est déterminée de façon qu'elle soit au moins égale à L = T x V. De ce fait, le rayon R du tambour 10
est déterminé de façon qu'il soit au moins égal à _27r.
Le dispositif peut comporter en outre un organe de traitement des signaux aptes à être délivrés par chaque testeur électronique 40 et des moyens de couplage de la sortie de chaque testeur électronique 40 avec cet organe de traitement. Un tel organe de traitement peut par exemple être constitué par un microprocesseur couplé à des enregistreurs, afficheurs, mémoires, etc. de façon que les résultats des tests effectués sur les circuits électroniques 1 puissent être
ultérieurement exploités par les utilisateurs de ces circuits.
Quant aux moyens de couplage de la sortie de chaque testeur électronique avec l'organe de traitement, ils peuvent être constitués de différentes façons, par exemple par l'un des moyens suivants: système de télétransmission, système de connexion à contacts tournants, etc. L'organe de traitement et les moyens de couplage n'ont pas été illustrés et
ne seront pas plus amplement décrits, car ils sont bien connus en euxmêmes.
Le dispositif décrit ci-dessus fonctionne et s'utilise de la façon suivante: Le début de la bande 2 est tout d'abord monté en coopération avec les presseurs 32 et le tambour 10 de façon qu'il forme, comme illustré sur la figure 1, une boucle 22 sur la partie 21 de périphérie 13 du tambour et que les bornes de sortie 3 d'un circuit électronique à tester 1 viennent au contact électrique des
broches de connexion 15 d'un connecteur 14.
Le tambour est alors entraîné en rotation et la bande est translatée en
synchronisme, comme explicité ci-avant.
Comme les connecteurs 14 sont espacés, sur la périphérie du tambour, du même pas P que les circuits électroniques 1 sur la bande 2, les circuits électroniques suivants viennent automatiquement se positionner sur les
connecteurs, au fur et à mesure que tourne le tambour et avance la bande.
Comme mentionné ci-avant, chaque circuit à tester demeure au contact d'un connecteur, et donc en relation avec un testeur, pendant le temps que met un connecteur pour parcourir la longueur L de la boucle 22 définie ciavant, et
donc au moins le temps T nécessaire pour le tester.
A la description ci-dessus, il apparaît à l'évidence que le dispositif permet,
de façon très simple, de tester en continu des circuits électroniques disposés sur
une bande relativement souple.
REVE NDICATI ON S
1. Dispositif permettant de tester des circuits (1) de type électronique comportant un nombre X de bornes de sortie (3), comme des puces électroniques, régulièrement répartis suivant un pas donné P sur une bande continue (2), caractérisé par le fait qu'il comporte: - un tambour (10) de forme sensiblement cylindrique de révolution, - des moyens (11) pour animer le tambour (10) d'un mouvement de rotation continu autour de son axe (12) de façon que sa périphérie (13) se déplace linéairement à une vitesse donnée V, - un nombre N de connecteurs (14), chaque connecteur ayant un nombre de broches de connexion (15) au moins égal à X, les positions desdites broches de connexion de chaque connecteur étant définies en correspondance spatiale avec celles des bornes de sortie (3) de chaque circuit électronique (1) à tester, lesdits connecteurs (14) étant situés à la périphérie (13) du tambour (10) de façon que leur face de contact (16) portant les broches de connexion (15) affleurent à la périphérie dudit tambour et qu'ils soient en outre répartis à la périphérie du tambour suivant le même pas donné P que les circuits électroniques (1) sur la bande continue (2), - des moyens (20) pour faire passer et maintenir ladite bande continue (2) en boucle sur une partie (21) de la périphérie (13) dudit tambour (10) de façon, d'une part que la bande (2) soit entraînée en translation à ladite vitesse linéaire donnée, en continu et en même temps que tourne ledit tambour (10), et que d'autre part les X bornes de sortie (3) de chacun des circuits électroniques à tester (1) positionnés sur la portion de bande (22) située sur la partie (21) de périphérie (13) dudit tambour (10) soient respectivement en contact électrique avec les X broches de connexion (15) d'un connecteur (14), et - des moyens (30) pour tester les circuits électroniques (1) dont les X bornes de sortie (3) sont au contact des X broches de connexion (15) des
connecteurs situés sur la périphérie (13) du tambour (10).
2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé par le fait que les moyens (20) pour faire passer et maintenir ladite bande continue (2) en boucle sur une partie (21) de la périphérie (13) dudit tambour (10), comportent des moyens pour
plaquer ladite bande contre la partie de la périphérie du tambour.
3. Dispositif selon la revendication 2, caractérisé par le fait que lesdits moyens pour plaquer ladite bande contre la périphérie (13) du tambour (10) sont
constitués par des presseurs (32) montés en coopération avec ledit tambour (10).
4. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé par le fait que
les moyens (30) pour tester les circuits électroniques (1) dont les X bornes de sortie (3) sont au contact électrique des X broches de connexion (15) des connecteurs situés sur la périphérie (13) du tambour (10), sont constitués par au moins un testeur électronique (40) dont les entrées (42) sont reliées à au moins
un connecteur (14).
5. Dispositif selon la revendication 4, caractérisé par le fait qu'il comporte autant de testeurs électroniques (40) que de connecteurs (14), les entrées (42) de
chaque testeur électronique (40) étant reliées à un connecteur (14).
6. Dispositif selon la revendication 4, caractérisé par le fait qu'il comporte un nombre de testeurs électroniques (40) égal à la moitié du nombre de connecteurs (14), ces connecteurs étant en nombre pair sur ledit tambour (10), les entrées (42) de chaque testeur électronique (40) étant reliées en parallèle à deux connecteurs (14) situés en deux endroits diamétralement opposés sur la périphérie (13) dudit tambour (10), la partie (21) de la périphérie (13) dudit tambour (10) comportant la moitié du nombre pair des connecteurs situés sur
toute la périphérie du tambour.
7. Dispositif selon l'une des revendications 1 à 6, caractérisé par le fait
que la longueur de la portion (22) de bande (2) qui est en contact avec la partie (21) de la périphérie (13) du tambour (10), est déterminée de façon que, si T est le temps nécessaire pour tester un circuit électronique, cette longueur soit égale à la valeur L = T x V, le rayon R du tambour (10) étant déterminé de façon qu'il soit
au moins égal à L/27z.
8. Dispositif selon l'une des revendications 5 ou 6, caractérisé par le fait
qu'il comporte en outre un organe de traitement des signaux aptes à être délivrés par chaque testeur électronique (40) et des moyens de couplage de la sortie de
chaque testeur électronique (40) avec ledit organe de traitement.
9. Dispositif selon la revendication 8, caractérisé par le fait que les moyens de couplage de la sortie de chaque testeur électronique (40) avec ledit organe de traitement sont constitués par au moins l'un des moyens suivants: système de
télétransmission, système de connexion à contacts tournants.
10. Dispositif selon l'une des revendications précédentes, caractérisé par le
fait qu'il comporte des moyens pour tendre ladite bande (2) de façon qu'il n'y ait pas de glissement de cette bande (2) sur la partie (21) de la périphérie (13) du
tambour (10).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR0209252A FR2841991B1 (fr) | 2002-07-06 | 2002-07-06 | Dispositif permettant de tester des circuits de type electronique, comme des puces electroniques, regulierement repartis sur une bande continue |
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| FR0209252A FR2841991B1 (fr) | 2002-07-06 | 2002-07-06 | Dispositif permettant de tester des circuits de type electronique, comme des puces electroniques, regulierement repartis sur une bande continue |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2841991A1 true FR2841991A1 (fr) | 2004-01-09 |
| FR2841991B1 FR2841991B1 (fr) | 2004-08-27 |
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Country Status (1)
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|---|---|
| FR (1) | FR2841991B1 (fr) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4416755A1 (de) * | 1994-05-13 | 1995-11-30 | Pematech Gmbh | Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten o. dgl. Prüflingen mittels eines Wechselsatzes |
-
2002
- 2002-07-06 FR FR0209252A patent/FR2841991B1/fr not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4416755A1 (de) * | 1994-05-13 | 1995-11-30 | Pematech Gmbh | Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten o. dgl. Prüflingen mittels eines Wechselsatzes |
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| FR2841991B1 (fr) | 2004-08-27 |
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Effective date: 20120330 |