FR2740720A1 - MOLD ASSEMBLY FOR PROTECTIVE BODY OF SEMICONDUCTOR PASTILATE HOUSING - Google Patents
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Abstract
L'invention concerne un ensemble de moules de boîtier de pastille semi-conductrice. Elle se rapporte à un ensemble comprenant deux châssis supérieur et inférieur (90a, 90b) ayant chacun une cavité de moulage, deux plateaux supérieur et inférieur (80a, 80b), une broche (4) à marque d'identification et une broche supérieure (9) d'éjection fixées au plateau supérieur (80a), et une première et une seconde broche inférieures (8) d'éjection fixées au plateau inférieur (80b). Une broche centrale inférieure (13) d'éjection est placée entre la première et la seconde broche inférieure (8) d'éjection, la broche centrale inférieure (13) d'éjection étant fixée au plateau inférieur (80b) et dépassant vers la cavité. Application à la fabrication des composants à semi-conducteur.A semiconductor wafer package mold assembly is disclosed. It relates to an assembly comprising two upper and lower frames (90a, 90b) each having a mold cavity, two upper and lower plates (80a, 80b), a pin (4) with an identification mark and an upper pin ( 9) ejection attached to the upper plate (80a), and a first and a second lower ejection pin (8) attached to the lower plate (80b). A lower center eject pin (13) is placed between the first and second lower eject pin (8), the lower center eject pin (13) being fixed to the lower plate (80b) and protruding towards the cavity . Application to the manufacture of semiconductor components.
Description
La présente invention concerne de façon générale un ensemble de moulesThe present invention relates generally to a set of molds
destiné à former un corps de boîtier intended to form a housing body
protecteur d'une pastille semi-conductrice. Plus précisé- protector of a semiconductor chip. More precise-
ment, elle concerne un ensemble de moules qui peut être utilisé dans un procédé de moulage par transfert et qui comprend des broches centrales d'éjection destinées à réduire la contrainte de moulage appliquée à la pastille semi-conductrice et à empêcher la formation de fissures dans it relates to a set of molds which can be used in a transfer molding process and which includes central ejection pins for reducing the molding stress applied to the semiconductor wafer and preventing the formation of cracks in the
la pastille et le corps du boîtier. the pellet and the body of the case.
Un boîtier de pastille semi-conductrice est non seule- A semiconductor chip package is not only
ment destiné à former un corps protecteur assurant le fonc- intended to form a protective body ensuring the func-
tionnement et la fiabilité d'un dispositif à circuit intégré, mais est en outre un dispositif d'interconnexion électrique du dispositif à circuit intégré avec un système électronique externe. La technique de moulage de matière plastique, notamment des matières thermodurcissables et thermoplastiques, dans le corps protecteur, présente des avantages de faible coût et de production en série, mais avec une mauvaise fiabilité comparée à celle que donne la and an integrated circuit device, but is also an electrical interconnection device of the integrated circuit device with an external electronic system. The molding technique of plastic material, in particular thermosetting and thermoplastic materials, in the protective body, has advantages of low cost and mass production, but with a poor reliability compared to that which gives the
technologie du conditionnement céramique. ceramic packaging technology.
Le procédé de moulage par transfert est très utilisé The transfer molding process is widely used
pour la formation d'un corps de boîtier de matière plas- for forming a plastic case body
tique. Le procédé commence par l'injection d'une composition liquide et chaude de moulage provenant d'un réservoir dans un certain nombre de cavités dans lesquelles est placé un ensemble formant une bande de cadres à fils de connexion et de pastilles semi-conductrices, et il se termine par l'éjection de la partie terminée. Un ensemble de moules peut être divisé en deux parties, un moule supérieur et un moule inférieur. Les moules supérieur et inférieur sont ouverts lorsque l'ensemble de la bande formée par les cadres à fils de connexion et les pastilles semiconductrices est mis en place et pendant l'étape d'éjection, et ils sont fermés pour tick. The method begins by injecting a liquid and hot molding composition from a reservoir into a number of cavities in which is placed a set of wire frame frames and semiconductor wafers, and it ends with the ejection of the completed part. A set of molds can be divided into two parts, an upper mold and a lower mold. The upper and lower molds are open when the entire web formed by the lead wire frames and the semiconductor wafers is put in place and during the ejection step, and they are closed for
l'injection de la composition de moulage dans les cavités. injecting the molding composition into the cavities.
La réalisation des moules supérieur et inférieur est primor- The realization of the upper and lower molds is
diale pour le rendement de montage et la fiabilité du for the mounting performance and reliability of the
produit conditionné.conditioned product.
La figure lA est une coupe indiquant que les moules supérieur et inférieur sont ouverts et qu'un ensemble à FIG. 1A is a section showing that the upper and lower molds are open and that a set of
bande de cadres à fils de connexion et à pastilles semi- semiconductor wired and semi-wired frame band
conductrices est mis en place, alors que la figure lB indique que les moules supérieur et inférieur sont fermés et qu'une composition de moulage est injectée dans une cavité, et la figure 1C représente une étape d'éjection du composant moulé en dehors de la cavité. Le moule supérieur 100 et le 1B indicates that the upper and lower molds are closed and a molding composition is injected into a cavity, and FIG. 1C represents a step of ejecting the molded component out of the cavity. cavity. The upper mold 100 and the
moule inférieur 102 ont deux châssis 90 et des plateaux 80. lower mold 102 have two chassis 90 and trays 80.
Les plateaux 80 sont des blocs massifs d'acier boulonnés aux parties supérieure et inférieure d'une presse de moulage (non représentée). Le plateau inférieur 80b comprend un plateau menant lb et un plateau 2b à broches d'éjection, et deux broches inférieures 8 d'éjection sont fixées au plateau 2b. Les broches inférieures 8 d'éjection sont destinées à pousser la pièce moulée en dehors de la cavité 6. Le plateau menant lb est chauffé, de même que le châssis 90, afin qu'une température de moulage reste constante. Le plateau supérieur 80a comporte aussi, comme le plateau inférieur The trays 80 are solid blocks of steel bolted to the upper and lower portions of a molding press (not shown). The lower plate 80b comprises a driving plate 1b and a plate 2b with ejection pins, and two lower ejection pins 8 are fixed to the plate 2b. The lower ejection pins 8 are intended to push the molded part out of the cavity 6. The driving plate 1b is heated, as is the frame 90, so that a molding temperature remains constant. The upper plate 80a also has, like the lower plate
80b, un plateau menant la et un plateau 2a à broches d'éjec- 80b, a plate leading to and a plate 2a with ejector pins
tion. Cependant, une broche 4 de marquage d'identification et une broche supérieure 9 d'éjection sont fixées au plateau 2a. Les plateaux sont destinés à encaisser une pression telle que la force de serrage appliquée par la presse peut tion. However, an identification marking pin 4 and an upper ejection pin 9 are attached to the tray 2a. The trays are intended to accommodate a pressure such that the clamping force applied by the press can
atteindre plusieurs dizaines de milliers de newtons. to reach tens of thousands of newtons.
Les châssis 90 sont en réalité en contact avec la composition de moulage et lui donnent sa forme. Les châssis comprennent deux parties 90a et 90b, ayant chacune des boîtiers 3a et 3b et des barres 5a et 5b formant des cavités. La composition liquide et chaude de moulage est injectée dans la cavité 6 par un jet de coulée et un orifice (non représenté) formé dans les barres 5a et 5b et l'air contenu dans la cavité est chassé par des trous de ventilation (non représentés) qui sont aussi formés dans les The frames 90 are actually in contact with the molding composition and give it its shape. The frames comprise two parts 90a and 90b, each having housings 3a and 3b and bars 5a and 5b forming cavities. The liquid and hot molding composition is injected into the cavity 6 by a pouring jet and an orifice (not shown) formed in the bars 5a and 5b and the air contained in the cavity is driven by ventilation holes (not shown ) who are also trained in
barres.bars.
Lorsque le moule supérieur 100 et le moule inférieur 102 sont ouverts comme indiqué sur la figure 1C, un ensemble comprenant une pastille semiconductrice 10 et une bande 7 à cadre à fils de connexion est aligné et positionné dans la cavité 6. La pastille 10 est interconnectée électriquement au cadre par un fil de liaison 11. Lorsque les moules supérieur et inférieur sont fermés comme indiqué sur la figure lB, une composition de moulage 104 est injectée dans When the upper mold 100 and the lower mold 102 are opened as shown in FIG. 1C, an assembly comprising a semiconductor chip 10 and a wire-frame strip 7 is aligned and positioned in the cavity 6. The chip 10 is interconnected electrically to the frame by a wire 11. When the upper and lower molds are closed as shown in Fig. 1B, a molding composition 104 is injected into
la cavité 6 par un jet de coulée et l'orifice d'introduc- the cavity 6 by a casting jet and the introduction opening
tion. Comme la composition de moulage a des propriétés adhésives qui accroissent sa liaison à elle-même et à la pastille 10 et au cadre 7, elle colle aussi à la surface des barres supérieure et inférieure 5a et 5b donnant la forme de la cavité 6. En conséquence, des broches supplémentaires 4, 8 et 9 d'éjection doivent être utilisées pour la séparation de la pièce moulée de la cavité. L'étape d'éjection est réalisée de la manière suivante. D'abord, après l'injection de la composition de moulage, le plateau supérieur 80a et le tion. Since the molding composition has adhesive properties that increase its bond to itself and to the wafer 10 and to the frame 7, it also adheres to the surface of the upper and lower bars 5a and 5b giving the shape of the cavity 6. Accordingly, additional ejection pins 4, 8 and 9 must be used for separation of the molded part from the cavity. The ejection step is performed as follows. First, after injection of the molding composition, the upper plate 80a and the
châssis supérieur 90a se déplacent vers le haut et, simulta- upper frame 90a move upwards and simultaneously
nément, la broche 8 formant une marque d'identification et la broche 9 d'éjection supérieure poussent le corps 104 du boîtier moulé. Ensuite, Par soulèvement du plateau inférieur b avec le châssis inférieur 90b qui reste fixe, les broches inférieures 8 d'éjection poussent le corps 104 du boîtier et le séparent de la surface de contact de la barre b. La disposition de la broche 4 formant la marque d'identification et de la broche supérieure 9 d'éjection qui dépasse de la barre supérieure 5a apparaît sur la figure 2A, alors que les broches inférieures d'éjection 8 dépassant de la barre inférieure 5b sont placées comme indiqué sur la Incidentally, the pin 8 forming an identification mark and the upper ejection pin 9 push the body 104 of the molded case. Then, by raising the lower platen b with the lower frame 90b which remains fixed, the lower ejection pins 8 push the body 104 of the casing and separate it from the contact surface of the bar b. The arrangement of the pin 4 forming the identification mark and the upper ejection pin 9 protruding from the upper bar 5a appears in FIG. 2A, while the lower ejection pins 8 protruding from the lower bar 5b are placed as shown on the
figure 2B.Figure 2B.
L'ensemble de moules classique ayant la construction décrite précédemment pose certains problèmes dus à la propriété de collage de la composition de moulage à la surface du moule. Bien que la finition de surface de la The conventional mold assembly having the construction described above poses certain problems due to the bonding property of the molding composition on the surface of the mold. Although the surface finish of the
cavité corresponde à du nitrure de titane ou une électro- cavity corresponds to titanium nitride or an electro-
déposition de chrome dur et facilite ainsi l'étape d'éjection, le collage de la composition de moulage à la surface de la cavité ne peut pas être totalement éliminé à deposition of hard chromium and thus facilitates the ejection step, the bonding of the molding composition to the surface of the cavity can not be totally eliminated at
cause des excellentes propriétés d'adhésivité de la composi- because of the excellent adhesive properties of the
tion de moulage. Par ailleurs, le corps de boîtier, juste après moulage, est encore relativement tendre, et une étape supplémentaire de durcissement dans un four est utilisée molding. Moreover, the casing body, just after molding, is still relatively soft, and an additional hardening step in an oven is used
ensuite pour le durcissement du corps du boîtier. En consé- then for hardening the body of the housing. As a result
quence, lorsque les broches inférieures 8 d'éjection sont utilisées afin qu'elles poussent le corps du boîtier vers le haut alors qu'il est encore tendre, ce corps du boîtier Therefore, when the lower ejection pins 8 are used to push the body of the case upwards while it is still soft, this case body
fléchit si bien que le corps et la pastille peuvent présen- flexes so well that the body and the lozenge can present
ter une fissuration. Cette fissuration apparaît dans la direction du bord le plus court dans la région centrale du corps ou de la pastille. La flexion du corps du boîtier peut provoquer une séparation du corps du boîtier et du cadre à fils de connexion ou de la surface inférieure de la pastille. L'invention concerne donc un ensemble à moule de transfert qui permet d'éviter la fissuration du corps du to crack. This cracking occurs in the direction of the shortest edge in the central region of the body or pellet. Bending of the housing body may cause separation of the housing body and the leadframe frame or bottom surface of the pad. The invention therefore relates to a transfer mold assembly which makes it possible to prevent cracking of the body of the
boîtier et d'une pastille semi-conductrice. housing and a semiconductor chip.
Elle concerne un tel ensemble qui permet d'éviter la séparation du corps et de l'ensemble formé par un cadre à It concerns such an assembly that makes it possible to avoid the separation of the body and the assembly formed by a frame to
fils de connexion et une pastille semi-conductrice. connecting wires and a semiconductor chip.
L'invention concerne ainsi un ensemble de moules des- The invention thus relates to a set of molds des-
tiné à former un corps protecteur de boîtier de pastille semiconductrice, l'ensemble de moules comprenant un to form a protective body of semiconductor wafer package, the set of molds comprising a
ensemble de moule supérieur et un ensemble de moule infé- upper mold assembly and a lower mold assembly
rieur, les ensembles de moules supérieur et inférieur comprenant A) deux châssis supérieur et inférieur ayant chacun une cavité dans laquelle une composition chaude et liquide de moulage est injectée et qui donne sa forme au corps protecteur du boîtier, B) deux plateaux supérieur et inférieur destinés à ouvrir et fermer le châssis supérieur de l'ensemble de moule supérieur et le châssis inférieur de l'ensemble de moule inférieur, C) une broche à marque d'identification et une broche supérieure d'éjection fixées au plateau supérieur et dépassant vers la cavité pour l'éjection du corps du boîtier juste après que la composition de moulage a été totalement injectée dans la cavité, et D) une première et une seconde broche inférieures d'éjection fixées au plateau inférieur et dépassant vers la cavité afin qu'elles éjectent le corps du boîtier après que la composition de moulage a été totalement injectée dans la the upper and lower mold assemblies comprising A) two upper and lower frames each having a cavity in which a hot and liquid molding composition is injected and which gives shape to the housing body, B) two upper and lower trays for opening and closing the upper frame of the upper mold assembly and the lower frame of the lower mold assembly; C) an identification pin and an upper ejection pin attached to the upper tray and protruding towards the cavity for ejection of the housing body just after the molding composition has been fully injected into the cavity, and D) a first and a second lower ejection pin attached to the lower tray and protruding towards the cavity so that they eject the body of the housing after the molding composition has been totally injected into the
cavité, dans lequel une broche centrale inférieure d'éjec- cavity, in which a lower center pin of ejection
tion est placée entre la première et la seconde broche inférieure d'éjection, la broche centrale inférieure d'éjection étant fixée au plateau inférieur et dépassant is placed between the first and the second lower ejection pin, the lower central ejection pin being fixed to the lower plate and protruding
vers la cavité.towards the cavity.
D'autres caractéristiques et avantages de l'invention Other features and advantages of the invention
seront mieux compris à la lecture de la description qui va will be better understood by reading the description that will
suivre d'exemples de réalisation, faite en référence aux dessins annexés sur lesquels: la figure 1A est une coupe illustrant des moules supérieur et inférieur classiques qui sont ouverts et un ensemble à pastille semi-conductrice et cadre à fils de connexion placé entre les moules supérieur et inférieur; la figure lB est une coupe représentant des moules follow of embodiments, with reference to the accompanying drawings, in which: FIG. 1A is a section illustrating conventional open top and bottom molds and a semiconductor wafer and connecting wire frame set between the molds; upper and lower; FIG. 1B is a section showing molds
supérieur et inférieur classiques fermés avec une composi- upper and lower class closed with a
tion de moulage injectée dans une cavité; la figure lC est une coupe représentant l'étape classique d'éjection de la pièce moulée hors d'une cavité; la figure 2A est une vue de dessous représentant l'emplacement des broches d'éjection d'un moule supérieur classique; la figure 2B est une vue de dessus représentant l'emplacement des broches d'éjection d'un moule inférieur classique; la figure 3A est une coupe d'un ensemble de moules selon la présente invention; la figure 3B est une vue de dessous du moule supérieur selon l'invention, représentant l'emplacement des broches d'éjection; la figure 3C est une vue de dessus d'un moule inférieur selon l'invention représentant l'emplacement des broches d'éjection; la figure 3D est une vue de dessous du moule inférieur selon l'invention, représentant l'emplacement des broches d'éjection; et la figure 3E est une vue en plan d'un moule inférieur selon l'invention, représentant l'emplacement des broches d'éjection. L'amplitude de flexion d'un corps de boîtier encore tendre est proportionnelle à la force de collage entre une composition de moulage et la surface de la cavité. La raison en est que, lorsque la force de collage est accrue, les broches inférieures d'éjection doivent pousser le corps injection molding injected into a cavity; Figure 1C is a section showing the conventional step of ejecting the molded part out of a cavity; Fig. 2A is a bottom view showing the location of the ejection pins of a conventional upper mold; Figure 2B is a top view showing the location of the ejection pins of a conventional lower mold; Fig. 3A is a section of a set of molds according to the present invention; Figure 3B is a bottom view of the upper mold according to the invention, showing the location of the ejection pins; Figure 3C is a top view of a lower mold according to the invention showing the location of the ejection pins; Figure 3D is a bottom view of the lower mold according to the invention, showing the location of the ejection pins; and Fig. 3E is a plan view of a lower mold according to the invention, showing the location of the ejection pins. The bending amplitude of a still soft body body is proportional to the bonding force between a molding composition and the surface of the cavity. This is because, when the bonding force is increased, the lower ejection pins must push the body
tendre de boîtier vers le haut avec une plus grande force. soft case up with greater force.
Le tableau 1 qui suit indique les résultats expérimentaux Table 1 below shows the experimental results
obtenus par mesure de la force de collage entre la compo- obtained by measuring the bonding force between the
sition de moulage et la surface de la cavité qui varie en fonction de la nature de la composition de moulage et du molding surface and the cavity surface which varies depending on the nature of the molding composition and the
nombre de lots moulés.number of molded lots.
Tableau 1Table 1
Composition de Lot de Ecart-Composition of Lot of Difference
moulage moulage Min. Max. Moyenne type molding molding Min. Max. Average type
1-10 0,38 0,84 0,63 0,1611-10 0.38 0.84 0.63 0.161
11-20 0,72 1,18 0,88 0,16511-20 0.72 1.18 0.88 0.165
21-30 0,90 1,34 1,11 0,15121-30 0.90 1.34 1.11 0.151
TYPE "A"! 31-40 0,96 1,58 1,18 0,199 TYPE "A"! 31-40 0.96 1.58 1.18 0.199
41-50 0,96 1,78 1,34 0,25241-50 0.96 1.78 1.34 0.252
51-60 1,12 1,90 1,48 0,25851-60 1.12 1.90 1.48 0.258
1-10 0,35 1,60 1,00 0,3911-10 0.35 1.60 1.00 0.391
11-20 1,90 2,95 2,23 0,34811-20 1.90 2.95 2.23 0.348
TYPE "B" E 21-30 i 1,75 3,96 2,94 0,804 TYPE "B" E 21-30 i 1.75 3.96 2.94 0.804
31-40 2,40 4,70 3,44 0,72231-40 2.40 4.70 3.44 0.722
41-50 1,80 4,65 3,55 0,90841-50 1.80 4.65 3.55 0.908
51-60 2,85 4,70 4,06 0,61951-60 2.85 4.70 4.06 0.619
Dans le tableau 1, l'unité de force de collage est indiquée par la pression nécessaire exprimée en MPa, et les deux compositions de moulage sont de type "A" et "B" qui correspondent à une composition de moulage de résine époxyde contenant un bisphénol. Dans le type "B", un matériau inerte appelé "charge" est modifié afin que la viscosité de la composition de moulage soit accrue. La mesure de la force de collage est réalisée avec une jauge de poussée-traction. Comme l'indique le tableau, la force de collage augmente avec le nombre de lots moulés, et la flexion du corps tendre du boîtier devient importante. Pour que le corps de boîtier et la pastille semi-conductrice ne se fissurent pas, la force de collage doit correspondre à une pression inférieure In Table 1, the unit of adhesive force is indicated by the required pressure expressed in MPa, and the two molding compositions are of type "A" and "B" which correspond to an epoxy resin molding composition containing a bisphenol. In type "B", an inert material called "filler" is modified so that the viscosity of the molding composition is increased. The measurement of the bonding force is carried out with a push-pull gauge. As indicated in the table, the bonding force increases with the number of molded batches, and the bending of the soft body of the casing becomes important. So that the case body and the semiconductor chip do not crack, the bonding force must correspond to a lower pressure
à 0,5 MPa.at 0.5 MPa.
Le tableau 2 qui suit indique la relation entre l'amplitude de flexion et les fissures dans le corps du Table 2 below shows the relationship between the flexural amplitude and the cracks in the body of the
boîtier et la pastille.casing and the pellet.
Tableau 2 Pression Flexion Fissures Fissures (N) (mm) boîtier pastille Table 2 Pressure Flexion Cracks Cracks (N) (mm) pellet casing
0,19 3 30.19 3 3
0,17 3 30.17 3 3
40 0,15 2 240 0.15 2 2
0,13 1 20.13 1 2
0,11 0 10.11 0 1
0,09 0 10.09 0 1
0,07 0 10.07 0 1
15 0,05 0 015 0.05 0 0
0,03 0 00.03 0 0
0,01 0 00.01 0 0
Dans cette expérience, une pastille semi-conductrice de 243,5 x 592 im et de 300 Mm d'épaisseur et un boîtier de type 24 TSOP LOC de 5,6 mm sont utilisés. Les résultats expérimentaux du tableau 2 ont été obtenus par application In this experiment, a semiconductor chip of 243.5 x 592 μm and 300 μm thickness and a 5.6 mm TSOP LOC housing are used. The experimental results in Table 2 were obtained by application
d'une pression accrue de 5 N à six dispositifs conditionnés. increased pressure of 5 N to six packaged devices.
Comme l'indique le tableau 2, la force de pression et l'amplitude de flexion qui peuvent provoquer une fissuration de la pastille semiconductrice sont de 20 N et 0,07 mm respectivement alors que, pour la fissuration du corps du boîtier, il faut des valeurs minimales de 35 N et de 0,13 mm pour la flexion. Les résultats expérimentaux du tableau 2 peuvent être décrits expérimentalement grâce à l'équation suivante: K P1 [29 (a)1/2-46(a)3/2+218 (a)5/2-37,6() /2+38,7() 9/] wt2/3 t t t t t As shown in Table 2, the pressure force and bending amplitude which can cause cracking of the semiconductor wafer are 20 N and 0.07 mm respectively whereas, for cracking of the body of the housing, it is necessary to minimum values of 35 N and 0.13 mm for bending. The experimental results of Table 2 can be described experimentally with the following equation: K P1 [29 (a) 1 / 2-46 (a) 3/2 + 218 (a) 5 / 2-37.6 () / 2 + 38.7 () 9 /] wt2 / 3 ttttt
Dans ce cas, t désigne l'épaisseur de la pastille semi- In this case, t is the thickness of the semi-
conductrice, w sa largeur, 1 sa longueur, t la force de pression appliquée à la pastille dans la direction de l'épaisseur, a la profondeur de rayure et K l'intensité de la contrainte. La rayure se forme pendant une opération de polissage du dos de la pastille lorsque la face arrière de la pastille est polie avec une meule afin que la pastille ait une épaisseur plus mince. La rayure ayant une forme en coupe en V peut constituer l'origine de la fissuration de la pastille. Lorsque a/t << 1, on a K = P(1/w) a/t2. A ce conductive, w its width, 1 its length, t the pressure force applied to the pellet in the direction of the thickness, to the scratch depth and K the intensity of the stress. The scratch is formed during a polishing operation of the back of the wafer when the back side of the wafer is polished with a grinding wheel so that the wafer has a thinner thickness. The stripe having a V-shaped section may be the origin of cracking of the pellet. When a / t << 1, we have K = P (1 / w) a / t2. At this
moment, la vitesse de croissance de la fissure dans la pas- moment, the growth rate of the crack in the pas-
tille est proportionnelle à K à la puissance n, n dépendant du matériau de la pastille, par exemple, lorsque la pastille est formée de silicium, n est compris entre 1 et 2. En conclusion, l'intensité K de la contrainte, qui présente une relation étroite avec la fissuration de la pastille, est proportionnelle à la pression, à la longueur de la pastille et à la racine de la longueur a de la rayure, mais varie en proportion inverse de la largeur et de l'épaisseur de la is proportional to K at the power n, n depending on the material of the pellet, for example, when the pellet is formed of silicon, n is between 1 and 2. In conclusion, the intensity K of the stress, which presents a close relationship with cracking of the pellet, is proportional to the pressure, the length of the pellet and the root of the length a of the stripe, but varies in inverse proportion to the width and thickness of the
pastille semi-conductrice.semiconductor chip.
Comme décrit précédemment, la fissure de la pastille peut être évitée soit par réduction de la force de collage par modification de la composition de moulage, soit par réduction de l'intensité de la contrainte appliquée à la pastille. Pour que la force de collage soit réduite, il faut envisager des perfectionnements de la composition de moulage et de la finition de surface de la cavité. Cependant, l'invention concerne la réduction de l'intensité de la contrainte de manière que la fissuration de la pastille et la fissuration du boîtier soient évitées par changement de la structure de l'ensemble du moule de transfert comme As previously described, cracking of the pellet can be avoided either by reducing the bonding force by changing the molding composition, or by reducing the intensity of the stress applied to the pellet. In order for the bonding force to be reduced, it is necessary to consider improvements in the molding composition and surface finish of the cavity. However, the invention relates to reducing the intensity of the stress so that pellet cracking and case cracking are avoided by changing the structure of the transfer mold assembly as a whole.
décrit dans la suite.described below.
La figure 3A est une coupe d'un ensemble de moules selon l'invention, la figure 3B une vue de dessous du moule supérieur selon l'invention représentant l'emplacement des broches d'éjection, et la figure 3C une vue en plan du moule inférieur selon l'invention, indiquant l'emplacement des broches d'éjection. La structure des éléments de l'ensemble de moules, tels que les châssis 90 et les plateaux 80, à l'exception des broches d'éjection, est la même que celle de l'ensemble de moules classique, à l'exception des broches d'éjection, et on ne les décrit donc pas en détail. La broche centrale supérieure 12 d'éjection, en plus de la FIG. 3A is a sectional view of a set of molds according to the invention, FIG. 3B a bottom view of the upper mold according to the invention showing the location of the ejection pins, and FIG. 3C a plan view of the lower mold according to the invention, indicating the location of the ejection pins. The structure of the elements of the mold assembly, such as the frames 90 and the plates 80, with the exception of the ejection pins, is the same as that of the conventional mold assembly with the exception of the pins ejection, and therefore not described in detail. The upper center pin 12 ejection, in addition to the
broche 4 de la marque d'identification et de la broche supé- pin 4 of the identification mark and the upper pin
rieure 9 d'éjection, dépasse vers la barre 51 de la cavité supérieure. Une broche centrale inférieure 13 d'éjection placée entre deux broches inférieures d'éjection 8 dépasse de la barre inférieure 5b. Les broches centrales supérieure et inférieure 12 et 13 d'injection poussent les parties centrales du corps du boîtier lorsqu'il est tendre pendant l'étape d'éjection si bien que l'amplitude de flexion du corps peut être réduite et l'intensité de la contrainte 9 ejection, exceeds to the bar 51 of the upper cavity. A lower central ejection pin 13 placed between two lower ejection pins 8 protrudes from the lower bar 5b. The upper and lower central injection pins 12 and 13 push the central portions of the body of the housing when it is soft during the ejection step so that the bending amplitude of the body can be reduced and the intensity of the the constraint
appliquée à la pastille peut aussi être réduite. applied to the pellet can also be reduced.
La figure 3D est une vue en plan du moule inférieur selon l'invention, destinée à représenter l'emplacement des broches d'éjection, et la figure 3E est une vue en plan du moule inférieur selon l'invention indiquant l'emplacement des broches d'éjection. Bien que diverses dispositions des broches d'éjection soient possibles, il est préférable de placer les broches centrales 12 et 13 à mi-distance entre la broche de la marque d'identification et la broche supérieure d'éjection et entre les deux broches inférieures d'éjection respectivement. Bien entendu, diverses modifications peuvent être apportées par l'homme de l'art aux ensembles qui viennent d'être décrits uniquement à titre d'exemple non limitatif FIG. 3D is a plan view of the lower mold according to the invention, intended to represent the location of the ejection pins, and FIG. 3E is a plan view of the lower mold according to the invention indicating the location of the pins. ejection. Although various provisions of the ejection pins are possible, it is preferable to place the center pins 12 and 13 halfway between the pin of the identification mark and the upper ejection pin and between the two lower pins. ejection respectively. Of course, various modifications may be made by those skilled in the art to the assemblies which have just been described solely by way of nonlimiting example.
sans sortir du cadre de l'invention. without departing from the scope of the invention.
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