FR2423859A1 - Perfectionnements au microscope electronique - Google Patents
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Abstract
A un microscope électronique, on a incorporé au moins une lentille octopolaire servant à corriger des écarts de faisceau. Par l'emploi d'une lentille octopolaire dont les bobines peuvent être réglées distinctement de manière suffisamment indépendante, on peut pratiquer simultanément une correction de défauts mécaniques dans les pièces polaires de la lentille, une correction des erreurs d'orientation de la source d'électrons, diminuer les défauts d'aberration sphériques et faire mouvoir le faisceau de façon très précise sur un objet à examiner. Application à l'appareillage radioscopique utilisé en médecine.
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Citations (6)
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---|---|---|---|---|
FR1200134A (fr) * | 1957-01-03 | 1959-12-18 | Philips Nv | Procédé et dispositif de réglage de l'excitation d'un stigmateur dans un microscope électronique |
FR1348368A (fr) * | 1961-07-10 | 1964-01-10 | Philips Nv | Dispositif de réglage pour corriger des défauts d'image dans un système d'optique électronique |
DE1614688A1 (de) * | 1967-12-20 | 1970-06-04 | Siemens Ag | Korpuskularstrahlgeraet,insbesondere Elektronenmikroskop,mit einer magnetischen Kondensoranordnung |
DE2123576A1 (de) * | 1970-05-13 | 1971-12-02 | Hitachi Ltd | Magnetfeld-Elektronenlinse |
DE2221122A1 (de) * | 1972-04-28 | 1973-11-08 | Steigerwald Strahltech | Fehlerarmes system zur materialbearbeitung mit abgelenkten elektronenbuendeln |
FR2325181A1 (fr) * | 1975-09-19 | 1977-04-15 | Max Planck Gesellschaft | Microscope a faisceau de corpuscules donnant une image segmentaire a zones annulaires |
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1978
- 1978-04-17 NL NL7804035A patent/NL7804035A/xx not_active Application Discontinuation
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- 1979-04-16 JP JP4655379A patent/JPS54140454A/ja active Pending
- 1979-04-17 FR FR7909629A patent/FR2423859A1/fr active Granted
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1200134A (fr) * | 1957-01-03 | 1959-12-18 | Philips Nv | Procédé et dispositif de réglage de l'excitation d'un stigmateur dans un microscope électronique |
FR1348368A (fr) * | 1961-07-10 | 1964-01-10 | Philips Nv | Dispositif de réglage pour corriger des défauts d'image dans un système d'optique électronique |
DE1614688A1 (de) * | 1967-12-20 | 1970-06-04 | Siemens Ag | Korpuskularstrahlgeraet,insbesondere Elektronenmikroskop,mit einer magnetischen Kondensoranordnung |
DE2123576A1 (de) * | 1970-05-13 | 1971-12-02 | Hitachi Ltd | Magnetfeld-Elektronenlinse |
DE2221122A1 (de) * | 1972-04-28 | 1973-11-08 | Steigerwald Strahltech | Fehlerarmes system zur materialbearbeitung mit abgelenkten elektronenbuendeln |
FR2325181A1 (fr) * | 1975-09-19 | 1977-04-15 | Max Planck Gesellschaft | Microscope a faisceau de corpuscules donnant une image segmentaire a zones annulaires |
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