FI94807B - Förfarande och anordning för avstämning/avpassning av ett kompainerfilter - Google Patents

Claims (7)

1. Förfarande för avstämning av ett kompainerfliter, vilket förfarande omfattar 5 a) inställning av en medelfrekvens för kompainer- filtret, b) inmatning av en RF-signal tili kompainerfiltret, c) mätning av frän kompainerfiltret reflekterad RF- effekt, 10 d) lagring av det uppmätta effektvärdet, k ä n - netecknat därav att nämnda inställning av medelfrekvens för kompainerfiltret omfattar att medelfrekvensen installs pä ett lämpligt avständ frän en önskad radioka-nal, ooh att förfarandet dessutom omfattar 15 e) stegvis ändring av kompainerfiltrets medelfrek vens i riktning mot ett önskat kanalomräde tills den ref-lekterade effekten minskat tili en förutbestämd andel av nämnda lagrade effektvärde, f) stegvis ändring av kompainerfiltrets medelfre-20 kvens och mätning av den reflekterade effekten och lagring av densamma som ett minimivärde vid varje steg tills en minimipunkt för reflekterad effekt uppnäs och överskrids med nägra steg, h) omvändning av den stegvisa ändringens riktning 25 av kompainerfiltrets medelfrekvens tili en motsatta rikt-ning och lagring av vändpunktsstället, k) önskat antal upprepningar av stegen f) och h), m) bestämning av det slutgiltiga avstämningsstäl-let för kompainerfiltret genom att räkna ut medeltalet för 30 vändpunktsställena.

: 2. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n ne tecknat därav att mätningen av den reflekterade effekten omfattar tagning av en sampelsignal ur RF-effekten som ref-35 lekteras frän kompainerfiltret. 94807 20 blandning av sampelsignalen till en mellan-frekvens, detektering av effekten hos den mellanfrekventa sampelsignalen genom likriktning. 5

3. Förfarande för finjustering av ett kompainer- filter, vilket förfarande omfattar a) inmatning av en RF-signal till kompainerfiltret, b) mätning av RF-effekten som inmatas till kompai-nerfiltret och reflekteras därifrän, 10 c) bestämning av en reflexionskoefficient som ett förhällande av de uppmätta effektvärdena och lagring av den erhällna reflexionskoefficienten, känneteck-n a t därav att förfarandet dessutom omfattar d) stegvis ändring av kompainerfiltrets medelfre-15 kvens i en riktning och bestämning av reflexionsfaktorens värde och lagring av detsamma som ett minimivärde vid var-je steg tills en minimipunkt för reflexionsfaktorens värde uppnäs och överskrids med nägra steg, e) omvändning av den stegvisa ändringens riktning 20 av kompainerfiltrets medelfrekvens tili en motsatta riktning och lagring av vändpunktsstället, f) önskat antal upprepningar av stegen d) och e), g) bestämning av det slutgiltiga avstämningsstäl-let för kompainerfiltret genom att räkna ut medeltalet för 25 vändpunktsställena.

4. Förfarande enligt patentkrav 3, känne-t e c k n a t därav att mätningen av den inmatade och reflekterade effekten omfattar tagning av en sampelsignal ur den tili kompainer-30 filtret inmatade och därifrän reflekterade RF-effekten, blandning av sampelsignalerna tili en mellan-frekvens, detektering av de mellanfrekventa sampelsignaler-nas effekt genom toppvärdeslikriktning. 35 94807 21

5. Förfarande enligt patentkrav 4, k ä n n e -t e c k n a t därav att sampelsignalernas spektrum vägs före detekteringen, sä att de medelfrekventa signalkompo-nenternas verkan i detekteringen framhävs.

6. Arrangemang för justering av ett kompainer- filter, omfattande organ (11) för alstring av en första en tili kom-painerfiltret (10) inmatad RF-effekt proportionell första sampelsignal (IFF) och en mot en därifrän reflekterad RF-10 effekt proportionell andra sampelsignal (IFR), detektororgan för detektering av storleken pä den inmatade och reflekterade effekten med hjälp av den första och andra sampelsignalen, styrorgan för regiering av kompainerfiltrets me-15 delfrekvens beroende av detektororganens detekterings-resultat, kännetecknat därav att detektororganen omfattar en första detektorgren för detektering av den för-20 sta sampelsignalen (IFF) under finjustering av kompainer-filtret, vilken detektorgren innefattar en toppvärdes-detektor (233B) och ett första bandpassfilter (232B) före detektorn och ett första lägpassfilter efter detektorn, en andra detektorgren för detektering av den andra 25 sampelsignalen (IFR) under finjustering av kompainerfil-tret, vilken detektorgren innefattar en toppvärdesdetek-tor (233A) och ett andra bandpassfilter (232A) före detektorn och ett andra lägpassfilter efter detektorn, en tredje detektorgren för detektering av den andra 30 sampelsignalen (IFR) under grov avstämning av kompainer-v filtret, vilken detektorgren innefattar en helvägslikrik- tardetektor och ett tredje bandpassfilter före detektorn och ett tredje lägpassfilter (237) efter detektorn, varvid det tredje bandpassfiltrets bandbredd är större än sampel-35 signalens bandbredd, och det tredje lägpassfiltrets bandbredd är större än det första och andra lägpassfiltrets. 22 94807

7. Arrangemang enligt patervtkrav 6, känne-t e c k n a t därav att nämnda organ för alstring av sam-pelsignaler omfattar samplingsorgan för att avskilja RF-sampelsignaler 5 ur den inmatade och reflekterade RF-effekten, blandningsorgan för blandning av RF-sampelsigna-lerna till en mellanfrekvens. « • t I m him mm ,