FI89583B - Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva - Google Patents
Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva Download PDFInfo
- Publication number
- FI89583B FI89583B FI914959A FI914959A FI89583B FI 89583 B FI89583 B FI 89583B FI 914959 A FI914959 A FI 914959A FI 914959 A FI914959 A FI 914959A FI 89583 B FI89583 B FI 89583B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- optical
- measuring
- light
- bending
- degree
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
1 89583
Menetelmä ja laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi. -Förfarande och anordning för mätning av böjningsgraden hos en glasskiva.
Keksinnön kohteena on menetelmä lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi käyttämällä optista mittausyksikköä, jolla kohdistetaan lasilevyn pintaan toisaalta valaisusäde ja toisaalta valaisusädettä risteävä mittaussäde. Keksinnön kohteena on myös laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi, johon laitteeseen kuuluu optinen mittausyksikkö, jossa on ensimmäiset optiikkaelimet valaisusäteen lähettämiseksi ja toiset optiikkaelimet valaisusädettä risteävän mittaussäteen vastaanottamiseksi ja kohdistamiseksi valoilmaisimelle.
Tämän tyyppinen laseravusteinen taivutusasteen mittausmenetelmä ja laite on esitetty hakijan aiemmassa suomalaisessa patenttihakemuksessa 912871. Siinä on esitetty käytettäväksi sinänsä tunnettua mittalaitetta, joka perustuu CCD-kameratekniikkaan niin, että kiinteästi paikalleen asetetulla laitteella voidaan seurata lasin taipumisastetta. CCD-kameratekniikkaan perustuva mittauslaite on kuitenkin suhteellisen kallis, koska siinä tarvitaan suuri määrä herkkiä valoilmaisimia. Tällaisen laitteen asentaminen erilaisiin käyttökohteisiin vaatii myös suurta tarkkuutta.
Keksinnön tarkoituksena on saada aikaan parannettu menetelmä ja laite, jotka perustuvat yksinkertaisempaan ja halvempaan Laite-konstruktioon, joLa voidaan tällöin edullisesti käyttää sekä taivutuksen mittaukseen että tarkistusinittaukseen taivutuksen . -·. ja mahdollisen karkaisun jälkeen.
Keksinnön tarkoitus saavutetaan oheisissa patenttivaatimuksissa . ; esitettyjen tunnusmerkkien perusteella.
Seuraavassa keksinnön yhtä suoritusesiinerkkiä selostetaan 2 89583 lähemmin viittaamalla oheisiin piirustuksiin, joissa kuvio 1 esittää keksinnön mukaisen mittalaitteen yleisrakennetta kaaviollisesti sivulta nähtynä; kuvio 2 esittää kaaviollisesti laitteeseen kuuluvan optisen mittapään konstruktiota; kuvio 3 esittää halkileikkausta optiikkaelimistä valaisusäteen 4 (esim. lasersäde) lähettämiseksi; kuvio 4 esittää halkileikkausta optiikkaelimistä mittaussäteen 5 vastaanottamiseksi; ja kuvio 5 esittää suurennetussa mittakaavassa suorakaideraolla 17 varustetun rajairnen 16 käyttöä valodiodin 15 edessä.
Laite koostuu kolmesta pääkomponentista, jotka ovat optinen mittausyksikkö 1, mittausyksikön liikuttelukoneisto 2 ja toimintaa ohjaavat elektroniset mittaus- ja ohjauselimet 3.
Lasilevyn pinnan 20 taivutusastetta seurataan mittaamalla sen etäisyyttä kahden toisiaan risteävän optisen säteen 4 ja 5 avulla. Toinen säteistä on laserin ja optiikan 6 avulla muodostettava valaisusäde 4, joka muodostaa tutkittavan lasin pinnalle pienen, halkaisijaltaan 300 - 500 fm:n kokoisen valaistun alueen. Valaisusäteen 4 kanssa risteää kohdassa 21 kiinteässä ennalta valitussa kulmassa mittaussäde 5, jonka avulla kerätään kohteesta heijastunut valo ilmaisimeen, joka esitetyssä tapauksessa on optiikkaputkessa 7 oleva valodiodi 15 (vrt. kuvio 4). Optiikka 7 ja ilmaisin 15 yhdessä muodostavat tai määrittävät mittaussäteen 5. Mittaussäteeksi 5 voidaan siis määritellä sellainen tilavuus, jossa optiikkaan 7 liitetyllä ilmaisimella 15 voidaan havaita valonlähde (piste 21) 3 b95ö0 vain ja ainoastaan jos valonlähde (piste 21) sijaitsee mainitussa tilavuudessa. On selvää, että valodiodi ei ole ainoa kysymykseen tuleva ilmaisin ja että ilmaisimia voi olla useampia samassa laitteessa. Mittaussäde 5 on rajattu rajaimen 16 suorakaiteen muotoisella raolla 17 siten, että se on kohteen pinnalla 20 suorakaide, jonka mitat ovat esim. 0,3 x 5 mrn^. Suorakaidemuodon avulla saavutetaan hyvä mittaustarkkuus mutta vältetään suuntausongelmat, jotka aiheutuisivat kahden pienen säteen kohdistamisesta samaan kohtaan. Säteen rajaaminen voi tapahtua useilla eri menetelmillä eikä muodon tarvitse olla suorakaide, vaan se voi olla yleensä pitkulainen. Vaihtoehtoisesti voidaan valaisusäde 4 rajata muodoltaan pitkulaiseksi. Rajaaminen helpottaa laitteen valmistustoleransseja ja käyttöä, mutta ei ole oleellinen laitteen toiminnan tai tarkkuuden kannalta.
Kohteen pinnan 20 etäisyyden mittaus perustuu siihen, että valon heijastuminen valaisusäteestä 4 mittaussäteeseen 5 on mahdollista ainoastaan, jos mitattava kohde on tarkasti näiden kahden säteen 4, 5 risteyskohdassa 21. Kysymyksessä on siis optinen kolmiomittausmenetelmä, jossa säteiden risteyskohta 21 ja mainitut optiikkaelimet 6 ja 7 muodostavat mittauskolmion.
Kuvion 3 mukaisesti laseroptiikan 6 linssit 11 ja 12 on kiin-; nitetty putkimaiseen kappaleeseen 13, johon myös laser 10 on kiinnitetty.
-j- Kuvion 4 mukaisesti valodiodioptiikan 7 rajain 16, linssi 18 ja suodin 19 ovat kiinnitetyt putkeen 14, johon myös valodiodi 15 on kiinnitetty rajaimen 16 taakse.
. . Kuten näkyy kuviosta 2, molemmat putkimaiset optiikkaelimet 6 ja 7 on kiinnitetty kappaleeseen 9, jolloin ne muodostavat yhtenä yksikkönä liikuteltavan optisen mittapään 1. Mittaussä-teiden 4 ja 5 lähtöpisteiden välimatka voi olla esim. 30 cm.
4 89583
Se, samoin kuin säteiden 4 ja 5 välinen kulma on kuitenkin ennalta asetettavissa johonkin kiinteään arvoon.
Yleisesti ottaen keksinnön mukainen menetelmä perustuu siihen, että optisen mittapään 1 sijainti välittää tiedon lasilevyn taivutusasteesta ja liikuttelukoneisto 2 tai mittalaitteen käyttäjä pyrkii pitämään optisen mittapään 1 vakioetäisyydellä tai lähes vakioetäisyydellä lasilevystä 20 mainitun optisen kolmiomittauksen avulla.
Valodiodi 15 on liitetty vahvistuselektroniikkaosan 8 välityksellä mittaus- ja ohjauselimiin 3, joka ohjaa koneistoa 2, jolla optista mittausyksikköä voidaan liikutella edestakaisin pystysuunnassa. Mittaus- ja ohjauselimet 3 siis toisaalta ohjaavat liikuttelukoneistoa 2 ja toisaalta tarkkailevat valodio-dilta 15 tulevaa sähköistä signaalia. Eräs mahdollinen ratkaisu mittaus- ja ohjauseliiniksi on analogisia tuloja ja lähtöjä sisältävä ohjelmoitava logiikka, johon on mahdollista ohjelmoida kohteen 20 etsimiseen vaadittava hakustrategia.
Liikuttelueliminä 2 voidaan käyttää lähinnä tasasähkö- tai askelmoottoripohjaisia lineaarimoottoreita. Molemmat soveltuvat periaatteessa yhtä hyvin tarkoitukseen, mutta asennon tai ase-manmittauspotentiometrillä varustetut tasasähkolineaarimoot-torit ovat yksinkertaisimpia ohjata sekä hinnaltaan edullisempia. Mittaus- ja ohjauselimillä 3 on siis tieto optisen mit-taussyksikön 1 asemasta tai liikematkasta suhteessa ennalta asetettuun arvoon, joka on esim. valittu siten, että risteys-kohta 21 sijaitsee haluttuun asteeseen taipuneen lasilevyn pinnan 20 kohdalla. Tämä tieto asemasta tai liikematkasta voidaan siis välittää liikutteluelimiin 2 liittyvältä anturilta tai se saadaan suoraan ohjauselimien 3 antamista ohjauskäskyistä (esim. askelmoottoria käytettäessä). Taivutusastetta voidaan seurata jatkuvasti sitä mukaa kun lasi taipuu, laskemalla optista mittausyksikköä 1 niin, että säteiden risteyskohta 21 5 89583 seuraa lasin pintaa 20. Mittaustulos ilmoitetaan ± poikkeamana ennalta määrätystä tavoitearvosta. Tarkistusmittauksissa riittää ilmoitus siitä, onko mittaustulos hyväksyttävien rajojen sisällä.
Claims (6)
1. Menetelmä lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi käyttämällä optista kolmiomittausta, jossa lasilevyn pintaan (20) kohdistetaan toisaalta valaisusäde (4) ja toisaalta valaisusädettä risteävä mittaussäde (5), mainittujen säteiden optiikkaelimien (6, 7) ollessa sijoitettu optiseen mittapäähän (1) välimatkan päähän toisistaan, jolloin säteiden (4, 5) risteyskohta (21) ja mainitut optiikkaelimet (6, 7) muodostavat mittauskolmion, tunnettu siitä, että optisen mittapään (1) sijainti välittää tiedon lasilevyn taivutusasteesta ja liikuttelukoneis-tolla (2) pyritään pitämään optinen mittapää (1) vakioetäisyy-dellä tai lähes vakioetäisyydellä lasilevystä (20) mainitun optisen kolmiomittauksen avulla, jota varten optisen mittapään (1) liikuttelukoneistoa (2) ohjataan sähköisillä mittaus- ja ohjauselimillä (3), jotka samalla tarkkailevat mainitun mit-taussäteen (5) valoilmaisimelta (15) tulevaa sähköistä signaalia.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valaisusäteenä (4) käytetään lasersädettä.
3. Laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi, johon laitteeseen kuuluu optinen mittausyksikkö (1), jossa on ensimmäiset optiikkaelimet (6) valaisusäteen (4) lähettämiseksi ja toiset optiikkaelimet (7) valaisusädettä risteävän inittaussäteen (5) vastaanottamiseksi ja kohdistamiseksi valoilmaisimelle (15), tunnettu siitä, että optinen mittausyksikkö (1) on järjestetty liikuteltavaksi liikuttelukoneistolla (2), jota ohjaa sähköiset ohjauselimet (3), joilla on tieto mittausyksikön (1) liikuttelumatkasta tai asemasta ja jotka ohjauselimet (3) lisäksi tarkkailevat mainitulta valoilmaisimelta (15) tulevaa sähköistä signaalia. 7 ο 9 5 8 3
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen laite, tunnettu siitä, että mainittuihin ensimmäisiin tai toisiin optiikkaeli-miin (6 tai 7) kuuluu rajäin (16), jonka avulla valaisusäteestä (4) tai mittasäteestä (5) tehdään poikkileikkaukseltaan pitkänomainen esim, suorakaiteen muotoinen.
5. Patenttivaatimuksen 3 tai 4 mukainen laite, tunnettu siitä, että valoilmaisin (15) on valodiodi.
6. Patenttivaatimuksen 3 tai 4 mukainen laite, tunnettu siitä, että optinen mittausyksikkö (1) on pystysuunnassa edestakaisin lineaarisesti liikuteltavissa. 8 89583 Paten tkrav
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI914959A FI89583C (fi) | 1991-10-22 | 1991-10-22 | Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva |
| EP92922188A EP0576636A1 (en) | 1991-10-22 | 1992-10-20 | Method and device for measuring the degree of bending in a glass sheet |
| PCT/FI1992/000281 WO1993008447A1 (en) | 1991-10-22 | 1992-10-20 | Method and device for measuring the degree of bending in a glass sheet |
| JP5507474A JPH06507722A (ja) | 1991-10-22 | 1992-10-20 | 板ガラスの曲げ率を測定する方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI914959A FI89583C (fi) | 1991-10-22 | 1991-10-22 | Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva |
| FI914959 | 1991-10-22 |
Publications (4)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI914959A0 FI914959A0 (fi) | 1991-10-22 |
| FI914959L FI914959L (fi) | 1993-04-23 |
| FI89583B true FI89583B (fi) | 1993-07-15 |
| FI89583C FI89583C (fi) | 1994-07-06 |
Family
ID=8533336
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI914959A FI89583C (fi) | 1991-10-22 | 1991-10-22 | Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0576636A1 (fi) |
| JP (1) | JPH06507722A (fi) |
| FI (1) | FI89583C (fi) |
| WO (1) | WO1993008447A1 (fi) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FI98757C (fi) * | 1995-05-31 | 1997-08-11 | Tamglass Eng Oy | Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi |
| GB2326470B (en) * | 1997-06-10 | 1999-06-09 | British Aerospace | Improvements in structural deflection measurement |
| FI117354B (fi) * | 2003-06-02 | 2006-09-15 | Tamglass Ltd Oy | Menetelmä reunamuotilla taivutettavan lasilevyn taivutuspussikkuuden mittaamiseksi |
| FI118273B (fi) * | 2004-07-14 | 2007-09-14 | Tamglass Ltd Oy | Menetelmä lasilevyn taivutuspussikkuuden mittaamiseksi |
| CN101685003B (zh) * | 2008-09-25 | 2010-12-08 | 向熙科技股份有限公司 | 非接触式量测变形值的量测系统及其方法 |
| CN109506597B (zh) * | 2018-12-04 | 2021-03-23 | 四川金湾电子有限责任公司 | 一种半导体引线框架侧弯自动化检测方法及检测系统 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3342675A1 (de) * | 1983-11-25 | 1985-06-05 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von objekten |
| GB2205640A (en) * | 1987-05-11 | 1988-12-14 | Janusz Andrew Veltze | Non-contact measurement of distance to and between surfaces of an object |
-
1991
- 1991-10-22 FI FI914959A patent/FI89583C/fi not_active IP Right Cessation
-
1992
- 1992-10-20 WO PCT/FI1992/000281 patent/WO1993008447A1/en not_active Ceased
- 1992-10-20 EP EP92922188A patent/EP0576636A1/en not_active Withdrawn
- 1992-10-20 JP JP5507474A patent/JPH06507722A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI914959L (fi) | 1993-04-23 |
| WO1993008447A1 (en) | 1993-04-29 |
| JPH06507722A (ja) | 1994-09-01 |
| FI89583C (fi) | 1994-07-06 |
| EP0576636A1 (en) | 1994-01-05 |
| FI914959A0 (fi) | 1991-10-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE19727988C2 (de) | Vermessungsinstrument mit Autofokuseinrichtung | |
| CN1256567C (zh) | 表面特性测量方法及坐标测量装置 | |
| US4574199A (en) | Sensing location of an object | |
| US4761072A (en) | Electro-optical sensors for manual control | |
| US7434322B2 (en) | Reference beam generator and system for producing guide beams for field markers | |
| DE102007043741A1 (de) | Optisches Sensorsystem an einer Vorrichtung zur Behandlung von Flüssigkeiten | |
| FI89583B (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva | |
| KR100901614B1 (ko) | 거리 측정 장치 및 방법 | |
| JP2015169491A (ja) | 変位検出装置および変位検出方法 | |
| US3817619A (en) | Device for measuring distance of an object from the forward end portion of an endoscope | |
| US4494870A (en) | Arrangement for setting out points and straight lines | |
| CN115320664B (zh) | 轨道平顺度检测的接收装置及轨道平顺度的检测系统 | |
| US4123169A (en) | Device for measuring the width of timber | |
| JPH1123219A (ja) | 共焦点光学系による変位計測装置 | |
| KR101935692B1 (ko) | 액막 두께 측정 장치 및 그 제어 방법 | |
| CN1853092B (zh) | 用于非接触温度测量的装置 | |
| KR101124607B1 (ko) | 격자판을 이용한 빔의 폭 측정 장치 및 그 방법 | |
| WO2005022127A3 (de) | Vorrichtung zur vermessung eines flächigen elementes | |
| JP2024515758A (ja) | マルチセクションシャフト製品測定装置およびその使用方法 | |
| US6813072B2 (en) | Method for adjusting a microscope and microscope with a device for adjusting a light beam | |
| KR20070015267A (ko) | 변위 측정 장치 | |
| JPS59210307A (ja) | 外径測定装置 | |
| KR101264370B1 (ko) | 3차원 곡면의 홈 패터닝 장치 | |
| JP5447574B2 (ja) | 表面プロファイル測定装置および透光性物体厚さ測定装置 | |
| JPH07234122A (ja) | 真直度測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG | Patent granted |
Owner name: TAMGLASS ENGINEERING OY |
|
| BB | Publication of examined application | ||
| MM | Patent lapsed |