FI89583C - Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva - Google Patents

Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva Download PDF

Info

Publication number
FI89583C
FI89583C FI914959A FI914959A FI89583C FI 89583 C FI89583 C FI 89583C FI 914959 A FI914959 A FI 914959A FI 914959 A FI914959 A FI 914959A FI 89583 C FI89583 C FI 89583C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
optical
measuring
light beam
light
glass
Prior art date
Application number
FI914959A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI914959A0 (fi
FI89583B (fi
FI914959A (fi
Inventor
Ville Haeyrinen
Original Assignee
Tamglass Eng Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tamglass Eng Oy filed Critical Tamglass Eng Oy
Priority to FI914959A priority Critical patent/FI89583C/fi
Publication of FI914959A0 publication Critical patent/FI914959A0/fi
Priority to PCT/FI1992/000281 priority patent/WO1993008447A1/en
Priority to JP5507474A priority patent/JPH06507722A/ja
Priority to EP19920922188 priority patent/EP0576636A1/en
Publication of FI914959A publication Critical patent/FI914959A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI89583B publication Critical patent/FI89583B/fi
Publication of FI89583C publication Critical patent/FI89583C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

1 89583
Menetelma ja laite lasilevyn taivutusasteen inittaarniseksi. -Forfarande och anordning for måtning av bojningsgraden hos en glasskiva.
Keksinnon kohteena on menetelma lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi kåyttåmållå optista mittausyksikkoa, jolla kohdistetaan lasilevyn pintaan toisaalta valaisusade ja toisaalta valaisusadetta risteava mittaussade. Keksinnon kohteena on myos laite lasilevyn taivutusasteen inittaarniseksi. johon laitteeseen kuuluu optinen mittausyksikko, jossa on ensimmaiset optiikkaelimet valaisusåteen lahettiiiniseksi ja toiset optiikkaelimet valaisusadetta risteavan mittaussateen vastaanottainiseksi ja kohdistamiseksi valoilmaisimelle.
Taman tyyppinen laseravusteinen taivutusasteen mittausmenetelma ja laite on esitetty hakijan aiemmassa suomalaisessa patentti-hakemuksessa 912871. Siina on esitetty kaytettavaksi sinansa tunnettua mittalaitetta, joka perustuu CCD-kameratekniikkaan niin, etta kiinteasti paikalleen asetetulla laitteella voidaan seurata lasin taipumisastetta. CCD-kameratekniikkaan perustuva mittauslaite on kuitenkin suhteellisen kallis, koska siina tar-vitaan suuri maara herkkia valoilmaisimia. Tallaisen laitteen asentarriinen erilaisiin kayttokohteisiin vaatii myos suurta tarkkuutta.
Keksinnon tarkoituksena on saada aikaan parannettu menetelma ja laite, jotka porustuvut yksinkertaisempaan ja halvempaan Laitrr-konstruktioon, joLa voidaan talloin edullisesti kayttaa seka taivutuksen mittaukseen ettci tarkistusinittaukseen taivutuksen . -·. ja mahdollisen karkaisun jalkeen.
Keksinnon tarkoitus saavutetaan oheisissa patenttivaatimuksissa . ; esitettyjen tunnusmerkkien perusteella.
Seuraavassa keksinnon yhta suoritusesiinerkkia selostetaan 2 89583 låhemmin viittaamalla oheisiin piirustuksiin, joissa kuvio 1 esittaa keksinnon mukaisen mittalaitteen yleisraken-netta kaaviollisesti sivulta nåhtyna; kuvio 2 esittaa kaaviollisesti laitteeseen kuuluvan optisen mittapaan konstruktiota; kuvio 3 esittaa halkileikkausta optiikkaelimista valaisusateen 4 (esim. lasersåde) lahettåmiseksi; kuvio 4 esittaa halkileikkausta optiikkaelimista mittaussateen 5 vastaanottamiseksi; ja kuvio 5 esittaa suurennetussa mittakaavassa suorakaideraolla 17 varustetun rajairnen 16 kayttoa valodiodin 15 edessa.
Laite koostuu kolmesta paakomponentista, jotka ovat optinen mittausyksikko 1, mittausyksikon liikuttelukoneisto 2 ja toi-mintaa ohjaavat elektroniset mittaus- ja ohjauselimet 3.
Lasilevyn pinnan 20 taivutusastetta seurataan mittaamalla sen etaisyytta kahden toisiaan risteavan optisen siiteen 4 ja 5 avulla. Toinen sateistii on laserin ja optiikan 6 avulla muodos-tettava valaisusade 4, joka muodostaa tutkittavan lasin pinnalle pienen, halkaisijaltaan 300 - 500 fm:n kokoisen valaistun alueen. Valaisusateen 4 kanssa risteaa kohdassa 21 kiinteassa ennalta valitussa kulinassa mittaussade 5, jonka avulla kerataan kohteesta heijastunut valo ilmaisimeen, joka esitetyssa tapauksessa on optiikkaputkessa 7 oleva valodiodi 15 (vrt. kuvio 4). Optiikka 7 ja ilmaisin 15 yhdessa muodostavat tai maarittavåt mittaussateen 5. Mittaussateeksi 5 voidaan siis maaritella sellainen tilavuus, jossa optiikkaan 7 liitetylla ilinaisimella 15 voidaan havaita valonlahde (piste 21) 3 8958ό vain ja ainoastaan jos valonlahde (piste 21) sijaitsee maini-tussa tilavuudessa. On selvaå, etta valodiodi ei ole ainoa kysymykseen tuleva ilmaisin ja etta ilmaisimia voi olla useampia samassa laitteessa. Mittaussåde 5 on rajattu rajaimen 16 suorakaiteen muotoisella raolla 17 siten, etta se on kohteen pinnalla 20 suorakaide, jonka mitat ovat esim. 0,3 x 5 mrn^. Suorakaidemuodon avulla saavutetaan hyva mittaustarkkuus inutta valtetaan suuntausongelmat, jotka aiheutuisivat kahden pienen sateen kohdistamisesta samaan kohtaan. Sateen rajaaminen voi tapahtua useilla eri menetelmillå eika muodon tarvitse olla suorakaide, vaan se voi olla yleenså pitkulainen. Vaihtoehtoi-sesti voidaan valaisusade 4 rajata muodoltaan pitkulaiseksi. Rajaaminen helpottaa laitteen valmistustoleransseja ja kayttoa, mutta ei ole oleellinen laitteen toiminnan tai tarkkuuden kannalta.
Kohteen pinnan 20 etaisyyden mittaus perustuu siihen, etta valon heijastuminen valaisusateesta 4 mittaussåteeseen 5 on mahdollista ainoastaan, jos mitattava kohde on tarkasti naiden kahden sateen 4, 5 risteyskohdassa 21. Kysyiuyksesså on siis optinen kolmiomittausmenetelmå, jossa sateiden risteyskohta 21 ja mainitut optiikkaelimet 6 ja 7 muodostavat mittauskolmion.
Kuvion 3 mukaisesti laseroptiikan 6 linssit 11 ja 12 on kiin-; nitetty putkimaiseen kappaleeseen 13, johon myos laser 10 on kiinnitetty.
-j- Kuvion 4 mukaisesti valodiodioptiikan 7 rajain 16, linssi 18 ja suodin 19 ovat kiinnitetyt putkeen 14, johon myos valodiodi 15 on kiinnitetty rajaimen 16 taakse.
. . Kuten nakyy kuviosta 2, molemmat putkimaiset optiikkaelimet 6 ja 7 on kiinnitetty kappaleeseen 9, jolloin ne muodostavat yhtenii yksikkona liikuteltavan optisen mittapaan 1 . Mittaussu-teiden 4 ja 5 lahtopisteiden valimatka voi olla esim. 30 cm.
4 89583
Se, samoin kuin sateiden 4 ja 5 valinen kulma on kuitenkin ennalta asetettavissa johonkin kiinteaan arvoon.
Yleisesti ottaen keksinnon mukainen menetelmå perustuu siihen, etta optisen mittapaan 1 sijainti valittaa tiedon lasilevyn taivutusasteesta ja liikuttelukoneisto 2 tai mittalaitteen kayttaja pyrkii pitåmaan optisen mittapaan 1 vakioetaisyydella tai lahes vakioetaisyydella lasilevysta 20 mainitun optisen kolmiomittauksen avulla.
Valodiodi 15 on liitetty vahvistuselektroniikkaosan 8 valityk-sella mittaus- ja ohjauselimiin 3, joka ohjaa koneistoa 2, jolla optista mittausyksikkoa voidaan liikutella edestakaisin pystysuunnassa. Mittaus- ja ohjauselimet 3 siis toisaalta oh-jaavat liikuttelukoneistoa 2 ja toisaalta tarkkailevat valodio-dilta 15 tulevaa sahkoista signaalia. Eras mahdollinen ratkaisu mittaus- ja ohjauseliiniksi on analogisia tuloja ja låhtojå sisaltavå ohjelmoitava logiikka, johon on mahdollista ohjelmoi-da kohteen 20 etsiiniseen vaadittava hakustrategia.
Liikutteluelimina 2 voidaan kayttaa lahinna tasasahko- tai askelmoottoripohjaisia lineaarimoottoreita. Molemmat soveltuvat periaatteessa yhta hyvin tarkoitukseen, mutta asennon tai ase-manmittauspotentiometrilla varustetut tasasahkolineaarimoot-torit ovat yksinkertaisimpia ohjata seka hinnaltaan edullisem-pia. Mittaus- ja ohjauselimilla 3 on siis tieto optisen mit-taussyksikdn 1 asemasta tai liikematkasta suhteessa ennalta asetettuun arvoon, joka on esim. valittu siten, etta risteys-kohta 21 sijaitsee haluttuun asteeseen taipuneen lasilevyn pin-nan 20 kohdalla. Tama tieto asemasta tai liikematkasta voidaan siis valittaa liikutteluelimiin 2 liittyvalta anturilta tai se saadaan suoraan ohjauselimien 3 antamista ohjauskaskyista (esim. askelmoottoria kaytettaessa). Taivutusastetta voidaan seurata jatkuvasti sitii mukaa kun lasi taipuu, laskemalla optista mittausyksikkoa 1 niin, etta sateiden risteyskohta 21 5 89583 seuraa lasin pintaa 20. Mittaustulos ilmoitetaan ± poikkeamana ennalta maaråtystå tavoitearvosta. Tarkistusmittauksissa riit-tåå ilmoitus siitå, onko mittaustulos hyvåksyttåvien rajojen sisal 1å.

Claims (6)

1. Menetelmå lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi kåyttåmållå optista kolmiomittausta, jossa lasilevyn pintaan (20) kohdiste-taan toisaalta valaisusåde (4) ja toisaalta valaisusadetta ris-teava mittaussade (5), mainittujen sateiden optiikkaelimien (6, 7) ollessa sijoitettu optiseen mittapaahan (1) valimatkan paahån toisistaan, jolloin sateiden (4, 5) risteyskohta (21) ja mainitut optiikkaelimet (6, 7) muodostavat mittauskolmion, tunnettu siitå, ettå optisen mittapåån (1) sijainti vålittåå tiedon lasilevyn taivutusasteesta ja liikuttelukoneis-tolla (2) pyritåån pitåmåån optinen mittapåå (1) vakioetåisyy-dellå tai låhes vakioetåisyydellå lasilevystå (20) mainitun optisen kolmiomittauksen avulla, jota vårten optisen mittapåån (1) liikuttelukoneistoa (2) ohjataan såhkoisillå mittaus- ja ohjauselimillå (3), jotka samalla tarkkailevat mainitun mit-taussåteen (5) valoilmaisimelta (15) tulevaa såhkoistå signaalia.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelma, tunnettu siitå, ettå valaisusåteena (4) kåytetåån lasersådettå.
3. Laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi, johon lait-teeseen kuuluu optinen mittausyksikko (1), jossa on ensimmåiset optiikkaelimet (6) valaisusåteen (4) låhettåmiseksi ja toiset optiikkaelimet (7) valaisusådettå risteåvån inittaussåteen (5) vastaanottarniseksi ja kohdistamiseksi valoilmaisimelle (15), tunnettu siitå, ettå optinen mittausyksikko (1) on jårjestetty liikuteltavaksi liikuttelukoneistolla (2), jota ohjaa såhkoiset ohjauselimet (3), joilla on tieto mittausyksi-kon (1) liikuttelumatkasta tai asemasta ja jotka ohjauselimet (3) lisåksi tarkkailevat mainitulta valoilmaisimelta (15) tulevaa såhkoistå siynaalia. 7 b 9 5 8 3
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen laite, tunnettu siita, etta mainittuihin ensimmaisiin tai toisiin optiikkaeli-miin (6 tai 7) kuuluu rajain (16), jonka avulla valaisusåteestå (4) tai mittasateesta (5) tehdåån poikkileikkaukseltaan pitkån-oraainen esim, suorakaiteen muotoinen.
5. Patenttivaatimuksen 3 tai 4 mukainen laite, tunnettu siita, etta valoilmaisin (15) on valodiodi.
6. Patenttivaatimuksen 3 tai 4 mukainen laite, tunnettu siita, etta optinen mittausyksikkd (1) on pystysuunnassa edes-takaisin lineaarisesti liikuteltavissa. 8 89583
FI914959A 1991-10-22 1991-10-22 Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva FI89583C (fi)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI914959A FI89583C (fi) 1991-10-22 1991-10-22 Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva
PCT/FI1992/000281 WO1993008447A1 (en) 1991-10-22 1992-10-20 Method and device for measuring the degree of bending in a glass sheet
JP5507474A JPH06507722A (ja) 1991-10-22 1992-10-20 板ガラスの曲げ率を測定する方法及び装置
EP19920922188 EP0576636A1 (en) 1991-10-22 1992-10-20 Method and device for measuring the degree of bending in a glass sheet

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI914959A FI89583C (fi) 1991-10-22 1991-10-22 Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva
FI914959 1991-10-22

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI914959A0 FI914959A0 (fi) 1991-10-22
FI914959A FI914959A (fi) 1993-04-23
FI89583B FI89583B (fi) 1993-07-15
FI89583C true FI89583C (fi) 1994-07-06

Family

ID=8533336

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI914959A FI89583C (fi) 1991-10-22 1991-10-22 Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP0576636A1 (fi)
JP (1) JPH06507722A (fi)
FI (1) FI89583C (fi)
WO (1) WO1993008447A1 (fi)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI98757C (fi) * 1995-05-31 1997-08-11 Tamglass Eng Oy Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi
GB2326470B (en) * 1997-06-10 1999-06-09 British Aerospace Improvements in structural deflection measurement
FI117354B (fi) * 2003-06-02 2006-09-15 Tamglass Ltd Oy Menetelmä reunamuotilla taivutettavan lasilevyn taivutuspussikkuuden mittaamiseksi
FI118273B (fi) * 2004-07-14 2007-09-14 Tamglass Ltd Oy Menetelmä lasilevyn taivutuspussikkuuden mittaamiseksi
CN101685003B (zh) * 2008-09-25 2010-12-08 向熙科技股份有限公司 非接触式量测变形值的量测系统及其方法
CN109506597B (zh) * 2018-12-04 2021-03-23 四川金湾电子有限责任公司 一种半导体引线框架侧弯自动化检测方法及检测系统

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3342675A1 (de) * 1983-11-25 1985-06-05 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von objekten
GB2205640A (en) * 1987-05-11 1988-12-14 Janusz Andrew Veltze Non-contact measurement of distance to and between surfaces of an object

Also Published As

Publication number Publication date
FI914959A0 (fi) 1991-10-22
EP0576636A1 (en) 1994-01-05
JPH06507722A (ja) 1994-09-01
WO1993008447A1 (en) 1993-04-29
FI89583B (fi) 1993-07-15
FI914959A (fi) 1993-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19727988C2 (de) Vermessungsinstrument mit Autofokuseinrichtung
EP2916104B1 (de) Reflektoranordnung mit Retroreflektor sowie mit Sensoranordnung zur Neigungsbestimmung und Kalibrierung
AU2006201178B2 (en) Reference beam generator and system for producing guide beams for field markers
KR101638028B1 (ko) 좌표계에서 알려진 타겟 포인트를 마킹하기 위한 측정 시스템 및 방법
DE69634771T2 (de) Rotationslasersystem
EP1039263B1 (en) Surveying system
DE112008003988B4 (de) Abstandsmesssystem
JP3112989B2 (ja) 可変深度三角測量距離測定装置に使用する装置
JPH04232413A (ja) 可変深度三角測量距離測定装置に用いる装置
JPH04232412A (ja) 可変深度三角測量距離測定装置用の装置
JP2015169491A (ja) 変位検出装置および変位検出方法
FI89583C (fi) Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva
EP3633315B1 (en) Angle detection system
CA1074102A (en) Device for measuring the width of timber
US5374985A (en) Method and apparatus for measuring range by use of multiple range baselines
CN210937691U (zh) 激光远程异物清除仪的结构
JPH02280004A (ja) 増分尺度に対して相対的に走査装置の基準点の位置を決定するための方法,および基準点形成器
CN111580127B (zh) 具有旋转反射镜的测绘系统
DE3615715C2 (fi)
JP3609901B2 (ja) 測距装置
KR20070015267A (ko) 변위 측정 장치
JP4201924B2 (ja) 測量機の自動焦点機構
JPH11132713A (ja) 測距装置および自動焦点制御撮影装置および凹凸検出装置
JP4358952B2 (ja) 測量機及び測量方法
JP5447574B2 (ja) 表面プロファイル測定装置および透光性物体厚さ測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Owner name: TAMGLASS ENGINEERING OY

BB Publication of examined application
MM Patent lapsed