FI75227C - Foerfarande foer att bestaemma medelpartikelradie och/eller medelpartikellaengd hos partiklar i ett stroemmande medium. - Google Patents

Foerfarande foer att bestaemma medelpartikelradie och/eller medelpartikellaengd hos partiklar i ett stroemmande medium. Download PDF

Info

Publication number
FI75227C
FI75227C FI823344A FI823344A FI75227C FI 75227 C FI75227 C FI 75227C FI 823344 A FI823344 A FI 823344A FI 823344 A FI823344 A FI 823344A FI 75227 C FI75227 C FI 75227C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
signal
detector
medium
rms
Prior art date
Application number
FI823344A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI75227B (fi
FI823344L (fi
FI823344A0 (fi
Inventor
Haokan Karlsson
Thorulf Pettersson
Original Assignee
Svenska Traeforskningsinst
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Svenska Traeforskningsinst filed Critical Svenska Traeforskningsinst
Publication of FI823344A0 publication Critical patent/FI823344A0/fi
Publication of FI823344L publication Critical patent/FI823344L/fi
Publication of FI75227B publication Critical patent/FI75227B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI75227C publication Critical patent/FI75227C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205Investigating particle size or size distribution by optical means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205Investigating particle size or size distribution by optical means
    • G01N15/0211Investigating a scatter or diffraction pattern
    • G01N2015/0222Investigating a scatter or diffraction pattern from dynamic light scattering, e.g. photon correlation spectroscopy

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Paper (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

75227
Menetelmä juoksevan aineen kuljettamien partikkeleiden keskimääräisen säteen ja/tai keskimääräisen pituuden määri ttämiseksi
Esillä oleva keksintö koskee menetelmää juoksevan aineen kuljettamien partikkeleiden keskimääräisen säteen ja/tai keskimääräisen pituuden määrittämiseksi käyttämällä ainakin yhtä, sinänsä tunnettua tyyppiä olevaa mittauslaitteistoa, joka jokainen käsittää säteilylähteen, joka emittoi säteilyä aineeseen suunnassa, jonka kulma poikkeaa 0°:sta mainitun aineen virtaussuuntaan nähden, ja jonka intensiteetti ainakin mittauksen ajan on pääasiassa vakio ja ennalta määrätty, valonilmaisin, joka ilmaisee säteilyä, joka on peräisin mainitusta säteilylähteestä, ja joka kulkee mainitun aineen läpi ja muuttaa havaitun säteilyn säh-kösignaaliksi, joka vaihtelee riippuen säteilyn intensiteetistä, optiikka järjestettty rajoittamaan mainitun aineen läpi kulkevan säteilyn poikkipinta-alaa, joka säteily on mainitun säteilylähteen lähettämä ja mainitun ilmaisimen ilmaisema, ja laskinyksikkö, joka muodostaa kaksi signaalia DC ja AC seuraavien laskelmien mukaan DC = In <V'DC/VDC) 2 2 2 AC = In (V RMS + 1 tai AC = In (V RMS . ^DC + 1) C2 c3 V2
DC
jossa V'DC ja VDC ovat mainitun ilmaisimen signaalin tasasähkö jännitekomponentit partikkelisen tai partikkelittoman aineen mittauksen ajan, V^g on partikkelisen aineen ilmaisimen signaalin vaihtosähköjännitekomponentin mittausajan todellisen tehollisarvon (R.M.S.) neliö ja c2 ja c3 ovat vakioita.
Tämäntapaisia laitteita käytetään partikkelipitoisuus-mittareina. Patenttijulkaisussa US-4 110 044 on esitetty 75227 2 tämäntapainen laite, joka sisältää mittapään, joka ilmaisee juoksevan aineen partikkelipitoisuuden. Patenttijulkaisussa US-4 318 180 tuodaan esille laite, jossa käytetään kolmea yllä esitettyä tyyppiä olevaa mittapäätä, joilla on vastavuoroisesti eri erittely, mittaamaan juoksevan aineen partikkeleiden kokohajonta. Näitä laitteita käytetään mittaamaan kuitulietteitä, ja etenkin sellaisia lietteitä, joita käytetään paperin valmistuksen pääaineina.
Normaalisti tällaisten kuitilietteiden kuiduilla on täysin ennalta määrätty paksuuden ja pituuden suhde. Tulokset, jotka ovat sopusoinnussa patenttijulkaisun US-4 318 180 mukaisten mittausten opetuksiin, perustuvat tähän suhteeseen .
Eri paperilaatujen saavuttamiseksi on toisaalta kuituliet-teen kuidut joskus käsitelty jollain tavalla. Ne voivat esimerkiksi kulkea jauhimen läpi. Tässä jauhintoimenpitees-sä kuidut puristetaan ja kudotaan nauhaksi ja tämän käsittelyn jälkeen kuidun halkaisijan ja kuidun pituuden välillä ei enää vallitse määrätty suhde. On ilmennyt, että tieto etenkin kuitujen keskimääräisestä halkaisijasta, mutta myös niiden keskimääräisestä pituudesta jauhonnan jälkeen antaa olennaisen osoituksen jauhimen tehokkuudesta.
Kuitujen ominaisuuksia syvemmin tutkittaessa, jotka ominaisuudet todella ilmenevät erilaisista ulostulosignaaleista edellä mainittujen US-patenttijulkaisujen kuitupi-toisuusmittareiden sisällä on todettu, että logaritminen tasasähköjännitesignaali DC, jonka mittari antaa, on käänteisesti verrannollinen lietteessä olevien partikkeleiden säteeseen, kun taas logaritmisella vaihtosähkö-jännitesignaalilla AC on määrätty suhde partikkeleiden pituuteen aina ennalta määrättyyn pituuteen asti, joka on määrätty kuitupitoisuusmittarin erottelun mukaan.
Tämän jälkeen se on pituudesta riippumaton. Molempien signaalien arvo on lineaarisesti riippuvainen 3 75227 suspensiopartikkeleiden konsentraatiosta.
Keksinnön mukaan tapahtuu kuitujen keskimääräisen halkaisijan osoitus jakamalla signaali AC mittausjärjestelmästä, jolla on säteilynilmaisimella ilmaistua säteilyä varten pieni poikkipinta-ala signaalilla DC samasta mittausjärjestelmästä tai mittausjärjestelmästä, jolla on ilmaisimella ilmaistua säteilyä varten sama tai eri poikkipinta-ala 7 ja kuidun keskimääräisen pituuden osoitus tapahtuu jakamalla signaali AC mittausjärjestelmästä, jolla on säteilynilmaisimella ilmaistua säteilyä varten suuri poikkipinta-ala signaalilla AC mittausjärjestelmästä, jolla on säteilynilmaisimella ilmaistua säteilyä varten pieni poikkipinta-ala.
Siten käytetään keksinnön mukaisesti suspensiokuitujen keskimääräisen säteen määräämiseksi kuitupitoisuusmittaria, jolla on niin hyvä erottelu, että signaali AC, joka pohjautuu mittauslaitteen vaihtosähköjännitteeseeen, ei reagoi partikke-leiden pituudessa tapahtuviin muutoksiin, ja siksi signaalin AC jakaminen signaalilla DC kuitupitoisuusmittarista antaa suspensiopartikkeleiden keskimääräisen halkaisijan käytetyssä lietteessä.
Jotta saataisiin partikkeleiden keskimääräisen pituuden ilmaisu, tarvitaan vielä toinen kuitupitoisuusmittari. Tällä on toisaalta niin pieni erottelu, että lietteessä olevien kuitujen pituus sisältyy optisen ilmaisimen näkökulmaan. Laitteen erottelu on riippuvainen aineen läpi kulkevan havaitun valon poikkipinta-alasta sillä tavalla, että suuri erottelu vastaa pientä poikkipinta-alaa, ja pieni erottelu vastaa suurta poikkipinta-alaa. Jotta saataisiin kuitujen keskimääräinen pituus, on signaali AC, joka tulee siitä kuitupitoisuusmitta-rin päästä, jolla on pieni erottelu, jaettava signaalilla AC, joka tulee siitä kuitupitoisuusmittarista, jolla on suuri erottelu.
75227 4
Keksintöä selitetään tarkemmin seuraavassa viitaten mukana seuraavaan piirustukseen, jossa kuvio 1 osoittaa laitteen liittämistä keksinnönmukaisen menetelmän mukaisesti ja kuvio 2 sisältää keksinnönmukaisten signaalien AC käyriä.
Kuviossa 1 on näytetty laitteen liittäminen, joka vastaa keksinnönmukaista menetelmää.
Tämä kuvio on osa patenttijulkaisun US-4 318 180 kuviosta. Kaksi kuitupitoisuusmittarijärjestelmää tai -päätä on siinä näytetty, joista kuviossa ylempänä olevalla on suuri erottelu ja alempana olevalla pieni erottelu. Molemmat mit-tapäät toimivat seuraavalla tavalla. Säteilylähteen 20, 20' lähettämä säteily yhdensuuntaistetaan linssisysteemillä 21, 21', joka on piirustuksellisesti kuviossa 1 piirretty yhdeksi linssiksi. Välikalvon 24, 26 läpi kulkee yhdensuuntaistettu valo koelasin 16 läpi, joka sisältää juoksevan kuitulietteen, jossa on mitattavat kuidut. Tämä selitys pohjautuu mittaukseen, jossa kuidut ovat kuitulietteessä, mutta on huomattava, että keksintö aivan hyvin on sovellettavissa mittaukseen, jossa partikkelit ovat juoksevassa aineessa, joka aine voi olla neste tai kaasu. Sopivimmin koelasissa 16 on suorat pinnat, joiden kautta säteily kulkee. Koelasin toiselle puolelle on toinen välikalvo 27, 29 järjestetty ja tarvittaessa myös kokoojalinssi 33. Viimeksi mainittu yksikkö 27 tai 29, 33 määrää säteilynilmaisimen 30, 32 näkökulmat. Kuvion 1 ylemmällä mittapäällä on niin pieni näkökulma, että melkein kaikkien aineessa olevien kuitujen pituus on pitempi kuin mittalasin sisällä olevan kolmion kanta, jolla kolmiolla kannan vastakkainen kulma on sama kuin näkökulma. Kuvion 1 alemmalla mittajärjestelmällä on sellainen näkökulma, että kuitujen odotettavissa oleva pituus mahtuu hyvinkin mainitun kannan sisälle.
Ilmaisimen 30, 32 lähdöt on yhdistetty laskevaan piiriin 34. Perustuen kunkin ilmaisimen signaaliin, tämä piiri 75227 5 laskee DC = ln(V'DC/VDC) jossa V'DC ja VDC ovat ilmaisimen signaalin tasasähköjän-nitekomponentit aineen mittauksen ajan suspensiopartikke-lein, ja vastaavasti ilman suspensiopartikkeleita. Arvo VDC on siten johdettu aikaisemmassa mittauksessa puhtaasta aineesta ja on talletettu laskevan piirin 34 muistiin.
Perustuen kunkin ilmaisimen 30 ja 32 signaaliin, laskee piiri 34 seuraavaa V2 AC = ln,__RMS + ... c2 tai 2 2 , V V1 AC = In, RMS . DC n ' c 2 + 3
J DC
joka on logaritminen vaihtosähköjännitesignaali AC, joka 2 on mainittu yllä, ja jossa V ^g on ilmaisimen vaihtosähkö jännitesignaalin todellinen R.M.S. korotettuna toiseen potenssiin, sekä C2 ja ovat vakioita.
Kuviossa 2 on lasketun logaritmisen vaihtosähköjännite-signaalin AC herkkyys osoitettu keskimääräisten kuituosien kuitupituuden funktiona molempien mittapäiden ulkomuodoilla, kuten myös lasketun tasasähköjännitesignaalin DC herkkyys kuituosien keskimääräisen halkaisijan funktiona. Näiden signaalien osalta on seuraava yhtälö todettu paikkansapitäväksi: DC = kone · k/r jossa k on vakio, joka on riippuvainen kuitumittaripään ulkomuodosta, kone on aineen kuitupitoisuus ja r on kuitujen keskimääräinen halkaisija.
75227 6
Signaalilla AC on seuraava yhtälö todettu paikkansapitäväksi. Käyrän vinolle osalle kaava AC-j = k^ · kone · s jossa k^ on vakio, kone on aineen kuitupitoisuus ja s on kuitujen keskimääräinen pituus.
Sille signaalin AC käyrän osalle, jossa käyrä on käytännöllisesti katsoen samalla tasolla, on voimassa yhtälö AC2 = k2 · kone toisin sanoen käyrän tällä osalla on signaalin voimakkuus vain riippuvainen konsentraatiosta.
Kuten selvästi havaitaan signaalin AC käyrästä, ilmaisimen 30 käyrän polvi, toisin sanoen se kohta, jossa käyrä muuttuu vinosta käytännöllisesti katsoen suoraksi, on niin matalalla kuitupituustasolla, että kuitupituudella ei ole käytännön vaikutusta tähän signaaliin. Siten, koska tämä signaali on riippuvainen vain kuitupitoisuudesta, on kuitujen keskimääräinen halkaisija johdettavissa jakamalla tämä signaali signaalilla DC jommasta kummasta mittajärjestelmästä, toisin sanoen
r = AC2/DC
ja keskimääräinen pituus s on johdettavissa jakamalla signaali AC, joka on peräisin kuitupitoisuusmittarista, jolla on pieni erottelu, signaalilla AC kuitupitoisuusmitta-rilta, jolla on suuri erottelu, toisin sanoen s = AC 1/AC 2
Jotta saataisiin juoksevassa aineessa olevien partikke-leiden keskimääräinen halkaisija, tarvitaan siten vain 75227 7 yksi kuitupitoisuusmittaripää, jolla on suuri erottelu. Jotta saataisiin partikkeleiden keskimääräinen pituus, tarvitaan kaksi kuitupitoisuusmittaripäätä, jolla toisella on pieni erottelu ja toisella suuri erottelu.
On huomattava, että kiiitupitoisuusmittaripäät, jotka on näytetty kuviossa 1, ovat vain esimerkkejä, ja että eri parannuksia voidaan tehdä, etenkin koskien liitäntöjen optiikkaa.

Claims (2)

  1. 75227 Patenttivaatimus Menetelmä juoksevan aineen kuljettamien partikkeleiden keskimääräisen säteen ja/tai keskimääräisen pituuden määrittämiseksi käyttämällä ainakin yhtä, sinänsä tunnettua tyyppiä olevaa mittauslaitteistoa, joista jokainen käsittää säteily- lähteen (20; 20'), joka emittoi säteilyä aineeseen suunnassa, o jonka kulma poikkeaa 0 :sta mainitun aineen virtaussuuntaan nähden, ja jonka intensiteetti ainakin mittauksen ajan on pääasiassa vakio ja ennalta määrätty; valonilmaimen (30; 32), joka ilmaisee säteilylähteestä peräisin olevaa, suoraan aineen läpi kulkevaa säteilyä ja muuttaa havaitun säteilyn sähkösig-naaliksi, joka vaihtelee riippuen säteilyn intensiteetistä; optiikan (24, 27; 26, 29, 33), joka on järjestetty rajoittamaan mainitun aineen läpi kulkevan säteilyn poikkipinta-alaa, joka säteily on mainitun säteilylähteen lähettämä ja mainitun ilmaisimen ilmaisema; ja laskinyksikön (34), joka muodostaa kaksi signaalia DC ja AC seuraavien laskelmien mukaan DC = In (V' /V ) DC DC 2 2
  2. 2 V V v' AC = In ( RMS + 1) tai AC = In ( RMS . DC + 1) C2 63 VDC jossa V' ja V ovat mainitun ilmaisimen vastaavan par-DC DC tikkelipitoisen ja partikkelittoman aineen mittauksen antaman signaalin tasosähköjännitekomponentit, V on partikkeli- RMS sen aineen ilmaisimen signaalin vaihtosähköjännitekomponentin mittausajan todellisen tehollisarvon (R.M.S.) neliö, ja c 2 ja ovat vakioita, tunnettu siitä, että kuitujen keskimääräisen halkaisijan osoitus tapahtuu jakamalla signaali AC mittausjärjestelmästä (17, 24, 27, 30), jolla on säteilynil-maisimella ilmaistua säteilyä varten pieni poikkipinta-ala signaalilla DC samasta mittausjärjestelmästä tai mittausjärjestelmästä, jolla on ilmaisimella ilmaistua säteilyä varten sama tai eri poikkipinta-ala; ja kuidun keskimääräisen pi 9 75227 tuuden osoitus tapahtuu jakamalla signaali AC mittausjärjestelmästä (19, 26, 29, 33, 32), jolla on säteilynilmaisimella ilmaistua säteilyä varten suuri poikkipinta-ala signaalilla AC mittausjärjestelmästä, jolla on säteilynilmaisimella ilmaistua säteilyä varten pieni poikkipinta-ala. Förfarande för att bestämma medelpartikelradie och/eller me- delpartikellängd hos partiklar i ett strömmande medium under användning av atminstone en mätuppställning av en i och för sig känd typ, som var och en innefattar en ljuskälla (20? 20'), som belyser mediet i en riktning med en vinkel mot o strömningsriktningen skild fran 0 med en under mätning i tiden väsentligen konstant och bestämd intensitet, en ljusde-tektor (30? 32), som indikerar fr&n ljuskällan emitterat rakt genom mediet utsträlat ljus och som omvandlar det detekterade ljuset tili en i beroende av den mottagna 1jusintensiteten varierande elektrisk signal, en optik (24, 27? 26, 29, 33) anordnad att begränsa tvärsektionen hos det av detektorn detekterade genom mediet löpande ljuset frän ljuskällan, samt en beräkningsenhet (34), som bildar tva signaler DC och AC enligt beräkningarna DC = In (V' /v ) DC DC 2 2,2 V VV AC = In ( RMS + 1) eller AC = In ( RMS . DC + 1) ^2 C3 VDC där V' och V är likspänningskomponenten av signalen frän detektorn vid mätning pä medium med respektive utan partiklar, V är kvadraten för det sanna effektivvärdet RMS (R.M.S.) av växelspänningsdelen av signalen fran detektorn vid mätning pa medium med partiklar, och c^ och c^ är konstanter, kännetecknat av att för indikering av medelfi-berradien signalen AC fran mätuppställningen (17, 24, 27, 30)
FI823344A 1981-10-01 1982-09-30 Foerfarande foer att bestaemma medelpartikelradie och/eller medelpartikellaengd hos partiklar i ett stroemmande medium. FI75227C (fi)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8105802A SE453128B (sv) 1981-10-01 1981-10-01 Forfarande for att bestemma medelpartikelradie och/eller medelpartikellengd
SE8105802 1981-10-01

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI823344A0 FI823344A0 (fi) 1982-09-30
FI823344L FI823344L (fi) 1983-04-02
FI75227B FI75227B (fi) 1988-01-29
FI75227C true FI75227C (fi) 1988-05-09

Family

ID=20344677

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI823344A FI75227C (fi) 1981-10-01 1982-09-30 Foerfarande foer att bestaemma medelpartikelradie och/eller medelpartikellaengd hos partiklar i ett stroemmande medium.

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4529309A (fi)
JP (1) JPS5877608A (fi)
CA (1) CA1187987A (fi)
DE (1) DE3236261A1 (fi)
FI (1) FI75227C (fi)
FR (1) FR2514137B1 (fi)
GB (1) GB2108265B (fi)
SE (1) SE453128B (fi)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991000993A1 (en) * 1989-07-10 1991-01-24 Fladda Gerdt H Measuring apparatus and method
US5186057A (en) * 1991-10-21 1993-02-16 Everhart Howard R Multi-beam liquid-drop size/rate detector apparatus
RU2045757C1 (ru) * 1992-08-05 1995-10-10 Астахов Александр Валентинович Способ фотоседиментационного анализа дисперсности порошковых материалов однородного вещественного состава
DE4236413C1 (de) * 1992-10-28 1994-01-27 Inspec Gmbh Vorrichtung zum Überwachen wenigstens eines fadenförmigen Objekts
US5859705A (en) * 1993-05-26 1999-01-12 The Dow Chemical Company Apparatus and method for using light scattering to determine the size of particles virtually independent of refractive index
DE4410422C1 (de) * 1994-03-25 1995-06-01 Ruck Bodo Priv Doz Dr Ing Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des aerodynamischen Durchmessers von Teilchen
US5684583A (en) * 1994-06-27 1997-11-04 The Furukawa Electric Co., Ltd. Apparatus for detecting foreign matter in a fluid
US5500735A (en) * 1994-07-18 1996-03-19 Pulp And Paper Research Institute Of Canada Method and apparatus for on-line measurement of pulp fiber surface development
DE19612569C1 (de) * 1996-03-29 1997-10-23 Palas Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen der Größenverteilung von Partikeln in Aerosolen
CA2283321A1 (en) 1997-03-03 1998-09-11 O.R. Solutions, Inc. Method and apparatus for pressure infusion and temperature control of infused liquids
DE19711494C1 (de) * 1997-03-19 1998-10-15 Ulrich Prof Dr Ing Riebel Verfahren zur Partikelgrößenmessung
US6467953B1 (en) 1999-03-30 2002-10-22 Medical Solutions, Inc. Method and apparatus for monitoring temperature of intravenously delivered fluids and other medical items
FR2782384B1 (fr) * 1998-08-11 2000-11-10 Centre Nat Rech Scient Dispositif de mesure de la taille de particules en deplacement, notamment pour des mesures pluviometriques
DE19948559C1 (de) 1999-10-08 2001-02-01 Bat Cigarettenfab Gmbh Verfahren zur Erfassung der Partikel eines Tabakpartikel-Stroms
DE10001701B4 (de) * 2000-01-18 2006-03-30 Topas Gmbh Fotometer
WO2001063255A2 (en) * 2000-02-22 2001-08-30 Shofner Engineering Associates, Inc. Measurement of aerosol mass concentration and mass delivery rate
DE10054782A1 (de) * 2000-10-30 2002-06-27 Univ Dresden Tech Verfahren zur Messung der Partikelgröße, der Partikelkonzentration und der Partikelgrößenverteilung von dispersen Systemen
US7238171B2 (en) 2001-03-12 2007-07-03 Medical Solutions, Inc. Method and apparatus for controlling pressurized infusion and temperature of infused liquids
US8226605B2 (en) * 2001-12-17 2012-07-24 Medical Solutions, Inc. Method and apparatus for heating solutions within intravenous lines to desired temperatures during infusion
US20030016357A1 (en) * 2002-07-30 2003-01-23 Shofner Frederick M. Measurement of aerosol mass concentration and mass delivery rate
US7275415B2 (en) * 2003-12-31 2007-10-02 Honeywell International Inc. Particulate-based flow sensor
US7611504B1 (en) 2004-03-09 2009-11-03 Patented Medical Solutions Llc Method and apparatus for facilitating injection of medication into an intravenous fluid line while maintaining sterility of infused fluids
FI120163B (fi) * 2005-04-04 2009-07-15 Metso Automation Oy Sakeuden muuttaminen ja mittaaminen
US7740611B2 (en) 2005-10-27 2010-06-22 Patented Medical Solutions, Llc Method and apparatus to indicate prior use of a medical item
US8487738B2 (en) 2006-03-20 2013-07-16 Medical Solutions, Inc. Method and apparatus for securely storing medical items within a thermal treatment system
US8226293B2 (en) * 2007-02-22 2012-07-24 Medical Solutions, Inc. Method and apparatus for measurement and control of temperature for infused liquids
US9211381B2 (en) 2012-01-20 2015-12-15 Medical Solutions, Inc. Method and apparatus for controlling temperature of medical liquids
US9656029B2 (en) 2013-02-15 2017-05-23 Medical Solutions, Inc. Plural medical item warming system and method for warming a plurality of medical items to desired temperatures
CN107843194A (zh) * 2017-10-17 2018-03-27 北京和众视野科技有限公司 一种天然纺织纤维长度的飞行影像测量方法及装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3275834A (en) * 1963-04-01 1966-09-27 Daniel S Stevens Apparatus for analyzing the size and number of particles in suspension
JPS5418596B2 (fi) * 1971-09-07 1979-07-09
US3790260A (en) * 1972-01-03 1974-02-05 Corning Glass Works High strength ophthalmic lens
DE2201507C2 (de) * 1972-01-13 1974-01-24 Theo Dipl.-Ing. Dr. 8000 Muenchen Pilhofer Vorrichtung zur Bestimmung der Größe der dispersen Elemente eines fluiden, nicht mischbaren Zweistoffsystems
US3822095A (en) * 1972-08-14 1974-07-02 Block Engineering System for differentiating particles
DE2551231A1 (de) * 1975-11-14 1977-05-18 Particle Technology Inc Verfahren und anordnung zur klassifizierung biologischer zellen aufgrund von fluoreszenzstrahlung
SE393864B (sv) * 1975-12-01 1977-06-20 Svenska Traeforskningsinst Forfarande for koncentrationsbestemning
SE7806922L (sv) * 1978-06-15 1979-12-16 Svenska Traeforskningsinst Forfarande och anordning for att indikera storleksfordelningen av i ett strommande medium befintliga partiklar
SE7905294L (sv) * 1979-06-15 1980-12-16 Svenska Traeforskningsinst Stoftmetning

Also Published As

Publication number Publication date
FI75227B (fi) 1988-01-29
US4529309A (en) 1985-07-16
DE3236261A1 (de) 1983-04-21
SE453128B (sv) 1988-01-11
GB2108265A (en) 1983-05-11
GB2108265B (en) 1985-02-27
DE3236261C2 (fi) 1991-10-10
SE8105802L (sv) 1983-04-02
FR2514137B1 (fr) 1986-05-09
FI823344L (fi) 1983-04-02
CA1187987A (en) 1985-05-28
JPH0379643B2 (fi) 1991-12-19
JPS5877608A (ja) 1983-05-11
FR2514137A1 (fr) 1983-04-08
FI823344A0 (fi) 1982-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI75227C (fi) Foerfarande foer att bestaemma medelpartikelradie och/eller medelpartikellaengd hos partiklar i ett stroemmande medium.
FI95748C (fi) Menetelmä liikkuvan paperirainan lujuuden määrittämiseksi
FI80341B (fi) Foerfarande och anordning foer bestaemning av mald cellulosamassas konsistens.
MY129545A (en) System for validating calibration of a coriolis flowmeter
SE7806922L (sv) Forfarande och anordning for att indikera storleksfordelningen av i ett strommande medium befintliga partiklar
JPH0394121A (ja) 電磁流量計
FI58697B (fi) Foerfarande foer koncentrationsbestaemning
FI97830C (fi) Menetelmä ja laite sellaisen aineen pitoisuuden määrittämiseksi, joka on sidottu virtaavan väliaineen hiukkasiin
DK158751B (da) Detektor for ionkoncentrationen i en vaeske
Teyssedou et al. Impedance probe to measure local void fraction profiles
US4441960A (en) Method and apparatus for on-line monitoring of specific surface of mechanical pulps
FI94289B (fi) Neliömetripainon ilmaisin
Green et al. Optical fibre sensors for process tomography
US3878461A (en) Apparatus for measurement of the amount of impurity in a fluid
FI85192C (fi) Anordning foer undersoekning av en suspensions partikelinnehaoll.
SE8207180L (sv) Forfarande och anordning for metning av halten suspenderade emnen i ett strommande medium
GB2248301A (en) Apparatus and method for the detection of changes in the composition of a material
GB2238380A (en) Vortex shedding flowmeter
US3435242A (en) Formation inspecting arrangement
CA1123626A (en) On-line monitoring of specific surface of mechanical pulps
JPS6329235A (ja) 流体の汚染度測定装置
GB2089038A (en) Vortex flowmeter
SU940033A1 (ru) Датчик сигнализации наличи капель воды в газах и влажности твердых материалов
SU458742A1 (ru) Устройство дл контрол печатной гладкости бумажного полотна
FI90919B (fi) Menetelmä ja laite materiaalin sisältämän vesimäärän mittaamiseksi

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed
MM Patent lapsed

Owner name: SVENSKA TRAEFORSKNINGSINSTITUTET