FI72814B - Saett och anordning att medelst roentgenstraolning maeta halten eller maengden av ett foerutbestaemt grundaemne. - Google Patents

Saett och anordning att medelst roentgenstraolning maeta halten eller maengden av ett foerutbestaemt grundaemne. Download PDF

Info

Publication number
FI72814B
FI72814B FI791817A FI791817A FI72814B FI 72814 B FI72814 B FI 72814B FI 791817 A FI791817 A FI 791817A FI 791817 A FI791817 A FI 791817A FI 72814 B FI72814 B FI 72814B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
anode
ray
ray tube
radiation
lines
Prior art date
Application number
FI791817A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI791817A (fi
FI72814C (sv
Inventor
Nils Johannes Baecklund
Original Assignee
Nils Johannes Baecklund
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nils Johannes Baecklund filed Critical Nils Johannes Baecklund
Publication of FI791817A publication Critical patent/FI791817A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI72814B publication Critical patent/FI72814B/fi
Publication of FI72814C publication Critical patent/FI72814C/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/10Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
    • H05G1/12Power supply arrangements for feeding the X-ray tube with dc or rectified single-phase ac or double-phase
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/08Anodes; Anti cathodes
    • H01J35/112Non-rotating anodes
    • H01J35/116Transmissive anodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/16Vessels; Containers; Shields associated therewith
    • H01J35/18Windows
    • H01J35/186Windows used as targets or X-ray converters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Claims (4)

1. Sätt att medelst röntgensträlning mätä halten eller mängden av ett förutbestämt grundämne i ett prov, varvid elektroner frän ett lägeffektröntgenrörs katod riktas mot ena sidan av rörets anod, som bestär av ett tunt skikt av ett anodmaterial belagt pä en skiva av beryllium, sä att elektronerna exciterar primär röntgensträlning i anodmaterialet innefattande straining frän anodmaterialets karakteristiska 10 7281 4 röntgeniinjer som riktas mot provet innehällande det grundämne som mätes, varvid halten eller mängden av grundämnets karakte-ristiska röntgenlinjer, som erhälles genom fluorescens orsakad av strälningen frän anodens karakteristiska röntgenlinjer, mates, varvid anodmaterialet bestär av ett väldefinierat material med karakteristiska röntgenlinjer med kortare vaglängd än hos motsvarande karakteristiska röntgenlinjer hos det grundämne som mates och röntgenstralningen uttages sasom transmis-sionssträlning genom anodens motsatta sida, varvid denna straining, som innehäller säsom väsentlig del karakteristisk straining med en väglängd kortare än det förutbestämda ämnets ab-sorptionskant, bringas att träffa provet, känneteck-n a d därav, att röntgenrörets drifteffekt är högst nägra tio-tals watt och att det förutbestämda ämnets fluorescenslinjer isoleras ur fluorescenssträlningen med hjälp av tvä filterele-ment som bestär av olika grundämnen med absorptionskanter som ligger vid olika väglängder men med samma absorptionsförmäga för vaglängder som är kortare än den kortvägigaste respektive längre än den längvägigaste av dessa filterelements absorptionskanter, varvid intensiteten i den del av spektret som ligger mellan absorptionskanterna bestämmes genom att den intensitet som erhälles med det filterelement, som har ab- sorptionskanten av längre vaglängd, subtraheras frän den intensitet som erhälles med det filterelement, som har ab- sorptionskanten av kortare väglängd.
2. Anordning för utförande av sättet enligt patentkrav 1, innefattande ett röntgenrör (fig. 1) för läga effekter, en strömförsörjningsanrdning (fig. 2, en provhällare (5) och en mätanordning (6), varvid röntgenröret innefattar en anod, som bestär av ett tunt skikt av ett väldefinierat anodmaterial belagt pä en skiva av beryllium och med karakteristiska röntgenlinjer och Kp , varvid röntgenrörets katod (2) är belägen pä anodens (3) ena sida och provhällaren (5) pä anodens andra sida utanför ett fönster i röntgenröret sä att endast röntgensträlning som transmitteras genom anoden riktas mot provet, kännetecknad därav, att röntgenröret har en lag drifteffekt, högst av nägra tiotals watt, och att ett II
FI791817A 1978-06-21 1979-06-07 Sätt och anordning att medelst röntgenstrålning mäta halten eller mäng den av ett förutbestämt grundämne. FI72814C (sv)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE7807078 1978-06-21
SE7807078A SE415804B (sv) 1978-06-21 1978-06-21 Sett att medelst rontgenstralning meta halten eller mengden av ett forutbestemt grundemne i ett prov, samt anordning for utforande av settet

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI791817A FI791817A (fi) 1979-12-22
FI72814B true FI72814B (fi) 1987-03-31
FI72814C FI72814C (sv) 1987-07-10

Family

ID=20335268

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI791817A FI72814C (sv) 1978-06-21 1979-06-07 Sätt och anordning att medelst röntgenstrålning mäta halten eller mäng den av ett förutbestämt grundämne.

Country Status (11)

Country Link
US (1) US4344181A (sv)
JP (2) JPS552991A (sv)
AU (1) AU522334B2 (sv)
CA (1) CA1139021A (sv)
DE (1) DE2924244A1 (sv)
FI (1) FI72814C (sv)
FR (1) FR2429425A1 (sv)
GB (1) GB2025040B (sv)
NL (1) NL7904500A (sv)
SE (1) SE415804B (sv)
ZA (1) ZA793095B (sv)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE428974B (sv) * 1979-02-07 1983-08-01 Nils Johannes Baecklund Sett att medelst rontgenstralning meta halten av ett forutbestemt emne i ett prov
US4484341A (en) * 1981-10-02 1984-11-20 Radiation Dynamics, Inc. Method and apparatus for selectively radiating materials with electrons and X-rays
US4731804A (en) * 1984-12-31 1988-03-15 North American Philips Corporation Window configuration of an X-ray tube
FR2600422B1 (fr) * 1986-05-29 1989-10-13 Instruments Sa Appareil et procede d'analyses chimiques locales a la surface de materiaux solides par spectroscopie de photo-electrons x
GB8621983D0 (en) * 1986-09-12 1986-10-22 K X Technology Ltd Ore analysis
US5452720A (en) * 1990-09-05 1995-09-26 Photoelectron Corporation Method for treating brain tumors
US5369679A (en) * 1990-09-05 1994-11-29 Photoelectron Corporation Low power x-ray source with implantable probe for treatment of brain tumors
US5442678A (en) * 1990-09-05 1995-08-15 Photoelectron Corporation X-ray source with improved beam steering
US5153900A (en) * 1990-09-05 1992-10-06 Photoelectron Corporation Miniaturized low power x-ray source
US5115457A (en) * 1990-10-01 1992-05-19 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method of determining titanium dioxide content in paint
US6799075B1 (en) 1995-08-24 2004-09-28 Medtronic Ave, Inc. X-ray catheter
US6377846B1 (en) 1997-02-21 2002-04-23 Medtronic Ave, Inc. Device for delivering localized x-ray radiation and method of manufacture
DE69823406T2 (de) * 1997-02-21 2005-01-13 Medtronic AVE, Inc., Santa Rosa Röntgenvorrichtung versehen mit einer Dehnungsstruktur zur lokalen Bestrahlung des Inneren eines Körpers
FI102697B (sv) * 1997-06-26 1999-01-29 Metorex Internat Oy Röntgenfluorescensmätarrangemang som utnyttjar polariserad excitations strålning och röntgenrör
US5854822A (en) * 1997-07-25 1998-12-29 Xrt Corp. Miniature x-ray device having cold cathode
US6108402A (en) * 1998-01-16 2000-08-22 Medtronic Ave, Inc. Diamond vacuum housing for miniature x-ray device
US6069938A (en) * 1998-03-06 2000-05-30 Chornenky; Victor Ivan Method and x-ray device using pulse high voltage source
US6195411B1 (en) 1999-05-13 2001-02-27 Photoelectron Corporation Miniature x-ray source with flexible probe
JP2003142294A (ja) * 2001-10-31 2003-05-16 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 高電圧発生回路およびx線発生装置
WO2008076407A2 (en) 2006-12-15 2008-06-26 Lifebond Ltd. Gelatin-transglutaminase hemostatic dressings and sealants
US20100008989A1 (en) 2008-06-12 2010-01-14 Ishay Attar Process for manufacture of gelatin solutions and products thereof
AU2009261559B2 (en) 2008-06-18 2014-01-16 Lifebond Ltd Improved cross-linked compositions
US20110112573A1 (en) * 2008-06-18 2011-05-12 Orahn Preiss Bloom Methods and devices for use with sealants
WO2009153751A2 (en) * 2008-06-18 2009-12-23 Lifebond Ltd A method for enzymatic cross-linking of a protein
ES2551388T3 (es) 2009-12-22 2015-11-18 Lifebond Ltd Modificación de agentes de entrecruzamiento enzimáticos para controlar las propiedades de las matrices entrecruzadas
AU2011287215B2 (en) 2010-08-05 2015-09-10 Lifebond Ltd. Dry composition wound dressings and adhesives
US11998654B2 (en) 2018-07-12 2024-06-04 Bard Shannon Limited Securing implants and medical devices

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE957852C (de) * 1952-02-20 1957-01-17 Telefunken GmbH, Berlin Schaltungsanordnung fur Fernsprechanlagen mit Haupt- und Unteramtern
US2999937A (en) * 1958-10-20 1961-09-12 Philips Corp X-ray apparatus
DE1773759A1 (de) * 1968-07-03 1972-03-16 Vnii Raswedotschnoj Geofisiki Vorrichtung fuer Roentgenspektralanalyse
JPS5435078B1 (sv) * 1970-07-30 1979-10-31
US4048496A (en) * 1972-05-08 1977-09-13 Albert Richard D Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method
US3925660A (en) * 1972-05-08 1975-12-09 Richard D Albert Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method
JPS5139580B2 (sv) * 1973-02-08 1976-10-28
JPS5232593B2 (sv) * 1973-09-06 1977-08-23
JPS5346062Y2 (sv) * 1973-11-06 1978-11-04
JPS5139580U (sv) * 1974-09-18 1976-03-24
US3963922A (en) * 1975-06-09 1976-06-15 Nuclear Semiconductor X-ray fluorescence device
GB1537099A (en) * 1976-06-15 1978-12-29 United Scient Corp X-ray fluorescence device

Also Published As

Publication number Publication date
FI791817A (fi) 1979-12-22
JPH0334681Y2 (sv) 1991-07-23
NL7904500A (nl) 1979-12-28
AU4823679A (en) 1980-01-03
US4344181A (en) 1982-08-10
DE2924244C2 (sv) 1987-05-07
FR2429425B1 (sv) 1985-04-26
FI72814C (sv) 1987-07-10
GB2025040B (en) 1982-11-17
SE7807078L (sv) 1979-12-22
SE415804B (sv) 1980-10-27
ZA793095B (en) 1980-08-27
AU522334B2 (en) 1982-05-27
FR2429425A1 (fr) 1980-01-18
CA1139021A (en) 1983-01-04
GB2025040A (en) 1980-01-16
DE2924244A1 (de) 1980-01-03
JPS552991A (en) 1980-01-10
JPS6419160U (sv) 1989-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI72814B (fi) Saett och anordning att medelst roentgenstraolning maeta halten eller maengden av ett foerutbestaemt grundaemne.
Madden et al. Two-Electron Excitation States in Helium.
Friedman et al. A Geiger Counter Spectrometer for X‐Ray Fluorescence Analysis
Pierce et al. Photometry in spectrochemical analysis
US3898462A (en) Infrared gas analyzer
Weissler Photoionization in gases and photoelectric emission from solids
Heine et al. Qualitative Aspects of an Inductively Coupled Plasma in the Spectral Region between 120 and 185 nm
Bozek et al. High resolution gas phase photoabsorption spectra of SiCl4 and Si (CH3) 4 at the silicon l edges: characterization and assignment of resonances
Chérigier et al. Absolute atomic hydrogen densities in a radio frequency discharge measured by two-photon laser induced fluorescence imaging
Barrett The Scattering of X-rays from Gases
SE8401396D0 (sv) Sett att ta hensyn till bakgrundsstralningen vid bestemning av stralningsitensiteten hos analyserade prov
Tang et al. Laser-induced photodecomposition of formaldehyde (~ A1A2) from its single vibronic levels. Determination of the quantum yield of H-atom by HNO (~ A1A") chemiluminescence
Thompson et al. Intensities of Electronic Transitions in Ammonia
Henke Sodium and Magnesium Fluorescence Analysis—Part I: Method
Lau et al. Resonance coherent anti-stokes Raman spectroscopy
Hernandez et al. Vacuum Ultraviolet Absorption Spectra of 1, 4‐Dioxane and 1, 3‐Dioxane
Reader et al. Accurate energies for the low-lying levels of singly ionized Hg 198
US4349738A (en) Method of measuring the content of given element in a sample by means of X-ray radiation
US2468638A (en) Apparatus for continuous analysis of fluid mixtures
Cho et al. Structure of the Infrared``Atmospheric''Bands in Liquid Oxygen
Sabine Photo-electric potentials for extremely short wave-lengths
Reader Accurate energies for the 4 p 5 5s5p S 3/2 4 and 4 p 5 5s4d P 5/2 4 levels of neutral rubidium (Rb i)
Fairchild et al. A fluorescence monitor method for measuring effective absorption coefficients of molecular rovibronic transitions using tunable dye laser excitation: The case of absorber linewidth narrower than the laser linewidth applied to H2CO
Ramirez The pulse radiolysis of alkyl iodides and oxygen in the gas phase
Dowell et al. Experiments with Fluorescent X Rays in the 10‐to 50‐Å Wavelength Region

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: BAECKLUND, NILS JOHANNES