FI64463C - Foerfarande och maetsystem foer laengdmaetning av braeder eller andra laonga foeremaol - Google Patents

Foerfarande och maetsystem foer laengdmaetning av braeder eller andra laonga foeremaol Download PDF

Info

Publication number
FI64463C
FI64463C FI772931A FI772931A FI64463C FI 64463 C FI64463 C FI 64463C FI 772931 A FI772931 A FI 772931A FI 772931 A FI772931 A FI 772931A FI 64463 C FI64463 C FI 64463C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
measurement
zone
radiation
array camera
plane
Prior art date
Application number
FI772931A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI64463B (fi
FI772931A (fi
Inventor
Bo Sjoedin
Original Assignee
Saab Scania Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Saab Scania Ab filed Critical Saab Scania Ab
Publication of FI772931A publication Critical patent/FI772931A/fi
Publication of FI64463B publication Critical patent/FI64463B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI64463C publication Critical patent/FI64463C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/04Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
    • G01B11/046Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Claims (13)

1. Förfarande för längdmätning av bräder eller andra lAnqa föremAl med hjälp av en array-kamera, kännetecknat av kombi-nationen av för far ingsstegen att de föremAl (2) soin skall mätäs transporteras längs ett pian (4) pA vilket föremAlen liggande pA tvären mot transportriktningen och parallellt med varandra för-flyttas genom en mätzon (8), som sträcker sig i vinkel mot trans-portriktningen tvärs over planet, att ett i mätzonen inkommet föremAl avmätes med hjälp av array-kameran (19) vilken mottager strAl-ning frAn mätzonen längs en vidvinklig strAlgAng (18) som sträcker sig genom mätzonen skärande planet (4) i vinkel, sett i transport-riktning, sA att strAlgAngens skärning med planet definierar ett lAngsmalt, inom och längs utefter mätzonen (8) beläget avsöknings-omrAde (24) för array-kameran, vilken strAlning av array-kameran omvandlas tili en elektrisk mätsignal som anger vilken del av avsökningsomrAdet som utgöres av föremAlets längd och ur vilken medelst en elektronikenhet (30) beräknas det mot denna del svarande mätetalet, att mätzonen (8) och det däri inkomna föremAlet (2) bestrAlas med strAlning infallande snett uppifrAn och frAn ena sidan om mätzonen, sA att ett under och längs utefter mätzonen beläget utrymme (9), som pA nämnda sida är avgränsat frAn rummet ovanför planet (4), hAller mörkt och fAr bilda en mot det bestrAlade före-mAlet väl konstrasterande bakgrund i de utanför föremAlets ändar (27) belägna delarna av avsökningsomrAdet.
2. Förfarande enligt patentkravet 1, kännetecknat därav, att strAlningen frAn avsökningsomrAdet (24) av en lAngsmal, pian spegel (16), som är fixerad ovanför och parallellt med avsökningsomrAdet (24), avlänkas tili horisontell riktning mot array-kameran (19).
3. Förfarande enligt patentkravet 1, kännetecknat därav, att strAlkastare (14) bestrAla mätzonen (8) med en intensitet som gradvis ökar frAn mätzonens mitt (28) ut mot dess ändar, sA att skillnaden i väg för strAlar som har olika vinkelläge i strAlqAngen (18) blir kompenserad och array-kameran (18) fAr mottaga strAlning med i huvudsak jämn intensitet över hela dess vinkelomrAde. 13 64463
4. Förfarande enligt patentkravet 3, kännetecknat därav, att det utrymme (9) som bildar bakgrund (25) för föremälet (2) skuggas av en uppSt mot strälkastarna (14) vettande och ph samma sida om mätzonen som dessa belägen avskärmning (10).
5. Förfarande enligt patentkravet 1, kännetecknat därav, att array-kameran (19) med hjälp av en första lägesgivare-signal (frän 32), som indikerar att ett föremSl är pä väg in mot mätzonen (8), aktiveras för bildade av nämnda mätsignal, som där-efter lagras i ett minne, och att en omräkning frAn minnesinfor-mation tili mätetal initieras med hjälp av en andra lägesgivare-signal (frAn 33) indikerande att föremAlet är pA väg bort frAn mätzonen.
6. Förfarande enligt patentkravet 1, kännetecknat därav, att före avmätningen i mätzonen (8) göres en bestämning av tjockleken hos föremAlen och en av värdet pA tjockleken beroende korrigering av den skalfaktor med vilken elektronikenheten (30) bestämmer mätetalet ur mätsignalen, sA att de fel som vid en varierande tjocklek hos föremAlen annars skulle uppkomma ph grund av strAlgAngens (18) vidvinklighet autoroatiskt kompenseras vid mätetalsberäkningen.
7. Mätsystem för längdmätning av bräder eller andra lAnga föremAl med hjälp av en array-kamera enligt patentkravet 1, k ä n n e tecknat av en transportör (1) pA vilken de föremAl (2) som skall mätäs transporteras längs ett pian (4) vars tvärmAtt är Atmin-stone lika stort som längden av de längsta föremäl som skall mätäs sh att föremälen kunna förflyttas liggande i planets tvärriktning, parallellt med varandra, en tvärs over planet i vinkel mot trans-portriktningen gäende mätzon (8) under vilken finnes ett utrvmme (9) som pä den ena sidan av mätzonen är avgränsat frän rummet ovan-för planet (4), ett fotoelektriskt system som omfattar array-kameran och är inrättat att tili denna överföra strälning frAn mätzonen längs en vidvinklig strälgäng (18) som sträcker sig genom mätzonen (8) skärande planet (4) i vinkel, sett i transportriktningen, sA att strälgängens skärning med planet definierar ett längsmalt, inom och ί 14 64463 längs utefter mätzonen beläget avsökningsomräde (24) för array-kameran, varvid strälningen av array-kameran omvandlas tili en elektrisk mätsignal, som anger vilken del av avsäkningsomrädet som utgöres av längden av ett i mätzonen inkommet föremäl och ur vilken signal medelst en tili array-kameran (19) kopplad elektronikenhet (30) beräknas det mot denna del svarande mätetalet, en pä nämnda ena sida om mätzonen (8) och längs denna anordnad rad av strälkastare (14) som uppifrän besträla mätzonen (8) och det däri inkomna före-mälet (2) i en riktning som bildar en spetsig vinkel (ot) med sträl-gängen (18), sä att utrymmet (9) under mätzonen (8) hälles mörkt och bildar en mot det besträlade föremälet väl konstrasterande bakgrund i de utanför föremälets ändar (27) belägna delarna av avsöknings-omrädet (24).
8. Mätsystem enligt patentkravet 7, kännetecknat därav, att det i strälgängen (18) finns en längsmal, pian spegel (16) som är fixerad ovanför och parallellt med avsökningsomrädet (24) i sädan vinkel mot planet (4) att strälningen frän avsökningsomrädet avlän-kas tili horisontell riktning mot array-kameran (19).
9. Mätsystem enligt patentkravet 7, kännetecknat däravr att strälkastarna (14) äro sä inbördes ordnade i raden, att intensi-teten av strälningen i mätzonen (8) gradvis ökar frän mätsystemets symmetriplan (28) ut mot mätzonens ändar, sh att skillnaden i väg för strälar som ha olika vinkelläge i strälgängen (18) kompenseras och array-kameran (19) fär mottaga stSlning med i huvudsak jämn intensitet över hela dess vinkelomräde.
10. Mätsystem enligt patentkravet 7, kännetecknat därav, att mätzonen (8) pä samma sida som den där strälkastarna (14) äro belägna avgränsas av en uppät mot strälkastarna vettande avskärmning (10) som är ogenomtränglig för strälningen och skuggar det bakgrunden bildande utrymmet (9), vilket har ätminstone sädant djup (vid 25) att ingen del av det pä bakgrunden projicerade avsökningsomrädet (24) blir besträlat av strälkastarna.
11. Mätsystem enligt patentkravet 7, kännetecknat
FI772931A 1976-10-13 1977-10-05 Foerfarande och maetsystem foer laengdmaetning av braeder eller andra laonga foeremaol FI64463C (fi)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE7611329 1976-10-13
SE7611329A SE402487B (sv) 1976-10-13 1976-10-13 Forfarande och metsystem for lengdmetning av breder eller andra langa foremal

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI772931A FI772931A (fi) 1978-04-14
FI64463B FI64463B (fi) 1983-07-29
FI64463C true FI64463C (fi) 1983-11-10

Family

ID=20329111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI772931A FI64463C (fi) 1976-10-13 1977-10-05 Foerfarande och maetsystem foer laengdmaetning av braeder eller andra laonga foeremaol

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4179707A (sv)
CA (1) CA1096955A (sv)
FI (1) FI64463C (sv)
FR (1) FR2368015A1 (sv)
SE (1) SE402487B (sv)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4351437A (en) * 1980-01-18 1982-09-28 Lockwood Graders (Uk) Limited Method and apparatus for examining objects
US4610005A (en) * 1980-06-19 1986-09-02 Dresser Industries, Inc. Video borehole depth measuring system
DE3672163D1 (de) * 1986-02-22 1990-07-26 Pinsch Gmbh & Co Helmut K Schnittholz-pruefvorrichtung.
IT1220552B (it) * 1988-03-24 1990-06-15 Italimpianti Metodo ed impianto per il posizionamento di bramme
US5606534A (en) * 1989-09-01 1997-02-25 Quantronix, Inc. Laser-based dimensioning system
NO180316C (no) * 1993-04-19 1997-04-09 Toni Rydningen Anordning for dimensjonsmåling
NO178909C (no) * 1993-04-19 1996-06-26 Toni Rydningen Måleanordning
FI95078C (sv) * 1993-11-17 1995-12-11 Cimmon Oy Förfarande och anordning för optisk mätning av långsträckta stycken
US5699161A (en) * 1995-07-26 1997-12-16 Psc, Inc. Method and apparatus for measuring dimensions of objects on a conveyor
JP3602063B2 (ja) * 2001-03-23 2004-12-15 株式会社日立製作所 検出対象の寸法を自動的に検出する装置及びそれを用いた自動分析装置
US7854097B2 (en) * 2004-01-16 2010-12-21 Jeld-Wen, Inc. Simulated divided light products and processes and systems for making such products
US7640073B2 (en) * 2005-04-14 2009-12-29 Jeld-Wen, Inc. Systems and methods of identifying and manipulating objects
CN107199182B (zh) * 2016-03-16 2019-05-31 京元电子股份有限公司 承载盘检验装置
CN109357618A (zh) * 2018-10-26 2019-02-19 曙鹏科技(深圳)有限公司 一种极片宽度测量方法与极片宽度测量装置
CN114226357A (zh) * 2021-11-23 2022-03-25 深圳华工新能源装备有限公司 一种应用于电池激光清洗检测的方法、装置
EP4227673A1 (en) 2022-01-27 2023-08-16 Finnos Oy Apparatus for capturing images of elongated timber

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2910908A (en) * 1955-05-27 1959-11-03 Libbey Owens Ford Glass Co Electro-optical computing device for surface areas
SE377610B (sv) * 1973-02-23 1975-07-14 Saab Scania Ab
SE7405346L (sv) * 1974-04-22 1975-10-21 Saab Scania Ab Anordning for bestemning av optimalt uttagbara ytan av en breda.
US4115803A (en) * 1975-05-23 1978-09-19 Bausch & Lomb Incorporated Image analysis measurement apparatus and methods

Also Published As

Publication number Publication date
FI64463B (fi) 1983-07-29
SE402487B (sv) 1978-07-03
CA1096955A (en) 1981-03-03
US4179707A (en) 1979-12-18
FR2368015B3 (sv) 1980-07-18
FI772931A (fi) 1978-04-14
SE7611329L (sv) 1978-04-14
FR2368015A1 (fr) 1978-05-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI64463C (fi) Foerfarande och maetsystem foer laengdmaetning av braeder eller andra laonga foeremaol
US3983403A (en) Method and device for optical scanning of a series of transversal dimensional values at a board or plank
GB2078937A (en) Volumetric measurement of particles
CN108981589B (zh) 一种用于测量杯口高度的装置及方法
CN103278225A (zh) 基于图像技术检测的皮带称重装置
FI71013B (fi) Foerfarande och anordning foer bestaemmande av en oenskad centrallinje foer cylinderlika kroppar saosom traestockar
KR100319430B1 (ko) 평평한제품의두께프로파일을측정하는어셈블리를위한교정장치및그교정방법
KR20100052546A (ko) 물체 표면 조사 방법 및 장치
FI74147C (sv) Anordning för optisk kontroll av objekt
DE3687614D1 (de) Optischer messapparat.
JPS56142404A (en) System for measuring plate width
US4407415A (en) Method of grade determination including compensation
JPS6243130B2 (sv)
CN112484788A (zh) 一种图像式矿石流量检测方法与装置
CN108981588B (zh) 一种杯口高度的测量装置及测量方法
JPS5957106A (ja) 検寸装置
WO1991005983A1 (en) A method and a device for measuring the height of material pieces
JPS63261103A (ja) 原木等の形状検測装置
JPS62206405A (ja) 幅測定装置
JPS61105409A (ja) 端曲り量測定装置
FI61758B (fi) Foerfarande och anordning foer maetning av vankant hos saogvirke
WO2023218387A1 (en) Detection system and method to detect ceramic articles
JPS59164910A (ja) 距離測定装置
CN116164689A (zh) 用于测量物体的方法和设备
JPS60196622A (ja) 角度等の読み取り装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed
MM Patent lapsed

Owner name: REMACONTROL AB