FI64463C - Foerfarande och maetsystem foer laengdmaetning av braeder eller andra laonga foeremaol - Google Patents

Description

~ -I rB, KUULUTUSJULKAISU < A a r ~r B (11> UTLÄGG N I NGSSKRI FT 644 63 5§SsS C Γδΐοη l :,1 :oy5 .1n city 10 11 1933 •MC& (45) Folor.t ir ddriai ^ ^ ’ (51) Kv.lk.7lm.ci.3 G 01 B 11/04 SUO M I —FI N LAND (21) Patanttlhakemui — Patantansttknlng 7T2931 (22) Htkemljpilvi — An«öknlng*daj 05-10.77 (23) AlkupUvi — Glltighetsdtg 05-10-77 (41) Tullut Julkiseksi — Bllvlt offantllg lU .04.78

Patentti· ja rekisterihallitus ... ,, , ...

• (44) NUitlviksIpsnon Ja kuuL|ulkalsun pvm. —

Patent- och registerstyrelsen Ansttkan utlagd oeh utl.skrlften pgbllccrad 29-07-Ö3 (32)(33)(31) Pyydetty etuoikeus—Begird prlorltet 13.10.76

Ruotsi-Sverige(SE) 76ll329_9 (71) Saab-Scania Aktiebolag, S-58I 88 Linköping, Ruotsi-Sverige(SE) (72) Bo Sjodin, Jönköping, Ruotsi-Sverige(SE) (7^) Leitzinger Oy (5U) Menetelmä ja mittausjärjestelmä lautojen ja muiden pitkien esineiden pituuden mittausta varten - Förfarande och mätsystem för längdmätning av bräder eller andra länga föremäl Tämän keksinnön kohteena on menetelmä ja mittausjärjestelmä pitkien esineiden pituuden mittausta varten, joilla tässä tarkoitetaan erityisesti lautoja ja sen tapaisia pitkäno naisia esineitä tai työkap-paleita, joita esiintyy valmistettaessa suuria määriä ja joilla on vaihteleva pituus, joka halutaan määrätä kappaleittain.

Keksinnöllä on siten tärkeä sovellutus sahateollisuuden lajittelu-laitoksissa, joissa valmis sahatavara lajitellaan ja mitataan ennen sen pakkausta. Tällöin aikaisemmin on tunnettua suorittaa pituuden mittaus valokennopöydän välityksellä, jonka yli poikittain lautojen annetaan kulkea yksi kerrallaan. Tällöin haettua laudan pituutta edustaa kahden uloimman, laudalle reagoivan valokennon välinen välimatka, kun taas laudan päiden niitä osia, jotka osuvat näiden valokennojen ulkopuolelle ei lasketa mukaan. Sen tähden tällainen mittausjärjestelmä on huono ratkaisu, joka voi antaa virheen aina noin 30 cm, mikä on hyvin epäedullinen alan nousevilla raaka-aine- ja käsittelykustannuksilla. Niissä tapauksissa, joissa tämän mittausmenetelmän jälkeen on olemassa automaattinen, mittausarvoon perustuva lautojen päiden katkaisu, epätarkka menetelmä aiheuttaa myöskin suurta hukkaa.

64463

Sen vuoksi tämän keksinnön tarkoituksena on aikaansaada mittausmenetelmä ja mittausjärjestelmä, joka mainittua laatua olevien esineiden pituuden mittauksessa antaa tarkemman tuloksen ja siten mahdollistaa raaka-aineen paremman hyväksikäytön kuin tähän saakka. Tällöin pyrkimyksenä on saavuttaa suurempi mittaustarkkuus ilman erityisiä puhtauden vaatimuksia siinä ympäristössä, jossa keksinnön mukaista menetelmää ja mittausjärjestelmää toteutetaan niin, että saavutetaan luotettavuuden ja tarkkuuden korkea aste ulkoympäristöä varten pölyisissä huoneissa, jotka esiintyvät sahalaitoksessa. Lisäksi järjestelmä tulee olemaan yksinkertainen asentaa olemassa oleviin teolli-s uus rakennuks i in.

Tämä saavutetaan keksinnön mukaisella mittausmenetelmällä ja mittausjärjestelmällä, jonka tunnusmerkit on esitetty patenttivaatimuksissa.

Keksintöä selitetään lähemmin seuraavassa viitaten oheisiin piirustuksiin, jotka havainnollistavat keksinnön mukaisen mittausjärjestelmän erästä edullista sovellutusmuotoa ja siinä käytettyä mittausmenetelmää.

Kuvio 1 esittää perspektiivisesti mittausjärjestelmää.

Kuviot 2 ja 3 esittävät kaaviollisesti vastaavasti sivulta ja päältä nähtynä järjestelmän mittausaluetta ja sen optisen järjestelmän sovitusta.

Kuvio 4 esittää suuremmassa koossa kuin kuvio 2 mittausalueen pystysuoraa leikkausta.

Kuvio 5 esittää diagrammaa, joka esittää säteilytyksen jakautumista mittausalueen pituussuunnassa.

Kuvio 6 esittää mittausaluetta pituussuunnassa havainnollistaen, kuinka mittaustulos on saatu optisella keilauksella riippumatta mitatun esineen paksuudesta.

Kuviossa 1 viitenumero 1 tarkoittaa yleisesti valmistusmenetelmässä olevan suuren määrän lautoja tai sen tapaisia pitkiä esineitä käsittelyyn tarkoitettuun laitokseen kuuluvaa kuljetinta. Esineet, joilla edellytetään olevan vaihteleva tuntematon pituus, voivat olla kuljet-timella yksittäin, kuten on tapaus laudoilla 2 tässä kuviossa tai ne 64463 ovat yhtenäisesti peräkkäin, jolloin kummassakin tapauksessa esineet pysyvät kuljetettaessa kuljettimen poikkisuunnassa yhdensuuntaisina toistensa kanssa.

Tätä varten kuvion 1 mukaan kuljettimessa voi olla useita keskenään yhdensuuntaisia kuljetusketjuja 3, joita käytetään yhdessä samalla nopeudella ja jotka yhdessä määräävät tason 4, jota pitkin lautoja 2 kuljetetaan nuolen 5 suuntaan. Ketjujen päälle voi olla sovitettu kuljettimen pituudelle poikittaisiin riveihin tarttuimia 6 jokaisen laudan kappaleittain syöttämiseksi, sitten kun se on sijoitettu kuljettimelle suuntauksensa säilyttämiseksi kuljetuksen aikana. Esitetyssä esimerkissä, jossa lautoja siirretään vaakasuorassa suunnassa, tarttuimet kulkevat kouruissa tai raoissa 7, jotka jatkuvasti ulottuvat tasoa 4 pitkin, kun taas sitä tapausta varten, että materiaalin kulku on yhtenäinen, kuljetin voidaan tehdä viettäväksi tasoksi, jonka päällä esineet liikkuvat ilman käyttöelimien apua.

Mainitun kuljetustason pituudella on mittausalue 8, joka ulottuu kohtisuorasti kuljetussuuntaan nähden ja jonka pituus on vähän suurempi kuin mitattavan pisimmän esineen pituus. Mittausalueessa on, sitä tapausta varten, että lattia sijaitsee tasoa 4 pitkin, aukko tai kuilu, joka muodostaa kuvion 4 mukaan vapaan, tason alla sijaitsevan tilan 9, joka poikkisuunnassa ulottuu pitkin koko mittausaluetta. Ainakin mittausalueen toisella pitkittäissivulla mittausalue tulee olemaan, myöskin jos lattia puuttuu, läpinäkymättömän, yläpuolisen varjostimen 10 rajoittama suoralla, mittausalueen suunnassa kulkevalla reunalla 11.

Mittausalueessa on pukki 12, joka ulkonee ylöspäin sivuilla kuljettimen tasosta ja käsittää yhdensuuntaisesti mittausalueen kanssa ja sen yläpuolella kulkevan palkin 13. Tämä kannattaa toisella sivullaan riviä valonheittimiä 14, jotka kuljetussuunnassa nähtynä on sijoitettu mittausalueen 8 samalle puolelle kuin sen varjostin 10 ja jotka on suunnattu mittausaluetta kohti tämän säteilyttämiseksi. Säteilytys voidaan tehdä tavallisella valolla tai säteilytyksellä, joka on näkyvän alueen ulkopuolella. Valonheittimien täytyy olla sovitettu siten, että kuviossa 4 viitenumerolla 15 merkitty säteilytysalue kuljetussuunnassa nähtynä tulee keskitetyksi mittausalueen keskelle, samalla kun se tulee levitetyksi ja tasaisesti jaetuksi mittausaluetta pitkin.

4 64463

Palkin 13 valonneittimiin nähden vastakkaiselle sivulle on sijoitettu pitkänomainen peili 16, joka tarkasti tasomaiseksi tulemiseksi voi olla kiinnitetty pitkittäiseen V-muotoiseen metalliprofiiliin 17, joka antaa peilipinnalle kaltevuuden noin 45° alaspäin tasoon 4 nähden. Tämän ansiosta peili aikaansaa sen, että mittausalueesta 8 suoraan ylöspäin menevä sädetie 18, jota pitkin valosähköinen kei-lauslaite toimii, tulee poikkeutetuksi vaakasuoraan suuntaan rivika-meraa 19 kohti, joka muodostaa keilauslaitteen aktiivisen osan. Rivi-kamera, joka sopivasti on;sovitettu säädettävästi kantavaan osaan, joka muistuttaa pukkia 12, on tunnettua laatua, jossa on suuri lukumäärä hyvin lähekkäin sijaitsevia valonherkkiä elimiä, jotka on järjestetty riviin kameran polttotasoon ja kun valo tai muu säteily kohtaa ne yksityisesti, ne kehittävät: .varauksen, joka voidaan ottaa kamerastä sähköisenä mittausmerkkinä, josta valon tai säteilyn leviäminen polttotasoa pitkin ja siten laajuus säteilyä luovuttavan esineen rivin suunnassa voidaan määrätä.

Sen tähden keksinnön mukaisessa mittausjärjestelmässä kamera asennetaan siten, että sen optinen akseli on järjestelmän symmetriatasossa ja rivi yhdensuuntainen mittausalueen 8 kanssa niin, että kamera tulee herkäksi valolle ja säteilylle, joka on peräisin jokaisesta mielivaltaisen pienestä matkasta mittausalueen päiden välillä, ts. lankeaa sädetietä 18 pitkin sen geometristen rajoitusviivojen 20, 21 ja 22, 23 välillä (kts. kuv. 1).

Seurauksena mittauskohteen ja mittausalueen suuresta laajuudesta pi-tuusuunnassa esitetty keilauslaite vaatii huomattavasti tilaa kulje-tussuunnassa ja sen tähden kamera 19 täytyy varustaa laajakulmaob-jektiivilla. Vaikka peilin 16 sovitus sädetielle on edullista sen ansiosta, että kamera saa matalan ja helposti luoksepäästävissä olevan sijoituksen, vaihtoehtoisesti peili voidaan jättää pois ja kamera ripustaa todelliseen asemaansa mittausalueen yläpuolelle, joka on esitetty pilkkuviivalla kuviossa 2.

Mittausjärjestelmä saa juuri selitetyssä sovitelmassa pitkänomaisen, mittausalueessa sijaitsevan keilausalueen 24, jöka geometrisesti voidaan määrittää tason 4 ja sädetien 18 leikkaukseksi, jolloin alueen leveys vastaa herkkyyttä mainitun rivikameran sivusuunnassa. Tähän alueeseen, joka on ristiviivoitettu kuviossa 3, lankeaa valonheitti-mistä 14 säteily, kuten kuviot 2 ja 4 esittävät, terävässä kulmassa 64463 5 of, minkä johdosta säteily tunkeutuu ainoastaan alla olevan tilan 9 ylemmän kiilamaisen osan läpi, kun taas saman tilan alaosan ia pohjan 25 varjostaa varjostin 10. Esitetyssä sovellutusmuodossa kulma d valitaan mainitun tilan syvyyteen nähden siten, että varjostimen reunan 11 vieressä olevasta osasta tuleva täysvarjo peittää ainakin pohjalle 25 säteilysuunnassa projisoidun keilausalueen 24. Tällä tavalla mittausalueeseen johdettu esine 2 aikaansaa pimeän, hyvin kontrastoivan taustan. Kamera 19 tulee vastaanottamaan ja rekisteröimään säteilyn pääasiallisesti ainoastaan mittauskohteen yläsivun 26 osasta, joka mittauskohde on alueessa 24 ja keilausalueen tämän säteilytetyn osan ja sen jäljellä olevien pääosien välissä aikaansaadaan optisesti hyvin määrätty siirtymä, ts. mittausalueessa olevan laudan päätereunat 27 (kts. kuv. 6) tulevat terävästi merkityksi kameraa varten pimeänä olevaa tilaa 9 vasten.

Mitatun esineen ja taustan välinen hyvä kontrasti säilyy myöskin vaikka pohjalla 25 on pölyä, sahanpurua tai muuta vaaleata ainetta. Vaikka näin käytännössä on edullista, että kamerataustaa mittausalueen alla ei säteilytetä, vaan se on varjossa, voidaan vaihtoet-toisesti keilausalueen 24 alla oleva tila pitää pimeänä muilla kuin esitetyillä laitteilla, esimerkiksi mustatulla, heijastamattomalla levyllä, joka ulottuu koko mittausalueen alle ja viettää voimakkaasti siten, että pöly ja sahanpuru ei kiinnity siihen.

Suuresti vaihtelevien sahateollisuuden tuotteiden kokojen johdosta keksinnön tärkeiden erikoispiirteiden mukaan voidaan aikaansaada toimenpiteitä mittausjärjestelmän suuren tarkkuuden varmistamiseksi, vaikka mitattujen esineiden koot vaihtelevat. Niinpä rivikameran laajakulmaisuuden johdosta täytyy pyrkiä siihen, että säteilyn voimakkuus keilausalueessa 24 astettain kasvaa molemmissa suunnissa symmetriatasosta 28 alueen päitä kohti, kuten diagramma kuviossa 5 havainnollistaa. E/E0 kuvaa suhteellista valaistusta mittavyöhvk-keessä ja L tarkoittaa pituutta mittavyöhykkeen suunnassa. Tällainen säteilytyksen jakautuminen voidaan aikaansaada joko säätämällä valonheittimet samalla jaolla vähän erilaisiin kulmiin tasossa, jota pitkin säteilyhuiput laajenevat tai kuvion 1 mukaan sijoittamalla valonheittimet tiheämmin mittausalueen päihin kuin symmetriatasoon. Tällaisen säteilyn voimakkuuden muutoksen ansiosta mittausalueessa 6 64463 saavutetaan se, että kokonaan kompensoidaan pidempi tie, joka säteilyllä on mittausalueen päiden kohdista, esimerkiksi päätereunoista 27 kuviossa 6, kuljettavana säteilysuuntia 34 ja 35 pitkin verrattuna tiehen symmetriatasoa 28 pitkin.

Heikomman säteilyn sijasta, jonka kameran rivi muuten vastaanottaisi ensin mainituista kohdista ja voisi antaa hyvin pitkien lautojen päätereunojen epäselvän ilmaisun, kamera saa vastaanottaa koko kulma-alueellaan säteilyn, jolla on pääasiallisesti tasainen voimakkuus ja mittausjärjestelmän kyky erottaa päätereunat tulee siten riippumattomaksi lautojen sijainnista sekä yhtä hyvin pitkistä kuin lyhyistä laudoista.

Mittaustarkkuus, joka voidaan saavuttaa keksinnön mukaisella pituuden mittausjärjestelmällä, on kymmenen kertaa parempi kuin tähän saakka tunnetuilla järjestelmillä, joissa käytetään valokennopöytiä, ts. esineen pituus voidaan ilmoittaa 2-3 cm:n tarkkuudella. Jotta tätä suurta tarkkuutta voidaan käyttää hyväksi järjestelmän läpi kulkevaa materiaalia varten, vaikka paksuus vaihtelee suuresti, keksinnön mukaan paksuuden määräys suoritetaan ennen pituuden mittausta. Määräys voi tapahtua käsin varsinkin siinä tapauksessa, että materiaalivirta on homogeeninen paksuuteen nähden, mutta jos esiintyy tiheitä muutoksia, on edullista suorittaa määräys koneellisesti pak-suusmittarin 29 avulla, joka on sijoitettu kohtaan, jonka esine ohittaa tiellään kuljetustasoa 4 pitkin, kts. kuvio 1. Mittari, joka voi olla tavallista laatua, kehittää kahden pystysuorasti liikkuvan elimen ja näihin yhdistetyn sähköisen anturin välityksellä merkin, joka on suhteellinen välimatkan pystysuunnassa esineen vläsivun ja alasi-vun välillä ja joka siirretään mittausjärjestelmän elektroniikkayk-sikköön 30. Tässä on laskulaite tunnetulla tavalla rivikamerasta 19 vastaanotetun mittausmerkin analysoimiseksi ja mittausluvun juuri mittausalueen 8 ohittaneen esineen pituuden laskemiseksi. Mittauslu-ku, joka esitetään numerotaulukossa 31 esittää tällöin tiettynä nor-mitekijänä sen lukumäärän valonherkkiä elimiä, joka laskettuna kameran riviä pitkin, on esineen päätereunojen 27 välissä. Kuten kuviosta 6 huomataan, kuitenkin optisen järjestelmän sädetien laajakulman johdosta pitäisi saada yhtä monta tällaista elintä, jotka on aktivoitu, kun se mittaa ohuen laudan 2' sekä paksumman, mutta lyhyemmän laadun 7 64463 2", joka on esitetty pilkkuviivalla kuviossa 6. Suorittamalla paksuus-mittarista tulevan merkin avulla mainitun normitekijän korjaus laudan mittaushetkellä niin, että esimerkiksi laudan 2" mittauslukua laskettaessa tehdään lisäys tämän laudan normitekijää suhteessa siihen tasoon, jonka sen yläsivu ottaa tasoon 4 nähden, jolloin voidaan saada oikea mittaustulos, vaikka paksuus vaihtelee lauta laudalta.

Keilaus pitkin aluetta 24 suoritetaan toistuvasti ja toistetaan niin nopeasti, että useita mittausjaksoja ehditään tehdä yhdelle ja samalle esineelle, vaikka sitä siirretään huomattavalla nopeudella alueen ohi. Varustamalla elektroniikkayksikkö muistilaitteella, johon mittausmerkkisisältö varastoidaan ja sen jälkeen yhdistelmä voidaan tehdä koko sitä mittaustiedostoa varten, joka kuuluu yhdelle ja samalla esineelle, tulee tällöin mahdollisesti käsitellä myöskin hyvin mutkaisia tai vinosti keilausalueeseen nähden olevia esineitä. Tällöin ensimäisessä mittausjaksossa tunnustellaan ainoastaan esineen se pää tai osa, joka ensin tunkeutuu mittausalueeseen, mutta tähän ilmoitukseen lisätään heti arvo, joka esittää sitä pituutta, joka saadaan seuraavassa mittausjaksossa alueessa jne. siksi, kunnes esine lähtee pois alueesta, jolloin esineen jokainen osa on tullut rekisteröidyksi muistilaitteeseen.

Muistitiedostojen käsittelyä helpotetaan, varsinkin jos mittaus- ja laskumenettely suoritetaan nyt esitetyllä tavalla syöttämällä elek-troniikkayksikköön tarkistusmerkki, joka ilmaisee esineen kulun mittausalueen ohi. Tätä tarkoitusta varten voidaan, kuten esimerkkinä on esitetty kuviossa 1, tasoon 4 välittömästi ennen mittausaluetta sijoittaa valokenno tai sen tapainen asemananturi 32, joka lähettää merkin, kun esine peittää sen matkallaan mittausaluetta kohti ja samalla tavalla sovittaa asemananturi 33, joka ilmaisee, että esine on jättänyt mittausalueen. Tällöin ensin mainittu merkki voi ohjata ri-vikameran toimintaa siten, että se aktivoituu ja alkaa jaksottaisesti antaa mittaustiedotuksia samalla kun anturista 33 tulevaa merkkiä käytetään aloittamaan mittauslukulaskennan väliaikana muistilaitteeseen varastoidun tiedotuksen pohjalta. Huomataan, että ainoastaan vaihtamalla antureista 32 ja 33 tulevat merkkijohdot voidaan myöskin tässä mittausjärjestelmän sovellutusmuodossa antaa materiaalin kulun tapahtua vastakkaiseen suuntaan kuin mitä nuoli 5 esittää.

Claims (13)

1. Menetelmä lautojen tai muiden pitkien esineiden pituuden mittaamiseksi rivikameran avulla, tunnettu menetelmävaiheiden yhdistelmästä, että mitattavat esineet (2) kuljetetaan tasoa (4) pitkin, jonka päällä esineet, jotka ovat poikittain kuljetussuuntaa vastaan ja yhdensuuntaisesti toistensa kanssa, siirretään mittausalueen (8) kautta, joka ulottuu kulmassa kuljetussuuntaa vastaan poikittain tason päällä, että mittausalueeseen tulevat esineet mitataan rivikameran (19) avulla, joka vastaanottaa säteilyä mittausalueesta pitkin laajakulmaista sädetietä (18), joka ulottuu mittausalueen leikkaavan tason (4) läpi kulmassa kuljetussuunnassa nähtynä niin, että säteiden leikkaus tason kanssa määrää pitkänomaisen, mittausalueessa (8) ja pitkin sitä sijaitsevan keilausalueen (24) rivikameraa varten, joka säteily rivikameralla muutetaan sähköiseksi mittaussignaaliksi esineen pituuden muodostamalle osalle keilaus-alueesta, ja josta elektroniikkayksikön (30) avulla lasketaan tätä osaa vastaava mittausluku, että mittausaluetta (8) ja siihen tulevaa esinettä (2) säteilytetään vinosti ylhäältäpäin ja mittausalueen toiselta sivulta tulevalla säteilyllä niin, että mittausalueen alapuolella ja sitä pitkin oleva tila (9), joka mainitulla sivulla on rajattu tason (4) yläpuolella olevasta tilasta pidetään pimeänä ja saa muodostaa säteilytettävää esinettä kohti hyvin kontrastoivan taustan esineen päiden (27) ulkopuolella sijaitsevissa keilausalueen osissa.

2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pitkänomaisen, tasomaisen peilin (16), joka on kiinnitetty keilausalueen (24) yläpuolelle ja yhdensuuntaisesti sen kanssa, keilausalueesta (24) tuleva säteily poikkeutetaan vaakasuoraan suuntaan rivikameraa (19) kohti.

3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valonheittimet (14) säteilyttävät mittausaluetta (8) voimakkuudella, joka astettain kasvaa mittausalueen keskeltä (28) sen päitä kohti niin, että ero säteiden tiessä, joilla on erilainen kulma-asento sädetiessä (18) tulee kompensoiduksi ja rivikamera (19) 64463 saa vastaanottaa säteilyn, jolla on pääasiallisesti tasainen voimakkuus sen koko kulma-alueella.

4. Patenttivaatimuksen 1 tai 3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että tilaa (9), joka muodostaa taustan (25) esinettä (2) varten, varjostetaan ylhäällä valonheittäjien (14) puoleisella ja mittausalueen samalla puolella kuin nämä sijaitsevalla varjostimella (10) .

5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että rivikamera (19) aktivoidaan ensimmäisen asemananturi-merkin (32:sta) avulla, joka ilmaisee, että esine on matkalla mittausaluetta (8) kohti, mainitun mittaussignaalin muodostamiseksi, joka sen jälkeen varastoidaan muistiin ja että muuttaminen muisti-tiedotuksesta mittausluvuksi suoritetaan toisen asemananturimerkin (33:sta) avulla, joka ilmaisee, että esine on matkalla mittausalueesta pois.

6. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ennen mittausta mittausalueessa (8) tehdään esineiden paksuuden määräys ja paksuuden arvosta riippuva normitustekijän korjaus, jonka avulla elektroniikkayksikkö (30) määrää mittausluvun mittaussignaalista niin, että ne virheet, jotka esineiden vaihte-levassa paksuudessa muuten voisivat syntyä sädetien (18) laajakulman johdosta, automaattisesti kompensoidaan mittauslukua laskettaessa.

7. Mittausjärjestelmä patenttivaatimuksen 1 mukaisen menetelmän toteuttamiseksi rivikameran avulla, tunnettu kuljettimesta (1), jonka päällä mitattavat esineet (2) kuljetetaan tasoa (4) pitkin, joka poikittaismitta on ainakin yhtä suuri kuin mitattavien pisimpien esineiden pituus niin, että tason poikkisuunnassa olevia esineitä voidaan siirtää yhdensuuntaisesti toistensa kanssa, kulmassa kuljetussuuntaa vastaan poikittain tasoon (4) nähden ulottuvasta mittausalueesta (8), jonka alla on tila (9), joka mittausalueen toisella sivulla on rajattu tason (4) yläpuolella olevasta tilasta, rivikameran (19) käsittävästä valosähköisestä järjestelmästä, joka on sovitettu tälle siirtämään säteilyn mittausalueesta 64463 10 laajakulmaista sädetietä (18) pitkin, joka ulottuu mittausalueen (8) leikkaavan tason (4) läpi kulmassa kuljetussuunnassa nähtynä niin, että sädetien leikkaus tason kanssa määrää pitkänomaisen, mittausalueessa ja sitä pitkin sijaitsevan keilausalueen (24) rivikameraa varten, jolloin säteily rivikamerasta muutetaan sähköisesti mittaussignaaliksi, joka ilmaisee keilausalueen sen osan, jonka mittausalueeseen tulevan esineen pituus muodostaa ja josta signaalista rivikameraan (19) kytketyllä elektroniikkayksiköllä (30) lasketaan tätä osaa vastaava mittausluku, mittausalueen (8) mainitulle toiselle sivulle ja sitä pitkin sovitetusta rivistä valonheittimiä (14), jotka ylhäältäpäin säteilyttävät mittausaluetta (8) ja siihen tullutta esinettä (2) suunnassa, joka muodostaa terävän kulman (or) sädetien (18) niin, että tila (9) mittausalueen (8) alapuolella pysyy pimeänä ja muodostaa säteilytettyyn esineeseen nähden hyvin kontrastoivan taustan esineen päiden (27) ulkopuolella sijaitsevissa keilausalueen (24) osissa.

8. Patenttivaatimuksen 7 mukainen mittausjärjestelmä, tunnet-t u siitä, että sädetiessä (18) on pitkänomainen, tasomainen peili (16), joka on kiinnitetty keilausalueen (24) yläpuolelle ja on yhdensuuntainen sen kanssa, sellaiseen kulmaan tasoon (4) nähden, että keilausalueesta tuleva säteily poikkeutetaan vaakasuoraan suuntaan rivikameraa (19) kohti.

8 64463

9. Patenttivaatimuksen 7 mukainen mittausjärjestelmä, tunnet-t u siitä, että valonheittimet (14) on sovitettu keskenään riviin siten, että säteilyn voimakkuus mittausalueessa (8) astettain kasvaa mittausjärjestelmän symmetriatasosta (28) mittausalueen päitä kohti niin, että ero säteiden tiellä, joilla on erilainen kulma-asento sädetiessä (18) kompensoidaan ja rivikamera (19) saa vastaanottaa säteilyn, jolla on pääasiallisesti tasainen voimakkuus koko sen kulma-alueella.

10. Patenttivaatimuksen 7 mukainen mittausjärjestelmä, tunnettu siitä, että mittausaluetta (8) samalla puolella kuin johon valonheittimet (14) on sijoitettu, rajoittaa ylhäällä valonheittimen puolella oleva varjostin (10), joka on säteilyä läpäi- 11 64463 semätön ja varjostaa sen taustan muodostavan tilan (9), jolla on ainakin sellainen syvyys (kohdassa 25), ettei mikään taustalle projisoidun keilausalueen (24) osa tule valonheittimien säteilyt-tämiseksi.

11. Patenttivaatimuksen 7 mukainen mittausjärjestelmä, tunnettu siitä, että kuljettimen tasossa (4) välittömästi ennen ja jälkeen mittausaluetta (8) on asemananturit (32, 33), jotka on sovitettu, kun esine (2) on matkalla mittausaluetta (8) kohti ja siitä pois, lähettämään asemamerkin rivikameran (19) aktivoimiseksi niin, että tämä muodostaa mainitun mittausalueen ja käynnistää mit-tauslukulaskennan elektroniikkayksikössä (30).

12. Patenttivaatimuksen 7 mukainen mittausjärjestelmä, tunnettu siitä, että kuljetussuunnassa nähtynä ennen mittausaluetta (8) on paksuusmittari (29), joka on kytketty elektroniikka-yksikköön (30) ja on sovitettu tähän antamaan esineiden (2) paksuuden arvon niiden virheiden kompensoimiseksi, jotka vaihtelevalla paksuudella voisivat syntyä sädetien (18) laajakulman johdosta.

13. Patenttivaatimuksen 8 ja 9 mukainen mittausjärjestelmä, tunnettu siitä, että mittausalueen (8) yläpuolella on sen kanssa yhdensuuntaisesti kulkeva palkki (13), joka toisella sivullaan kannattaa peilin (16) kiinnittävää kehystä (17) ja jonka toiseen sivuun on kiinnitetty valonheittimet (14). 12 Patentkrav 64463