FI111757B - Förfarande och mätningsarrangemang för att mäta pappersyta - Google Patents
Förfarande och mätningsarrangemang för att mäta pappersyta Download PDFInfo
- Publication number
- FI111757B FI111757B FI991072A FI991072A FI111757B FI 111757 B FI111757 B FI 111757B FI 991072 A FI991072 A FI 991072A FI 991072 A FI991072 A FI 991072A FI 111757 B FI111757 B FI 111757B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- paper
- board
- measuring arrangement
- camera
- pixel
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 25
- 239000000123 paper Substances 0.000 claims description 83
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 81
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 60
- 239000011087 paperboard Substances 0.000 claims description 31
- 239000011111 cardboard Substances 0.000 claims description 21
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 238000004439 roughness measurement Methods 0.000 claims description 8
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 claims description 5
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000012086 standard solution Substances 0.000 description 1
- 229940081330 tena Drugs 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
Claims (26)
1. Förfarande för bestämning av en ytegenskap hos papper eller kartong (11), i vilket förfarande papprets eller kartongens (11) yta belyses med ett parallellriktat ljus väsentligen i riktning av papprets eller kartongens (11) yt-5 normal och papprets eller kartongens (11) belysta yta avbildas tili pixelpunkter pä en kameras (22) detektoryta, k ä n n e t e c k n a t av att, för att mätä ätmin-stone glansen som mikroytegenskap, reflekterad optisk straining (17) kontrolleras med en öppning (20, 30) med önskad storlek framför kameran (22); 10 en bild av papprets eller kartongens yta (11) i djupled för olika av ständ mellan kameran (22) och papprets eller kartongens (11) yta preciseras genom att ändra det optiska avständet; det bildas med hjälp av den reflekterade optiska strälningen (17) en bild av papprets eller kartongens (11) yta med olika optiska avständ tili pixel- 15 punkterna pä kamerans (22) detektoryta, av vilka varje pixelpunkt beskriver en yta av pappret eller kartongen (11) i mikrometerstorlek; och ätminstone papprets eller kartongens (11) glans mäts pä basis av intensiteten hos pixelpunkterna pä kamerans (22) detektoryta i bilder som har bildats i olika optiska avständ. • : 20
2. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n n e t e c k n a t av att det yt- • ' · terligare mäts papprets eller kartongens (11) yträhet pä basis av intensiteten : hos pixelpunkterna pä kamerans (22) detektoryta. * • T ' ·
3. Förfarande enligt patentkrav 1,kännetecknat av att den re- * t · ' flekterade optiska strälningens infallsvinklar tili kamerans (22) detektoryta be- : 25 gränsas med öppningen (20, 30) för mätning av glansen. : v.
4. Förfarande enligt patentkrav 2, kännetecknat av att avbild- • « ,···, ningens djupskärpa i mätningen av yträheten bestäms med öppningen (20, 30).
* * » ;. 5. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att glan- * > · 30 sen mäts med hjälp av strälning som har spegelreflekterats frän papprets eller •: * * kartongens (11) yta och spridsträlning genom att bestämma antalet pixelpunk ter som har mottagit spegelreflekterade strälar i förhällande tili andra pixelpunkter, varvid intensiteten hos den spegelreflekterade strälningen är större än 15 111757 intensiteten hos spridsträlningen.
6. Förfarande enligt patentkrav 2, kännetecknat avatt mät-ningen av yträheten omfattar förfarandestegen: med kameran (22) tas bilder med olika djuppreciseringar; 5 det bildas en intensitetsskillnad som avser en pixelpunkt eller en pixelpunktgrupp mellan successive med olika djuppreciseringar tagna bilder; ytans höjdskillnader bestäms genom att utnyttja den kunskap att intensiteten hos en pixelpunkt eller en pixelpunktgrupp är störst i fokus och papprets eller kartongens (11) yträhet bestäms av ytans höjdskill- 10 nader.
7. Förfarande enligt patentkrav 6, kännetecknat av att flera bilder tas med samma djupprecisering och de digitaliserade bildernas medeltal bildas för minskande av störningar.
8. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att öpp-15 ningen (20, 30) är en reglerbar öppning.
9. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att belys-ningen styrs tili papprets eller kartongens (11) yta genom en delvis genom- , , släppande spegel (18). • I » * I » • ·
10. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att de ; “ *; 20 tagna bilderna jämförs med varandra i en datorbaserad bildanalys.
11. Förfarande enligt patentkrav 6, k ä n n e t e c k n a t av att det : : bildas med hjälp av de tagna bilderna en höjdkarta av papprets eller kartong- :: : ens (11) yta, vilken höjdkarta beskriver yträheten. :v.
12. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att pap- • > 25 prets eller kartongens (11) tryckbarhet bestäms atminstone för mätningen av glansen.
• * » ,··*, 13. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att det ' · ‘ utförs papprets (11) eller kartongens (11) on line -mätning. • I I I I *
14. Mätningsarrangemang för bestämning av en ytegenskap hos 30 papper eller kartong (11), vilket mätningsarrangemang omfattar en optisk 16 111757 kraftkälla (14), ett kollimerande optiskt block (16) och en delvis genomsläp-pande spegel (18) för riktande av optisk straining parallellt väsentligen i rikt-ning av papprets eller kartongens (11) ytnormal tili papprets eller kartongens (11) yta, och säväl en avbildande optiskt block (13) som en kamera (22) för 5 bildning av en bild med hjälp av reflekterad optisk straining av papprets eller kartongens (11) yta som har belysts tili pixelpunkter pä kamerans (22) detek-toryta, kännetecknat avatt mätningsarrangemanget omfattar för mät-ning av ätminstone en mikroytegenskap en öppning (20, 30) med önskad stor-lek för kontrollering av den reflekterade optiska strälningen och 10 mätningsarrangemanget är anordnat att ändra det optiska avständet mellan kameran (22) och papprets eller kartongens (11) yta för ändring av en fokuspunkt pä papprets eller kartongens (11) yta och att mätä atminstone papprets eller kartongens (11) glans pä basis av intensiteten hos pixelpunkterna pä kamerans (22) detektoryta i olika optiska avständ.
15 15. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 14, kännetecknat av att mätningsarrangemanget är anordnat att mätä ytterligare papprets eller kartongens (11) yträhet pä basis av intensiteten hos pixelpunkterna pä kamerans (22) detektoryta. :' . · 20
16. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 14, kännetecknat » * :*.fi av att öppningen (20, 30) är anordnad att kontrollera den reflekterade optiska .··. strälningen genom att begränsa den reflekterade optiska strälningens infalls- • * , [ ’'; vinklar tili kamerans (22) detektoryta för förbättring av glansens mätning. • · t ! t
:.: : 17. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 15, kännetecknat 25 av att öppningen (20, 30) är anordnad att kontrollera den reflekterade optiska strälningen genom att begränsa avbildningens djupskärpa i yträhetsmätningen pä ett önskat sätt.
18. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 14, kännetecknat av att mätningsarrangemanget omfattar ett styrblock (23) för regiering av öpp-30 ningen.
:, ·,: 19. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 14, kännetecknat av att mätningsarrangemanget är anordnat att mätä glansen av förhällandet mellan spegelreflekterad strälning och spridsträlning genom att bestämma an- 17 111757 talet pixelpunkter som har mottagit spegelreflekterade strälar i förhällande till andra pixelpunkter, varvid intensiteten hos den spegelreflekterade stralningen är större än intensiteten hos spridsträlningen.
20. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 15, kännetecknat 5 av att mätningsarrangemanget är anordnat: att ta bilder med olika djuppreciseringar; att bilda en intensitetsskillnad som avser en pixelpunkt eller en pix-elpunktgrupp mellan successiva med olika djuppreciseringar tagna bilder; att bestämma ytans höjdskillnader genom att utnyttja den kunskap 10 att intensiteten hos en pixelpunkt eller en pixelpunktgrupp är störst i fokus och att bestämma av ytans höjdskillnader papprets eller kartongens yträhet.
21. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 20, kännetecknat av att mätningsarrangemanget är anordnat att ta flera bilder med samma djup- 15 precisering och att bilda de digitaliserade bildernas medeltal för minskande av störningar.
22. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 14, kännetecknat av att kameran (22) är en CCD-kamera.
'· 23. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 14, kännetecknat 20 av att mätningsarrangemanget omfattar en bildbehandlingsanordning (50), ..: som är anordnad att använda ett bildanalysprogram för bestämning av ytegen- ·: skapen.
* ♦ ... 24. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 20, kännetecknat ’ · ’ * av att datorn (50) är anordnad att bilda av bilderna en höjdkarta.
:* * *: 25 25. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 14, kännetecknat av att mätningsarrangemanget är anordnat att bestämma papprets eller kartongens (11) tryckbarhet med hjälp av ätminstone en mikroytegenskap.
26. Mätningsarrangemang enligt patentkrav 14, kännetecknat X av att mätningsarrangemanget är anordnat att utföra papprets (11) eller kar- ' 30 tongens (11) on line-mätning.
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI991072A FI111757B (sv) | 1999-05-10 | 1999-05-10 | Förfarande och mätningsarrangemang för att mäta pappersyta |
| EP00925331A EP1181533A1 (en) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
| PCT/FI2000/000411 WO2000068666A1 (en) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
| JP2000616401A JP2002544475A (ja) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | 紙表面を測定するための方法および測定装置 |
| CA002373682A CA2373682C (en) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
| AU44087/00A AU4408700A (en) | 1999-05-10 | 2000-05-09 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
| US09/953,384 US6504617B2 (en) | 1999-05-10 | 2001-09-14 | Method and measuring arrangement for measuring paper surface |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI991072A FI111757B (sv) | 1999-05-10 | 1999-05-10 | Förfarande och mätningsarrangemang för att mäta pappersyta |
| FI991072 | 1999-05-10 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI991072A0 FI991072A0 (sv) | 1999-05-10 |
| FI991072A FI991072A (sv) | 2000-11-11 |
| FI111757B true FI111757B (sv) | 2003-09-15 |
Family
ID=8554637
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI991072A FI111757B (sv) | 1999-05-10 | 1999-05-10 | Förfarande och mätningsarrangemang för att mäta pappersyta |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6504617B2 (sv) |
| EP (1) | EP1181533A1 (sv) |
| JP (1) | JP2002544475A (sv) |
| AU (1) | AU4408700A (sv) |
| CA (1) | CA2373682C (sv) |
| FI (1) | FI111757B (sv) |
| WO (1) | WO2000068666A1 (sv) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4227351B2 (ja) * | 2002-04-12 | 2009-02-18 | キヤノン株式会社 | 記録材の種別判別装置および画像形成装置 |
| WO2004097383A1 (en) * | 2003-04-29 | 2004-11-11 | Surfoptic Limited | Measuring a surface characteristic |
| DE602004030697D1 (de) | 2003-09-16 | 2011-02-03 | Paper Australia Pty Ltd | Blattoberflächen-analysator und verfahren zum analysieren einer blattoberfläche |
| JP4797593B2 (ja) * | 2005-03-10 | 2011-10-19 | 富士ゼロックス株式会社 | 光沢測定装置及びプログラム |
| SE530070C2 (sv) * | 2006-09-11 | 2008-02-26 | Stora Enso Ab | Förfarande för att förutsäga tryckbarheten hos en pappers-, kartong- eller pappyta |
| US7619740B2 (en) * | 2007-10-11 | 2009-11-17 | Honeywell International Inc. | Microgloss measurement of paper and board |
| JP5999305B2 (ja) * | 2012-02-20 | 2016-09-28 | 株式会社リコー | 光学センサ及び画像形成装置 |
| US9459206B2 (en) * | 2012-05-02 | 2016-10-04 | Datacolor Holding Ag | System and apparatus for measurement of light scattering from a sample |
| FI20126126L (sv) | 2012-10-30 | 2014-05-01 | Metso Automation Oy | Förfarande och anordning för att mäta glans |
| EP3007133B1 (en) | 2014-10-08 | 2018-06-20 | OCE-Technologies B.V. | Apparatus and method for defect detection in a printing system |
| CN106289118A (zh) * | 2016-09-06 | 2017-01-04 | 乐视控股（北京）有限公司 | 表面平整度的检测方法、装置及终端 |
| JP6667429B2 (ja) * | 2016-12-26 | 2020-03-18 | 株式会社ＰＳＭ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ | 長尺シート材の品質計測方法および品質計測装置 |
| JP2018140469A (ja) * | 2017-02-28 | 2018-09-13 | 株式会社ディスコ | 被加工物の検査方法、被加工物の検査装置及び加工装置 |
| JP6620827B2 (ja) * | 2017-04-14 | 2019-12-18 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 放射温度測定装置及び放射温度測定方法 |
| CA3101951C (en) | 2018-05-31 | 2024-04-23 | Psm International, Inc. | Quality measuring method and quality measuring device for long sheet material |
| CN110987551A (zh) * | 2019-11-11 | 2020-04-10 | 陕西师范大学 | 一种上光液的制取及其效果测试方法 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH552197A (de) | 1972-11-24 | 1974-07-31 | Bbc Brown Boveri & Cie | Einrichtung zum messen der rauhigkeit einer oberflaeche. |
| AT356935B (de) * | 1978-05-02 | 1980-06-10 | Vianova Kunstharz Ag | Anordnung zur messung der das glanzvermoegen von oberflaechen bestimmenden eigenschaften |
| IT1108255B (it) * | 1978-10-24 | 1985-12-02 | Fiat Spa | Procedimento e dispositivo per il controllo della rugosita della superficie di un pezzo che ha subito una lavorazione meccanica |
| DE3020044A1 (de) * | 1980-05-24 | 1981-12-10 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München | Geraet und verfahren zur beruehrungslosen pruefung der oberflaechenguete und zur messung der oberflaechenrauheit |
| US4806018A (en) | 1987-07-06 | 1989-02-21 | The Boeing Company | Angular reflectance sensor |
| US4878114A (en) * | 1988-05-10 | 1989-10-31 | University Of Windsor | Method and apparatus for assessing surface roughness |
| US5162660A (en) * | 1991-06-27 | 1992-11-10 | Macmillan Bloedel Limited | Paper roughness or glass sensor using polarized light reflection |
| US5689757A (en) * | 1994-07-18 | 1997-11-18 | Xerox Corporation | Method and apparatus for detecting substrate roughness and controlling print quality |
| US5686731A (en) * | 1996-04-30 | 1997-11-11 | Ati Systems, Inc. | Multi-parameter scanning system with moveable field mask |
| DE19733775A1 (de) * | 1997-08-05 | 1999-02-18 | Honeywell Ag | Verfahren zur Messung von Eigenschaften einer Materialoberfläche |
| DE69703487T2 (de) | 1997-08-22 | 2001-06-13 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Prüfung bewegter Oberflächen |
-
1999
- 1999-05-10 FI FI991072A patent/FI111757B/sv not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-05-09 JP JP2000616401A patent/JP2002544475A/ja active Pending
- 2000-05-09 EP EP00925331A patent/EP1181533A1/en not_active Withdrawn
- 2000-05-09 AU AU44087/00A patent/AU4408700A/en not_active Abandoned
- 2000-05-09 WO PCT/FI2000/000411 patent/WO2000068666A1/en not_active Application Discontinuation
- 2000-05-09 CA CA002373682A patent/CA2373682C/en not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-09-14 US US09/953,384 patent/US6504617B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU4408700A (en) | 2000-11-21 |
| FI991072A0 (sv) | 1999-05-10 |
| JP2002544475A (ja) | 2002-12-24 |
| CA2373682C (en) | 2006-12-19 |
| EP1181533A1 (en) | 2002-02-27 |
| WO2000068666A1 (en) | 2000-11-16 |
| CA2373682A1 (en) | 2000-11-16 |
| US20020114494A1 (en) | 2002-08-22 |
| FI991072A (sv) | 2000-11-11 |
| US6504617B2 (en) | 2003-01-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI111757B (sv) | Förfarande och mätningsarrangemang för att mäta pappersyta | |
| CA2605557C (en) | Method and apparatus for measuring fiber orientation of a moving web | |
| JP2518822B2 (ja) | 無接触反射率測定装置 | |
| US6549286B2 (en) | Method and measuring arrangement for measuring paper surface | |
| US7382457B2 (en) | Illumination system for material inspection | |
| US7012694B2 (en) | Apparatus and method for total internal reflection spectroscopy | |
| CA2608157C (en) | Method and apparatus for measurement of fiber orientation | |
| RU2153160C1 (ru) | Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления | |
| US6819886B2 (en) | Gloss/density measurement device with feedback to control gloss and density of images produced by an electrographic reproduction apparatus | |
| US4334780A (en) | Optical surface roughness detection method and apparatus | |
| EP2198272B1 (en) | Microgloss measurement of paper and board | |
| JP2008157933A (ja) | 色測定ヘッドおよび色測定ヘッドが装備されているスキャナー装置 | |
| US20030042438A1 (en) | Methods and apparatus for sensing degree of soiling of currency, and the presence of foreign material | |
| JP2007514219A (ja) | 紙幣検証装置のための反射式光学センサ | |
| EP0338442B1 (en) | A method and apparatus for the inspection of specularly reflective surfaces | |
| JP3646063B2 (ja) | 技術的表面における小さな周期的うねりを検出および測定するための装置 | |
| KR100288613B1 (ko) | 비접촉식표면거칠기측정장치및그방법 | |
| KR100406425B1 (ko) | 분산 적외선 조명을 이용한 표면결함 검출장치 | |
| JPS61145436A (ja) | 塗膜外観性状評価方法および装置 | |
| GB2349210A (en) | Measuring thickness using fluorescence | |
| JP2003130806A (ja) | 表面傷等の検出方法及び装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM | Patent lapsed |