CN106289118A - 表面平整度的检测方法、装置及终端 - Google Patents
表面平整度的检测方法、装置及终端 Download PDFInfo
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Abstract
本发明实施例公开了一种表面平整度的检测方法、装置及终端,涉及数据处理技术领域。其中,表面平整度的检测方法包括:获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息;根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离;根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度。本发明实施例的技术方案,通过被测表面的图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,进而确定所述被测表面的平整度,结合被测表面各检测点之间的位置关系,充分考虑被测表面的结构特性,确定表面平整度,能够简单、便捷而且准确地实现表面平整度的检测。
Description
技术领域
本发明实施例涉及数据处理技术,尤其涉及一种表面平整度的检测方法、装置及终端。
背景技术
据世界卫生组织近年来的统计数据显示,全球视力受损者总数估计超过3亿,其中,将近4000万为盲人。视力受损使得患者在日常生活中多有不便。例如,在行走时,通常需要导盲犬或者盲人手杖的引导。
发明人在实现本发明的过程中发现,现有技术存在如下缺点:导盲犬通常需要专业的导盲训练,且工作年限一般在8-10年,需要大量的人力物力,且不时有导盲犬受伤或死亡的情况发生;盲人手杖大多是通过持有人拍打路面,通过触感判断路面是否平整安全,可能会出现手杖没有检测到的不平整的区域,致使持有人没有发现路面不平整而受伤的情况,且通过人为拍打路面的方式去判断路面的平整度,需要随身携带手杖比较麻烦,操作也比较耗时、费力。
发明内容
本发明实施例提供了一种表面平整度的检测方法、装置及终端,以实现表面平整度的精准检测。
第一方面,本发明实施例提供了一种表面平整度的检测方法,该方法包括:
获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息;
根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离;
根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度。
进一步地,所述图像信息包括:单个像素点的两部分像素检测信息中的相位差;
根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离包括:
根据所述相位差信息,确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
进一步地,在所述根据各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度之前,还包括:
基于所述图像信息建立包括X轴方向和Y轴方向的直角坐标系;
基于所述直角坐标系确定所述各像素点的坐标。
进一步地,根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度包括:
基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵;
根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度。
进一步地,所述根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度包括;
获取所述距离关联矩阵中相同方向的至少两组距离元素,其中,每组距离元素至少包括三个以上的距离;
根据所述距离及所述距离对应的坐标,分别计算各组距离元素的斜率;
根据所述斜率确定所述被测表面的平整度。
进一步地,所述根据所述斜率确定所述被测表面的平整度包括:
根据所述斜率确定所述各组距离元素线性条件是否相同,
若相同,则确定所述被测表面平整;
若不相同,则获取所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点;若所述不平整点连续,且所形成的区域的面积达到预设面积,则确定所述被测表面不平整。
进一步地,在确定所述被测表面的平整度之后还包括:
若所述表面不平整,则对用户进行提示。
第二方面,本发明实施例还提供了一种表面平整度的检测装置,所述装置包括:
图像信息获取模块,用于获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息;
距离确定模块,用于根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离;
平整度确定模块,用于根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度。
进一步地,所述图像信息包括:单个像素点的两部分像素检测信息中的相位差;
距离确定模块具体用于:
根据所述相位差信息,确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
进一步地,还包括:
坐标系建立模块,用于在所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度之前,基于所述图像信息建立包括X轴方向和Y轴方向的直角坐标系;
像素点坐标确定模块,用于基于所述直角坐标系确定所述各像素点的坐标。
进一步地,所述平整度确定模块包括:
距离关联矩阵建立单元,用于基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵;
平整度确定单元,用于根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度。
进一步地,所述平整度确定单元包括:
距离元素获取子单元,获取所述距离关联矩阵中相同方向的至少两组距离元素,其中,每组距离元素至少包括三个以上的距离;
斜率计算子单元,用于根据所述距离及所述距离对应的坐标,分别计算各组距离元素的斜率;
平整度确定子单元,用于根据所述斜率确定所述被测表面的平整度。
进一步地,所述平整度确定子单元具体用于:
根据所述斜率确定所述各组距离元素线性条件是否相同,
若相同,则确定所述被测表面平整;
若不相同,则获取所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点;若所述不平整点连续,且所形成的区域的面积达到预设面积,则确定所述被测表面不平整。
进一步地,所述的表面平整度检测装置还包括:
提示模块,用于在确定所述被测表面的平整度之后,若所述表面不平整,则对用户进行提示。
第三方面,本发明实施例还提供了一种终端,包括本发明任意实施例所述的表面平整度检测装置。
本发明实施例的技术方案,通过被测表面的图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,进而确定所述被测表面的平整度,结合被测表面各检测点之间的位置关系,充分考虑被测表面的结构特性,确定表面平整度,优化了现有的表面平整度的检测方法,能够简单、便捷而且准确地实现表面平整度的检测。
附图说明
为了更加清楚地说明本发明示例性实施例的技术方案,下面对描述实施例中所需要用到的附图做一简单介绍。显然,所介绍的附图只是本发明所要描述的一部分实施例的附图,而不是全部的附图,对于本领域普通技术人员,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图得到其他的附图。
图1A为本发明实施例一所提供的一种表面平整度的检测方法的流程图;
图1B为本发明实施例一所提供的一种表面平整度的检测方法的原理图;
图2A为本发明实施例二所提供的一种表面平整度的检测方法的流程图;
图2B为本发明实施例二所提供的一种直角坐标系的建立方法的示意图;
图3为本发明实施例三所提供的一种表面平整度的检测方法的流程图;
图4为本发明实施例四所提供的一种表面平整度的检测装置的结构图;
图5为本发明实施例五所提供的一种表面平整度的检测装置的结构图;
图6为本发明实施例六所提供的一种终端的结构图;
图7为本发明实施例七提供的用于表面平整度的检测的计算机程序的结构图。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是,一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各步骤描述成顺序的处理,但是其中的许多步骤可以被并行地、并发地或者同时实施。此外,各步骤的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止,但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
实施例一
图1A为本发明实施例一提供的一种表面平整度的检测方法的流程图。如图1A所示,本实施例的方法可以由表面平整度的检测装置来执行,该装置可通过硬件和/或软件的方式实现,并一般可独立的配置在用户终端中实现本实施例的方法。
本实施例的方法具体包括:
S110、获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息。
示例性地,图像信息可包括图像的像素点数量、像素点间距及相位差等图像中的像素点的信息。可选地,获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息具体可包括:获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像;基于所述图像获取与所述被测表面各轮廓点对应的图像信息。或者,获取摄像头所捕捉到的被测表面的各像素点的信息。
若所述摄像头配置于终端中,所述摄像头可包括前置摄像头或后置摄像头。可选地,可基于双像素探测传感器获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息,具体可以是启用摄像头,基于双像素探测传感器实时获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息。其中,摄像头所捕捉到的被测表面的图像可以是摄像头所在的设备的图像预览界面中所显示的图像的信息,即取景框内的图像的信息。当然也可以是摄像头捕捉到被测表面后所拍摄的图像的信息。采用双像素探测传感器,可以将单个像素一分为二,然后两个光电二极管协同工作,实现对焦的相位差检测,而在拍摄照片的时候,两个光电二极管又将各自的图像信号汇合起来,作为一个像素进行输出,每一个像素都可以同时用于感光成像或对焦,能够有效提高画质。
S120、根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
在本实施例中,示例性地,所述图像信息包括:单个像素点的两部分像素检测信息中的相位差;相应地,根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离包括:根据所述相位差信息,确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。具体可以是,根据当前相位差,以及各像素点与所述被测表面的各检测点之间的距离(即,被测表面距离)与相位差之间的对应关系,确定各像素点与所述被测表面之间的距离。进一步地,可以根据各像素点与所述被测表面距离与所述相位差信息之间的线性关系,确定所述被测表面距离。具体可以是,根据所述相位差信息,确定被测表面距离包括:根据各像素点与所述被测物体之间的至少两个预设距离,以及所述相位差信息,确定所述预设距离与所述相位差信息之间的线性关系;根据所述线性关系以及所述像素点的当前的相位差信息,确定被测表面距离。其中,所述相位差信息包括:所述各像素点的同一个检测点所对应的像素点的相位差信息。。
举例而言,基于双像素传感器获取的像素检测信息(Pixel Detection,PD),在光路倾斜的下会有不同的进光量。双像素传感器的在成像过程中模拟人眼成像,因此,可以获取同一像素点的了两部分像素检测点信息,在焦前焦后,相位差由于进光量的变化,会发生变化。。在工厂生产时,可以取两个已知物体距离,ODis1,ODis2。将像素点在物体距离为ODis1时,定义(PD Pixel 1–PD Pixel)为该像素点的相位差,将像素点在物体距离为Odis2时,定义(PD Pixel 3–PD Pixel 2)为该像素点的相位差。设Y为被测物体距离,X为相位差信息,计算所述摄像头与所述被测物体之间的距离与所述相位差信息之间的线性关系Y=aX+b。相位差为1表示物体距离为Odis1时的(PD Pixel 1–PD Pixel);相位差2表示物体距离为Odis2时的(PD Pixel 3–PD Pixel 2),那么,根据Odis1=a*(相位差1)+b;Odis2=a*(相位差2)+b,可求出a,b值,确定各像素点与所述被测物体之间的距离与相位差确定之间的对应关系Y=aX+b。后续获取当前检测到的PD相位差值,即可根据Y=aX+b,求出物体距离Y。
或者,根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,还可以包括:在所述摄像头对焦过程中检测所述图像的清晰度;当所述清晰度满足预设条件时获取马达下发的数值;根据所述下发数值确定所述摄像头与所述被测表面之间的距离。其中,根据所述下发数值确定所述摄像头与所述被测表面之间的距离可包括:根据所述下发数值确定当前镜头移动距离;根据所述当前镜头移动距离,确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
具体地,所述根据所述下发数值确定当前镜头移动距离可包括:根据所述摄像头的模组中预先存储的近焦值、远焦值、镜头焦距以及摄像头与物体之间的预设距离,确定至少两个与所述预设距离对应的镜头移动距离;根据两个所述镜头移动距离的比值以及所述下发数值,确定当前镜头移动距离。
举例而言,首先,根据所述摄像头的模组中预先存储的近焦值、远焦值、镜头焦距以及摄像头与物体之间的预设距离10cm与500cm,分别确定与所述预设距离为10cm与500cm时所对应的镜头移动距离。具体可以是,根据公式y1=((EFL*EFL)/(10*10-EFL))*1000计算摄像头与被测物体距离为10cm时的镜头移动的距离y1;类似地,根据公式y2=((EFL*EFL)/(500*10-EFL))*1000计算摄像头与被测物体距离为500cm时的镜头移动的距离y2;进而,计算两个预设距离的镜头移动距离之差和远焦值与近焦值之差的比值L=(y2-y1)/(x2-x1);根据比值L和马达下发数值DAC以及(y-y1)/(DAC-x1)=L计算每个DAC值对应的镜头移动距离值y。
其中,y1表示在摄像头与被测物体距离为10cm时的镜头移动的距离lens shift;y2表示在摄像头与被测物体距离为10cm时的镜头移动的距离lens shift;EFL表示焦距;x1表示近焦值marco code;x2表示远焦值infinite code;DAC表示对焦时马达下发的数值。
在本实施例中,由于焦距与透镜的曲率相关,因此可以由拍摄装置的模组厂提供;近焦值和远焦值可以从拍摄装置的模组中的EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read-Only Memory,电可擦可编程只读存储器)中读取。
然后,根据预设距离计算出镜头移动距离,建立摄像头与所述被测表面之间的距离(即被测距离)和镜头移动距离之间的对应关系,进而根据当前镜头移动距离确定所述摄像头与所述被测表面之间的距离。示例性地,当前镜头移动距离值y已知时,可以根据焦距以及当前镜头移动距离以及公式(EFL*EFL)/(Z*10-EFL)=y/1000,确定出摄像头与所述被测表面之间的距离Z。可以理解的是,当用户采用移动终端进行拍摄时,可根据摄像头与所述被测表面之间的距离近似确定移动终端与所述被测表面之间的距离。
此外,还可以根据双摄像头拍摄大图像的景深等方式,确定出所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
S130、根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度。
示例性地,表面的平整度可以包括平整和不平整,可以根据表面上各检测点之间的位置关系确定。具体地,可以根据各检测点,或各检测点所对应的各像素点之间的位置关系,基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵,根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度。还可以基于所述直角坐标系确定所述各像素点的坐标;基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵,根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度。或者,可以根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的状态,进而根据所述被测表面的状态,确定所述被测表面的平整度。
或者,还可以是将被测表面的各检测点与对应的像素点的之间的距离做差值,根据所述差值确定被测表面的平整度。举例而言,如图1B所示,可获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像中各检测点对应的图像信息,基于双像素传感器获取到的像素点信息,确定各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。其中,dDis表示物体中心距离透镜的距离;dDis1表示被测表面的检测点A与透镜之间的距离;dDis2表示被测表面的检测点B与透镜之间的距离;Od表示被测表面的检测点C与透镜之间的距离。检测点A、C与所述被测表面之间的距离dDis1、dDis2可分别近似为AF与BE的长度。若dDis1、dDis2与Od相同,或者dDis1、dDis2与Od之间的差值相同,或者Dis1、dDis2与Od之间的差值满足预设条件(例如在预设的差值范围内),则可以确定被测表面平整;否则确定被测表面不平整。可以理解的是们应当根据尽可能多的检测点与对应的像素点的之间的距离,确定被测表面的平整度。本实施例的技术方案,通过被测表面的图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,进而确定所述被测表面的平整度,结合被测表面各检测点之间的位置关系,充分考虑被测表面的结构特性,确定表面平整度,优化了现有的表面平整度的检测方法,能够简单、便捷而且准确地实现表面平整度的检测。
实施例二
图2A为本发明实施例二提供的表面平整度的检测方法的流程图,如图2A所示,本实施例在上述各实施例的基础上,可选是,在所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度之前,还包括:基于所述图像信息建立包括X轴方向和Y轴方向的直角坐标系;基于所述直角坐标系确定所述各像素点的坐标。
进一步地,根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度可包括:基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵;根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度。
相应的,本实施例的方法具体包括:
S210、获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息。
S220、根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
S230、基于所述图像信息建立包括X轴方向和Y轴方向的直角坐标系。
在本实施例中,用户可以根据实际需求,基于所述图像信息以任意方向为X轴方向,进而根据X轴方向确定Y轴方向即可。这样设置的好处在于,可以确定图像信息中各像素点的位置,以及各像素点之间的位置关系,以便根据各像素点之间的位置关系,以及被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定被测表面的平整度。其中,直角坐标系的刻度也可以根据实际的计算需求进行设定,在此并不做限定。
示例性地,如2B所示,可以根据像素点的位置和排布方向建立直角坐标系,其中,圆角矩形所包围的区域为摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息;圆角矩形所包围的区域中的圆形可以表示为凸起或者凹陷区域;X轴与Y轴的刻度可选是根据像素的大小或者像素大小的倍数进行标注。
S240、基于所述直角坐标系确定所述各像素点的坐标。
具体可以是,根据各像素点的位置以及建立的直角坐标系,确定所述各像素点的坐标,以便根据所述像素点的坐标建立距离关联矩阵。
S250、基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵。
其中,距离关联矩阵中的元素为所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离;距离元素的位置可基于所述像素点的坐标进行排布。
S260、根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度。
具体地,可以获取所述距离关联矩阵中相同方向的距离元素,通过所述距离元素计算该方向的距离元素的斜率,进而根据所述斜率确定所述被测表面的平整度。或者,获取距离关联矩阵中相同方向的距离元素进行比对,根据比对结果确定所述被测表面的平整度。若相同方向上的相同位置的距离元素间的差值相同,则可以确定所述被测表面平整。本实施例的技术方案,通过像素点的坐标以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离建立距离关联矩阵,进而根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度,可以有效将各像素点的位置与距离关联矩阵对应起来,进而将各检测点的坐标与距离关联矩阵对应起来,可以有效地通过距离关联矩阵确定各检测点的状态,进而确定所述被测表面的平整度。
实施例三
图3为本发明实施例三提供的表面平整度的检测方法的流程图,本实施例在上述各实施例的基础上,可选是根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度包括:获取所述距离关联矩阵中相同方向的至少两组距离元素,其中,每组距离元素至少包括三个以上的距离;根据所述距离及所述距离对应的坐标,分别计算各组距离元素的斜率;根据所述斜率确定所述被测表面的平整度。
进一步地,根据所述斜率确定所述被测表面的平整度包括:根据所述斜率确定所述各组距离元素线性条件是否相同,若相同,则确定所述被测表面平整;若不相同,则获取所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点;若所述不平整点连续,且所形成的区域的面积达到预设面积,则确定所述被测表面不平整。
相应的,本实施例的方法包括:
S301、获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息。
S302、根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
S303、基于所述图像信息建立包括X轴方向和Y轴方向的直角坐标系;
S304、基于所述直角坐标系确定所述各像素点的坐标。
S305、基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵。
S306、获取所述距离关联矩阵中相同方向的至少两组距离元素,其中,每组距离元素至少包括三个以上的距离。
在本实施例中,距离关联矩阵中相同方向的距离元素可以理解为同一个方向上排布的检测点所对应的距离。可以理解的是,为了尽可能准确地确定各组距离元素的斜率,可以尽可能多地选取距离元素。
S307、根据所述距离及距离对应的坐标,分别计算各组距离元素的斜率。
如上所述,同一组的距离元素沿同一方向,根据其中任意两个距离及距离对应的坐标,可以计算出各该组距离元素的斜率,进而可分别计算各组距离元素的斜率。为了充分考虑各检测点的特性,可以将一组距离元素中的距离元素两两组合求斜率,以便判断出各组距离元素的斜率。
S308、根据所述斜率确定所述各组距离元素线性条件是否相同,若相同,则执行S309,若不相同,则执行S310。
如上所述,选取的各组距离元素均在相同方向上,若各组距离元素的斜率相同,则确定所述被测表面的平整,若所述各组距离元素线性条件不相同,则获取所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点,根据不平整点确定所述被测表面是否平整。
S309、确定所述被测表面的平整。
S310、获取所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点,执行S311。
具体地,可以将各组距离元素中的检测点根据斜率值进行分类,确定出不满足所述线性条件的检测点作为不平整点。例如,可以将各组距离元素中多数距离元素满足的斜率作为线性条件,进而获取所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点。
S311、判断所述不平整点是否连续;若是,则执行S312,若否,则返回S309。
示例性地,判断所述不平整点是否连续可以根据不平整点的坐标,或者在距离关联矩阵中的位置关系进行判定,若各不平整点的坐标,或者在距离关联矩阵中的位置相邻或可连接成一个的区域,则认为所述不平整点连续。
S313、判断所述连续不平整点所形成的区域的面积是否达到预设面积,若是,则执行S309,若否,则执行S313。
其中,所形成的区域的面积可以通过微积分或者其他现有的面积计算方法进行计算。预设面积可选是可以为原有面积的百分比,也可以是具体的数值,用户可以根据实际需求进行设定,在此不做限定。
S313、确定所述被测表面不平整。
本实施例的技术方案,可以通过距离关联矩阵中个各组距离元素的线性条件,确定出所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点,进而在不平整点连续且所形成的区域的面积达到预设面积时,确定所述被测表面不平整,否则,确定所述被测表面平整,能够结合表面的结构特性,且充分考虑到表面本身的不绝对光滑特点,结合实际情况,给出非线性点是否连续且所形成的区域的面积是否达到预设面积的条件,确定被测表面是否平整,更加准确。由于预设面积的大小可以根据用户的实际需求来确定,预设面积越大,被测表面的平整度可能越低,从而更加切合不同用户对平整度检测的实际需求。
更加切合用户的实际需求。
在上述各技术方案的基础上,可选是在确定所述被测表面的平整度之后还包括:若所述表面不平整,则对用户进行提示。例如,可以通过触发检测设备发出警报对用户进行提示,或者也可以通过关联的手机等终端以震动、响铃等方式对用户进行提示。这样设置的好处在于,用户可以在被测表面不平整时,根据提示及时发现问题,解决问题,充分发挥表面平整度检测的作用,避免产生不必要的损失,更加智能化,更加贴合用户的实际需求。例如,在盲人等特殊人群行走时,可用于检测路面的平整度,在路面出现坑坑洼洼等不平整现象时,及时进行提示,可以有效地避免磕碰。
实施例四
图4所示为本发明实施四提供的一种表面平整度的检测装置的结构图,该装置可通过硬件和/或软件的方式实现,并一般可独立的配置在用户终端的应用端内中实现本实施例的方法。如图4所示,所述表面平整度的检测装置具体包括:图像信息获取模块410、距离确定模块420和平整度确定模块430。
其中,图像信息获取模块410,用于获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息;距离确定模块420,用于根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离;平整度确定模块430,用于根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度。
本实施例的技术方案,通过被测表面的图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,进而确定所述被测表面的平整度,结合被测表面各检测点之间的位置关系,充分考虑被测表面的结构特性,确定表面平整度,优化了现有的表面平整度的检测方法,能够简单、便捷而且准确地实现表面平整度的检测。
实施例五
图5为本发明实施例五提供的一种表面平整度的检测的结构图,如图5所示,在上述实施例五的基础上,所述表面平整度的检测装置具体包括:图像信息获取模块510、距离确定模块520和平整度确定模块530。
可选是,所述图像信息包括:单个像素点的两部分像素检测信息中的相位差;
相应的,距离确定模块520具体用于:根据所述相位差信息,确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
在上述各实施例的基础上,所述的表面平整度的检测装置还包括:坐标系建立模块和像素点坐标确定模块。其中,坐标系建立模块,用于在所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度之前,基于所述图像信息建立包括X轴方向和Y轴方向的直角坐标系;像素点坐标确定模块,用于基于所述直角坐标系确定所述各像素点的坐标。
在上述各实施例的基础上,所述平整度确定模块530包括:距离关联矩阵建立单元和平整度确定单元。其中,距离关联矩阵建立单元,用于基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵;平整度确定单元,用于根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度。
在上述各实施例的基础上,所述平整度确定单元包括:距离元素获取子单元、斜率计算子单元和平整度确定子单元。其中,距离元素获取子单元,获取所述距离关联矩阵中相同方向的至少两组距离元素,其中,每组距离元素至少包括三个以上的距离;斜率计算子单元,用于根据所述距离及所述距离对应的坐标,分别计算各组距离元素的斜率;平整度确定子单元,用于根据所述斜率确定所述被测表面的平整度。
在上述各实施例的基础上,所述平整度确定子单元具体用于:
根据所述斜率确定所述各组距离元素线性条件是否相同,
若相同,则确定所述被测表面平整;
若不相同,则获取所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点;若所述不平整点连续,且所形成的区域的面积达到预设面积,则确定所述被测表面不平整。
在上述各实施例的基础上,所述的表面平整度检测装置还包括:
提示模块540,用于在确定所述被测表面的平整度之后,若所述表面不平整,则对用户进行提示。
本发明实施例还提供了一种终端,包括本发明任意实施例所述的表面平整度检测装置。示例性的,本实施例中的移动终端具体可为手机、平板电脑以及数码照相机等配置有拍摄功能的终端设备。
上述实施例中提供的表面平整度的检测装置及终端可执行本发明任意实施例所提供的表面平整度的检测方法,具备执行该方法相应的功能模块和有益效果。未在上述实施例中详尽描述的技术细节,可参见本发明任意实施例所提供的表面平整度的检测方法。
实施例六
图6为本发明实施例六提供的终端的结构图。如图6所示,本发明实施例的终端包括:存储器610、一个或多个处理器620以及一个或多个程序630。
其中,所述一个或多个程序630在由一个或多个处理器620执行时执行上述实施例中的任意一种方法。
本发明实施例的终端,通过被测表面的图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,进而确定所述被测表面的平整度,结合被测表面各检测点之间的位置关系,充分考虑被测表面的结构特性,确定表面平整度,优化了现有的表面平整度的检测方法,能够简单、便捷而且准确地实现表面平整度的检测。
实施例七
图7为本发明实施例七提供的用于表面平整度的检测的计算机程序的结构图。如图7所示,本发明实施例的用于表面平整度的检测的计算机程序产品710,可以包括信号承载介质720。信号承载介质720可以包括一个或更多个指令730,该指令730在由例如处理器执行时,处理器可以提供以上针对图1-6描述的功能。例如,指令730可以包括:用于获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息的一个或多个指令;用于根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离的一个或多个指令,以及用根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度的一个或多个指令。因此,例如,参照图4和图5,表面平整度的检测装置可响应于指令730来进行图1中所示的步骤中的一个或更多个。
在一些实现中,信号承载介质720可以包括计算机可读介质740,诸如但不限于硬盘驱动器、压缩盘(CD)、数字通用盘(DVD)、数字带、存储器等。在一些实现中,信号承载介质720可以包括可记录介质750,诸如但不限于存储器、读/写(R/W)CD、R/W DVD等。在一些实现中,信号承载介质720可以包括通信介质760,诸如但不限于数字和/或模拟通信介质(例如,光纤线缆、波导、有线通信链路、无线通信链路等)。
本发明实施例的计算机程序产品,获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息;根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离;根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度。本发明的计算机程序产品,通过被测表面的图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,进而确定所述被测表面的平整度,结合被测表面各检测点之间的位置关系,充分考虑被测表面的结构特性,确定表面平整度,优化了现有的表面平整度的检测方法,能够简单、便捷而且准确地实现表面平整度的检测。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件。基于这样的理解,上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中,如ROM/RAM、磁碟、光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
显然,本领域技术人员应该明白,上述的本发明的各模块或各步骤可以通过如上所述的应用端实施。可选地,本发明实施例可以用计算机装置可执行的程序来实现,从而可以将它们存储在存储装置中由处理器来执行,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等;或者将它们分别制作成各个集成电路模块,或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样,本发明不限制于任何特定的硬件和软件的结合。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (15)
1.一种表面平整度的检测方法,其特征在于,包括:
获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息;
根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离;
根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度。
2.根据权利要求1所述的表面平整度的检测方法,其特征在于,所述图像信息包括:单个像素点的两部分像素检测信息中的相位差;
根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离包括:
根据所述相位差信息,确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
3.根据权利要求1所述的表面平整度的检测方法,其特征在于,在所述根据各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度之前,还包括:
基于所述图像信息建立包括X轴方向和Y轴方向的直角坐标系;
基于所述直角坐标系确定所述各像素点的坐标。
4.根据权利要求3所述的表面平整度的检测方法,其特征在于,根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度包括:
基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵;
根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度。
5.根据权利要求4所述的表面平整度的检测方法,其特征在于,所述根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度包括;
获取所述距离关联矩阵中相同方向的至少两组距离元素,其中,每组距离元素至少包括三个以上的距离;
根据所述距离及所述距离对应的坐标,分别计算各组距离元素的斜率;
根据所述斜率确定所述被测表面的平整度。
6.根据权利要求5所述的表面平整度的检测方法,其特征在于,所述根据所述斜率确定所述被测表面的平整度包括:
根据所述斜率确定所述各组距离元素线性条件是否相同,
若相同,则确定所述被测表面平整;
若不相同,则获取所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点;若所述不平整点连续,且所形成的区域的面积达到预设面积,则确定所述被测表面不平整。
7.根据权利要求1-6任一所述的表面平整度检测方法,其特征在于,在确定所述被测表面的平整度之后还包括:
若所述表面不平整,则对用户进行提示。
8.一种表面平整度的检测装置,其特征在于,包括:
图像信息获取模块,用于获取摄像头所捕捉到的被测表面的图像信息;
距离确定模块,用于根据所述图像信息确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离;
平整度确定模块,用于根据所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度。
9.根据权利要求8所述的表面平整度的检测装置,其特征在于,所述图像信息包括:单个像素点的两部分像素检测信息中的相位差;
距离确定模块具体用于:
根据所述相位差信息,确定所述被测表面的各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离。
10.根据权利要求8所述的表面平整度的检测装置,其特征在于,还包括:
坐标系建立模块,用于在所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,确定所述被测表面的平整度之前,基于所述图像信息建立包括X轴方向和Y轴方向的直角坐标系;
像素点坐标确定模块,用于基于所述直角坐标系确定所述各像素点的坐标。
11.根据权利要求10所述的表面平整度的检测装置,其特征在于,所述平整度确定模块包括:
距离关联矩阵建立单元,用于基于所述像素点的坐标,以及所述各检测点与所述各检测点所对应的各像素点之间的距离,建立距离关联矩阵;
平整度确定单元,用于根据所述距离关联矩阵确定所述被测表面的平整度。
12.根据权利要求11所述的表面平整度的检测装置,其特征在于,所述平整度确定单元包括:
距离元素获取子单元,获取所述距离关联矩阵中相同方向的至少两组距离元素,其中,每组距离元素至少包括三个以上的距离;
斜率计算子单元,用于根据所述距离及所述距离对应的坐标,分别计算各组距离元素的斜率;
平整度确定子单元,用于根据所述斜率确定所述被测表面的平整度。
13.根据权利要求12所述的表面平整度的检测装置,其特征在于,所述平整度确定子单元具体用于:
根据所述斜率确定所述各组距离元素线性条件是否相同,
若相同,则确定所述被测表面平整;
若不相同,则获取所述各组距离元素中的不满足所述线性条件的检测点作为不平整点;若所述不平整点连续,且所形成的区域的面积达到预设面积,则确定所述被测表面不平整。
14.根据权利要求8-13任一所述的表面平整度检测装置,其特征在于,还包括:
提示模块,用于在确定所述被测表面的平整度之后,若所述表面不平整,则对用户进行提示。
15.一种终端,其特征在于,包括权利要求8-14任一所述的表面平整度检测装置。
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