ES2926125T3 - Procedimiento, dispositivo y línea de inspección para la determinación de una rebaba en el anverso de un borde interno de una superficie de anillo - Google Patents

Procedimiento, dispositivo y línea de inspección para la determinación de una rebaba en el anverso de un borde interno de una superficie de anillo Download PDF

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Abstract

La invención se refiere a un método para detectar la presencia de una rebaba en un borde interno de una superficie de collar (16) de un collar de un recipiente, que consiste en: - la iluminación de la superficie de collar (16) del recipiente desde arriba, utilizando un haz de luz radial de 360 grados y verlo en un plano de visión periférico - la formación en una primera zona de imagen de un primer círculo principal; y de al menos un arco secundario de círculo concéntrico con dicho primer círculo principal y desplazado radialmente con respecto al mismo - la búsqueda, en dicha primera zona de imagen, del mencionado primer círculo principal y de un posible primer arco secundario de círculo . La invención también se refiere a un dispositivo para implementar tal método ya una línea que comprende tal dispositivo. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

DESCRIPCIÓN
Procedimiento, dispositivo y línea de inspección para la determinación de una rebaba en el anverso de un borde interno de una superficie de anillo
La invención se refiere al campo de la inspección de recipientes, en particular de vidrio, y más precisamente a la inspección de la superficie de anillo de dichos recipientes para detectar en ellos la presencia de una eventual rebaba en el anverso de un borde interno de la superficie de anillo.
En las figuras 1A a 1C, se ha ilustrado, en sección mediante un plano radial, únicamente la parte superior del cuello de un recipiente 14, que presenta un anillo 12. Sólo se ilustra una mitad de la sección. Un recipiente 14 está definido como un contenedor hueco que define un volumen interno que está cerrado sobre toda su periferia volúmica salvo a nivel de un anillo superior 12 abierto en un extremo.
Por comodidad y únicamente a título de definición arbitraria, se considerará, en efecto, que el recipiente 14 comprende un eje central teórico A1, definido como el eje central teórico de su anillo 12. Se considerará también arbitrariamente que el anillo está dispuesto en el extremo superior del recipiente. Así, en el presente documento, los conceptos de arriba, abajo, superior e inferior tienen un valor relativo que corresponde a la orientación del dispositivo según la invención y del recipiente 14 tales como se han representado en las figuras. Sin embargo, se comprende que la invención se podría realizar con una orientación absoluta indiferente en el espacio, en la medida en la que los diferentes componentes permanecen dispuestos con la misma disposición relativa.
El anillo 12 del recipiente es cilíndrico de revolución alrededor del eje A1. El cuerpo del recipiente, no representado, puede ser también un volumen de revolución o no. El anillo 12 está unido por su extremo inferior (no representado) al cuello del recipiente, mientras que su otro extremo libre, denominado superior por elección arbitraria en el marco de la presente descripción, se termina por una superficie de anillo 16.
La superficie de anillo 16 es la superficie superior o la arista superior del anillo 12 del recipiente, siendo el anillo, en el caso de una botella, la parte superior abultada del cuello del recipiente. De forma de revolución alrededor del eje central teórico del anillo 12, en particular de forma circular, anular o parcialmente toroidal, la superficie de anillo 16 es más o menos extensa según una dirección radial al eje central teórico A1. En teoría, esta superficie es plana en un plano perpendicular al eje central teórico, en el sentido de que presenta por lo menos una línea de contacto continua sobre 360° alrededor del eje con este plano, y es perfectamente circular. Al ser plano en el sentido anterior, su perfil radial, es decir, en sección mediante un plano radial que contiene el eje central teórico, puede tener unas formas diferentes: el perfil puede ser plano, redondeado, en V invertida, etc.
En el ejemplo ilustrado en la figura 1A, la superficie de anillo 16 presenta un perfil radial abombado, convexo, entre un borde interno 15 y un borde externo 17. El borde interno 15 se considerará como la intersección de la superficie de anillo 16 y de una superficie interna 13 del anillo del recipiente, cuya orientación general es cercana a la del eje A1 del recipiente 14.
Entre los defectos que se pueden encontrar sobre una superficie de anillo, la invención tiene como objetivo detectar los defectos de tipo "rebaba" que, si están presentes, se sitúan en el anverso del borde interno 15 de la superficie del anillo 16. Estos defectos de tipo rebaba se denominan también "salientes de anillo" o "overpress". Una rebaba se presenta en forma de un defecto del perfil radial de la superficie de anillo en sección por un plano radial, estando este defecto situado en el anverso del borde interno 15 de la superficie de anillo 16. Generalmente, dicho defecto de tipo rebaba no es puntual, por lo tanto no está contenido en un plano radial único, sino que se extiende sobre un arco de círculo alrededor del eje teórico A1 de la superficie de anillo 16, generalmente sobre por lo menos 1° grado de ángulo alrededor de este eje.
Un defecto de tipo rebaba se caracteriza por una altura anormal según la dirección del eje teórico de la superficie de anillo. Esta altura se puede apreciar con respecto a la altura, según la dirección del eje teórico de la superficie de anillo, de una línea circular que es la intersección de la superficie de anillo 16 con un plano de referencia perpendicular al eje teórico A1 de la superficie de anillo. Se puede definir como dicho plano de referencia, el plano PRef de la figura 1a que es perpendicular al eje teórico A1 y que contiene un punto particular Sref de la superficie de anillo 16. Este punto particular puede ser, por ejemplo, el punto más alto de la superficie de anillo 16 según la dirección del eje teórico A1. Alternativamente, este punto particular puede ser un punto en el que la superficie de anillo presenta una normal que forme un ángulo predeterminado con respecto a la dirección del eje central teórico.
En las figuras 1B y 1C, se han ilustrado dos ejemplos de superficie de anillo 16 que presentan, a nivel del borde interno 15 de la superficie de anillo, un defecto de tipo rebaba. Se observa en los dos casos que este defecto da como resultado la formación, en el anverso del borde interno 15, de un pico localizado de material que está enmarcado radialmente hacia el exterior por una depresión en el perfil de la superficie de anillo, y radialmente hacia el interior por la superficie interna 13 del anillo 12. Generalmente se admite que un defecto de tipo rebaba se extiende según un arco de círculo alrededor del eje teórico A1. En los ejemplos ilustrados, el defecto puede estar caracterizado por un punto somital, o una línea somital S que representa el extremo superior de la rebaba según la dirección del eje teórico A1. En un plano radial, se puede definir así una altura característica de un defecto de tipo rebaba señalando, en este plano radial, la distancia dZ entre el punto somital S y un plano de referencia, por ejemplo el plano Pref tal como se ha definido anteriormente, lo cual equivale a la diferencia de altura según la dirección del eje teórico A1 entre el punto particular Sref de la superficie de anillo y el punto somital S de la rebaba.
En el ejemplo de la figura 1B, el punto somital S de la rebaba está situado por debajo del plano de referencia Pref. En el ejemplo ilustrado en la figura 1C, el punto somital S de la rebaba está situado por encima del plano de referencia Pref.
Ya se han propuesto diversos procedimientos y dispositivos para inspeccionar unos recipientes con el fin de determinar la presencia o no de un defecto de tipo rebaba tal como el definido anteriormente.
El documento US-4.811.251 y el documento WO-2008/129650 describen un procedimiento de detección de rebaba. En estos dispositivos y estos procedimientos, la superficie de anillo es analizada según un plano radial, y es necesario hacer girar el recipiente 360° para hacer un análisis completo de la superficie. Un sistema de iluminación comprende una fuente luminosa central que permite iluminar localmente la superficie de anillo según una dirección que se aparta del eje a nivel de la incidencia de los rayos sobre la superficie de anillo. La utilización de dicho dispositivo requiere un tiempo de inspección relativamente largo ya que necesita unas capturas de imágenes sucesivas a medida que el recipiente a inspeccionar es accionado en rotación alrededor de su eje, permaneciendo el eje del recipiente inmóvil con respecto al dispositivo de inspección.
Además, dicho dispositivo, que impone una rotación del recipiente alrededor de su eje, no es utilizable realmente para una inspección en línea de los recipientes cuando éstos están en movimiento, por ejemplo en una línea de inspección, de fabricación, de transporte, de tratamiento o de acondicionamiento. En efecto, esta restricción impone la introducción del recipiente en un puesto de control o estación de inspección, su puesta en rotación, el control durante más de una vuelta, la detención de la rotación, la extracción del puesto y el regreso a la línea. Además, las máquinas de manipulación necesarias para introducir y extraer el recipiente del puesto de control tienen unos costes elevados de adquisición y de explotación. El documento US-0.878.705 describe otro de estos dispositivos de inspección que necesita una rotación del recipiente.
El documento FR-2.884.611 propone utilizar varias cámaras, observando cada cámara un sector angular particular del anillo. La iluminación se produce mediante una fuente de luz de revolución centrada sobre el eje. Esta solución adolece del inconveniente de utilizar varios sensores de imagen costosos, y no proporciona ninguna información sobre la detección de las rebabas. Además, las diferentes cámaras proporcionan, cada una, solo una imagen parcial de la superficie de anillo.
Es por esto por lo que la mayoría de los sistemas comprenden preferentemente una única cámara de eje óptico centrado sobre el eje central teórico de los anillos, que realiza una imagen bidimensional directa de la superficie de anillo. Todos estos sistemas en translación permiten la inspección a gran velocidad gracias a la adquisición de una única imagen sobre unos artículos en translación a alta cadencia, pudiendo las velocidades de desplazamiento alcanzar 1 m/s.
El documento US-2001-048524 presenta una solución en la que la iluminación está dedicada a poner en evidencia defectos de tipo cordón sobre anillo, por medio de una iluminación tangencial. No está adaptada para la visualización de las rebabas. El documento US-2004-150815 presenta una solución de iluminación en la que se añade una iluminación rasante direccional a una iluminación en cúpula difusa, y dedicada a poner en evidencia las rebabas.
El documento FR-2.846.422 propone combinar varias iluminaciones dedicadas a la observación de diferentes defectos sobre la superficie de anillo. La cámara de color está centrada sobre el eje óptico. Una de las iluminaciones, centrípeta y rasante, ilumina el anillo con el objetivo de revelar unas rebabas internas.
A pesar de estos esfuerzos, estos sistemas de inspección a alta cadencia no son adecuados para diferenciar las rebabas en función de su altura característica, o para distinguirlas de un borde interno que presenta una arista viva pero brillante bajo la iluminación propuesta.
Por otro lado, surge una necesidad de distinguir las rebabas pequeñas con el fin de asegurar una mayor calidad, sin cometer el error de confundirlas con unos reflejos producidos por otros elementos del recipiente, por ejemplo por unas aristas marcadas del anillo o por unas roscas presentes sobre el anillo. Ninguno de los sistemas mencionados anteriormente es capaz de proporcionar esta discriminación.
En el campo más amplio de las máquinas y procedimientos de inspección de recipientes, destinados a la identificación de otros tipos de defectos, en particular de defectos dispuestos sobre una superficie cilíndrica externa del anillo, ya se han propuesto unos sistemas ópticos, en particular unos espejos cónicos anulares, que permiten observar el anillo según un campo de observación periférica que observa el anillo según unos rayos de observación radiales contenidos en unos planos radiales que contienen el eje central teórico A1, que están distribuidos en 360° alrededor del eje central teórico, presentando el campo de observación un ángulo de elevación de observación determinado con respecto a un plano perpendicular al eje del anillo. Dichos dispositivos se describen, por ejemplo, en los documentos EP-0.047.936, US-4.758.084, US-4.959.538, US-5.661.294, EP-0.873.510, EP-1.606.579, WO2016059343, US-5.699.152, US-4,914,289 o US-2009/066944.
El documento WO-2008/050067 describe un dispositivo que permite observar una zona a inspeccionar de un recipiente bajo varios ángulos de visión con el fin de detectar unos defectos que reflejan la luz en una dirección preferencial, que son, por lo tanto, observables solamente en una única dirección de observación.
La invención tiene por lo tanto como objetivo proponer un dispositivo y un procedimiento de inspección que sean compatibles con una inspección en línea de recipientes, por lo tanto a alta cadencia, y que permitan determinar, de manera fiable, la presencia o no de un defecto de tipo rebaba en el anverso del borde interno de la superficie de anillo.
Con este objetivo, la invención propone un procedimiento de determinación de la presencia de una rebaba de vidrio en el anverso de un borde interno de una superficie de anillo de un anillo de un recipiente, teniendo la superficie como geometría teórica una superficie de revolución alrededor de un eje central teórico, tal como el definido en la reivindicación 1.
Según otras características, opcionales, de la invención, consideradas solas o en combinación:
- El ángulo de elevación de observación se puede modificar sustituyendo por lo menos un componente del sistema óptico.
- El procedimiento puede comprender la observación de la superficie de anillo, así como del borde interno de la superficie de anillo, desde arriba, mediante un sistema óptico, según un segundo campo de observación periférica que observa el anillo según unos segundos rayos de observación radiales que están contenidos en unos planos radiales que contienen el eje central teórico, que están distribuidos en 360° alrededor del eje central teórico, teniendo el segundo campo de observación periférica un segundo ángulo de elevación de observación con respecto a un plano perpendicular al eje central teórico, pero diferente del primer ángulo de elevación de observación, de manera que se recojan sobre el mismo sensor fotoeléctrico bidimensional, en una segunda zona anular del sensor, para formar una segunda zona de imagen digital bidimensional:
o formando algunos de los rayos luminosos incidentes reflejados según el segundo campo de observación periférica por la superficie de anillo, en dicha segunda zona de imagen, un círculo principal,
o y, eventualmente, formando unos rayos reflejados según el segundo campo de observación periférica por el borde interno de la superficie de anillo o por una rebaba en el anverso del borde interno, en dicha segunda zona de imagen, por lo menos un arco de círculo secundario, concéntrico con el círculo principal, y desplazado radialmente con respecto a éste;
y el procedimiento puede comprender:
* la búsqueda, en dicha segunda zona de imagen, del círculo principal,
* la búsqueda, en dicha segunda zona de imagen, de un eventual arco de círculo secundario concéntrico con el círculo principal y desplazado radialmente con respecto a éste.
- El procedimiento puede comprender:
* la observación simultánea, por el sistema óptico, del primer campo de observación periférica que tiene el primer ángulo de observación y del segundo campo de observación periférica que tiene el segundo ángulo de observación;
* el ajuste por translación relativa según el eje central teórico de una posición relativa del sistema óptico con respecto a la superficie de anillo del recipiente, de manera que permita la formación de una imagen bidimensional de la superficie de anillo del recipiente y de su borde interno, o bien en la primera zona de imagen correspondiente a la observación según el primer campo de observación periférica, o bien en la segunda zona de imagen correspondiente a la observación según el segundo campo de observación periférica,
* y la búsqueda de un círculo principal y después por lo menos un arco de círculo secundario, o bien en la primera zona de imagen, o bien en la segunda zona de imagen.
- El procedimiento puede comprender:
* la observación simultánea de la superficie de anillo, incluido el borde interno de la superficie de anillo, por el sistema óptico, según el primer campo de observación periférica y según el segundo campo de observación periférica;
* la formación simultánea, a partir de los rayos reflejados recogidos según los primer y segundo campos de observación periféricas, por medio del sistema óptico, de una imagen bidimensional de la superficie de anillo del recipiente y de su borde interno simultáneamente al mismo tiempo en la primera zona de imagen correspondiente a la observación según el ángulo de observación y en la segunda zona de imagen correspondiente a la observación según el ángulo de observación, sobre el mismo sensor bidimensional, estando separadas la primera zona de imagen y la segunda zona de imagen.
- El procedimiento puede comprender:
* la selección, para por lo menos una serie de recipientes del mismo tipo, de una zona de imagen preferencial de entre la primera y la segunda zona de imagen;
* la búsqueda, para dicha serie de recipientes, en la zona de imagen preferencial, del círculo principal continuo y del arco de círculo secundario correspondientes.
- El procedimiento puede comprender la búsqueda, para por lo menos un recipiente, en la primera zona de imagen, de un primer círculo principal continuo y de un primer arco de círculo secundario correspondientes a este dicho recipiente, y, en la segunda zona de imagen, de un segundo círculo principal continuo, y de un segundo arco de círculo secundario correspondientes a este dicho recipiente.
- El procedimiento puede comprender la búsqueda, para cada recipiente, de por lo menos una serie de recipientes del mismo tipo, en la primera zona de imagen, de un primer círculo principal continuo y de un primer arco de círculo secundario correspondientes a dicho recipiente, y, en la segunda zona de imagen, de un segundo círculo principal continuo y de un segundo arco de círculo secundario correspondientes a este dicho recipiente.
- El sistema óptico puede comprender una primera superficie primaria de reflexión, siendo la primera superficie primaria de reflexión una superficie de revolución centrada sobre el eje central teórico y dispuesta para reflejar directa o indirectamente los rayos luminosos, que proceden de la superficie de anillo según el primer campo de observación periférica, en dirección al sensor.
- El sistema óptico puede comprender una segunda superficie primaria de reflexión, siendo la segunda superficie primaria de reflexión una superficie de revolución centrada sobre el eje central teórico y dispuesta para reflejar directa o indirectamente los rayos luminosos, que proceden de la superficie de anillo según el segundo campo de observación periférica, en dirección al sensor.
- La formación de la zona de imagen bidimensional puede incluir la formación óptica de una imagen bidimensional completa y continua en 360° alrededor del eje central teórico de la superficie de anillo sobre el mismo sensor.
- El procedimiento puede comprender la determinación de la presencia de una rebaba cuando una distancia radial de separación, entre un arco de círculo secundario y el círculo principal más próximo, excede, para por lo menos un rayo, un valor umbral.
- El procedimiento puede comprender:
* la determinación de una distancia radial de separación entre un arco de círculo secundario y el círculo principal más próximo; y
* la determinación de la presencia de una rebaba cuando dicha distancia radial de separación excede, para por lo menos un rayo, un valor umbral.
- El procedimiento puede comprender:
* la búsqueda en la primera zona de imagen, de un primer círculo principal y de un primer arco de círculo secundario, y la determinación de una distancia radial de separación entre los dos;
* la búsqueda, en la segunda zona de imagen, de un segundo círculo principal y de un segundo arco de círculo secundario, y la determinación de una distancia radial de separación entre los dos;
* la correspondencia del primer y del segundo arco de círculo secundarios encontrados respectivamente en la primera y la segunda zonas de imagen como las dos imágenes según el primer y el segundo campo de observación periférica de una misma rebaba;
* la determinación, mediante la combinación de las distancias radiales de separación medidas para dichos primer y segundo arcos de círculo secundarios en las dos zonas de imagen, con el fin de determinar un valor dependiente de una altura relativa de la rebaba con respecto a la superficie de anillo;
* la determinación de la presencia de una rebaba cuando el valor excede, para por lo menos una parte de arco, un valor umbral.
La invención propone, como se define en la reivindicación 13, un dispositivo de inspección de la presencia de una rebaba de vidrio en el anverso de un borde interno de una superficie de anillo de un recipiente, teniendo la superficie de anillo como geometría teórica una superficie de revolución alrededor de un eje central teórico, del tipo en el que el dispositivo presenta una zona de instalación de una superficie de anillo de un recipiente a inspeccionar, teniendo esta zona de instalación un eje de instalación del tipo que comprende:
* un sistema de iluminación dispuesto por encima de la zona de instalación y apto para proporcionar un haz luminoso incidente que comprende unos rayos radiales contenidos en por lo menos un plano radial que contiene el eje de instalación, separándose dichos rayos radiales incidentes del eje de instalación a nivel de su incidencia sobre la superficie de anillo,
* un sensor de imagen unido a una unidad de análisis de imágenes;
* un sistema óptico dispuesto por encima de la zona de instalación, interpuesto entre la zona de instalación y el sensor, y apto para formar, sobre el sensor, una imagen de la superficie de anillo a inspeccionar colocada en la zona de instalación.
Un dispositivo de este tipo puede estar caracterizado por que:
* el sensor es un sensor bidimensional de imagen;
* el haz luminoso incidente es un haz que comprende unos rayos luminosos incidentes radiales contenidos en unos planos radiales que contienen el eje de instalación y distribuidos en 360° alrededor del eje de instalación;
* el sistema óptico comprende por lo menos una primera superficie primaria de reflexión en un campo de visión aguas arriba del sensor, siendo la primera superficie primaria de reflexión una superficie de revolución centrada sobre el eje de instalación, girada hacia el eje de instalación, y dispuesta para reflejar, directa o indirectamente, en dirección al sensor unos rayos luminosos que proceden de la zona de instalación según unos planos radiales que contienen el eje de instalación y según un primer campo de observación periférica que tiene un primer ángulo de elevación de observación con respecto a un plano perpendicular al eje central de instalación.
Por otro lado, el dispositivo comprende por lo menos una segunda superficie primaria de reflexión en el campo de visión aguas arriba del sensor, siendo la segunda superficie de reflexión una superficie de revolución centrada sobre el eje de instalación, girada hacia el eje de instalación y dispuesta para reflejar directa o indirectamente, en dirección al sensor, unos rayos luminosos, que proceden de la zona de instalación según unos planos radiales que contienen el eje de instalación y según un segundo campo de observación periférica que tiene un segundo ángulo de elevación de observación con respecto a un plano perpendicular al eje central de instalación, siendo dicho segundo ángulo de observación diferente del primer ángulo de elevación de observación, estando la primera superficie primaria y la segunda superficie primaria de reflexión ambas en unas partes separadas del campo de visión aguas arriba del sensor.
Además, la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie de reflexión determinan, para el sensor, respectivamente una primera parte de campo de visión aguas abajo y una segunda parte de campo de visión aguas abajo que coinciden en la zona de inspección.
Según otras características, opcionales, de la invención, consideradas solas o en combinación:
- la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión son troncocónicas de ángulos diferentes en el vértice.
- la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión están superpuestas y presentan una arista circular común que corresponde a una arista inferior de la superficie superior y a una arista superior de la superficie inferior.
- la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión están desplazadas axialmente una con respecto a la otra.
- la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión están desplazadas axialmente, estando separadas axialmente por una separación axial no nula entre un borde inferior de la superficie superior y un borde superior de la superficie inferior.
- la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión pueden estar posicionadas para que:
* considerando un punto de la superficie de anillo;
* considerando un primer camino óptico seguido, entre el punto considerado y el sensor por un rayo incidente reflejado en este punto considerado de la superficie de anillo según el primer ángulo de elevación de observación y después reflejado en dirección al sensor sobre la primera superficie primaria de reflexión; y
* considerando un segundo camino óptico seguido, entre el punto considerado y el sensor por un segundo rayo incidente reflejado en este punto considerado de la superficie de anillo según el segundo ángulo de elevación de observación y reflejado en dirección al sensor sobre la segunda superficie primaria de reflexión;
la diferencia de longitud entre el primer camino óptico y el segundo camino óptico es inferior al valor de profundidad de campo de la imagen formada cuando el sistema óptico se desarrolla sobre la superficie de anillo. - la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión pueden ser, según un plano de corte radial que contiene el eje central de instalación, tangentes a un elipsoide cuyo foco está en el centro de la pupila de entrada de un sistema objetivo de una cámara que comprende el sensor de imagen y cuyo segundo foco está dispuesto sobre el eje central de instalación, a nivel del anillo del recipiente a inspeccionar.
- la superficie primaria de reflexión está ensanchada según la dirección del eje de instalación y presenta un diámetro grande y un pequeño diámetro, ambos superiores al diámetro máximo de la superficie de anillo a inspeccionar.
- la superficie primaria de reflexión puede ser una superficie troncocónica, girada hacia el eje de instalación. - la superficie primaria de reflexión puede reflejar indirectamente unos rayos luminosos en dirección al sensor, y el dispositivo puede comprender entonces, entre la superficie primaria de reflexión y el sensor, por lo menos una superficie de reflexión de reenvío.
- la superficie de reflexión de reenvío puede comprender una superficie de revolución orientada de manera opuesta al eje de instalación, de manera que reenvíe los rayos en dirección al sensor.
- entre el sensor y la superficie primaria de reflexión, el sistema óptico puede ser telecéntrico.
- el haz periférico incidente puede comprender, en un mismo plano radial, unos rayos radiales no paralelos. - el sistema de iluminación puede comprender una fuente luminosa central contenida por lo menos en parte en una envoltura cilíndrica de revolución que tiene por eje el eje de instalación y como diámetro el diámetro del borde interno de la superficie de anillo a inspeccionar.
- el dispositivo puede comprender una fuente luminosa anular de revolución, centrada sobre el eje de instalación, que genera unos rayos luminosos incidentes radiales que impactan sobre la superficie de anillo después de haber intersectado el eje de instalación entre la fuente y la superficie de anillo.
- el dispositivo puede comprender un soporte que soporta el sensor, el sistema objetivo, una superficie de reflexión primaria, una fuente de luz y eventualmente una superficie de reflexión de reenvío.
La invención se refiere también, como se define en la reivindicación 18, a una línea de inspección de recipientes que presentan una superficie de anillo, del tipo en el que unos recipientes son desplazados sobre una línea de transporte por una cinta transportadora que transporta los recipientes según una dirección de desplazamiento horizontal perpendicular a un eje central teórico de los recipientes 14 que presentan así su superficie de anillo en un plano horizontal girado hacia arriba, caracterizada por que la instalación comprende un dispositivo que tiene por lo menos una de las características anteriores, que está dispuesto sobre la instalación con su eje de instalación en posición vertical, de tal manera que el campo de observación y el haz luminoso incidente estén orientados hacia abajo, hacia la zona de instalación que está situada entre el dispositivo y un órgano de transporte de la cinta transportadora.
En tal línea de inspección, la cinta transportadora puede llevar los recipientes de manera que su eje central teórico coincida con el eje de instalación, y, en el momento de esta coincidencia, se puede adquirir una imagen gracias al dispositivo, sin contacto del dispositivo con el recipiente.
Otras diversas características se desprenden de la descripción siguiente con referencia a los dibujos adjuntos, que muestran, a título de ejemplos no limitativos, unas formas de realización del objeto de la invención.
Las figuras 1A, 1B y 1C ilustran en sección por un plano radial, únicamente la parte superior del cuello de un recipiente que presenta un anillo. Solo se ilustra una mitad de la sección.
La figura 2 es una vista esquemática en sección axial de un dispositivo de inspección de acuerdo con las enseñanzas de la invención, que ilustra el camino óptico de dos rayos de observación entre el recipiente y una cámara de observación.
La figura 3 es una vista esquemática en sección axial de un dispositivo de inspección de acuerdo con las enseñanzas de la invención, que ilustra diferentes partes del campo de visión del sensor a través de un ejemplo de realización de un sistema.
La figura 4 es una vista ampliada de una parte de la figura 3.
La figura 5 es una vista esquemática en sección axial de un dispositivo de inspección de acuerdo con las enseñanzas de la invención, que ilustra diferentes partes del campo de visión del sensor a través de otro ejemplo de realización de un sistema.
Las figuras 6 y 7 son unas vistas ampliadas de una parte de la figura 5, que ilustra dos posiciones relativas de un recipiente a inspeccionar con respecto al dispositivo de inspección, para obtener dos ángulos de elevación de observación diferentes.
La figura 8 es una vista que ilustra una imagen susceptible de ser formada por el sensor del dispositivo de la figura 3 en presencia de un recipiente a inspeccionar en la zona de instalación.
La figura 9 ilustra una variante de realización de la fuente luminosa susceptible de ser utilizada con los diferentes modos de realización mencionados anteriormente.
La figura 10 ilustra una línea de inspección de recipientes que utiliza un dispositivo y/o un procedimiento según la invención.
La inspección de la superficie de anillo según el procedimiento de la invención consistirá esencialmente, por lo tanto, en visualizar, y podrá eventualmente por lo menos para algunas variantes, permitir cuantificar una desviación de posición, según la dirección del eje central teórico A1 y según la dirección radial con respecto a este eje A1, entre un círculo principal representativo de la superficie de anillo y un arco de círculo secundario representativo de una línea somital de un defecto eventual que podría estar presente en el anverso del borde interno de la superficie de anillo.
Para que un recipiente 14 sea inspeccionado correctamente, convendrá garantizar que el recipiente sea presentado de manera adecuada delante de un dispositivo de inspección 10, del cual varias variantes de realización están ilustradas en las figuras 2 a 10.
Para ello, como se puede observar por ejemplo en las figuras 2 y 10, un dispositivo 10 según la invención determina una zona de instalación Z en la que el recipiente deberá estar instalado. Esta zona de instalación puede ser definida mediante un eje de instalación A'1 y un plano de instalación PI definido como un plano perpendicular al eje de instalación A'1 situado a nivel del punto más bajo del dispositivo. Así, para ser inspeccionado correctamente, un recipiente deberá presentarse de tal manera que su eje central teórico A1 corresponda lo máximo posible al eje de instalación A'1, y que su anillo se presente con su extremo superior abierto girado en dirección al dispositivo 10, pero por debajo del plano de instalación. En un caso ideal, los dos ejes A1 y A'1 coinciden. Se entiende que la totalidad del dispositivo de inspección 10 según la invención puede colocarse por encima del plano de instalación mientras que el recipiente será llevado por debajo del plano de instalación, sin riesgo de contacto con el dispositivo. El recipiente 14 podrá ser llevado, por lo tanto, por cualquier movimiento de translación según una dirección perpendicular al eje de instalación A'1, sin riesgo de interferir con el dispositivo 10.
El dispositivo y el procedimiento según la invención utilizan un sensor bidimensional 18 destinado a adquirir una imagen bidimensional de la superficie de anillo 16 del recipiente. Este sensor, también calificado como matricial, se puede incorporar en una cámara 19 y puede ser fotoeléctrico, por ejemplo de tipo CCD o CMOS. El sensor 18 está constituido, por ejemplo, por una matriz bidimensional de elementos fotoeléctricos. El sensor está asociado generalmente a un circuito electrónico de procesamiento de las señales proporcionadas por los elementos fotoeléctricos para emitir una señal analógica o digital representativa de la imagen recibida por el sensor. Esta señal representativa de la imagen óptica recibida por el sensor constituye preferentemente una imagen electrónica bidimensional que puede ser entregada después a una unidad de análisis de imágenes que comprende un dispositivo de digitalización de imágenes. Con el auge de las cámaras digitales que integran la función de digitalización de imágenes, esta señal representativa de la imagen óptica recibida por el sensor constituye preferentemente una imagen digital bidimensional que puede ser suministrada después a un dispositivo de procesamiento de imágenes y/o a un dispositivo de inspección y/o a un dispositivo de almacenamiento de imágenes (no representados) que forman una unidad de análisis de imágenes.
El sensor 18 está asociado generalmente a un sistema objetivo óptico 20 que puede comprender uno o varios elementos ópticos asociados, en particular una o varias lentes, y eventualmente un diafragma, para permitir la formación de una imagen óptica sobre el sensor. El sistema objetivo óptico 20 y el sensor 18 pertenecen generalmente a la cámara 19.
En algunos modos de realización de la invención, el sistema objetivo óptico 20 asociado al sensor 18 puede ser un sistema objetivo telecéntrico. Un sistema objetivo telecéntrico es bien conocido por el experto en la técnica de los dispositivos de visión industrial ya que se utiliza para formar, sobre el sensor, una imagen que no incluye, o que casi no incluye, ningún efecto de paralaje. En la teoría óptica, un sistema objetivo telecéntrico es un sistema objetivo cuya pupila de entrada está posicionada en el infinito. De ello se deduce que dicho objetivo observa en su campo de visión según unos rayos principales de observación paralelos o casi-paralelos, de ahí la ausencia de efecto de paralaje. Los rayos principales de observación son los que pasan por el centro de la pupila de entrada del sistema objetivo 20. Sin embargo, el sistema objetivo no es necesariamente telecéntrico, como se ilustra en las figuras.
El sensor 18 presenta generalmente una forma rectangular o cuadrada, por lo tanto bidimensional, de manera que suministre una imagen digital bidimensional representativa de la imagen óptica bidimensional formada sobre el sensor por el sistema óptico 20. La totalidad de la imagen digital suministrada por el sensor 18 se denominará imagen global IG. Se verá más adelante que, en esta imagen digital global, serán útiles sólo una o varias zonas de imágenes. Preferentemente, la imagen global IG se adquiere durante un tiempo único de adquisición del sensor.
El eje óptico del sistema objetivo 20 se confunde preferentemente con el eje de instalación A'1. Sin embargo, se podría imaginar que este eje óptico no fuera rectilíneo, sino segmentado, por ejemplo mediante la integración de un espejo de reenvío en el sistema objetivo. De este modo, se podría prever un espejo de reenvío a 45° con respecto al eje de instalación, con, de esa manera, un primer segmento del eje óptico, en el lado del sensor, que estaría dispuesto a 90° con respecto al eje de instalación y un segundo segmento, en el otro lado del espejo de reenvío, que estaría dispuesto en línea con el eje de instalación A'1.
En las ilustraciones de las figuras 2 a 10, el sistema óptico está dispuesto verticalmente según el eje A'1, y está girado hacia abajo para observar la zona de instalación debajo del dispositivo, y para observar así un eventual recipiente 14 dispuesto en la zona de instalación. El sensor fotoeléctrico 18 está, por lo tanto, en el vértice del dispositivo de inspección y está girado hacia abajo en dirección a la zona de instalación. Con esta disposición, se entiende que la superficie de anillo 16 de un recipiente 14 colocado en la zona de instalación está contenida, por lo tanto, en un plano paralelo al plano del sensor.
Asimismo, según la invención, un sistema óptico 24 está interpuesto entre la zona de instalación Z del recipiente y el sensor 18 para formar sobre el sensor una imagen de la superficie de anillo de dicho recipiente colocado en la zona de instalación. Este sistema óptico 24 comprende, además del sistema objetivo óptico 20, por lo menos un elemento óptico de visión periférica 22 que está dispuesto en este caso entre el sistema objetivo 20 y la zona de instalación. El conjunto del sistema óptico 24 entre el sensor 18 y la zona de instalación Z comprende así el sistema objetivo 20 y el elemento óptico de visión periférica 22.
De manera práctica, se definirá el eje de instalación A'1 como la prolongación en la zona de instalación del eje óptico del sistema óptico 24.
En el ejemplo ilustrado, el sensor 18, su sistema objetivo 20, el elemento óptico de visión periférica 22 y la zona de instalación están alineados en este orden según el mismo eje de instalación A'1.
A través del sistema óptico 24, se forma por lo menos una imagen plana de la superficie de anillo sobre el sensor por medio de una transformación geométrica óptica que convierte la superficie de anillo en una imagen de superficie de anillo. Preferentemente, la transformación geométrica óptica no afecta al posicionamiento angular relativo de dos puntos de la superficie de anillo alrededor del eje, en el sentido de que dos puntos de la superficie de anillo real, separados por una distancia angular alrededor del eje central teórico, ven, en la imagen obtenida por la transformación geométrica óptica, sus imágenes respectivas separadas por la misma distancia angular alrededor de la imagen del eje central teórico.
Ventajosamente, el sistema óptico 24 permite la formación óptica de una imagen bidimensional completa y continua a 360° alrededor del eje central teórico A1 de la superficie de anillo 16 en el mismo sensor 18.
En los ejemplos ilustrados, el elemento óptico de visión periférica 22 que asegura lo esencial de esta transformación óptica, comprende por lo menos una primera superficie primaria de reflexión 261 y, eventualmente, como en los ejemplos particulares de realización que se describirán a continuación, una segunda superficie primaria de reflexión 262. La primera superficie primaria de reflexión 261 y, eventualmente, la segunda superficie primaria de reflexión 262 están dispuestas en un campo de visión aguas arriba del sensor 18, es decir, en el campo de visión del sensor que está comprendido entre, por un lado, el sensor 18 y, por otro lado, la primera superficie primaria de reflexión 261, y la segunda superficie primaria de reflexión 262. En el ejemplo ilustrado, el campo de visión aguas arriba del sensor 18 está definido por el sistema objetivo 20.
La primera superficie primaria de reflexión 261 es una superficie de revolución centrada sobre el eje de instalación A'1 y dispuesta para reflejar unos rayos luminosos, que proceden de la superficie de anillo, en dirección al sensor. La superficie primaria de reflexión 261 posee, por lo tanto, unas propiedades especulares. Puede estar formada, ventajosamente, por un espejo, pero puede también estar realizada en forma de un prisma, es decir, una dioptría óptica. La segunda superficie primaria de reflexión 262 presenta ventajosamente las mismas características. La primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión están ventajosamente desplazadas axialmente según la dirección del eje de instalación A'1 una con respecto a la otra, es decir, que no están dispuestas axialmente al mismo nivel.
El eje de simetría de revolución de la superficie primaria de reflexión 261 puede considerarse en este caso como superpuesto al eje de instalación A'1.
En los ejemplos de realización ilustrados, la reflexión de los rayos luminosos que proceden de la superficie de anillo hacia el sensor es una reflexión directa, sin ninguna otra superficie de reflexión.
En los ejemplos ilustrados, la primera superficie primaria de reflexión 261 es una superficie de revolución que está girada hacia el eje de instalación A'1. En el ejemplo ilustrado, se ensancha en dirección al sensor. Más precisamente, la primera superficie primaria de reflexión 261 comprende una superficie troncocónica cóncava que presenta un diámetro pequeño y un diámetro grande, ambos superiores al diámetro de la superficie de anillo del recipiente a inspeccionar. Su diámetro grande está dispuesto en el lado del sensor según el eje de instalación, mientras que su diámetro pequeño está dispuesto en el lado de la zona de instalación. La segunda superficie primaria de reflexión 262 presenta ventajosamente las mismas características. En este caso, la primera superficie primaria de reflexión 261 y la segunda superficie primaria de reflexión 262 son troncocónicas de diferentes ángulos en el vértice.
En los ejemplos que comprenden dos superficies primarias de reflexión, la primera superficie primaria de reflexión 261 y la segunda superficie primaria de reflexión 262 están ventajosamente desplazadas axialmente al estar superpuestas axialmente, es decir, directamente unidas una a la otra según la dirección del eje de instalación. Arbitrariamente, se considera que la superficie primaria de reflexión que se encuentra debajo de la otra según la dirección del eje de instalación A'1 es la primera superficie primaria de reflexión 261, estando entonces la segunda superficie primaria de reflexión 262 dispuesta por encima de la primera. Como en los ejemplos ilustrados que comprenden dos superficies primarias de reflexión, las dos superficies primarias de reflexión pueden tener entonces una arista circular común que corresponde al borde inferior de la superficie superior, en este caso la segunda superficie primaria de reflexión 262, y al borde superior de la superficie inferior, en este caso la primera superficie primaria de reflexión 261. Sin embargo, la primera superficie primaria de reflexión 261 y la segunda superficie primaria de reflexión 262 podrían estar desplazadas axialmente, al estar separadas axialmente por una distancia axial no nula entre el borde inferior de la superficie superior y el borde superior de la superficie inferior.
En un dispositivo de la invención, el sistema óptico 24 define por lo menos un primer campo de observación periférica que observa la superficie de anillo desde arriba, según unos rayos de observación radiales contenidos en un plano radial que contiene el eje de instalación. Con respecto al eje A1 de la superficie de anillo, esta observación se realiza radialmente desde el exterior con respecto a la superficie de anillo. Los rayos de observación radiales están distribuidos en 360° alrededor del eje de instalación A'1. El primer campo de observación periférica tiene, con respecto a un plano PRef perpendicular al eje de instalación A'1, un primer ángulo de elevación de observación y1, que está comprendido por ejemplo entre 20° y 70°. En el ejemplo ilustrado, el primer campo de observación periférica comprende los rayos de observación que son reflejados por la primera superficie primaria de reflexión 261 hacia el sensor 18. En otras palabras, este primer campo de observación periférica constituye una primera parte aguas abajo CAV1 del campo de visión del sensor 18 a través del sistema óptico 24, tal como la determinada por la primera superficie primaria de reflexión 261, entre esta primera superficie 261 y la zona de instalación Z. En la parte de los rayos de observación que está entre esta primera superficie primaria de reflexión 261 y la zona de instalación Z, los rayos de observación son centrípetos hacia el eje A1 cuando son recorridos desde la primera superficie 261 hacia la zona de instalación Z.
En los modos de realización que comprenden la segunda superficie primaria de reflexión 262, el sistema óptico 24 define, por medio de esta segunda superficie primaria de reflexión, un segundo campo de observación periférica que observa la superficie de anillo desde arriba, según unos rayos de observación radiales contenidos en un plano radial que contiene el eje de instalación. Con respecto al eje A1 de la superficie de anillo, esta observación se realiza radialmente desde el exterior de la superficie de anillo. Los rayos de observación radiales están distribuidos en 360° alrededor del eje de instalación A'1. El segundo campo de observación periférica tiene, con respecto a un plano PRef perpendicular al eje de instalación A'1, un segundo ángulo de elevación de observación y2, que está comprendido por ejemplo entre 20° y 70°, siendo este segundo ángulo diferente del primer ángulo de elevación de observación y1. Preferentemente, el primer y el segundo ángulo de elevación de observación difieren en por lo menos 5 grados de ángulo. En el ejemplo ilustrado, el primer campo de observación periférica comprende los rayos de observación que son reflejados sobre la segunda superficie primaria de reflexión 262. Este segundo campo de observación periférica constituye una segunda parte aguas abajo CAV2 del campo de visión del sensor 18 a través del sistema óptico, tal como la determinada por la segunda superficie primaria de reflexión 262, entre esta segunda superficie 262 y la zona de instalación Z. En la parte de los rayos de observación que está entre esta segunda superficie primaria de reflexión 262 y la zona de instalación Z, los rayos de observación son centrípetos hacia el eje A1 cuando son recorridos desde la primera superficie 261 hacia la zona de instalación Z. Se debe observar que la primera superficie primaria 261 y la segunda superficie primaria de reflexión 262 están cada una en unas partes separadas del campo de visión aguas arriba del sensor, en el sentido de que pueden ser vistas simultáneamente por el sensor a través del sistema objetivo 20, sin ocultarse una a la otra. En la medida en la que una ocultara a la otra parcialmente, se considerará útil, para la que está parcialmente oculta, solamente la parte no oculta.
Preferentemente, el primer y/o el segundo campos de observación periférica no tienen ruptura azimutal alrededor del eje de instalación A'1. En particular, no hay discontinuidad angular azimutal entre dos rayos radiales de observación infinitamente próximos angularmente alrededor del eje de instalación. De esta manera, no hay ruptura de punto de vista en la imagen generada por el campo considerado, que podría hacer la imagen más difícil de interpretar. Para ello, la primera y/o la segunda superficie de reflexión 261, 262, está preferentemente sin discontinuidad de curvatura alrededor del eje de instalación A'1, siendo la curvatura analizada en un plano perpendicular al eje de instalación A'1, para asegurar un campo de observación sin ruptura azimutal.
El primer y/o el segundo campo de observación periférica es también preferentemente continuo en azimut en el sentido en el que ningún ángulo azimutal de observación alrededor del eje de instalación está oculto. Sin embargo, en algunos casos, en particular debido a restricciones de instalación material, por la presencia de un cable de alimentación, puede ser que uno o varios sectores angulares, alrededor del eje de instalación, estén ocultos. Preferentemente, dicho sector angular azimutal oculto será de poca extensión, incluso de muy poca, preferentemente inferior a 5 grados alrededor del eje de instalación. Para ello, la primera y/o la segunda superficie de reflexión 26 es también preferentemente continua en azimut en el sentido de que es continuamente reflectante alrededor del eje de instalación A'1, sin sector angular oculto, para asegurar la continuidad azimutal del campo de observación.
El primer y/o el segundo campo de observación periférica se extiende en 360° alrededor del eje de instalación A'1. El primer y/o el segundo campo de observación periférica observa "desde arriba" en el sentido de que la superficie de anillo se observa desde arriba en un plano Pref perpendicular al eje central teórico A1 de la superficie de anillo, y que contiene por lo menos un punto de la superficie de anillo, por ejemplo el punto Sref más alto según la dirección del eje central teórico A1. Para un campo de observación periférica determinado, los rayos de observación son los rayos procedentes de la zona de instalación y susceptibles de ser recibidos, después de la reflexión sobre la superficie primaria de reflexión 261, 262 correspondiente, por el sensor a través del sistema óptico 24. Entre estos rayos, los rayos principales de observación son los que, después de la reflexión sobre la superficie primaria de reflexión 261, 262 correspondiente, pasan por el centro de la pupila de entrada CO del sistema objetivo 20. El ángulo de elevación de observación de un rayo principal de observación corresponde al ángulo con respecto a un plano perpendicular al eje de instalación A'1, de un rayo principal de observación en la zona de instalación en la que es susceptible de impactar con la superficie de anillo de un recipiente a inspeccionar.
En el marco de un dispositivo provisto de un sistema óptico telecéntrico, los rayos principales de observación recibidos por el sensor entran todos en el sistema objetivo de manera paralela. Si además, como en los sistemas ilustrados, la superficie primaria de reflexión 261, 262 es una superficie troncocónica generada por una recta, el ángulo de elevación de observación y1, y2 del campo de observación periférica correspondiente es entonces un ángulo único para cualquier rayo principal de observación perteneciente a este campo de observación periférica determinado, y puede deducirse directamente de la inclinación de la superficie primaria de reflexión correspondiente 261,262 con respecto al eje de instalación A'1.
Sin embargo, en el caso de un dispositivo que no tiene un sistema objetivo telecéntrico, o en el caso en el que el elemento óptico 22 no fuera estrictamente un cono generado por una recta, los rayos de observación recibidos por el sensor, incluidos los rayos principales, pueden tener unos ángulos de elevación de observación diferentes unos con respecto a los otros dentro de un campo de observación periférica determinado por una superficie de reflexión primaria determinada. En este caso, se puede tomar por convención, tal como se ilustra en la figura 2, que el ángulo de elevación de observación de un campo de observación periférica sea el ángulo, medido en la zona de instalación en la que es susceptible de impactar con la superficie de anillo de un recipiente a inspeccionar, con respecto a un plano perpendicular al eje de instalación A'1, de un rayo radial de observación que, después de la reflexión en la superficie primaria de reflexión 261,262 correspondiente, a media altura de esta, es dirigido hacia el centro de la pupila de entrada CO del sistema objetivo 20.
La primera y/o la segunda superficie primaria de reflexión podría no ser ya troncocónica, sino una superficie de revolución de doble curvatura, ensanchada, generada por la revolución, alrededor del eje de instalación A'1, de un tramo de curvatura no recto, por ejemplo una sección de parábola, de hipérbole o de elipse. En un plano radial, esta superficie presentará, por ejemplo, un perfil cóncavo o convexo, conservando al mismo tiempo su perfil cóncavo en un plano perpendicular al eje de instalación A'1. Dicha superficie de doble curvatura se puede utilizar en particular para hacer que el sistema 24, en su globalidad, sea telecéntrico con respecto al sensor, si el sistema objetivo 20 en sí no lo es, para que el campo de observación periférica determinado por la superficie primaria de reflexión correspondiente comprenda unos rayos principales de observación que tienen todos el mismo ángulo de elevación de observación.
En un procedimiento según la invención, se forma, en este caso a través del sistema óptico 24, una imagen bidimensional óptica de la superficie de anillo sobre el sensor por medio de una transformación geométrica óptica que convierte la superficie de anillo en una imagen de superficie de anillo. La misma transformación convierte una rebaba en una imagen óptica de la rebaba sobre el sensor. Estas dos imágenes ópticas bidimensionales se convierten en imágenes digitales, respectivamente de la superficie de anillo y de la rebaba, por medio del sensor, eventualmente con la ayuda además de un circuito electrónico de digitalización si éste no está integrado en el sensor. En el caso en el que las dos superficies primarias de reflexión 261, 262 anteriores estén presentes, se forman dos imágenes bidimensionales ópticas de la superficie de anillo sobre el sensor en dos zonas anulares del sensor y dos imágenes bidimensionales ópticas de la rebaba sobre el sensor. Estas imágenes ópticas se convierten en dos imágenes digitales de la superficie de anillo CP1, CP2 y en dos imágenes digitales de la rebaba CS1, CS2 por medio del sensor. En la práctica, la imagen óptica formada sobre el sensor puede coincidir con la imagen digital proporcionada por el sensor, eventualmente con la ayuda además de un circuito electrónico de digitalización si éste no está integrado en el sensor.
Observando por ejemplo la figura 1B, se considera un punto considerado Sref de la superficie de anillo y el correspondiente punto S de la rebaba, que es el punto de esta rebaba que tendría la misma coordenada angular que el punto considerado Sref en un sistema de coordenadas cilíndricas centrado sobre el eje central teórico. Observando la figura 8, se considera que el punto de imagen ISrefl o ISref2 de la imagen de la superficie de anillo es la imagen del punto Sref de la superficie de anillo a través del sistema óptico (eventualmente las dos imágenes ISref1 e ISref2 en caso de presencia de dos superficies primarias de reflexión, tal como se han descrito anteriormente), debido a la transformación geométrica óptica. El punto de imagen IS1 o IS2 de la imagen de la rebaba es la imagen del punto S correspondiente de la rebaba a través del sistema óptico (eventualmente las dos imágenes IS1 e IS2 en caso de presencia de dos superficies primarias de reflexión, tal como se han descrito anteriormente), debido a la transformación geométrica óptica.
Preferentemente, la transformación geométrica óptica llevada a cabo por el sistema óptico convierte una diferencia de altura real dZ, según la dirección del eje central teórico, entre el punto considerado Sref de la superficie de anillo y el punto S correspondiente de la rebaba, en un desplazamiento radial de imagen adicional, sobre la imagen, del punto de imagen ISref1, ISRef2 de la imagen de superficie de anillo del recipiente con respecto al punto de imagen correspondiente IS1, IS2 de la rebaba de superficie de anillo. Este desplazamiento radial de imagen adicional se añade a un desplazamiento radial resultante del desplazamiento real entre el punto Sref y el punto S correspondiente.
La transformación geométrica óptica llevada a cabo por el sistema óptico genera, por lo tanto, en la imagen bidimensional recogida por el sensor, un desplazamiento radial de imagen adicional que resulta de una diferencia de altura real entre un punto considerado Sref de la superficie de anillo y un punto correspondiente S de la rebaba.
En los ejemplos de realización del dispositivo según la invención, ilustrados en las figuras 2 a 10, que comprenden por lo menos una superficie primaria de reflexión 261,262 troncocónica, cóncava en un plano perpendicular al eje de instalación, el semi-ángulo en el vértice a1, a2, característico de la superficie primaria de reflexión cóncava 261, 262 determina una relación de influencia, sobre el desplazamiento radial en la imagen, entre una diferencia de altura y una diferencia de posición radial entre un punto de la superficie de anillo y un punto de la rebaba situado en el mismo semiplano radial delimitado por el eje de instalación. En un ejemplo de realización, previsto para recipientes cuya superficie de anillo presenta un diámetro externo inferior a 30 mm, el semi-ángulo en el vértice a1 característico de la primera superficie primaria de reflexión cóncava 261 es de 20 grados de ángulo, y crea un primer campo de observación periférica que tiene un ángulo de elevación de observación y1 de 40°, mientras que el semi-ángulo en el vértice a2 característico de la segunda superficie primaria de reflexión cóncava 262 es de 13,15 grados de ángulo, y crea un primer campo de observación periférica que tiene un ángulo de elevación de observación y2 de 52°.
Según otro aspecto de la invención, el procedimiento prevé que la superficie de anillo 16 del recipiente esté iluminada con la ayuda de un haz luminoso incidente que comprende unos rayos luminosos incidentes radiales contenidos en por lo menos un plano radial que contiene el eje central teórico A1 del anillo, separándose dichos rayos radiales incidentes del eje central teórico A1 a nivel de su incidencia sobre la superficie de anillo, y reflejándose algunos de los rayos radiales del haz luminoso incidente por reflexión especular en la superficie de anillo 16, en forma de rayos reflejados. El haz luminoso incidente comprende unos rayos luminosos incidentes radiales contenidos en unos planos radiales distribuidos en 360° alrededor del eje central teórico A1.
La superficie de anillo está iluminada desde arriba, en el sentido de que los rayos luminosos incidentes llegan a la superficie de anillo 16 procedentes de puntos situados por encima del plano PRef perpendicular al eje central teórico A1 y que contiene un punto de la superficie de anillo, por ejemplo el punto más alto según la dirección del eje central teórico A1.
Los rayos radiales incidentes podrían ser unos rayos paralelos, pero esto no es obligatorio y, en el procedimiento ilustrado por las figuras 4 y 5, el haz luminoso incidente periférico comprende, en un semiplano radial determinado, que contiene el eje central teórico A1 y delimitado por el eje central teórico A1, unos rayos radiales no paralelos.
En un dispositivo según la invención, el dispositivo comprende así un sistema de iluminación apto para emitir dicho haz luminoso incidente.
Preferentemente, este sistema de iluminación comprende una fuente luminosa 28 centrada sobre el eje de instalación A'1 y dispuesta por encima de la zona de instalación, por lo tanto por encima de la superficie de anillo.
En un primer modo de realización, ilustrado en las figuras 4 y 5 en particular, el sistema de iluminación comprende una fuente luminosa 28 central contenida por lo menos en parte en una envoltura cilindrica de revolución que tiene como eje el eje de instalación A'1 y como diámetro el diámetro del borde interno 15 de la superficie de anillo a inspeccionar. Dicha fuente luminosa puede ser una fuente puntual, centrada sobre el eje de instalación, o, por el contrario, como se ilustra en particular en las figuras 4 y 5, una fuente que cubre una cierta extensión radialmente con respecto al eje de instalación. En algunos modos de realización, la fuente luminosa 28 cubre una extensión de diámetro inferior o igual al diámetro del anillo del recipiente. La fuente luminosa 28 puede ser una fuente difusa, que difunde unos rayos incidentes en múltiples direcciones. Por ejemplo, la fuente luminosa 28 puede comprender un difusor que, por ejemplo, cubre una superficie cuyo diámetro puede ser inferior o igual al diámetro del anillo del recipiente. Si está provista de un difusor, en cada punto del difusor, la fuente luminosa 28 difunde unos rayos incidentes en múltiples direcciones. Preferentemente, la extensión radial de la fuente luminosa 28 central y la orientación de los rayos incidentes que emite se seleccionan de manera que los rayos incidentes no puedan impactar directamente con una superficie cilindrica externa del anillo 12, situada por debajo del borde externo 17, ni con unas roscas llevadas por dicha superficie cilindrica externa del anillo 12.
Como variante, como se ilustra en la figura 9, el dispositivo podría comprender una fuente luminosa 28' anular de revolución, centrada sobre el eje de instalación A'1, que genera unos rayos luminosos incidentes radiales que impactan en la zona de instalación después de haber intersectado el eje de instalación A'1. En este caso, la fuente luminosa anular puede presentar un diámetro interno superior al diámetro de la superficie de anillo de los recipientes que se desea controlar con la ayuda del dispositivo. En un semiplano radial que contiene el eje de instalación A'1 y delimitado por este eje de instalación, dicha fuente luminosa anular correspondería a una fuente que puede ser puntual, o que, por el contrario, puede tener una cierta extensión radial en este semiplano, como se ilustra en las figuras. Esta fuente luminosa ilumina en dirección a la zona de instalación, por lo tanto en dirección al eje de instalación, pero formando con este un ángulo de manera que ilumine hacia abajo. Si esta fuente no es una fuente que emite unos rayos paralelos, emite preferentemente, en este semiplano radial, un cono luminoso que contiene unos rayos radiales según un abanico continuo o sustancialmente continuo. Este abanico puede formar por ejemplo un sector angular que se extiende entre 0 y 40 grados con respecto a un plano perpendicular al eje central teórico. La extensión angular del abanico está limitada preferentemente por una o varias cubiertas, que pueden comprender, por ejemplo, un diafragma, para que los rayos incidentes no puedan impactar directamente en una superficie cilíndrica externa del anillo 12, situada por debajo del borde externo 17, ni en unas roscas llevadas por dicha superficie cilíndrica externa.
En el ejemplo de la figura 9, la fuente luminosa 29' es anular y está dispuesta justo por debajo del elemento óptico de visión periférica 22, en este caso por debajo de la primera superficie primaria de reflexión. Podría también estar dispuesta alrededor del elemento óptico de visión periférica 22.
En la medida en la que la fuente luminosa 28' es anular, se la puede comparar con una multitud de fuentes, eventualmente puntuales o casi puntuales, dispuestas alrededor del eje de instalación A'1 y que emiten cada una un rango de luz tal como se ha definido anteriormente. Preferentemente, la fuente luminosa es continua sobre toda la periferia en 360° alrededor del eje de instalación, en el sentido de que, en cada semiplano radial, emite el mismo rango luminoso. Sin embargo, en realidad, la fuente luminosa generalmente no es perfectamente continua. Puede ser también que esté interrumpida sobre un sector angular, preferentemente limitado, alrededor del eje A'1. Puede, por otro lado, que la fuente luminosa no sea continua, en el sentido de que estaría formada por una serie de fuentes individuales yuxtapuestas, discretas, por ejemplo formada por una serie de diodos electroluminiscentes.
En general, la fuente luminosa 28, 28' comprende una serie de fuentes individuales yuxtapuestas, discretas, por ejemplo formada por una serie de diodos electroluminiscentes, estando estas fuentes individuales yuxtapuestas asociadas a un difusor de tal manera que la fuente luminosa emite entonces una iluminación que puede considerarse como continua y difusa.
El espectro de luz proporcionado por la fuente luminosa 28 puede ser monocromático o policromático, extendiéndose por ejemplo en un intervalo de longitudes de ondas. El espectro de luz proporcionado por la fuente luminosa 28 comprende preferentemente unas longitudes de ondas en el campo visible.
En una variante preferida, la fuente luminosa 28 comprende unos diodos electroluminiscentes blancos, cuyo espectro de emisión cubre la extensión del campo visible.
En la invención, se forma, con los rayos reflejados, por lo menos una imagen de la superficie de anillo del recipiente, sobre el sensor 18, como se ilustra en la figura 8.
Gracias a la observación de la superficie de anillo 16, incluido el borde interno de la superficie de anillo, por el sistema óptico según el primer campo de observación periférica, se recoge sobre el sensor fotoeléctrico bidimensional, en una primera zona anular del sensor, para formar una primera zona de imagen, en el ejemplo digital, bidimensional ZI1:
- algunos de los rayos luminosos incidentes reflejados, según el primer campo de observación periférica que tiene el ángulo de elevación de observación y1, por la superficie de anillo, para formar en dicha primera zona ZI1 un primer círculo principal CP1;
- y, eventualmente, si una rebaba está presente a nivel del borde interno, los rayos reflejados, según el primer campo de observación periférica que tiene el primer ángulo de elevación de observación y1, por el borde interno de la superficie de anillo o por una rebaba en el anverso del borde interno, formando en dicha primera zona de imagen por lo menos un primer arco de círculo secundario CS1 concéntrico al primer círculo principal CP1, y desplazado radialmente con respecto a este.
La primera zona de imagen ZI1 en la que se puede esperar encontrar el primer círculo principal CP1 y un eventual primer arco de círculo secundario CS1 es en este caso una zona anular. Según la transformación óptica llevada a cabo por el sistema óptico 24, el círculo secundario CS1 puede encontrarse radialmente en el exterior del primer círculo principal CP1, como en el ejemplo de la figura 8, o por el contrario, en el interior de éste.
El primer círculo principal CP1 corresponde a una parte de la superficie de anillo formada por los puntos que presentan una normal tal que existe por lo menos un rayo incidente que, por reflexión especular en este punto, es reflejado, después de la reflexión sobre la primera superficie primaria de reflexión 261, según un rayo de observación del primer campo de observación periférica. Según la configuración del haz luminoso incidente, en particular en función de la extensión de la fuente luminosa 28, del carácter difuso o no de la fuente luminosa, y del perfil de la superficie de anillo visto en sección en un semiplano radial, el grosor del primer círculo CP1 será más o menos considerable. En efecto, en función de estos parámetros, habrá, en un semiplano radial determinado, uno o varios puntos de la superficie de anillo que permitirán la reflexión de un rayo incidente en dirección al sensor a través del sistema óptico 24. Por el contrario, en particular si la superficie de anillo presenta un perfil abombado, algunas partes de la superficie de anillo no son visibles en la imagen de la superficie de anillo, a falta de reenviar los rayos reflejados según el primer campo de observación periférica.
Con un dispositivo tal como se ha descrito anteriormente, el primer círculo principal CP1 es generalmente continuo en 360° si la superficie de anillo no presenta otro defecto más que una eventual rebaba en el anverso de su borde interno.
Se puede tomar como convención que el centro del primer círculo principal CP1 determina un eje central A''1 de la imagen, siendo este eje la imagen del eje central teórico A1 de la superficie de anillo.
Para determinar la presencia de una rebaba en el anverso del borde interno de la superficie de anillo, el procedimiento comprende, por ejemplo:
- la búsqueda, en dicha primera zona de imagen ZI1, del primer círculo principal CP1;
- la búsqueda, en dicha primera zona de imagen ZI1, de un eventual arco de círculo secundario CS1 concéntrico con el primer círculo principal CP1 y desplazado radialmente con respecto a este último.
Sin embargo, en el ejemplo ilustrado en la figura 8, se observa que la primera zona de imagen Z11 presenta dos círculos concéntricos completos en 360°, mientras que el recipiente observado presenta una rebaba que se extiende solamente sobre aproximadamente la mitad de un círculo. La explicación de este fenómeno es la siguiente.
La figura 2 ilustra un rayo incidente RI emitido por la fuente luminosa, que es reflejado por un punto somital S de una rebaba situada en el anverso del borde interno de la superficie de anillo en un rayo reflejado RR1 que es interceptado por la primera superficie primaria de reflexión 261, en un punto RS1 y por lo tanto reflejado hacia el sensor por el sistema óptico. Como se ha visto anteriormente, se considera que el punto S es el punto localmente más alto del perfil de la rebaba en el semiplano correspondiente. En la práctica, una rebaba comprende casi siempre una arista viva, de manera que existe un punto muy próximo del punto más alto, hasta el punto de que se pueden considerar como coincidentes, capaz de reenviar un rayo incidente según el ángulo de elevación de observación.
Entre el punto S de la rebaba y la primera superficie de reflexión 261, el rayo RR1 se propaga según un rayo de observación del primer campo de observación periférica. Sin embargo, si la dirección del rayo RR1 se prolonga en su parte comprendida entre su punto de reflexión RS1 sobre la primera superficie de reflexión 261 y el anillo, más allá del punto somital S de la rebaba, se observa que esta dirección que corresponde a un rayo de observación llega a impactar con un punto S' del anillo de la botella que es susceptible de reflejar un rayo incidente luminoso según este mismo rayo de observación. Dicho de otra manera, el punto S' del anillo, en este caso por ejemplo un punto del borde periférico eterno inferior del anillo, a veces denominado "superficie de contra-anillo" o "bajo anillo", es susceptible de reflejarse sobre el mismo punto de reflexión RS1 en la primera superficie de reflexión 261, de tal manera que el punto S y el punto S' coincidirán en la imagen formada sobre el sensor y, por lo tanto, en la imagen digital. En general, este razonamiento se aplica a 360° alrededor del eje de instalación. En el presente caso, el punto S' pertenece a un borde periférico circular que se extiende 360° alrededor del eje A1 de tal manera que aparece sobre la imagen un reflejo parasito RP, en este caso en forma de un círculo, que se encuentra parcialmente confundido con el primer arco de círculo secundario CS1. Se entiende, por lo tanto, que, para este caso particular de recipiente 14, debido a la geometría particular del anillo, y debido al ángulo de elevación de observación particular determinado por la primera superficie de reflexión 261, la imagen obtenida por el dispositivo puede no resultar satisfactoria para determinar efectivamente la presencia o no de una rebaba.
En esta etapa, se observa que este caso particular, en el que un reflejo parásito impide la buena determinación de la presencia de una rebaba es solo un caso particular. En numerosos casos, un dispositivo que comprende una única superficie primaria de reflexión tal como se ha descrito anteriormente permitirá, para numerosos recipientes, hacer una detección totalmente eficaz de la presencia de una rebaba en el anverso de un borde interno de la superficie de anillo. En efecto, en ausencia de reflejos parásitos, esta determinación se realizará mediante análisis comparativo del primer círculo principal y del primer arco de círculo secundario, de la misma manera como se describirá más adelante con relación a un segundo círculo principal y un segundo arco de círculo secundario formados en una segunda zona de imagen.
Sin embargo, según el primer campo de observación periférica que tiene el primer ángulo de elevación de observación y1, cuando aparecen rayos parásitos reflejados por una parte de una pared del anillo, distinta de la superficie de anillo 16 y distinta de su borde interno, que forman unas imágenes parásitas en la primera zona de imagen ZI1, en particular unos arcos de círculos similares a los producidos por el borde interno o una rebaba, se puede prever ventajosamente modificar el ángulo de elevación de observación y1 en un valor y2 de ángulo de elevación de observación diferente.
El ángulo de elevación de observación se puede modificar sustituyendo por lo menos un componente del sistema óptico 24, en particular sustituyendo la primera superficie primaria de reflexión. Se podrá prever así un dispositivo en el que el elemento óptico de visión periférica 22, que comprende la primera superficie primaria de reflexión 261, es intercambiable con otros elementos ópticos de visión periférica que presentarían una superficie primaria de reflexión que determina otro ángulo de elevación de observación diferente. Sin embargo, la sustitución de un elemento óptico por otro es un procedimiento que puede resultar complejo y que puede necesitar unos ajustes de alineación.
Es por ello por lo que, en una variante perfeccionada, la invención prevé la observación de la superficie del anillo 16, así como del borde interno de la superficie de anillo, desde arriba, mediante el sistema óptico 24, según un segundo campo de observación periférica determinado por la segunda superficie de reflexión primaria 262.
Gracias a esta segunda superficie de reflexión primaria 262, se recoge, sobre el mismo sensor fotoeléctrico bidimensional 18, en una segunda zona anular del sensor, para formar una segunda zona de imagen digital bidimensional ZI2:
- algunos de los rayos luminosos incidentes reflejados, según el segundo campo de observación periférica que tiene el segundo ángulo de elevación de observación y2, por la superficie de anillo, formando, en dicha segunda zona de imagen ZI2, un segundo círculo principal Cp2;
- y, eventualmente, unos rayos reflejados según el segundo campo de observación periférica que tiene el segundo ángulo de elevación de observación y2 por el borde interno 15 de la superficie de anillo 16 o por una rebaba en el anverso del borde interno, formando en dicha segunda zona de imagen por lo menos un segundo arco de círculo secundario CS2, concéntrico con el segundo círculo principal CP2, y desplazado radialmente con respecto a este último.
En la figura 2, se observa que el rayo incidente RI es reflejado por el punto somital S en un segundo rayo reflejado RR2 que es interceptado por la segunda superficie primaria de reflexión 262, en un punto RS2 y por lo tanto reflejado hacia el sensor 18 por el sistema óptico 24. En este ejemplo, si la dirección del segundo rayo reflejado RR2 se prolonga más allá del punto somital S de la rebaba, se observa que esta dirección, que corresponde a un rayo de observación, llegará a impactar con el anillo de la botella en unos puntos que no son susceptibles de reflejar un rayo incidente luminoso según este mismo rayo de observación. Así, este rayo de observación no se ve afectado por una imagen parásita. Ventajosamente, esto es cierto en 360° alrededor del eje de instalación.
Por consiguiente, como se observa en la figura 8, gracias a esta modificación del ángulo de elevación de observación, se puede distinguir muy claramente, en la segunda zona de imagen ZI2, el segundo círculo primario principal CP2 y el segundo arco de círculo secundario CS2. El calificativo "segundo" que se utiliza en este caso para el segundo círculo principal y el segundo arco de círculo secundario deriva de que se encuentran en la segunda zona de imagen, que corresponde al segundo ángulo de elevación de observación.
La segunda zona de imagen ZI2 en la que se puede esperar encontrar el segundo círculo principal CP2 y un eventual arco de círculo secundario CS2 es en este caso una zona anular. Según la transformación óptica llevada a cabo por el sistema óptico 24, el segundo arco de círculo secundario CS2 puede encontrarse radialmente fuera del segundo círculo principal CP2, como en el ejemplo de la figura 8, o, por el contrario, en su interior.
El segundo círculo principal CP2 corresponde a una segunda imagen de una parte de la superficie de anillo formada por los puntos que presentan una normal tal que existe por lo menos un rayo incidente que, por reflexión especular en este punto, es reflejado, después de la reflexión sobre la segunda superficie primaria de reflexión 262, según un rayo de observación del segundo campo de observación periférica. Como para el primer círculo principal CP1, el grosor del segundo círculo CP2 será más o menos considerable, y es generalmente continuo sobre los 360° si la superficie del anillo no presenta otro defecto más que una eventual rebaba en el anverso de su borde interno.
Para determinar la presencia de una rebaba en el anverso del borde interno de la superficie de anillo, el procedimiento comprende, por ejemplo:
- la búsqueda, en dicha segunda zona de imagen ZI2, del segundo círculo principal CP2;
- la búsqueda, en dicha segunda zona de imagen ZI2, de un eventual segundo arco de círculo secundario CS2 concéntrico con el segundo círculo principal CP2 y desplazado radialmente con respecto a este último.
En la imagen digital global, el primer y el segundo círculo principal y el segundo arco de círculo secundario pueden identificarse por un valor de luminosidad superior a un valor de luminosidad de fondo de la imagen.
Ya sea para la primera zona de imagen o la segunda zona de imagen, se considera que, en ausencia de rebaba en el anverso del borde interno, el borde interno presenta entonces su geometría nominal. En este caso, se encontrará, o no, un arco de círculo secundario que corresponde eventualmente a este borde interno. Esto dependerá en particular de la geometría nominal de este borde interno, en función de la cual unos rayos incidentes se reflejarán o no en dirección a la superficie primaria de reflexión. Si el borde interno de geometría nominal refleja unos rayos incidentes en dirección al sensor con reflexión sobre la superficie primaria correspondiente, entonces es posible que el arco de círculo secundario que corresponde al borde interno se extienda en 360°. Si, por el contrario, el borde interno de geometría nominal no refleja los rayos incidentes en dirección al sensor, entonces no habrá ningún arco de círculo secundario visible en la zona de imagen correspondiente.
Se entiende por lo tanto que existe un interés en limitar los casos en los que los reflejos parásitos podrían afectar a la precisión de la determinación de la presencia de un defecto de tipo rebaba, para prever la observación de la superficie de anillo y de su borde interno según dos ángulos de elevación de observación diferentes.
Preferentemente, estos dos ángulos de elevación de observación se obtienen gracias a dos superficies primarias de reflexión distintas dispuestas simultáneamente sobre el dispositivo y que generan estos dos ángulos.
En una variante, se prevé que estas dos superficies primarias de reflexión estén dispuestas simultáneamente sobre el dispositivo y que, mediante una operación de desplazamiento relativo entre el recipiente y el sistema óptico, se pueda formar una imagen de la superficie de anillo y de la eventual rebaba, o bien por medio de la primera superficie de reflexión primaria 261, o bien por medio de la segunda superficie de reflexión primaria 262, pero no las dos al mismo tiempo. Esta variante se ilustra en particular en las figuras 5, 6 y 7.
En la figura 5 se ha ilustrado, en efecto, el sensor 18, el objetivo 20, en este caso esquematizado en forma de una lente, el elemento óptico 22 que comprende la primera superficie primaria de reflexión 261 y la segunda superficie primaria de reflexión 262, la fuente luminosa central 28 y el recipiente 14, que presentan las características descritas anteriormente.
La primera superficie primaria de reflexión 261 y la segunda superficie primaria de reflexión determinan, para el sensor, respectivamente una primera parte de campo de visión aguas abajo CAV1 y una segunda parte de campo de visión aguas abajo CAV2. La primera y la segunda partes de campo de visión aguas abajo comprenden el conjunto de los puntos del espacio de la zona de instalación para los cuales se forma una imagen sobre el sensor 18 por el sistema óptico, respectivamente después de la reflexión sobre la primera o la segunda superficie primaria de reflexión. En sección mediante un plano perpendicular al eje de instalación, estas partes de campo de visión aguas abajo CAV1, CAV2 son anulares. Desde la superficie primaria de reflexión correspondiente, estas partes de campo de visión aguas abajo están dirigidas hacia abajo, son centrípetas en dirección al eje de instalación de manera que formen un tronco de cono anular que tiene un semiángulo en el vértice complementario del ángulo de elevación de observación.
Se comprende que, para que se forme una imagen de la superficie de anillo 16 por reflexión sobre una u otra de las dos superficies primarias de reflexión, es necesario que la superficie de anillo sea instalada en la parte de campo de visión aguas abajo CAV1, CAV2 correspondiente.
Como se ha ilustrado en las figuras 6 y 7, este modo de realización es tal que no existe ninguna zona de inspección común en la que las dos partes de campo de visión aguas abajo CAV1, CAV2 coincidan, y en la que la superficie de anillo podría ser recibida.
Por el contrario, se observa en la figura 6 que el recipiente 14 debe colocarse en una primera posición axial con respecto al dispositivo 10 de manera que la superficie de anillo 16 esté comprendida en la primera parte de campo de visión aguas abajo CAV1 que es determinada por la primera superficie de reflexión primaria 261. En esta posición, sólo el primer círculo principal y un eventual primer círculo secundario se forman en la imagen global. En el ejemplo ilustrado, se observa que por lo menos uno de los rayos de observación del primer campo de observación periférica es susceptible de interceptar un rayo incidente reflejado por una superficie externa S' del anillo que no es la que se desea detectar. Se trata, por lo tanto, de un reflejo parásito y que generará una imagen parásita en la imagen producida después de la reflexión sobre la primera superficie primaria de reflexión 261.
En la figura 7, se observa que el recipiente 14 ocupa, con respecto al dispositivo 10, una segunda posición axial, desplazada según la dirección del eje de instalación con respecto a la primera, para que la superficie de anillo 16 esté comprendida en la segunda parte de campo de visión aguas abajo CAV2, que es determinada por la segunda superficie de reflexión primaria 262. En esta segunda posición, el mismo recipiente no genera ningún reflejo parásito, que sería visible según el segundo campo de observación periférica, que sería susceptible de crear una imagen parásita. En esta posición, sólo se forman en la imagen global el segundo círculo principal y un eventual segundo círculo.
El desplazamiento relativo del recipiente con respecto al dispositivo se puede crear, por ejemplo, previendo que el dispositivo, o una parte de éste, esté montado por medio de un soporte 230 que puede ser móvil, por ejemplo mediante una corredera 21, sobre un chasis 11 que ocupa una posición fija con respecto a un dispositivo de transporte de recipiente. Al desplazar el dispositivo de inspección 10, o una parte de este último, a lo largo de la corredera, se puede ajustar por translación la posición relativa del dispositivo, y, por lo tanto, del sistema óptico, con respecto a la superficie de anillo de un recipiente en la zona de instalación. Se puede prever también que los recipientes se transporten mediante un dispositivo de transporte ajustable en altura a nivel de una estación de inspección que comprende el dispositivo de inspección.
Con dicho dispositivo, se asegura una observación simultánea de la superficie de anillo, mediante el sistema óptico 24, según el primer campo de observación periférica que tiene el primer ángulo de observación y1 y según el segundo campo de observación periférica que tiene el segundo ángulo de observación y2, ya que las dos superficies de reflexión están contenidas en partes separadas del campo de visión aguas arriba del sensor. Sin embargo, con tal dispositivo, se debe proceder al ajuste, por translación relativa según el eje central teórico, de la posición relativa del sistema óptico con respecto a la superficie de anillo del recipiente, con el fin de permitir la formación de una imagen bidimensional de la superficie de anillo del recipiente y de su borde interno, o bien en la primera zona de imagen ZI1 que corresponde a la observación según el primer el segundo campo de observación periférica que tiene el primer ángulo de observación y1, o bien en la segunda zona de imagen Zl2 que corresponde a la observación según el segundo campo de observación periférica que tiene el segundo ángulo de observación Y2.
En este caso, sobre una imagen digital global IG dada, proporcionada por el sensor 18, se encuentra una única imagen de la superficie de anillo y una única imagen de la eventual rebaba, en una u otra de las dos zonas de imagen.
Se debe observar que el desplazamiento relativo entre el sistema óptico y la superficie de anillo se consigue preferentemente conservando las posiciones relativas del sistema óptico y de los elementos que lo componen con respecto al sistema objetivo 20, al sensor 18, y a la fuente luminosa 28. En este caso, se desplaza el recipiente 14 con relación al dispositivo 10 según la dirección del eje de instalación A'1. Sin embargo, como variante, es posible, por lo menos en algunos modos de realización, que el desplazamiento relativo entre la cámara 19 y el sistema óptico y la superficie de anillo supone también un desplazamiento relativo entre la cámara 19 y el elemento óptico de visión periférica 22 que lleva las superficies primarias de reflexión.
En todos los casos, en base a una imagen global adquirida gracias a dicho dispositivo, se podrá entonces determinar la presencia o no de una rebaba buscando, en una imagen global adquirida gracias al sensor 18, un círculo principal y por lo menos un arco de círculo secundario, o bien en la primera zona de imagen ZI1, o bien en la segunda zona de imagen ZI2.
En dicho sistema, se podría prever, evidentemente, para cada recipiente, la adquisición de dos imágenes globales que corresponden cada una a una de las posiciones relativas del recipiente 14 del dispositivo 10. Sin embargo, se concibe que esto no sería óptimo. En realidad, se comprende que los problemas de los reflejos parásitos que se pueden encontrar con uno u otro de los campos de observación periféricas están intrínsecamente relacionados con la geometría del recipiente. Sobre una línea de inspección, de fabricación, de transporte o de acondicionamiento de recipiente, los recipientes son generalmente todos del mismo tipo, presentando la misma geometría, por lo menos durante un periodo de tiempo significativo. Asimismo, con dicho dispositivo que no permite la formación simultánea en una misma imagen global de una imagen de la superficie de anillo, y de una eventual rebaba según el primer campo de observación periférica, y de una imagen de la superficie de anillo y de una eventual rebaba según el segundo campo de observación periférica, se procederá, preferentemente, al inicio de la inspección de una serie de recipientes, a una etapa de predeterminación del ángulo de elevación de observación a utilizar para un tipo de recipientes determinado. Esta etapa de predeterminación se puede realizar manualmente por un operario que apreciará la eventual presencia de reflejos parásitos susceptibles de perjudicar la inspección. Por ejemplo, comparando una imagen tomada según el primer campo de observación periférica y una imagen tomada según el segundo campo de observación periférica, se podrá determinar cuál de las dos imágenes dará los resultados de inspección más fiables. Esta comparación se puede realizar también automáticamente, mediante análisis informático de estas dos imágenes. En base a este análisis, se puede elegir entonces uno u otro de los ángulos de elevación de observación y ajustar la posición relativa del dispositivo con respecto al recipiente al inicio de la inspección para mantenerla durante toda la inspección de la serie de recipientes de geometrías idénticas.
Sin embargo, en un modo de realización preferido de la invención, como el ilustrado en la figura 2, en la figura 3 y en la figura 4, las dos superficies de reflexión primarias se seleccionan y están dispuestas con respecto al dispositivo de tal manera que el sistema forme simultáneamente, sobre el sensor 18, dos imágenes separadas en dos zonas distintas del sensor, de manera que este último proporcione una imagen global que comprende dos zonas de imágenes distintas, comprendiendo cada zona de imagen distinta una imagen de la superficie de anillo y una imagen de una eventual rebaba formadas a partir de los rayos recogidos según el campo de observación periférica que tiene el ángulo de elevación de observación determinado por la superficie primaria de reflexión correspondiente.
Dicha imagen global es, en particular, la que se ilustra en la figura 8.
El dispositivo de las figuras 2, 3 y 4 permite así la observación simultánea de la superficie de anillo 16, incluido el borde interno de la superficie de anillo, por el sistema óptico 24, 124, según el primer campo de observación periférica y el segundo campo de observación periférica. Por lo tanto, esto permite la formación simultánea, a partir de los rayos reflejados recogidos según los primer y segundo campos de observación periférica, por medio del sistema óptico 24 de una imagen bidimensional CP1, CP2, de la superficie de anillo del recipiente, y CS1, CS2 de su borde interno simultáneamente, y al mismo tiempo en la primera zona de imagen ZI1 que corresponde a la observación según el primer campo de observación periférica que tiene el primer ángulo de observación y1 y en la segunda zona de imagen Z2 que corresponde a la observación según el segundo campo de observación periférica que tiene el segundo ángulo de observación y2, sobre el mismo sensor bidimensional 18, estando separadas la primera zona de imagen y la segunda zona de imagen.
En este caso, para cada recipiente, se dispondrá, por lo tanto, una imagen global que comprende dos zonas de imagen que comprenden cada una, una imagen de la superficie de anillo y de una eventual rebaba, bajo dos ángulos de elevación de observación diferentes. Esta imagen IG se adquiere preferentemente en un único tiempo de adquisición del sensor de imagen 18.
Para ello, el elemento óptico de visión periférica 22 que comprende la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie de reflexión está diseñado para que estas dos superficies determinen, para el sensor, respectivamente una primera parte de campo de visión aguas abajo anular CAV1 y una segunda parte de campo de visión aguas abajo anular CAV2 que coinciden en una zona de inspección común en la zona de instalación. Esta zona de inspección común es una zona del espacio que comprende el conjunto de los puntos que pueden ser recibidos por el sensor 18 a través del sistema óptico 24 al mismo tiempo después de la reflexión en la primera superficie primaria de reflexión 261 y después de la reflexión sobre la segunda superficie primaria de reflexión 262. La geometría de la zona de inspección común debe adaptarse para recibir la superficie de anillo de un recipiente a inspeccionar.
Preferentemente, se optimizará la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión, de tal manera que las dos imágenes de la superficie de anillo y de una eventual rebaba obtenidas, por un lado, por reflexión sobre la primera superficie primaria de reflexión 261 y, por otro lado, por reflexión sobre la segunda superficie primaria de reflexión 262, sean nítidas para un mismo ajuste de enfoque del dispositivo.
En particular, se preverá que la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión se posicionen:
- considerando un punto S de la superficie de anillo 16 dispuesta en la zona de inspección común;
- considerando un primer camino óptico RR1 seguido, entre el punto S considerado y el sensor 18, por un rayo incidente RI reflejado en este punto considerado S de la superficie de anillo según el primer campo de observación periférica que tiene el primer ángulo de elevación de observación y después reflejado en dirección al sensor en la primera superficie primaria de reflexión 261; y
- considerando un segundo camino óptico RR2 seguido, entre el punto considerado S y el sensor 18, por un rayo incidente reflejado en este punto considerado S de la superficie de anillo según el segundo campo de observación periférica que tiene el segundo ángulo de elevación de observación y reflejado en dirección al sensor sobre la segunda superficie primera de reflexión 262.
En este caso, la diferencia de longitud entre el primer camino óptico y el segundo camino óptico es inferior al valor de profundidad de campo de la cámara 19 cuando el sistema óptico es enfocado sobre la superficie de anillo.
De manera conocida, la profundidad de campo se representa mediante el conjunto de los puntos contenidos entre dos planos perpendiculares al eje óptico del sistema óptico para los cuales los puntos se ven nítidos para un enfoque dado del sistema óptico. El valor de profundidad de campo corresponde a la distancia entre estos dos planos.
Esta propiedad permite obtener una nitidez óptima en las dos zonas de imágenes ZI1, ZI2, con el mismo ajuste de enfoque del sistema óptico 24.
Una manera de obtener esta propiedad es prever que la primera superficie primaria de reflexión y la segunda superficie primaria de reflexión sean, según un plano de sección radial que contiene el eje central de instalación, tangentes a un elipsoide cuyos focos están dispuestos sobre el eje de instalación A'1. Un primer foco del elipsoide está dispuesto a nivel del centro CO de la pupila de entrada del sistema objetivo 20. El segundo foco del elipsoide está dispuesto sobre el eje central de instalación A'1, a nivel del anillo 12 del recipiente a inspeccionar. Dado el valor de profundidad de campo para los sistemas ópticos utilizados en el campo de la invención, existe una tolerancia en cuanto a la posición exacta de los focos, en particular según la dirección del eje de instalación.
En la hipótesis de que se inspeccione una serie de recipientes de geometrías idénticas, se podrá prever la utilización de una sola de las dos imágenes después de una etapa de predeterminación que comprende, por ejemplo, la selección, para por lo menos una serie de recipientes del mismo tipo, de una zona de imagen preferente entre la primera y la segunda zonas de imagen, de la misma manera que la vista anteriormente con respecto al modo de realización anterior. En este caso, el análisis de una imagen, para determinar la presencia de una rebaba en el anverso del borde interno del recipiente correspondiente, puede comprender la búsqueda, para dicha serie de recipientes, en la zona de imagen preferente, del círculo principal continuo y del arco de círculo secundario correspondientes.
Sin embargo, en la medida en la que se dispone, para cada recipiente a inspeccionar, de una imagen global que comprende dos zonas de imagen que comprenden cada una, una imagen de la superficie de anillo y de una eventual rebaba, según dos campos de observación periférica diferentes que tienen dos ángulos de elevación de observación diferentes, el análisis de una imagen, para determinar la presencia de una rebaba en el anverso del borde interno del recipiente correspondiente, puede comprender la búsqueda, para dicho recipiente, en la primera zona y en la segunda zona de imagen, del primer y del segundo círculo principal continuo y del primer y del segundo arco de círculo secundario correspondientes a este recipiente. Se obtiene así, para un mismo recipiente, unas informaciones extraídas de la observación bajo dos ángulos de elevación de observación diferentes. Esta redundancia permite confirmar la presencia de defectos. Estas informaciones permiten asimismo, por ejemplo en una operación de triangulación, determinar con más precisión y confianza unas informaciones que se refieren a la geometría de la rebaba, por ejemplo a su altura y/o su posición radial con respecto al anverso supuesto del borde interno.
Este cruce de las informaciones obtenidas bajo los dos campos de observación periférica que tienen unos ángulos de elevación de observación diferentes se puede reservar para algunos recipientes, por ejemplo unos recipientes que presentan unas características de defecto particulares. Sin embargo, se puede aprovechar esto no sólo para un recipiente determinado, sino eventualmente para toda una serie de recipientes del mismo tipo, que presentan por ejemplo la misma geometría.
Para determinar la presencia o no de un defecto de tipo rebaba para un recipiente determinado, el procedimiento podrá comprender la determinación, en la imagen, de una distancia radial de separación entre un arco de círculo secundario y el círculo principal más cercano en una zona de imagen obtenida gracias a la invención. Se podrá determinar entonces la presencia de un defecto de tipo rebaba cuando dicha distancia radial de separación excede, para por lo menos un rayo, un valor umbral.
Más particularmente, en los modos de realización en los que se forma una primera zona de imagen y una segunda zona de imagen que comprende cada una la imagen de la superficie de anillo y de una eventual rebaba en el anverso de su borde interno, el análisis de estas zonas de imagen podrá comprender:
- la búsqueda, en la primera zona de imagen, del primer círculo principal y de un primer arco de círculo secundario, y la determinación de una primera distancia radial de separación D1 entre los dos; la distancia radial de separación es, por ejemplo, para un arco, el valor máximo de separación radial entre los dos sobre la extensión angular del arco;
- la búsqueda en la segunda zona de imagen, del segundo círculo principal y de un segundo arco de círculo secundario, y la determinación de una segunda distancia radial de separación D2 entre los dos;
- la puesta en correspondencia de un primer y de un segundo arco de círculo secundarios encontrados respectivamente en la primera y la segunda zona de imagen como siendo las dos imágenes, bajo el primer y el segundo campo de observación periférica, de una misma rebaba; esta coincidencia, o emparejamiento, puede comprender el establecimiento mediante un algoritmo de que los dos arcos encontrados cada uno en una zona diferente son imagen del mismo objeto;
- la determinación mediante la combinación de las distancias radiales de separación D1 y D2 medidas para dichos primer y segundo arcos de círculo secundarios en las dos zonas de imagen ZI1, ZI2, con el fin de determinar un valor dependiente de la altura relativa dZ de la rebaba con respecto a la superficie de anillo;
- la determinación de la presencia de una rebaba cuando el valor dependiente de la altura relativa dZ excede, para por lo menos una parte de arco, un valor umbral.
En los ejemplos de realización que se han descrito anteriormente, cada superficie primaria de reflexión refleja directamente los rayos luminosos en dirección al sensor 18. Sin embargo, como variante, se podría prever entre la o las superficies primarias de reflexión 261, 262 y el sensor 18, por lo menos una superficie de reflexión de reenvío. En este caso, se considera que la superficie primaria de reflexión 126 refleja los rayos luminosos indirectamente en dirección al sensor 18. Dicha superficie de reflexión de reenvío puede comprender una superficie reflectante cónica o troncocónica convexa, centrada en el eje de instalación, girada hacia el lado opuesto del eje de instalación, ensanchada hacia abajo y de menor diámetro que la o las superficies primarias de reflexión.
En la figura 10 se ha ilustrado una línea de inspección 200 de recipientes 14 que utiliza un dispositivo 10 según la invención. En el ejemplo ilustrado, los recipientes 14 se desplazan por un transportador 210 que transporta los recipientes 14 según una dirección de desplazamiento, por ejemplo en translación horizontal perpendicular al eje central teórico A1 de los recipientes 14. En el ejemplo ilustrado, el transportador 210 comprende una cinta transportadora 212 sobre la cual se colocan los recipientes 14 por su superficie de fondo, también denominado plano de colocación, con su eje central teórico A1 dispuesto verticalmente. El transportador podría comprender una rueda de transporte que desplaza los recipientes 14 según un camino de desplazamiento circular, en particular en un plano horizontal. El transportador 210 podría comprender también unos medios de guiado (no representados) que cooperan con las caras laterales de los recipientes 14. Los recipientes 14 presentan así su superficie de anillo 16 en un plano horizontal girado hacia arriba. El transportador 210 lleva los recipientes según el camino horizontal por debajo del dispositivo 10 según la invención, sin riesgo de interferir con el dispositivo 10. El dispositivo 10 puede comprender un soporte, por ejemplo en forma de caja 230, que incorpora en particular el sensor 18, el sistema objetivo 20, una fuente luminosa 28, una primera superficie de reflexión primaria 261 y eventualmente una segunda superficie de reflexión primaria de reenvío 262. La caja 230 está dispuesta por encima del transportador. En el interior de la caja 230, un dispositivo 10 según la invención está dispuesto con su eje de instalación A'1 en posición vertical, de tal manera que el campo de observación y el haz luminoso incidente están orientados hacia abajo, hacia la zona de instalación Z que se sitúa entre la cara inferior de la caja 230 y la cinta transportadora 212. Se comprende por lo tanto que, a nivel de esta estación de inspección, el transportador 210 lleva los recipientes de manera que su eje central teórico A1 coincida lo máximo posible con el eje de instalación A'1. En el momento de esta coincidencia, se adquiere una imagen gracias al dispositivo 10, sin que esto necesite una manipulación del recipiente ni la parada del transportador. La imagen adquirida por el dispositivo 10 puede ser enviada a continuación a un sistema de tratamiento 240, por ejemplo un dispositivo de procesamiento de imágenes y/o un dispositivo de visualización y/o un dispositivo de almacenamiento de imágenes, por ejemplo un sistema informático que comprende un ordenador. Es posible entonces analizar la imagen así adquirida y determinar la presencia o no de una rebaba en el anverso del borde interno de la superficie de anillo 16 del recipiente 14.
La cámara se puede activar para integrar una imagen de manera sincronizada con el desplazamiento de los artículos, en particular para fijar la imagen en el momento de la alineación del eje teórico de anillo A1 con el eje de instalación A'1. Se prevé que el tiempo de integración es corto, por ejemplo inferior a 1 ms, incluso 400 |is, con el fin de reducir el riesgo de desenfoque por movimiento en las imágenes.
La fuente de luz puede ser pulsada, es decir producir la iluminación durante un tiempo breve de tipo flash, por ejemplo inferior a 1 ms, incluso 400 |im, con el fin de reducir el difuminado por movimiento en las imágenes.
Se puede prever que el sistema de tratamiento 240 coopere con, o incluya, una unidad de control, que controle la fuente de luz y la cámara, con el fin de sincronizarlas con el desplazamiento de los artículos.
Por lo tanto, el dispositivo y el procedimiento no tienen contacto físico con el recipiente a controlar. Un dispositivo según la invención resulta menos costoso y ocupa menos espacio que los dispositivos de la técnica anterior, lo cual permite en particular su instalación fácil en una estación o sobre una línea de inspección de artículos, que puede comprender otros dispositivos destinados a otros controles, y el dispositivo según la invención puede por lo tanto ser instalado en particular en una línea de producción en la que los recipientes circulan en cadena. Este dispositivo permite entonces el control de recipientes en línea, ya sea sobre una línea de producción de los recipientes, o sobre una línea de tratamiento de los recipientes, o en una línea de llenado, a gran velocidad.
El dispositivo y el procedimiento según la invención se pueden realizar con un solo sensor fotoeléctrico bidimensional, por ejemplo una sola cámara, y aun así proporcionar una información fiable en cuanto a la presencia o no de una rebaba en el anverso del borde interno de la superficie de anillo, y esto a partir de una sola imagen bidimensional óptica, adquirida directamente por el sensor, y no a partir de varias imágenes ópticas adquiridas por separado.
El sistema de observación según la invención se presenta en este caso en unas realizaciones preferidas en las que las superficies reflectantes son unos espejos. Se puede considerar obtener los mismos resultados utilizando unos elementos ópticos de tipo prismas, que presentan unas superficies también cónicas por ejemplo, provocando unas reflexiones totales. Un elemento óptico en el sentido de la invención puede comprender una lente de Fresnel. Dichos medios permiten asimismo una observación con los mismos valores del ángulo y, y se puede diseñar mediante estos medios unas observaciones telecéntricas o no,
La invención no se limita a los ejemplos descritos y representados, ya que se pueden aportar diversas modificaciones a los mismos sin apartarse de su ámbito, tal como se define en las reivindicaciones.

Claims (18)

REIVINDICACIONES
1. Procedimiento de determinación de la presencia de una rebaba de vidrio en el anverso de un borde interno (15) de una superficie de anillo (16) de un anillo de un recipiente (14) de vidrio, teniendo la superficie de anillo como geometría teórica una superficie de revolución alrededor de un eje central teórico (A1), del tipo que comprende:
- la iluminación de la superficie de anillo (16) del recipiente desde arriba, con la ayuda de un haz luminoso incidente que comprende unos rayos luminosos incidentes (RI) radiales contenidos en por lo menos un plano radial que contiene el eje central teórico (A1), separándose dichos rayos radiales incidentes del eje central teórico (A1) a nivel de su incidencia sobre la superficie de anillo, y estando algunos de los rayos radiales del haz luminoso incidente reflejados por reflexión especular sobre la superficie de anillo (16), en forma de rayos reflejados (RR1, RR2);
- la formación, con los rayos reflejados, de por lo menos una imagen de la superficie de anillo del recipiente, sobre un sensor fotoeléctrico bidimensional (18), siendo el procedimiento tal que:
- el haz luminoso incidente comprende unos rayos luminosos incidentes radiales contenidos en unos planos radiales distribuidos en 360° alrededor del eje central teórico (A1);
- el procedimiento comprende la observación de la superficie de anillo (16), incluido el borde interno de la superficie de anillo, desde arriba, mediante un sistema óptico (24, 261), según un primer campo de observación periférica que observa la superficie de anillo (16) según unos primeros rayos de observación radiales que están contenidos en unos planos radiales que contienen el eje central teórico (A1), que están distribuidos en 360° alrededor del eje central teórico (A1), efectuándose esta observación radialmente desde el exterior con respecto a la superficie de anillo, teniendo el primer campo de observación periférica un primer ángulo de elevación de observación (y1) con respecto a un plano perpendicular al eje central teórico (A1), de manera que se recojan sobre el sensor fotoeléctrico bidimensional (18), en una primera zona anular del sensor, para formar una primera zona de imagen digital bidimensional (ZI1):
o algunos de los rayos luminosos incidentes reflejados según el primer campo de observación periférica (y1) por la superficie de anillo, formando en dicha primera zona de imagen (ZI1) anular, un círculo principal (CP1) que corresponde a una parte de la superficie de anillo formada por los puntos que presentan una normal tal que existe por lo menos un rayo incidente que, por reflexión especular en este punto, es reflejado, después de la reflexión sobre una primera superficie primaria de reflexión (261) según un rayo de observación del primer campo de observación periférica;
o y, eventualmente, unos rayos reflejados según el primer campo de observación periférica (y1) por el borde interno de la superficie de anillo o por una rebaba en el anverso del borde interno, formando en dicha primera zona de imagen, por lo menos un arco de círculo secundario (CS1) concéntrico con dicho círculo principal, y desplazado radialmente con respecto a este;
y tal que el procedimiento comprende:
o la búsqueda, en dicha primera zona de imagen, de dicho círculo principal (CP1);
o la búsqueda, en dicha primera zona de imagen, de un eventual arco de círculo secundario (CS1) concéntrico con dicho círculo principal y desplazado radialmente con respecto a éste;
- y tal que, cuando aparecen, según el primer campo de observación periférica que tiene el primer ángulo de elevación de observación (y1), unos rayos parásitos reflejados por una parte (S') de una pared del anillo distinta de la superficie de anillo (16) y de su borde interno que forman en la primera zona de imagen (ZI1), unas imágenes parásitas, se modifica el ángulo de elevación de observación (y1) en un valor (y2) diferente.
2. Procedimiento según la reivindicación 1, caracterizado por que el ángulo de elevación de observación (y1, y2) se modifica sustituyendo por lo menos un componente (261,262) del sistema óptico (24).
3. Procedimiento según una cualquiera de las reivindicaciones 1 o 2, caracterizado por que:
- el procedimiento comprende la observación de la superficie de anillo (16), así como del borde interno de la superficie del anillo, desde arriba, mediante un sistema óptico (24, 262), según un segundo campo de observación periférica que observa el anillo (16) según unos segundos rayos de observación radiales que están contenidos en unos planos radiales que contienen el eje central teórico (A1), que están distribuidos en 360° alrededor del eje central teórico (A1), teniendo el segundo campo de observación periférica un segundo ángulo de elevación de observación (y2) con respecto a un plano perpendicular al eje central teórico (A1), pero diferente del primer ángulo de elevación de observación (y1), de manera que se recojan sobre el mismo sensor fotoeléctrico bidimensional, en una segunda zona anular del sensor (ZI2), para formar una segunda zona de imagen digital bidimensional (ZI2):
o algunos de los rayos luminosos incidentes reflejados según el segundo campo de observación periférica (Y2) por la superficie de anillo, formando, en dicha segunda zona de imagen, un círculo principal (CP2); o y, eventualmente, unos rayos reflejados según el segundo campo de observación periférica (y2) por el borde interno de la superficie de anillo o por una rebaba en el anverso del borde interno, formando en dicha segunda zona de imagen, por lo menos un arco de círculo secundario (CS2) concéntrico con el círculo principal (CP2), y desplazado radialmente con respecto a éste;
y por que el procedimiento comprende:
o la búsqueda, en dicha segunda zona de imagen (ZI2), del círculo principal (CP2);
o la búsqueda, en dicha segunda zona de imagen (ZI2), de un eventual arco de círculo secundario (CS2) concéntrico con el círculo principal (CP2) y desplazado radialmente con respecto a este;
4. Procedimiento de determinación según la reivindicación 3, caracterizado por que comprende:
* la observación simultánea, por el sistema óptico (24, 261, 262), según el primer campo de observación periférica que tiene el primer ángulo de observación (y1) y según el segundo campo de observación periférica que tiene el segundo ángulo de observación (y2);
* el ajuste por translación relativa según el eje central teórico de una posición relativa del sistema óptico (24) con respecto a la superficie de anillo (16) del recipiente, de manera que permita la formación de una imagen bidimensional de la superficie de anillo del recipiente y de su borde interno, o bien en la primera zona de imagen (Z1) correspondiente a la observación según el primer campo de observación periférica (y1), o bien en la segunda zona de imagen (Z2) correspondiente a la observación según el segundo campo de observación periférica (y2),
* la búsqueda de un círculo principal (CP1, CP2) y después por lo menos de un arco de círculo secundario (CS1, CS2), o bien en la primera zona de imagen (ZI1), o bien en la segunda zona de imagen (ZI2).
5. Procedimiento de determinación según la reivindicación 3 o la reivindicación 4, caracterizado por que comprende:
- la observación simultánea de la superficie de anillo (16), incluido el borde interno de la superficie de anillo, mediante el sistema óptico (24, 261, 262), según el primer campo de observación periférica y según el segundo campo de observación periférica;
- la formación simultánea, a partir de los rayos reflejados recogidos según los primer y segundo campos de observación periférica, por medio del sistema óptico (24, 261, 262), de una imagen bidimensional de la superficie de anillo del recipiente y de su borde interno simultáneamente al mismo tiempo en la primera zona de imagen (ZI1) correspondiente a la observación según el primer campo de observación periférica (Y1) y en la segunda zona de imagen (ZI2) correspondiente a la observación según el segundo campo de observación periférica (y2), sobre el mismo sensor bidimensional (18), estando separadas la primera zona de imagen y la segunda zona de imagen.
6. Procedimiento según una cualquiera de las reivindicaciones 4 o 5, caracterizado por que comprende:
- la selección, para por lo menos una serie de recipientes del mismo tipo, de una zona de imagen preferencial de entre la primera y la segunda zona de imagen (ZI1, ZI2);
- la búsqueda, para dicha serie de recipientes, en la zona de imagen preferencial, del círculo principal continuo y del arco de círculo secundario correspondientes.
7. Procedimiento según una de las reivindicaciones 3 a 6, caracterizado por que comprende la búsqueda, para por lo menos un recipiente, en la primera zona de imagen (ZI1), de un primer círculo principal continuo (CP1) y de un primer arco de círculo secundario (CS1) correspondientes a este dicho recipiente, y, en la segunda zona de imagen (ZI2), de un segundo círculo principal continuo (CP2) y de un segundo arco de círculo secundario (CS2) correspondientes a este dicho recipiente.
8. Procedimiento según una de las reivindicaciones 4 a 6, caracterizado por que comprende la búsqueda, para cada recipiente, de por lo menos una serie de recipientes del mismo tipo, en la primera zona de imagen (ZI1), de un primer círculo principal continuo (CP1) y de un primer arco de círculo secundario (CS1) correspondientes a un recipiente, y, en la segunda zona de imagen (ZI2), de un segundo círculo principal continuo (CP2) y de un segundo arco de círculo secundario (CS2) correspondientes a este dicho recipiente.
9. Procedimiento de determinación según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que la formación de la zona de imagen bidimensional (ZI1, ZI2) incluye la formación óptica de una imagen bidimensional (CP1, CP2) completa y continua en 360° alrededor del eje central teórico (A1) de la superficie de anillo (16) sobre el mismo sensor (18).
10. Procedimiento de determinación según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que el procedimiento comprende la determinación de la presencia de una rebaba cuando una distancia radial (D1, D2) de separación, entre un arco de círculo secundario (CS1, CS2) y el círculo principal más próximo (CP1, CP2), excede, para por lo menos un rayo, un valor umbral.
11. Procedimiento de determinación según una cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizado por que el procedimiento comprende:
■ la determinación de una distancia radial de separación entre un arco de círculo secundario y el círculo principal más próximo; y
■ la determinación de la presencia de una rebaba cuando dicha distancia radial de separación excede, para por lo menos un rayo, un valor umbral.
12. Procedimiento de determinación según una cualquiera de las reivindicaciones 5, 7 u 8, caracterizado por que el procedimiento comprende:
- la búsqueda, en la primera zona de imagen (ZI1), de un primer círculo principal (CP1) y de un primer arco de círculo secundario (CS1) y la determinación de una distancia radial de separación (D1) entre los dos; - la búsqueda, en la segunda zona de imagen (ZI2), de un segundo círculo principal (CP2) y de un segundo arco de círculo secundario (CS2), y la determinación una distancia radial de separación (D2) entre los dos; - la puesta en correspondencia del primer y del segundo arco de círculo secundario encontrados respectivamente en la primera y segunda zonas de imagen como siendo las dos imágenes, según el primer y el segundo campo de observación periférica, de una misma rebaba;
- la determinación por combinación de las distancias radiales de separación (D1 y D2) medidas para dichos primer y segundo arcos de círculo secundarios en las dos zonas de imagen (ZI1, ZI2), con el fin de determinar un valor dependiente de una altura relativa (dZ) de la rebaba con respecto a la superficie de anillo;
- la determinación de la presencia de una rebaba cuando el valor excede, para por lo menos una parte de arco, un valor umbral.
13. Dispositivo de inspección de la presencia de una rebaba de vidrio en el anverso de un borde interno de una superficie de anillo (16) de un recipiente (14) de vidrio, teniendo la superficie de anillo como geometría teórica una superficie de revolución alrededor de un eje central teórico (A1), del tipo en el que el dispositivo (10) presenta una zona de instalación (Z) de una superficie de anillo (16) de un recipiente a inspeccionar, teniendo esta zona de instalación un eje de instalación (A'1), del tipo que comprende:
- un sistema de iluminación (28, 28') dispuesto por encima de la zona de instalación y apto para proporcionar un haz luminoso incidente que comprende unos rayos radiales contenidos en por lo menos un plano radial que contiene el eje de instalación (A'1), separándose dichos rayos radiales del eje de instalación (A'1) a nivel de su incidencia sobre la superficie de anillo;
- un sensor (18), unido a una unidad de análisis de imágenes;
- un sistema óptico (24, 261, 262) dispuesto por encima de la zona de instalación, interpuesto entre la zona de instalación y el sensor (18), y apto para formar, sobre el sensor (18), una imagen (CP1, CP2) de la superficie de anillo (16) a inspeccionar (14) colocada en la zona de instalación.
siendo el dispositivo tal que:
- el sensor es un sensor bidimensional de imagen;
- el haz luminoso incidente es un haz que comprende unos rayos luminosos incidentes radiales contenidos en unos planos radiales que contienen el eje de instalación (A'1) y distribuidos en 360° alrededor del eje de instalación (A'1);
- el sistema óptico comprende por lo menos una primera superficie primaria de reflexión (261) en un campo de visión aguas arriba del sensor, siendo la primera superficie primaria de reflexión (261) una superficie de revolución centrada sobre el eje de instalación (A'1), girada hacia el eje de instalación, y dispuesta para reflejar, directa o indirectamente, en dirección al sensor (18), los rayos luminosos que proceden de la zona de instalación según unos planos radiales que contienen el eje de instalación (A'1) y según un primer campo de observación periférica que tiene un primer ángulo de elevación de observación (y1) con respecto a un plano perpendicular al eje central de instalación (A'1);
- el dispositivo comprende por lo menos una segunda superficie primaria de reflexión (262) en el campo de visión aguas arriba del sensor (18), siendo la segunda superficie primaria de reflexión una superficie de revolución centrada sobre el eje de instalación, girada hacia el eje de instalación y dispuesta para reflejar directa o indirectamente, en dirección al sensor (18), los rayos luminosos que proceden de la zona de instalación según unos planos radiales que contienen el eje de instalación (A'1) y según un segundo campo de observación periférica que tiene un segundo ángulo de elevación de observación (y2) con respecto a un plano perpendicular al eje central de instalación (A'1), siendo dicho segundo ángulo de elevación de observación diferente del primer ángulo de elevación de observación, estando la primera superficie primaria y la segunda superficie primaria de reflexión ambas en unas partes separadas del campo de visión aguas arriba del sensor; y
- la primera superficie primaria de reflexión (261) y la segunda superficie de reflexión (262) determinan para el sensor (18), respectivamente una primera parte de campo de visión aguas abajo (CAV1) y una segunda parte de campo de visión aguas abajo (CAV2) que coinciden en la zona de inspección.
14. Dispositivo según la reivindicación 13, caracterizado por que la primera superficie primaria de reflexión (261) y la segunda superficie primaria de reflexión (262) son troncocónicas de ángulos en el vértice diferentes.
15. Dispositivo según una cualquiera de las reivindicaciones 13 o 14, caracterizado por que la primera superficie primaria de reflexión (261) y la segunda superficie primaria de reflexión (262) son, según un plano de sección radial que contiene el eje central de instalación (A'1), tangentes a un elipsoide cuyo foco está en el centro de la pupila de entrada de un sistema objetivo (20) de una cámara (19) que comprende el sensor de imagen (18) y cuyo segundo foco está dispuesto sobre el eje central de instalación (A'1), a nivel del anillo (12) del recipiente a inspeccionar.
16. Dispositivo según una cualquiera de las reivindicaciones 13 a 15, caracterizado por que el haz periférico incidente comprende, en un mismo plano radial, unos rayos radiales no paralelos.
17. Dispositivo según una cualquiera de las reivindicaciones 13 a 16, caracterizado por que el sistema de iluminación comprende una fuente luminosa (28) central contenida por lo menos parcialmente en una envoltura cilindrica de revolución que tiene por eje el eje de instalación (A'1) y por diámetro el diámetro del borde interno (15) de la superficie de anillo (16) a inspeccionar, o una fuente luminosa (28') anular de revolución, centrada sobre el eje de instalación (A'1), que genera unos rayos luminosos incidentes radiales que impactan en la superficie de anillo (16) después de haber intersectado el eje de instalación (A'1).
18. Línea de inspección (200) de recipientes (14) que presentan una superficie de anillo (16), del tipo en el que unos recipientes (14) son desplazados sobre una línea de transporte por un transportador (210) que transporta los recipientes (14) según una dirección de desplazamiento horizontal perpendicular a un eje central teórico (A1) de los recipientes (14) que presentan así su superficie de anillo (16) en un plano horizontal girado hacia arriba, caracterizada por que la instalación comprende un dispositivo (10) según una cualquiera de las reivindicaciones 13 a 17, que está dispuesto sobre la instalación con su eje de instalación (A'1) en posición vertical, de tal manera que el campo de observación y el haz luminoso incidente están orientados hacia abajo, hacia la zona de instalación (Z) que se sitúa entre el dispositivo y un órgano de transporte del transportador (212).
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3076619B1 (fr) * 2018-01-05 2020-01-24 Tiama Procede, dispositif et ligne d'inspection pour determiner la geometrie tridimensionnelle d'une surface de bague de recipient
CN110082365B (zh) * 2019-04-08 2020-07-03 燕山大学 基于机器视觉的钢卷边部质量检测机器人
CN112950541B (zh) * 2019-04-12 2023-10-13 浙江大学台州研究院 一种基于机器视觉的合成革涂胶在线监测方法
CN110360934A (zh) * 2019-07-15 2019-10-22 北海市龙浩光电科技有限公司 一种测量弧面玻璃盖板的方法
CN111307421B (zh) * 2020-03-20 2022-08-19 宁波舜宇仪器有限公司 镜片缺陷检测系统
US11047803B1 (en) * 2020-09-10 2021-06-29 Applied Vision Corporation Glass container inspection system
JP7345765B2 (ja) * 2021-08-18 2023-09-19 三菱電線工業株式会社 リング状製品の寸法測定装置及びリング状製品の寸法測定方法
KR102620467B1 (ko) * 2021-08-23 2024-01-04 (주)인스케이프 용기형 물체의 다각도 촬영 장치
CN116630315B (zh) * 2023-07-24 2023-09-29 山东东阿亿福缘阿胶制品有限公司 基于计算机视觉的饮料包装缺陷智能检测方法

Family Cites Families (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US878705A (en) 1907-01-10 1908-02-11 Abraham L Adams Machine for winding and cutting cloth rolls.
US3390569A (en) 1966-12-05 1968-07-02 Brockway Glass Co Inc Finish inspection apparatus for glass containers
JPS5520123A (en) * 1978-07-17 1980-02-13 Nippon Pirooburotsuku Seizou K Crack detector for bottle head
DE2916361A1 (de) 1979-04-23 1980-11-06 Siemens Ag Verfahren und anordnung zum pruefen des randes von durchsichtigen gefaessen
DE3035082A1 (de) 1980-09-17 1982-04-22 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und anordnung zur optischelektronischen erfassung von oberflaechenstrukturen an rotationssymmetrischen koerpern
US4606435A (en) 1984-09-10 1986-08-19 General Motors Corporation Brake lining wear sensor and indicator circuit
JPS61193009A (ja) 1985-02-22 1986-08-27 Toyo Glass Kk 容器の開口天面欠陥検査方法
JPS6212845A (ja) * 1985-07-10 1987-01-21 Kirin Brewery Co Ltd 壜のねじ口部欠陥検出装置
JPH0747348B2 (ja) 1986-09-16 1995-05-24 ブラザー工業株式会社 製本容易な記録のできるプリンタ
JPS6372552U (es) * 1986-10-30 1988-05-14
NL8800866A (nl) 1988-04-05 1989-11-01 Thomassen & Drijver Inspektie-inrichting.
US4914289A (en) * 1988-10-26 1990-04-03 Inex-Vistech Technologies Incorporated Article inspection system for analyzing end and adjacent sides
US4914286A (en) 1989-04-20 1990-04-03 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for increasing the processing capacity of optical digital processing systems having optically bistable devices
CH679698A5 (es) * 1989-10-06 1992-03-31 Elpatronic Ag
EP0657732A1 (de) * 1993-12-06 1995-06-14 Elpatronic Ag Verfahren und Vorrichtung zur optischen Prüfung eines durchsichtigen Behälterbereichs, insbesondere des Mündungsbereichs
US5699152A (en) * 1995-04-03 1997-12-16 Alltrista Corporation Electro-optical inspection system and method
HU224946B1 (en) * 1995-09-22 2006-04-28 Owens Brockway Glass Container System for checking containers by a field programmable gate array logic
JP3614597B2 (ja) * 1996-10-24 2005-01-26 三菱原子燃料株式会社 内面撮像装置
EP1382961B1 (de) 1996-10-30 2004-12-22 Krones Ag Inspektionsvorrichtung für Flaschen oder dgl.
FR2780533B1 (fr) 1998-06-26 2000-09-29 Bsn Sa Procede et dispositif de lecture de reliefs portes par un recipient transparent ou translucide
US6172748B1 (en) 1998-12-28 2001-01-09 Applied Vision Machine vision system and method for non-contact container inspection
DE19940363C2 (de) * 1999-08-25 2003-08-07 Krones Ag Vorrichtung und Verfahren zur optischen Inspektion offener Getränkebehälter
US6256095B1 (en) 2000-01-21 2001-07-03 Owens-Brockway Glass Container Inc. Container sealing surface area inspection
US6621569B2 (en) 2000-05-26 2003-09-16 Applied Vision Company Llc Illuminator for machine vision
FR2846422B1 (fr) 2002-10-25 2004-12-17 Sgcc Dispositif d'eclairage d'un article pour la detection automatique de defauts et installation de detection automatique de defauts comportant un tel dispositif
WO2004049267A1 (de) * 2002-11-23 2004-06-10 Odas Gmbh Verfahren zur fotografischen aufnahme eines zylinderförmigen, insbesondere plattenförmigen gegenstandes
JP4286835B2 (ja) * 2003-01-24 2009-07-01 日本山村硝子株式会社 容器の口部検査装置
US20040150815A1 (en) 2003-02-05 2004-08-05 Applied Vision Company, Llc Flaw detection in objects and surfaces
US6903814B1 (en) 2003-03-05 2005-06-07 Owens-Brockway Glass Container Inc. Container sealing surface inspection
DE10312051A1 (de) 2003-03-18 2004-09-30 Vitronic Dr.-Ing. Stein Bildverarbeitungssysteme Gmbh Mantelflächensensor sowie Abbildungsoptik hierfür
US20040263620A1 (en) 2003-06-30 2004-12-30 Diehr Richard D. Container inspection machine
FR2884611B1 (fr) 2005-04-18 2008-03-28 Iris Inspection Machines Sa Dispositif de detection de defauts d'objets transparents ou translucides
FR2896041B1 (fr) * 2006-01-11 2012-02-17 Michel Cayment Dispositif d'inspection en vue d'une face visible et d'une face normalement cachee d'objets et installation d'inspection comprenant un tel dispositif.
FR2901022B1 (fr) * 2006-05-10 2008-08-08 Saverglass Soc Par Actions Sim Dispositif et procede de detection de defaut dans une bague d'article verrier.
US7436509B2 (en) 2006-10-23 2008-10-14 Emhart Glass S.A. Machine for inspecting glass containers
FR2907554B1 (fr) 2006-10-24 2009-03-20 Tiama Sa Poste d'inspection optique pour detecter des defauts reflechissant la lumiere
US20080186693A1 (en) 2007-02-02 2008-08-07 White Timothy P Container inspection machine
WO2008129650A1 (ja) 2007-04-13 2008-10-30 Toyo Glass Co., Ltd. 容器口部欠陥検査方法及び装置
US8196014B2 (en) 2007-06-29 2012-06-05 Mitsubishi Electric Corporation Check matrix generating device, check matrix generating method, encoder, transmitter, decoder, and receiver
JP2009150767A (ja) * 2007-12-20 2009-07-09 Kirin Techno-System Co Ltd 円筒状内面の検査装置
JP2010048745A (ja) * 2008-08-25 2010-03-04 Asahi Glass Co Ltd 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法
DE102010050673A1 (de) 2010-11-09 2012-05-10 Krones Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum Inspizieren von Behältnissen
CN202649134U (zh) * 2012-06-08 2013-01-02 北京大恒图像视觉有限公司 瓶盖质量检测装置
CN202649136U (zh) 2012-06-15 2013-01-02 北京大恒图像视觉有限公司 一种口服液瓶盖自动灯检机的光路系统
DE202012104043U1 (de) 2012-10-19 2012-11-28 Ks Control Kommunikations- Und Steuerungstechnik Ks-Schneider/Ruhland Gmbh Inspektionsvorrichtung für Behältnismündungen
NL2009980C2 (en) 2012-12-13 2014-06-16 Ct Voor Tech Informatica B V A method of producing glass products from glass product material and an assembly for performing said method.
KR101325871B1 (ko) 2013-05-13 2013-11-05 현대하이스코 주식회사 핫 스탬핑 부품 용접성 개선방법
CN110388885A (zh) * 2013-07-01 2019-10-29 萨科希瑞斯先进控制有限公司 用于光学地形状检测和/或检查物体的方法和设备
FR3027391B1 (fr) * 2014-10-17 2024-05-24 Msc & Sgcc Procedes, dispositif et ligne d'inspection pour visualiser la planeite d'une surface de bague de recipient

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