ES2482165T3 - Procedimiento y dispositivo de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora - Google Patents
Procedimiento y dispositivo de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora Download PDFInfo
- Publication number
- ES2482165T3 ES2482165T3 ES07788050.8T ES07788050T ES2482165T3 ES 2482165 T3 ES2482165 T3 ES 2482165T3 ES 07788050 T ES07788050 T ES 07788050T ES 2482165 T3 ES2482165 T3 ES 2482165T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- distance
- winding
- emission
- reception
- windings
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
Procedimiento de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora (13) de conductividad eléctrica s1 y de permeabilidad magnética relativa σr1, en el que un sensor, que comprende al menos un conjunto formado por al menos un bobinado de emisión (11) de un campo electromagnético y al menos un bobinado de recepción (12) influido por los campos electromagnéticos producidos por medio de corrientes de Foucault inducidas en esta pieza (13), se desplaza por encima de esta pieza, caracterizado porque incluye las etapas siguientes: - obtención de una primera curva (20) de tensión compleja en los bornes de un bobinado de recepción (12), en función de la distancia entre el bobinado de emisión (11) correspondiente y este bobinado de recepción, para la distancia nominal entre el sensor y una parte sin defectos de esta pieza u otra pieza sin defectos, - obtención de al menos una segunda curva de tensión compleja (21, 22) en los bornes de un bobinado de recepción, en función de la distancia entre el bobinado de emisión correspondiente y este bobinado de recepción, para al menos una distancia (e) diferente de la distancia nominal entre el sensor y una parte sin defectos de esta pieza u otra pieza sin defectos, - determinación de al menos una distancia dada di que reduce al mínimo el módulo de la diferencia entre la primera curva (20) y la al menos una segunda curva (21, 22), - elección de la distancia di+/-20% como distancia entre los ejes de los dos bobinados de emisión y de recepción cuando existe sólo una distancia di y elección de la media aritmética d+/-20% de la distancia di cuando existen al menos dos distancias di entre los dos bobinados de emisión y de recepción, - detección de la posible presencia de uno o varios defectos en esta pieza.
Description
E07788050
16-07-2014
Procedimiento y dispositivo de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora 5
La invención se refiere a un procedimiento y un dispositivo de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora.
El campo de la invención es el del control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora, que presenta una gran dinámica de funcionamiento y que usa un conjunto
15 de bobinados de emisión y de recepción muy compacto. Un control semejante es ventajoso en particular para la detección de defectos de pequeño tamaño, en especial para el control no destructivo (CND) de piezas eléctricamente conductoras.
El principio de la detección de defectos por corrientes de Foucault en una pieza eléctricamente conductora consiste
20 en emitir en las proximidades de esta pieza, con ayuda de al menos un bobinado de emisión, un campo electromagnético de frecuencia adaptada a la conductividad del material y a la profundidad de los defectos buscados. Se mide entonces, en los bornes de al menos un bobinado de recepción, una fuerza electromotriz debida al acoplamiento directo de las líneas de campo magnético entre el bobinado de emisión y el bobinado de recepción en presencia de la pieza conductora. Se mide igualmente una pequeña variación de esta fuerza electromotriz que se
25 superpone a ella durante la presencia de un defecto en el material. El campo de la invención se limita así a los procedimientos y dispositivos que usan al menos un bobinado afectado por la emisión de la señal electromagnética capaz de generar corrientes de Foucault en la pieza que se someterá a control, y al menos un bobinado afectado por la recepción de las señales inducidas por las corrientes de Foucault, de manera que una configuración semejante se denomina “de funciones separadas”.
30 La fuerza electromotriz inducida VR en los bornes de cada bobinado de recepción, que está a la misma frecuencia que la corriente enviada en el bobinado de emisión asociado, permite obtener la señal útil después de una demodulación. En presencia de un defecto, esta fuerza electromotriz inducida VR se convierte en VR ±δVR, siendo sólo la variación δVR, muy débil frente a VR, portadora de información.
35 La detección de defectos, en especial de pequeñas dimensiones, induce una pequeña dimensión de los bobinados (elementos pequeños), y por tanto señales detectadas de muy baja amplitud. Para resolver dicho problema, los dispositivos de la técnica anterior proponen asociaciones de varios bobinados.
40 Así, el documento de referencia [1] del final de la descripción describe un dispositivo de detección de defectos por corrientes de Foucault que comprende al menos una sonda de detección formada por un bobinado de emisión y cuatro bobinados de detección del campo magnético inducido en la pieza que se someterá a control. Los bobinados de recepción están dispuestos de tal manera que sus centros forman los vértices de un rombo que constituyen un primer y un segundo par de bobinados, estando el primer par dispuesto en una diagonal de este rombo conectado
45 en modo común, estando el segundo par dispuesto en la otra diagonal conectado en modo común, estando estos pares de bobinados de recepción primero y segundo conectados en modo diferencial. El bobinado de emisión, alimentado por una corriente alterna, está dispuesto por encima de estos bobinados de recepción, estando el centro del mismo dispuesto por encima del centro del rombo. El dispositivo comprende igualmente un dispositivo que permite conmutar el funcionamiento de cada una de estas sondas. Así, para cada sonda, este dispositivo incluye
50 varios bobinados de recepción, dispuestos de manera simétrica con respecto a un bobinado de emisión y conectados de manera diferencial.
Este dispositivo de detección de defectos presenta numerosos inconvenientes, que son en especial su pesadez, su coste, y también los defectos inherentes a los montajes diferenciales: las señales indeseables sólo son eliminadas si
55 aparecen en el mismo instante en dos bobinados conectados en oposición, con la misma amplitud y la misma fase. Además los bobinados asociados, y sus vías de medidas respectivas, deben presentar características idénticas.
Además, en este documento de referencia [1], cuando el dispositivo de detección de defectos se desplaza por encima de la pieza que se someterá a control, las variaciones de entrehierro, es decir, las variaciones de altura entre
60 este dispositivo y esta pieza son susceptibles de perturbar la señal útil. Estas variaciones de entrehierro se deben principalmente:
-a vibraciones durante el desplazamiento del dispositivo, y
65 -al hecho de que el dispositivo no puede adaptarse con precisión a la superficie local de una pieza compleja.
E07788050
16-07-2014
La invención tiene por objeto paliar dichos inconvenientes proponiendo un procedimiento y un dispositivo de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora, poco sensibles al ruido de entrehierro reduciendo al mínimo la variación de la señal útil debida a una variación de entrehierro accidental.
5
La invención se refiere a un procedimiento de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora de conductividad eléctrica σ1 y de permeabilidad magnética
10 relativa µr1, en el que un sensor, que comprende al menos un conjunto formado por al menos un bobinado de emisión de un campo electromagnético y al menos un bobinado de recepción influido por los campos electromagnéticos producidos por medio de corrientes de Foucault inducidas en esta pieza, se desplaza por encima de esta pieza, caracterizado por las etapas definidas en la reivindicación 1.
15 Ventajosamente los bobinados de emisión y de recepción están dispuestos a los dos lados de un soporte, que puede ser flexible, por ejemplo una película de kapton, en el que los bobinados están grabados. Ventajosamente la gama de frecuencias usadas está comprendida entre algunos hercios, por ejemplo 10, y 50 MHz.
Ventajosamente en el centro de cada bobinado y/o en las proximidades de cada bobinado, en el lado opuesto al de 20 la pieza que se someterá a control, está dispuesto un material magnético de manera que disminuya la reluctancia del circuito magnético de cada par de bobinado de emisión/bobinado de recepción.
El procedimiento de la invención presenta en especial las ventajas siguientes:
25 -La optimización de la distancia entre el bobinado de emisión y el bobinado de recepción del sensor permite reducir al mínimo la influencia del ruido de entrehierro en la señal útil.
-Un mismo sensor puede adaptarse a diferentes piezas que se someterán a control con varios radios de curvatura, permitiendo barrer (“scan”) superficies en tres dimensiones con una resolución espacial fina.
30 -En caso de adelgazamiento de la superficie de desgaste del soporte, por ejemplo una película de kapton, durante el barrido repetido del sensor en la pieza que se someterá a control, los ajustes del aparato que integra el sensor (en especial el equilibrado) se mantienen idénticos.
35 -Un sensor en película de kapton permite un grabado simultáneo de los bobinados de emisión y de recepción, de sus cables de alimentación y de sus conectores, lo que reduce los costes de realización y de mantenimiento debido a la ausencia de soldaduras.
-El sensor así obtenido presenta una buena sensibilidad, una buena relación señal-ruido, y permite una gran 40 densidad de bobinados debido al recubrimiento de los bobinados de emisión y de recepción.
El procedimiento de la invención puede usarse en numerosos ámbitos, en especial:
-en el ámbito nuclear, para las zonas de transición de mandrinado (ZTM) en los tubos de generadores de vapor, 45 -en el ámbito aeronáutico en el caso de piezas complejas.
La invención se refiere igualmente a un dispositivo de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora, caracterizado porque comprende las 50 características definidas en la reivindicación 9.
Ventajosamente se dispone un aislante eléctrico entre dos líneas consecutivas.
55 La figura 1 ilustra un esquema de principio de un sensor que pone en práctica el procedimiento de la invención.
La figura 2 ilustra la tensión de acoplamiento compleja obtenida en los bornes de un bobinado de recepción de un sensor en función de la distancia d entre el bobinado de emisión correspondiente y este bobinado de recepción. 60 La figura 3 ilustra las diferencias de tensión de acoplamiento entre las curvas de la figura 2.
La figura 4 ilustra un ejemplo de realización de un sensor optimizado obtenido usando el procedimiento de la invención. 65 Las figuras 5A y 5B ilustran una configuración multielementos del dispositivo de la invención.
E07788050
16-07-2014
El sensor ilustrado en la figura 1, comprende un bobinado de emisión 11 (radio r1) y un bobinado de recepción 12
5 (radio r2) dispuestos a los dos lados de un soporte 10. Estos bobinados 11 y 12 pueden, por ejemplo, estar grabados a los dos lados de un soporte flexible 10 de kapton. El bobinado 11, que se elige arbitrariamente como bobinado de emisión, es alimentado por una corriente I. El bobinado 12 es entonces el bobinado de recepción, en los bornes del cual se mide una tensión V.
10 Estos dos bobinados 11 y 12 pueden tener ventajosamente las mismas características geométricas. Sus centros están separados una distancia d. El conjunto de estos bobinados 11 y 12 en el soporte 10 está situado a una distancia e, denominada entrehierro, de una pieza conductora 13 que se someterá a control.
En ausencia de defectos en la pieza 13, la tensión V, medida en los bornes del bobinado de recepción 12, es debida
15 al acoplamiento electromagnético entre los dos bobinados 11 y 12: una parte del campo magnético alternativo emitido por el bobinado de emisión 11 que atraviesa el bobinado de recepción 12. Este campo magnético induce una tensión de igual frecuencia que recibe el nombre de tensión de acoplamiento o inducción mutua.
La figura 2 ilustra la tensión de acoplamiento compleja obtenida en los bornes del bobinado de recepción 12 en 20 función de la distancia d (en mm) entre los dos bobinados 11 y 12 para tres valores de entrehierro:
-e = 100 µm: curva 20,
-e = 120 µm: curva 21, y 25 -e = 150 µm: curva 22.
Los otros parámetros son los siguientes:
30 -diámetro exterior de los bobinados 11 y 12: 1 mm,
-diámetro interior de los bobinados 11 y 12: 0,5 mm,
-estando cada bobinado 11 y 12 formado por seis espiras con un paso de 45 µm, de 5 µm de altura, 35 -soporte 10 flexible de grosor 50 µm,
-frecuencia de trabajo: 10 MHz.
40 El procedimiento de la invención incluye las etapas siguientes:
-obtención de una primera curva 20 de tensión compleja en los bornes de un bobinado de recepción 12, en función de la distancia entre el bobinado de emisión 11 correspondiente y este bobinado de recepción, para la distancia nominal, que es la distancia media entre la pieza y la parte la más próxima de los bobinados cuando el sensor está
45 adherido a la pieza (valor de entrehierro mínimo), entre el sensor y una parte sin defectos de esta pieza u otra pieza sin defectos en la que, por ejemplo, la conductividad eléctrica σ2 es tal que 0,05 x σ1 ≤σ2 ≤ 20 x σ1 yla permeabilidad magnética relativa µr2 es tal que 0,05 x µr1 ≤µr2 ≤ 20 x µr1,
-obtención de al menos una segunda curva de tensión compleja 21, 22 en los bornes de un bobinado de recepción,
50 en función de la distancia entre el bobinado de emisión correspondiente y este bobinado de recepción, para al menos una distancia e diferente de la distancia nominal entre el sensor y una parte sin defectos de esta pieza u otra pieza sin defectos,
-determinación de al menos una distancia dada di que reduce al mínimo el módulo de la diferencia entre la primera 55 curva 20 y la al menos una segunda curva 21, 22,
-cálculo de la media aritmética d de la al menos una distancia dada di, siendo esta media aritmética d igual al valor de di cuando existe sólo una distancia di,
60 -elección de esta media aritmética +/-20% como distancia entre los dos bobinados de emisión y de recepción
-detección de la posible presencia de uno o varios defectos en esta pieza.
Las diferencias de tensión de acoplamiento entre las curvas 21 y 22 y la curva de referencia 20 están representadas 65 en las curvas 30 y 31 de la figura 3.
E07788050
16-07-2014
Se constata que estas curvas 30 y 31 pasan por un mínimo para las abscisas 32 de d1 = 790 µm y de d2 = 788 µm para los dos saltos de entrehierro de 20 µm y 50 µm. Estas distancias d1 y d2 reducen así al mínimo la influencia de una variación del entrehierro. El procedimiento de la invención propone de este modo disponer los bobinados 11 y
5 12 a una distancia d = (d1 + d2)/2 ± 20%.
Se ilustra un ejemplo de realización de un sensor así optimizado, que es por tanto menos ruidoso especialmente en superficies complejas, según la figura 4. En este ejemplo, existe un recubrimiento entre el bobinado de emisión 40 y cada bobinado de recepción 41 y 42. Cada distancia optimizada d1 (entre los bobinados 40 y 41) y d2 (entre los
10 bobinados 40 y 42) es superior al menor de los radios de los bobinados 40, 41 ó 42 e inferior a la suma de los radios de los dos bobinados de emisión y de recepción correspondientes. En este ejemplo cada bobinado incluye un orificio metalizado 43 en su centro. Sin embargo, los bobinados de emisión y/o de recepción pueden tener una única espira. En este caso los orificios metalizados 43 no son necesarios.
15 La distancia d óptima entre el bobinado de emisión y un bobinado de recepción 41 ó 42 puede determinarse experimentalmente:
-grabando el bobinado de emisión 40 y un bobinado de recepción 41 ó 42 en dos soportes distintos y midiendo la tensión de acoplamiento para diferentes valores d y e, o
20 -probando una serie de elementos, cada uno con un bobinado de emisión 40 y uno o varios bobinados de recepción 41, 42, con distancias d variables entre los bobinados de emisión y de recepción.
El procedimiento de la invención se pone en práctica ventajosamente en una gama de frecuencias usada 25 habitualmente en el campo del control no destructivo por corrientes de Foucault, es decir, de algunos hercios, por ejemplo, de 10 a 50 MHz.
En variantes de realización del procedimiento de la invención, se puede usar un sensor que comprende:
30 -bobinados de emisión y de recepción que no tienen las mismas características geométricas,
-varios bobinados de recepción no idénticos, colocados a distancias d de un bobinado de emisión, optimizadas por el procedimiento de la invención,
35 -bobinados de emisión y de recepción de forma compleja: por ejemplo poligonal, ovalada, espira o espiras cualesquiera,
-bobinados de emisión o de recepción de un elemento compuestos por varios bobinados conectados en serie. Por ejemplo, un bobinado puede estar compuesto por dos bobinados coaxiales y grabados enfrentados en cada una de 40 las caras de una película de kapton y conectados en serie por medio del orificio metalizado y cuyos sentidos de devanado son de tal forma que las tensiones en sus bornes se suman,
-bobinados de emisión o de recepción compuestos por dos bobinados (o más) no coaxiales conectados en diferencial y alejados del bobinado de emisión correspondiente en una distancia próxima,
45 -un material magnético dispuesto en el centro de cada uno de los bobinados y/o en las proximidades de cada bobinado (en el lado opuesto al de la pieza que se someterá a control) de manera que disminuya la reluctancia del circuito magnético de cada par de bobinado de emisión/bobinado de recepción,
50 -bobinados multicapas, por ejemplo varias películas de kapton apiladas y dispuestas en serie,
-componentes electrónicos, por ejemplo amplificadores, multiplexores, demoduladores..., dispuestos en el soporte,
-una configuración multielementos.
55 Una configuración multielementos comprende varios elementos dispuestos en un mismo sustrato, por ejemplo una barra asociada a un desplazamiento mecánico en un eje o una disposición en matriz que permite evitar todo desplazamiento mecánico. Dicha configuración permite limitar el tiempo de inspección de la superficie de las piezas. Sin embargo, el tamaño de un elemento compuesto por al menos dos bobinados, en especial previsto para la
60 detección de pequeños defectos, es más importante a menudo que el paso p máximo requerido entre dos elementos, estando el paso p determinado de tal manera que, con independencia de cuál sea la posición de un defecto en una pieza, al menos un elemento pueda detectar su presencia.
Una primera solución que permite aumentar la densidad de los elementos para alcanzar el paso p consiste en 65 disponer los elementos en varias líneas, al tresbolillo, todos a la misma altura, en el mismo soporte. Así, si el elemento es dos veces más ancho que el paso p deseado, se usan dos líneas de elementos, estando los elementos
E07788050
16-07-2014
en una misma línea separados por 2p. Una configuración semejante plantea problemas para aprovechar los datos en la medida en que no existe coherencia espacial de las diferentes líneas, lo que obliga a usar una etapa de postratamiento antes de analizar las cartografías (traslación de las líneas).
5 Una segunda solución, ilustrada en la figura 5A consiste en apilar líneas de elementos 50 que incluyen un bobinado de emisión 51 y un bobinado de recepción 52, siempre al tresbolillo, colocando uno sobre otro al menos dos sustratos 53 y 54 (por ejemplo películas de kapton flexibles) con aislantes intermedios 55 y 56, estando cada línea desplazada con respecto a la siguiente el paso p. Usando elementos “clásicos”, es decir, cuya distancia d entre el bobinado de emisión 51 y el bobinado de recepción 52 no está optimizada, la fuerza electromotriz inducida VR en los
10 bornes de los bobinados de recepción es diferente según la capa de pertenencia del elemento. Este hecho hace que la etapa de equilibrado del aparato de corrientes de Foucault sea delicada, en especial en el caso de elementos multiplexados.
En la figura 5B, que ilustra más en particular un elemento, se usan las mismas referencias que en la figura 1, 15 añadiendo un aislante 60.
La optimización de la distancia entre el bobinado de emisión y el bobinado de recepción según la invención, permite obtener elementos cuya fuerza electromotriz inducida VR tiene el mismo valor, con independencia de cuál sea la distancia entre la pieza 58 y el elemento. Esta configuración está por tanto adaptada especialmente al procedimiento
20 de optimización de la distancia de la invención.
Referencias
[1] US 6310476
Claims (10)
- E0778805016-07-2014REIVINDICACIONES1. Procedimiento de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora (13) de conductividad eléctrica σ1 y de permeabilidad magnética relativa µr1, en el que un5 sensor, que comprende al menos un conjunto formado por al menos un bobinado de emisión (11) de un campo electromagnético y al menos un bobinado de recepción (12) influido por los campos electromagnéticos producidos por medio de corrientes de Foucault inducidas en esta pieza (13), se desplaza por encima de esta pieza, caracterizado porque incluye las etapas siguientes:-obtención de una primera curva (20) de tensión compleja en los bornes de un bobinado de recepción (12), en función de la distancia entre el bobinado de emisión (11) correspondiente y este bobinado de recepción, para la distancia nominal entre el sensor y una parte sin defectos de esta pieza u otra pieza sin defectos,-obtención de al menos una segunda curva de tensión compleja (21, 22) en los bornes de un bobinado de15 recepción, en función de la distancia entre el bobinado de emisión correspondiente y este bobinado de recepción, para al menos una distancia (e) diferente de la distancia nominal entre el sensor y una parte sin defectos de esta pieza u otra pieza sin defectos,-determinación de al menos una distancia dada di que reduce al mínimo el módulo de la diferencia entre la primera curva (20) y la al menos una segunda curva (21, 22),-elección de la distancia di+/-20% como distancia entre los ejes de los dos bobinados de emisión y de recepción cuando existe sólo una distancia di y elección de la media aritmética d+/-20% de la distancia di cuando existen al menos dos distancias di entre los dos bobinados de emisión y de recepción,25 -detección de la posible presencia de uno o varios defectos en esta pieza.
-
- 2.
- Procedimiento según la reivindicación 1, en el que, en la parte sin defectos de la pieza o en otra pieza sin defectos, la conductividad eléctrica σ2 es tal que 0,05 x σ1 ≤σ2 ≤ 20 x σ1 y la permeabilidad magnética relativa µr2 es tal que 0,05 x µr1 ≤µr2 ≤ 20 x µr1.
-
- 3.
- Procedimiento según la reivindicación 1, en el que la etapa de obtención de al menos dos curvas se realiza por medida o por cálculo.
35 4. Procedimiento según la reivindicación 1, en el que los bobinados de emisión y de recepción están dispuestos a los dos lados de un soporte. -
- 5.
- Procedimiento según la reivindicación 4, en el que el soporte es un soporte flexible en el que los bobinados de emisión y de recepción están grabados.
-
- 6.
- Procedimiento según la reivindicación 5, en el que el soporte flexible es una película de kapton.
-
- 7.
- Procedimiento según la reivindicación 1, en el que la gama de frecuencias usadas está comprendida entre 10
Hercios y 50 Megahercios. 45 -
- 8.
- Procedimiento según la reivindicación 1, en el que un material magnético está dispuesto en el centro de cada bobinado y/o en las proximidades de cada bobinado, en el lado opuesto al de la pieza que se someterá a control, de manera que disminuya la reluctancia del circuito magnético de cada par de bobinado de emisión/bobinado de recepción.
-
- 9.
- Dispositivo de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora, caracterizado porque comprende:
-al menos dos líneas constituidas por al menos un elemento formado por al menos un bobinado de emisión (11) de55 un campo electromagnético y al menos un bobinado de recepción (12) dispuestos a los dos lados de un soporte flexible (10), cuyos ejes están separados una distancia dada;porque:-cada línea está desplazada de la siguiente una distancia p, estando cada bobinado de la misma naturaleza en una misma línea a una distancia n x p de su vecino más cercano, siendo n el número de líneas;y porque comprende:65 -medios de elección de la distancia di+/-20% como distancia entre los ejes de los dos bobinados de emisión y de recepción cuando existe sólo una distancia di y elección de la media aritmética d+/-20% de la distancia di cuando7E0778805016-07-2014existen al menos dos distancias di entre los dos bobinados de emisión y de recepción, reduciendo esta distancia di al mínimo el módulo de la diferencia entre una curva de tensión compleja (20) para una distancia nominal entre el sensor y una parte sin defectos de esta pieza u otra pieza sin defectos y al menos una curva de tensión compleja (21, 22) para al menos una distancia diferente de la distancia nominal. -
- 10.
- Dispositivo según la reivindicación 9, en el que al menos dos líneas están a alturas diferentes.
-
- 11.
- Dispositivo según la reivindicación 9, en el que un aislante eléctrico está dispuesto entre dos líneas consecutivas.
8
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR0653277 | 2006-08-03 | ||
| FR0653277A FR2904694B1 (fr) | 2006-08-03 | 2006-08-03 | Procede et dispositif de controle par courants de foucault a fonctions emission/reception separees d'une piece electriquement conductrice |
| PCT/EP2007/057851 WO2008015197A1 (fr) | 2006-08-03 | 2007-07-30 | Procede et dispositif de controle par courants de foucault a fonctions emission/reception separees d'une piece electriquement conductrice |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ES2482165T3 true ES2482165T3 (es) | 2014-08-01 |
Family
ID=37808249
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| ES07788050.8T Active ES2482165T3 (es) | 2006-08-03 | 2007-07-30 | Procedimiento y dispositivo de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8159217B2 (es) |
| EP (1) | EP2047241B1 (es) |
| JP (1) | JP5215303B2 (es) |
| ES (1) | ES2482165T3 (es) |
| FR (1) | FR2904694B1 (es) |
| WO (1) | WO2008015197A1 (es) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2881826A1 (fr) * | 2005-02-04 | 2006-08-11 | Commissariat Energie Atomique | Procede de conception et de realisation d'un dispositif de controle a courants de foucault |
| FR2948768B1 (fr) | 2009-07-30 | 2012-09-28 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de detection d'au moins un defaut d'une structure concave ou convexe |
| EP2612105A1 (en) * | 2010-10-14 | 2013-07-10 | Halliburton Energy Services, Inc. | Method for measuring remote field eddy current thickness in multiple tubular configuration |
| WO2013069467A1 (ja) * | 2011-11-07 | 2013-05-16 | 日産自動車株式会社 | 磁性体評価装置およびその方法 |
| FR2985027B1 (fr) | 2011-12-22 | 2014-02-28 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication d'une tete de controle d'un capteur de controle non destructif a courants de foucault |
| FR3021115B1 (fr) | 2014-05-16 | 2016-06-24 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication d'une tete de controle d'un capteur de controle non destructif a courants de foucault |
| FR3053120B1 (fr) * | 2016-06-27 | 2020-12-04 | Commissariat Energie Atomique | Procede de mesure par courants de foucault et dispositif de mesure par courants de foucault |
| JP7351332B2 (ja) * | 2020-12-01 | 2023-09-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 渦流探傷用プローブ、探傷方法および渦流探傷装置 |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3875502A (en) * | 1973-05-24 | 1975-04-01 | Foerster Inst Dr Friedrich | Coil arrangement and circuit for eddy current testing |
| CH568569A5 (es) * | 1974-02-06 | 1975-10-31 | Bbc Brown Boveri & Cie | |
| GB1567600A (en) * | 1975-10-15 | 1980-05-21 | British Gas Corp | Lipe line inspection equipment |
| JPS5753604A (en) * | 1980-09-18 | 1982-03-30 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Thickness gauge |
| FR2502337A1 (fr) * | 1981-03-23 | 1982-09-24 | Commissariat Energie Atomique | Procede de controle non destructif par courants de foucault avec correction des effets d'entrefer et dispositif de mise en oeuvre |
| US4686471A (en) * | 1984-10-09 | 1987-08-11 | Kawasaki Steel Corporation | System for online-detection of the transformation value and/or flatness of steel or a magnetic material by detecting changes in induced voltages due to interlinked magnetic fluxes in detecting coils |
| JPS63139202A (ja) * | 1986-12-02 | 1988-06-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 電磁誘導形肉厚測定方法および測定装置 |
| GB8807301D0 (en) * | 1988-03-26 | 1988-04-27 | Philpot Electronics Ltd | Detector |
| US5047719A (en) * | 1990-05-25 | 1991-09-10 | The Failure Group, Inc. | Flexible coil assembly for reflectance-mode nondestructive eddy-current examination |
| CA2076205C (en) * | 1992-08-14 | 1999-04-20 | Valentino S. Cecco | Differential transmit-receive eddy current probe incorporating bracelets of multi-coil units |
| US5659248A (en) * | 1994-10-17 | 1997-08-19 | General Electric Company | Multilayer eddy current probe array for complete coverage of an inspection surface without mechanical scanning |
| JP2911828B2 (ja) * | 1996-07-30 | 1999-06-23 | カーマン・インスツルメンテーション・コーポレーション | パラメータ補償付き複数パラメータうず電流計測システム |
| JP3276295B2 (ja) * | 1996-10-09 | 2002-04-22 | 三菱重工業株式会社 | 渦電流探傷装置 |
| FR2773397B1 (fr) * | 1998-01-06 | 2000-03-17 | Intercontrole Sa | Sonde a courants de foucault, pour le controle non destructif de pieces electriquement conductrices |
| CA2299373C (en) * | 1998-08-06 | 2003-10-14 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Eddy-current testing probe |
| DE19860487A1 (de) * | 1998-12-28 | 2000-07-06 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur räumlichen Vermessung einer Inhomogenität an einer Oberfläche eines Kernreaktorbauteils und Anwendung des Verfahrens zur Vermessung einer elektrisch praktisch nicht leitenden Schicht |
| JP2000337809A (ja) * | 1999-05-28 | 2000-12-08 | Nippon Steel Corp | 差動型渦流距離計 |
| CA2477263A1 (en) * | 2002-02-26 | 2003-09-04 | Shell Internationale Research Maatschappij B.V. | Determining a surface profile of an object |
| FR2881826A1 (fr) * | 2005-02-04 | 2006-08-11 | Commissariat Energie Atomique | Procede de conception et de realisation d'un dispositif de controle a courants de foucault |
-
2006
- 2006-08-03 FR FR0653277A patent/FR2904694B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-07-30 EP EP07788050.8A patent/EP2047241B1/fr active Active
- 2007-07-30 JP JP2009522243A patent/JP5215303B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-07-30 ES ES07788050.8T patent/ES2482165T3/es active Active
- 2007-07-30 US US12/376,112 patent/US8159217B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-07-30 WO PCT/EP2007/057851 patent/WO2008015197A1/fr active Application Filing
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2904694B1 (fr) | 2008-11-07 |
| WO2008015197A1 (fr) | 2008-02-07 |
| JP2009545733A (ja) | 2009-12-24 |
| US8159217B2 (en) | 2012-04-17 |
| JP5215303B2 (ja) | 2013-06-19 |
| US20100134100A1 (en) | 2010-06-03 |
| EP2047241A1 (fr) | 2009-04-15 |
| FR2904694A1 (fr) | 2008-02-08 |
| EP2047241B1 (fr) | 2014-04-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ES2482165T3 (es) | Procedimiento y dispositivo de control por corrientes de Foucault con funciones de emisión/recepción separadas de una pieza eléctricamente conductora | |
| US6933717B1 (en) | Sensors and probes for mapping electromagnetic fields | |
| US3504276A (en) | Printed circuit coils for use in magnetic flux leakage flow detection | |
| US8232797B2 (en) | Device with separate emission/reception functions for making eddy current tests on an electrically conducting part | |
| JP4476717B2 (ja) | 電磁誘導型位置センサ | |
| CN1988076B (zh) | 交流电探测线圈 | |
| US6975108B2 (en) | Methods and devices for eddy current PCB inspection | |
| US20050007108A1 (en) | Probes and methods for detecting defects in metallic structures | |
| US8274282B2 (en) | Method for assembling a high-dynamic and high-spatial resolution eddy current testing head | |
| JP6189870B2 (ja) | 貫通コイル構成、貫通コイル構成を有する試験装置、及び試験方法 | |
| EP1022563A1 (en) | Eddy-current flaw detector probe | |
| JP4039578B2 (ja) | 磁気プローブ | |
| US10634645B2 (en) | Eddy current probe with 3-D excitation coils | |
| JP2005043206A (ja) | 非破壊検査用渦電流センサ | |
| US7414399B2 (en) | Micromagnetometer of the fluxgate type with improved excitation coil | |
| US20160195497A1 (en) | Multi-Layer Eddy Current Probe, Method for Producing a Multi-Layer Eddy Current Probe, and Test Unit Comprising a Multi-Layer Eddy Current Probe | |
| JP2003066009A (ja) | 渦流探傷装置 | |
| JP2005061940A (ja) | アレイ型磁気センサの校正方法および装置 | |
| US20140352136A1 (en) | Method for manufacturing a testing head of a non-destructive testing sensor based on eddy currents | |
| JP2020106270A (ja) | 磁気センサー | |
| JP4713312B2 (ja) | 位置検知システム | |
| JP4698958B2 (ja) | 電線の導体欠陥検知用センサ | |
| CN112525986B (zh) | 一种井字形平面涡流传感器 | |
| JP4286686B2 (ja) | 電線の導体欠陥検知用センサ | |
| Podhraški et al. | An integrated microtransformer system for displacement measurement |