EP2625015A2 - Verfahren zur herstellung einer silikonfolie, silikonfolie und optoelektronisches halbleiterbauteil mit einer silikonfolie - Google Patents

Verfahren zur herstellung einer silikonfolie, silikonfolie und optoelektronisches halbleiterbauteil mit einer silikonfolie

Info

Publication number
EP2625015A2
EP2625015A2 EP11760715.0A EP11760715A EP2625015A2 EP 2625015 A2 EP2625015 A2 EP 2625015A2 EP 11760715 A EP11760715 A EP 11760715A EP 2625015 A2 EP2625015 A2 EP 2625015A2
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
film
silicone
foil
tool
carrier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP11760715.0A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Stephan Preuss
Tobias Geltl
Thomas Schiller
Hans-Christoph Gallmeier
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ams Osram International GmbH
Original Assignee
Osram Opto Semiconductors GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Osram Opto Semiconductors GmbH filed Critical Osram Opto Semiconductors GmbH
Publication of EP2625015A2 publication Critical patent/EP2625015A2/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C43/00Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
    • B29C43/02Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
    • B29C43/18Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles incorporating preformed parts or layers, e.g. compression moulding around inserts or for coating articles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C67/00Shaping techniques not covered by groups B29C39/00 - B29C65/00, B29C70/00 or B29C73/00
    • B29C67/24Shaping techniques not covered by groups B29C39/00 - B29C65/00, B29C70/00 or B29C73/00 characterised by the choice of material
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C43/00Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
    • B29C43/02Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
    • B29C43/20Making multilayered or multicoloured articles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C43/00Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
    • B29C43/02Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
    • B29C43/20Making multilayered or multicoloured articles
    • B29C43/203Making multilayered articles
    • B29C43/206Making multilayered articles by pressing the material between two preformed layers, e.g. deformable layers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C43/00Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
    • B29C43/32Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C43/36Moulds for making articles of definite length, i.e. discrete articles
    • B29C43/40Moulds for making articles of definite length, i.e. discrete articles with means for cutting the article
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C69/00Combinations of shaping techniques not provided for in a single one of main groups B29C39/00 - B29C67/00, e.g. associations of moulding and joining techniques; Apparatus therefore
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C69/00Combinations of shaping techniques not provided for in a single one of main groups B29C39/00 - B29C67/00, e.g. associations of moulding and joining techniques; Apparatus therefore
    • B29C69/001Combinations of shaping techniques not provided for in a single one of main groups B29C39/00 - B29C67/00, e.g. associations of moulding and joining techniques; Apparatus therefore a shaping technique combined with cutting, e.g. in parts or slices combined with rearranging and joining the cut parts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C43/00Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
    • B29C43/02Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
    • B29C43/021Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles characterised by the shape of the surface
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29LINDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASS B29C, RELATING TO PARTICULAR ARTICLES
    • B29L2011/00Optical elements, e.g. lenses, prisms
    • B29L2011/0016Lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0025Processes relating to coatings
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24355Continuous and nonuniform or irregular surface on layer or component [e.g., roofing, etc.]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24355Continuous and nonuniform or irregular surface on layer or component [e.g., roofing, etc.]
    • Y10T428/24372Particulate matter

Definitions

  • a process for producing a silicone film is given.
  • An object to be solved is to provide a method for producing a silicone film, wherein the
  • Silicone film can be produced by pressing and is suitable for use in an optoelectronic semiconductor device.
  • this method comprises the steps of introducing a tool film and introducing a carrier film into a pressing tool.
  • the tool foil is in this case configured to form-fit a cavity of the molding tool at least in places
  • the tool foil is
  • the Carrier Foil carrier film is a film that is different from the tool film and that is not deformed or significantly deformed during pressing.
  • the carrier film is set up with the Process produced silicone sheet after pressing to wear. For example, the carrier film is in the
  • Carrier film preferably at least indirectly on a flat mold half of the pressing tool.
  • the carrier film in particular does not shape the cavity.
  • the carrier film is mounted on a substrate film.
  • Substrate film preferably has one of the carrier film
  • the carrier film and the substrate film and the tool film are set up to be handled in a roll process, in English roll-to-roll process.
  • the said films are therefore unrolled from one or more rollers, guided into the pressing tool. Subsequently, at least one of the films can be rolled up again on other rollers. It is possible that all the films in the pressing tool between two successive pressing operations are completely or partially replaced.
  • the substrate film projects beyond the carrier film within the cavity of the pressing tool at least in places in a lateral direction.
  • the substrate film dominates the
  • Carrier film annular or frame-shaped, so that the
  • Carrier film is completely surmounted completely laterally by the substrate film. Lateral means in particular along
  • this includes the step of providing and applying a silicone matrix to the tool foil and / or to the carrier foil.
  • the silicone base material is, for example, at least one polysilane, siloxane and / or polysiloxane.
  • the silicone base material is a starting material for the silicone film. It is the silicone base material when applied not fully cured and / or not fully crosslinked before.
  • this method comprises the step of pressing the silicone base material into the shape of the silicone film in the pressing tool.
  • the silicone film is in this case formed between the tool film and the carrier film.
  • the silicone base material and the silicone film are preferably in direct, physical contact with both the tool film and the carrier film. Direct contact with the pressing tool is preferably not available.
  • the silicone base material and / or the silicone film is laterally adjacent to the overlap region
  • the pressing to the silicone film is carried out by closing the pressing tool.
  • the pressing is a
  • this method comprises the step of removing the tool foil from the silicone foil.
  • the removal of the tool foil takes place after opening the pressing tool.
  • the silicone film is partially or fully cured. After removal of the tool film, the silicone film is still in direct contact with the carrier film and, laterally next to the carrier film, to the substrate film.
  • this method comprises the step of separating the overlapping area.
  • the overlap area is cut off or punched.
  • the silicone film is preferably only in direct physical contact with the carrier film and no longer to the
  • Substrate sheet or the tool film are Substrate sheet or the tool film.
  • this method is used to produce a silicone film for use in an optoelectronic semiconductor component.
  • the preparation of the silicone film is carried out by pressing, preferably a compression molding.
  • the procedure includes at least the
  • introducing a carrier foil into the pressing tool the carrier foil being mounted on a substrate foil and the substrate foil laterally projecting beyond the carrier foil within a cavity of the pressing tool, providing and applying a silicone base mass to the tool foil or to the carrier foil,
  • Overlap area is brought laterally next to the carrier film in contact with the substrate film
  • Substrate film and remains on the carrier film.
  • the silicone film remains only on the carrier film.
  • the silicone film may have a relatively low adhesion, so that a further processing of the silicone film, in particular with subsequent Umklerittenritten, is simplified.
  • the silicone base material and / or the silicone film adheres to the
  • Substrate film stronger than on the tool film. Furthermore, the silicone base material and / or the silicone film adheres more strongly to the tool film than to the carrier film. A measure of that Adhesion is in particular the static friction or the adhesive force per unit area.
  • Carrier film on at least one main page In particular, a roughening or grooves will be used in the
  • Silicone film facing side of the carrier film are present, transferred to at least one of the main sides of the silicone film. According to at least one embodiment of the method, the silicone film is still closed when the die is pressed
  • Removal of the tool foil from the silicone foil may take place before or after complete curing of the silicone foil. This also applies to the separation of the
  • the silicone composition is added to a conversion agent before it is applied to the carrier film or to the tool film.
  • Conversion agent is preferably in the form of
  • Conversion agent particles before and is further preferably homogeneously distributed the silicone base added are further preferably homogeneously distributed the silicone base added.
  • Conversion means is adapted to at least partially absorb electromagnetic radiation in a first wavelength range and into radiation in a second wavelength range from that of the first Wavelength range is different, to convert.
  • the conversion agent particles are adapted to absorb radiation in a wavelength range between 420 nm and 490 nm inclusive and convert it into a longer wavelength radiation.
  • a viscosity of the silicone base material when applied to the carrier foil or to the tool foil is comparatively high. Comparatively large may mean that the
  • Silicone base does not run by itself on the tool foil or on the carrier foil.
  • the silicone base does not run by itself on the tool foil or on the carrier foil.
  • the silicone film is removed from the mold, in particular after removal
  • Separation to the silicone plate is done for example by cutting or punching.
  • a thickness of the silicone film in the pressing tool varies over the entire silicone film by at most 15% by an average thickness of the silicone film.
  • the silicone film is uniformly thick.
  • Silicone foil produced silicone plates with
  • a silicone film is specified.
  • this comprises a matrix material which comprises a silicone or which consists of a silicone.
  • a matrix material which comprises a silicone or which consists of a silicone.
  • Homogeneously distributed means in particular that
  • an average thickness of the silicone film is at least 20 ⁇ and / or at most 250 ⁇ , in particular at least 40 ⁇ and / or at most 160 ⁇ .
  • an average roughening depth of the roughening between 0.05 ⁇ and 15 ⁇ , preferably between
  • the grooves of the roughening have an average groove length of at least 50 ⁇ m or at least 1 mm, in particular between 50 ⁇ and 150 mm inclusive or between 1 mm and 100 mm inclusive.
  • the term groove or grooved preferably also includes those structures which are formed as grooves to negative, so for example, elongated, wall-shaped
  • Elevations on the main side of the silicone film preferably extend along or substantially along a common one
  • the semiconductor component comprises at least one optoelectronic semiconductor chip, preferably a light-emitting diode, in short LED, which emits a maximum intensity, in particular in the wavelength range between 420 nm and 490 nm inclusive. Furthermore, this includes
  • Semiconductor component at least one silicone platelet of a silicone film, as described in at least one of the preceding imple mentation forms.
  • Silicon wafer of the semiconductor device is at least indirectly attached to a main radiation side of the semiconductor chip and covers the
  • Figure 1 is a schematic representation of one here
  • a silicone film 2 According to FIG. 1A, a
  • Substrate sheet 4 is mounted, introduced into a cavity 50 of a pressing tool 5a, 5b, 5c.
  • the carrier film 3 and the substrate film 4 are planar on a flat-shaped main side of the part 5a of the pressing tool.
  • the tool film 1 is positively against the parts 5b, 5c of the pressing tool.
  • the substrate film 4 projects beyond the carrier film 3 all around.
  • the cavity 50 is designed in a plan view, perpendicular to the plane of the drawing of Figure 1, for example, circular and the support film 3 is arranged in particular laterally centered in the cavity 50. Furthermore, according to Figure 1A in the cavity 50 a
  • Silicone base 20 for the silicone film 2 introduced.
  • the silicone matrix 20 is applied to the silicone matrix 20 .
  • the silicone matrix 20 is applied to the silicone matrix 20 .
  • Silicone matrix 20 when introduced into cavity 50, has a comparatively high viscosity and does not or does not significantly deteriorate.
  • the tool film 1 and the carrier film 3 are preferably each polyfluoroolefin films.
  • the degree of fluorination of the carrier film 3 is preferably greater than in the case of the tool film 1.
  • the carrier film 3 is a polytetrafluoroethylene film.
  • Substrate sheet 4 becomes, for example, a polyimide film
  • a thickness of the tool film 4 is, for example, between 25 ⁇ and 100 ⁇ inclusive.
  • a thickness of the substrate film 4 is, for example, between 25 ⁇ and 100 ⁇ inclusive.
  • a thickness of the carrier film 3 is, for example, between 100 ⁇ and 200 ⁇ .
  • the silicone base material 20 can, preferably homogeneously distributed, be added to a conversion agent in the form of conversion agent particles, not shown in the figures.
  • conversion agent particles have a
  • Rare-earth-doped garnets such as YAG: Ce, a rare-earth-doped orthosilicate such as (Ba, Sr ⁇ SiOz Eu or a
  • Rare earth-doped silicon oxynitride or silicon nitride such as (Ba, Sr) 2 Si 5 Ng: Eu.
  • a mean diameter of the conversion agent particles is intermediate
  • Silicone base 20 molded silicone film 2 is located in particular between 5% and 80% by weight, preferably between and including
  • the silicone base material 20 more preferably particulate substances, for example, to increase the thermal conductivity of the silicone film 2 or as
  • Diffuser particles be added, preferably with a
  • Such particles include or consist in particular of oxides or metal fluorides such as alumina, silica or calcium fluoride. Average diameters of the particles are preferably between
  • the silicone base material 20 and the silicone film 2 are not added thixotropic agents.
  • Silicone base 20 free or essentially free from
  • Silica nanoparticles having average diameters between 1 nm and 100 nm inclusive or between 1 nm and 300 nm inclusive. It includes the silicone film 2 in particular no so-called Aerosil. Dispensing with a Thixotorpierstoff is in particular possible because the silicone base material 20 has a high viscosity and thus do not or not significantly sediment the conversion agent particles. Alternatively, it is also possible that the
  • Silicone base material 20 and / or the silicone film 2 at least one thixotropic agent, in particular in the form of Nanoparticles, for example based on silica, is added.
  • Pressing tool 5a, 5b, 5c can be carried out under vacuum. It is also possible that the pressing tool 5a, 5b, 5c in the figures has not drawn air outlets.
  • the silicone base material 20 forming the silicone film 2 is located substantially between the carrier film 3 and the tool film 1 and is in direct contact therewith. In an annular overlap region 24 laterally next to the carrier film 3, the silicone base material 20 is in direct contact of the substrate film 4. A width of the overlap region 24 is, for example, between
  • a lateral extent of the cavity 50 is
  • the molded silicone film 2 is for example thermally or photochemically precured or fully cured.
  • a photochemical curing for example, ultraviolet radiation through the part 5a of the pressing tool and through the substrate film 4 and through the carrier film 3 are irradiated into the silicone film 2.
  • Figure IC is the from the pressing tool 5a, 5b, 5c
  • the tool foil 1 is already removed from the silicone foil 2. This is made possible by the fact that the silicone film 2 has a greater adhesion to the substrate film 4 than to the tool film 1.
  • a separating tool 8 is used to produce at least the
  • the substrate film 4 may likewise be removed from the carrier film 3 and / or may have another, not illustrated
  • Carrier film may be applied to the silicone film 2, so that the silicone film 2 is then between two weakly adhering to the silicone film 2 carrier films, for example, from the same material.
  • the silicone film 2 is singulated into individual silicon platelets 26, for example by punching, cutting, water-jet cutting, lasers.
  • the carrier film 3 is affected by the separation.
  • the silicone film 2 can be applied to a further intermediate carrier (not shown) before, with or after singulation.
  • One size of the silicone platelets 26 is, in
  • Seen top view for example between 0.25 mm and 4 mm ⁇ , in particular between 1 mm and 2 mm ⁇ .
  • Figure 2A an embodiment of a
  • optoelectronic semiconductor device 10 illustrated.
  • On a support element 60 is an optoelectronic
  • Silicone plate 26 from the silicone film 2 at the
  • the silicon wafer 26 made of the silicone film 2 is located directly on the main radiation side 7 of the semiconductor chip 6.
  • the silicon wafer is first applied on the main radiation side 7 with the aid of the carrier film 3 and subsequently, in particular thermally completely cured.
  • Silicone plate 26 on the main radiation side 7 in not fully cured state a good adhesion between the silicon wafer 26 and the semiconductor chip 6 after curing can be realized.
  • FIG. 3 shows a further embodiment of the silicone film 2 in a sectional representation.
  • the silicone film 2 on two opposite major sides 21, 23, which during manufacture in direct contact with the
  • a mean thickness T of the silicone film 2 is preferably between 20 ⁇ and 200 ⁇ or between 50 ⁇ and 150 ⁇ inclusive.
  • a hardness of the fully cured silicone film 2 is, as in all other embodiments, in particular between Shore A30 and Shore A90.
  • Figure 4A is a schematic plan view of the
  • Main side 23 was formed by the carrier film 3 during manufacture, has groove-shaped structures.
  • the individual grooves are aligned substantially parallel to one another and extend substantially along a common main extension direction.
  • Grooving means that a longitudinal extent of the structures covered by the roughening 25 is greater than an average width of the individual structures.
  • a mean groove length L is in particular at least 50 ⁇ . At least some of the grooves may be continuous between two edges of the main side 23
  • the mean groove length L can then, unlike in FIG. 4A, be greater than or equal to a mean lateral extent of the main side 23.
  • An average roughness depth D or a mean depth of the individual grooves is in particular between 0.05 ⁇ and 15 ⁇ .
  • the roughening 25 can improve radiation extraction from the silicone foil 2. Likewise, it is possible that the roughening 25 improves adhesion to a semiconductor chip 6, directly or via the connection means 9, compare FIGS. 2A and 2B.
  • grooved roughening preferably includes that the roughening 25, as a negative of a grooved surface, approximates that of FIG Carrier film 3 is designed that the structures of
  • Roughening 25 are thus formed as elongated, wall-like elevations, as illustrated schematically in a cross-sectional view in FIG. 4C.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Manufacture Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)

Abstract

In mindestens einer Ausführungsform des Verfahrens dient dieses zur Herstellung einer Silikonfolie (2) über ein Pressen zur Verwendung in einem optoelektronischen Halbleiterbauteil (10). Das Verfahren beinhaltet die folgenden Schritte: Einbringen einer Werkzeugfolie (1) in ein Presswerkzeug (5), Einbringen einer Trägerfolie (3) in das Presswerkzeug (5), wobei die Trägerfolie (3) auf einer Substratfolie (4) angebracht ist und die Substratfolie (4) die Trägerfolie (3) lateral überragt, Bereitstellen und Aufbringen einer Silikongrundmasse (20) auf die Werkzeugfolie (1) oder auf die Trägerfolie (3), Pressen der Silikongrundmasse (20) zu der Silikonfolie (2) zwischen der Werkzeugfolie (1) und der Trägerfolie (3), wobei die Silikongrundmasse in einem Überlappbereich (24) lateral neben der Trägerfolie (3) in Kontakt zu der Substratfolie (4) gebracht wird, Entfernen der Werkzeugfolie (1) von der Silikonfolie (2), und Abtrennen des Überlappbereichs (24).

Description

Beschreibung
Verfahren zur Herstellung einer Silikonfolie, Silikonfolie und optoelektronisches Halbleiterbauteil mit einer
Silikonfolie
Es wird ein Verfahren zur Herstellung einer Silikonfolie angegeben. Darüber hinaus wird eine Silikonfolie sowie ein optoelektronisches Halbleiterbauteil mit einer solchen
Silikonfolie angegeben.
Eine zu lösende Aufgabe besteht darin, ein Verfahren zur Herstellung einer Silikonfolie anzugeben, wobei die
Silikonfolie über ein Pressen herstellbar und zur Verwendung in einem optoelektronischen Halbleiterbauteil geeignet ist.
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens umfasst dieses die Schritte des Einbringens einer Werkzeugfolie und des Einbringens einer Trägerfolie in ein Presswerkzeug. Die Werkzeugfolie ist hierbei dazu eingerichtet, eine Kavität des Formwerkzeugs mindestens stellenweise formschlüssig
auszufüllen. Bei der Werkzeugfolie handelt es sich
insbesondere um eine Werkzeugentformfolie, englisch Mold Release Foil. Es kann also die Werkzeugfolie eine Form eines Teils der Kavität und/oder einer die Kavität definierenden Werkzeughälfte des Presswerkzeugs nachahmen. Während des Pressens kann die Werkzeugfolie bevorzugt auch eine durch den Pressvorgang sich ändernde Form der Kavität nachbilden. Bei der Trägerfolie, englisch Carrier Foil, handelt es sich um eine von der Werkzeugfolie verschiedene Folie, die während des Pressens bevorzugt nicht oder nicht signifikant verformt wird. Die Trägerfolie ist dazu eingerichtet, die mit dem Verfahren hergestellte Silikonfolie nach dem Pressen zu tragen. Beispielsweise ist die Trägerfolie in dem
Presswerkzeug eben und planar ausgebildet. Es liegt die
Trägerfolie bevorzugt zumindest mittelbar an einer ebenen Werkzeughälfte des Presswerkzeugs an. Die Trägerfolie formt insbesondere die Kavität nicht nach.
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens ist die Trägerfolie auf einer Substratfolie angebracht. Die
Substratfolie weist bevorzugt ein von der Trägerfolie
verschiedenes Material auf und befindet sich an einer der Kavität des Presswerkzeugs abgewandten Seite der Trägerfolie.
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens sind die Trägerfolie als auch die Substratfolie und die Werkzeugfolie dazu eingerichtet, in einem Rollenprozess , englisch Roll-to- Roll-Process , gehandhabt zu werden. Es werden die genannten Folien also von einer oder mehreren Rollen abgerollt, in das Presswerkzeug geführt. Anschließend kann zumindest eine der Folien wieder an anderen Rollen aufgerollt werden. Es ist möglich, dass sämtliche Folien in dem Presswerkzeug zwischen zwei aufeinander folgenden Pressvorgängen vollständig oder teilweise ausgetauscht werden. Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens überragt die Substratfolie die Trägerfolie innerhalb der Kavität des Presswerkzeugs mindestens stellenweise in einer lateralen Richtung. Bevorzugt überragt die Substratfolie die
Trägerfolie ringförmig oder rahmenförmig, so dass die
Trägerfolie ringsum vollständig von der Substratfolie lateral überragt ist. Lateral bedeutet insbesondere entlang von
Haupterstreckungsrichtungen der mit dem Verfahren
herzustellenden Silikonfolie. Es ist mit anderen Worten die Trägerfolie, in Draufsicht gesehen, stellenweise oder
vollständig von der Substratfolie umrandet, insbesondere mit einer gleichmäßigen Breite. Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens
beinhaltet dieses den Schritt des Bereitstellens und des Aufbringens einer Silikongrundmasse auf die Werkzeugfolie und/oder auf die Trägerfolie. Bei der Silikongrundmasse handelt es sich zum Beispiel um mindestens ein Polysilan, Siloxan und/oder Polysiloxan. Die Silikongrundmasse stellt ein Ausgangsmaterial für die Silikonfolie dar. Es liegt die Silikongrundmasse bei dem Aufbringen nicht vollständig ausgehärtet und/oder nicht vollständig vernetzt vor. Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens umfasst dieses den Schritt des Pressens der Silikongrundmasse in die Form der Silikonfolie in dem Presswerkzeug. Die Silikonfolie wird hierbei zwischen der Werkzeugfolie und der Trägerfolie ausgebildet. Die Silikongrundmasse sowie die Silikonfolie stehen dabei bevorzugt in unmittelbarem, physischem Kontakt sowohl zu der Werkzeugfolie als auch zu der Trägerfolie. Ein unmittelbarer Kontakt zu dem Presswerkzeug liegt bevorzugt nicht vor. Weiterhin steht die Silikongrundmasse und/oder die Silikonfolie in einem Überlappbereich lateral neben der
Trägerfolie in unmittelbarem Kontakt zu der Substratfolie . Das Pressen zu der Silikonfolie erfolgt durch ein Schließen des Presswerkzeugs. Bevorzugt ist das Pressen ein
Formpressen, englisch Compression Molding. Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens umfasst dieses den Schritt des Entfernens der Werkzeugfolie von der Silikonfolie. Das Entfernen der Werkzeugfolie erfolgt nach dem Öffnen des Presswerkzeugs. Bei dem Entfernen der Werkzeugfolie ist die Silikonfolie teilweise oder vollständig ausgehärtet. Nach dem Entfernen der Werkzeugfolie steht die Silikonfolie noch in unmittelbarem Kontakt zu der Trägerfolie und, lateral neben der Trägerfolie, zu der Substratfolie .
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens umfasst dieses den Schritt des Abtrennens des Überlappbereichs.
Beispielsweise wird der Überlappbereich abgeschnitten oder abgestanzt. Nach dem Abtrennen des Überlappbereichs steht die Silikonfolie bevorzugt lediglich in unmittelbarem physischen Kontakt zu der Trägerfolie und nicht mehr zu der
Substratfolie oder der Werkzeugfolie.
In mindestens einer Aus führungs form des Verfahrens dient dieses zur Herstellung einer Silikonfolie zur Verwendung in einem optoelektronischen Halbleiterbauteil. Die Herstellung der Silikonfolie erfolgt über ein Pressen, bevorzugt ein Formpressen. Das Verfahren beinhaltet mindestens die
folgenden Schritte:
- Einbringen einer Werkzeugfolie in ein Presswerkzeug,
- Einbringen einer Trägerfolie in das Presswerkzeug, wobei die Trägerfolie auf einer Substratfolie angebracht ist und die Substratfolie die Trägerfolie innerhalb einer Kavität des Presswerkzeugs mindestens stellenweise lateral überragt, - Bereitstellen und Aufbringen einer Silikongrundmasse auf die Werkzeugfolie oder auf die Trägerfolie,
- Pressen der Silikongrundmasse zu der Silikonfolie in dem Presswerkzeug zwischen der Werkzeugfolie und der Trägerfolie, wobei die Silikongrundmasse in mindestens einem
Überlappbereich lateral neben der Trägerfolie in Kontakt zu der Substratfolie gebracht wird,
- Entfernen der Werkzeugfolie von der Silikonfolie, und
- Abtrennen des Überlappbereichs. Die einzelnen Verfahrensschritte werden bevorzugt in der angegebenen Reihenfolge ausgeführt. Abweichend hiervon können einzelne Verfahrensschritte auch in einer anderen Reihenfolge ausgeführt werden.
An die Werkzeugfolie werden spezifische Anforderungen an insbesondere die Dehnbarkeit, die Reißfestigkeit, die
Abformbarkeit sowie die Oberflächenbeschaffenheit gestellt. Hierdurch ist eine Wahl von Materialien für die Werkzeugfolie stark eingeschränkt. Insbesondere kann es der Fall sein, dass die herzustellende Silikonfolie an der Werkzeugfolie eine vergleichsweise starke Haftung nach dem Pressen aufweist. Durch die vergleichsweise stark an der Silikonfolie haftende Substratfolie, die die Trägerfolie lateral überragt, kann sichergestellt werden, dass bei dem Entfernen der
Werkzeugfolie die hergestellte Silikonfolie an der
Substratfolie sowie an der Trägerfolie verbleibt. Durch das nachfolgende Entfernen des Überlappbereichs der Silikonfolie mit der Substratfolie, in Draufsicht gesehen, verbleibt die Silikonfolie lediglich an der Trägerfolie. An der Trägerfolie kann die Silikonfolie eine vergleichsweise geringe Haftung aufweisen, so dass eine Weiterverarbeitung der Silikonfolie, insbesondere mit nachfolgenden Umklebeschritten, vereinfacht ist .
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens haftet die Silikongrundmasse und/oder die Silikonfolie an der
Substratfolie stärker als an der Werkzeugfolie. Weiterhin haftet die Silikongrundmasse und/oder die Silikonfolie an der Werkzeugfolie stärker als an der Trägerfolie. Ein Maß für das Haftungsvermögen ist insbesondere die Haftreibung oder die Adhäsionskraft pro Flächeneinheit.
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens wird eine Oberflächenstruktur der Werkzeugfolie und/oder der
Trägerfolie bei dem Pressen an der Silikonfolie nachgebildet. Mit anderen Worten übernimmt die Silikonfolie die
Oberflächenstruktur der Werkzeugfolie und/oder der
Trägerfolie an mindestens einer Hauptseite. Insbesondere wird eine Aufrauung oder werden Rillen, die in der der
Silikonfolie zugewandten Seite der Trägerfolie vorhanden sind, in mindestens eine der Hauptseiten der Silikonfolie übertragen . Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens wird die Silikonfolie bei noch geschlossenem Presswerkzeug
vorgehärtet. Ein vollständiges Aushärten der Silikonfolie erfolgt erst nach dem Öffnen des Presswerkzeugs. Das
Entfernen der Werkzeugfolie von der Silikonfolie kann vor oder nach dem vollständigen Aushärten der Silikonfolie erfolgen. Dies gilt ebenso für das Abtrennen des
Überlappbereichs .
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens wird der Silikonmasse vor dem Aufbringen auf die Trägerfolie oder auf die Werkzeugfolie ein Konversionsmittel beigegeben. Das
Konversionsmittel liegt bevorzugt in Form von
Konversionsmittelpartikeln vor und ist weiterhin bevorzugt homogen verteilt der Silikongrundmasse beigemengt. Das
Konversionsmittel ist dazu eingerichtet, elektromagnetische Strahlung in einem ersten Wellenlängenbereich wenigstens teilweise zu absorbierten und in eine Strahlung in einen zweiten Wellenlängenbereich, der von dem ersten Wellenlängenbereich verschieden ist, umzuwandeln.
Beispielsweise sind die Konversionsmittelpartikel dazu eingerichtet, Strahlung in einem Wellenlängenbereich zwischen einschließlich 420 nm und 490 nm zu absorbieren und in eine langwelligere Strahlung umzuwandeln.
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens ist eine Viskosität der Silikongrundmasse beim Aufbringen auf die Trägerfolie oder auf die Werkzeugfolie vergleichsweise groß. Vergleichsweise groß kann bedeuten, dass die
Silikongrundmasse nicht von selbst auf der Werkzeugfolie oder auf der Trägerfolie zerläuft. Insbesondere beträgt die
Viskosität der Silikongrundmasse beim Aufbringen mindestens 0,1 Pa-s oder mindestens 1,0 Pa-s oder mindestens 10 Pa-s oder mindestens 20 Pa-s.
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens wird die Silikonfolie insbesondere nach dem Entnehmen aus dem
Presswerkzeug und nach dem Abtrennen des Überlappbereichs zu einer Vielzahl von Silikonplättchen vereinzelt. Das
Vereinzeln zu den Silikonplättchen erfolgt beispielsweise über ein Schneiden oder über ein Stanzen.
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Verfahrens schwankt eine Dicke der Silikonfolie in dem Presswerkzeug, über die gesamte Silikonfolie hinweg, um höchstens 15 % um eine mittlere Dicke der Silikonfolie. Mit anderen Worten ist die Silikonfolie gleichmäßig dick. Insbesondere beträgt die
Schwankung um die mittlere Dicke höchstens 10 % oder
höchstens 5 %. Hierdurch ist zum Beispiel eine sehr
gleichmäßige Konversion von Strahlung durch aus der
Silikonfolie hergestellte Silikonplättchen mit
Konversionsmittelpartikeln realisierbar. Darüber hinaus wird eine Silikonfolie angegeben. Die
Silikonfolie ist mittels eines Verfahrens hergestellt, wie in mindestens einer der oben genannten Aus führungs formen
beschrieben. Merkmale für die Silikonfolie sind daher auch für das Verfahren offenbart und umgekehrt.
In mindestens einer Aus führungs form der Silikonfolie umfasst diese ein Matrixmaterial, das ein Silikon umfasst oder das aus einem Silikon besteht. In dem Matrixmaterial sind
Konversionsmittelpartikel homogen verteilt eingebettet.
Homogen verteilt bedeutet insbesondere, dass
Konzentrationsschwankungen der Konversionsmittelpartikel über rein statistische Abweichungen nicht hinausgehen. Weiterhin weist die Silikonfolie zwei einander gegenüber liegende
Hauptseiten auf. An einer oder an beiden Hauptseiten ist eine Aufrauung ausgebildet, wobei die Aufrauung zumindest an einer der Hauptseiten rillenförmig gestaltet ist. Mit anderen
Worten weist die Aufrauung rillenförmige Strukturen auf oder besteht im Wesentlichen hieraus. Des Weiteren beträgt eine mittlere Dicke der Silikonfolie mindestens 20 μπι und/oder höchstens 250 μπι, insbesondere mindestens 40 μπι und/oder höchstens 160 μπι. Gemäß zumindest einer Aus führungs form der Silikonfolie beträgt eine mittlere Aufrautiefe der Aufrauung zwischen einschließlich 0,05 μπι und 15 μπι, bevorzugt zwischen
einschließlich 0,1 μπι und 5 μπι oder zwischen einschließlich 0 , 1 μπι und 1 μπι .
Gemäß zumindest einer Aus führungs form der Silikonfolie weisen die Rillen der Aufrauung eine mittlere Rillenlänge von mindestens 50 μπι oder von mindestens 1 mm, insbesondere zwischen einschließlich 50 μπι und 150 mm oder zwischen einschließlich 1 mm und 100 mm auf. Im vorliegenden Kontext schließt der Begriff Rille oder rillenförmig bevorzugt auch solche Strukturen ein, die als Negativ zu Rillen geformt sind, also zum Beispiel lang gestreckte, wallförmige
Erhebungen an der Hauptseite der Silikonfolie. Die Rillen und/oder die Erhebungen erstrecken sich bevorzugt entlang oder im Wesentlichen entlang einer gemeinsamen
HaupterStreckungsrichtung .
Weiterhin wird darüber hinaus ein optoelektronisches
Halbleiterbauteil angegeben. Das Halbleiterbauteil umfasst mindestens einen optoelektronischen Halbleiterchip, bevorzugt eine Leuchtdiode, kurz LED, die eine maximale Intensität insbesondere im Wellenlängenbereich zwischen einschließlich 420 nm und 490 nm emittiert. Des Weiteren umfasst das
Halbleiterbauteil mindestens ein Silikonplättchen aus einer Silikonfolie, wie sie in mindestens einer der vorangehenden Aus führungs formen beschrieben ist. Merkmale des
Halbleiterbauteils sind daher auch für die Silikonfolie sowie für das Verfahren zur Herstellung der Silikonfolie offenbart und umgekehrt. Das Silikonplättchen des Halbleiterbauteils ist mindestens mittelbar an einer Strahlungshauptseite des Halbleiterchips angebracht und bedeckt die
Strahlungshauptseite teilweise oder vollständig.
Nachfolgend wird eine hier beschriebene Silikonfolie, ein hier beschriebenes optoelektronisches Halbleiterbauteil sowie ein hier beschriebenes Verfahren unter Bezugnahme auf die Zeichnung anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert. Gleiche Bezugszeichen geben dabei gleiche Elemente in den einzelnen Figuren an. Es sind dabei jedoch keine
maßstäblichen Bezüge dargestellt, vielmehr können einzelne Elemente zum besseren Verständnis übertrieben groß dargestellt sein.
Es zeigen:
Figur 1 eine schematische Darstellung eines hier
beschriebenen Verfahrens zur Herstellung einer hier beschriebenen Silikonfolie, Figur 2 schematische Seitenansichten von
Ausführungsbeispielen von hier beschriebenen optoelektronischen Halbleiterbauteilen mit hier beschriebenen Silikonfolien, und Figuren 3 und 4 schematische Darstellungen von
Ausführungsbeispielen von hier beschriebenen
SilikonfoIien .
In den Figuren 1A bis IE ist in schematischen
Schnittdarstellungen ein Verfahren zur Herstellung einer Silikonfolie 2 illustriert. Gemäß Figur 1A werden eine
Werkzeugfolie 1 sowie eine Trägerfolie 3, die auf einer
Substratfolie 4 angebracht ist, in eine Kavität 50 eines Presswerkzeugs 5a, 5b, 5c eingebracht. Die Trägerfolie 3 sowie die Substratfolie 4 liegen planar auf einer eben geformten Hauptseite des Teils 5a des Presswerkzeugs an. Die Werkzeugfolie 1 liegt formschlüssig an den Teilen 5b, 5c des Presswerkzeugs an. Innerhalb der Kavität 50 überragt die Substratfolie 4 die Trägerfolie 3 ringsum. Die Kavität 50 ist in Draufsicht, senkrecht zu der Zeichenebene der Figur 1, zum Beispiel kreisförmig gestaltet und die Trägerfolie 3 ist insbesondere lateral zentriert in der Kavität 50 angeordnet. Weiterhin wird gemäß Figur 1A in die Kavität 50 eine
Silikongrundmasse 20 für die Silikonfolie 2 eingebracht.
Beispielsweise wird die Silikongrundmasse 20 auf die
Werkzeugfolie 1 in der Kavität 50 aufgebracht. Die
Silikongrundmasse 20 weist beim Einbringen in die Kavität 50 eine vergleichsweise hohe Viskosität auf und zerläuft nicht oder nicht signifikant.
Bei der Werkzeugfolie 1 sowie bei der Trägerfolie 3 handelt es sich bevorzugt jeweils um Polyfluorolefinfolien . Ein
Fluorierungsgrad der Trägerfolie 3 ist hierbei bevorzugt größer als bei der Werkzeugfolie 1. Insbesondere ist die Trägerfolie 3 eine Polytetrafluorethylenfolie . Für die
Substratfolie 4 wird zum Beispiel eine Polyimidfolie
eingesetzt. Eine Dicke der Werkzeugfolie 4 liegt zum Beispiel zwischen einschließlich 25 μπι und 100 μπι. Eine Dicke der Substratfolie 4 liegt zum Beispiel zwischen einschließlich 25 μπι und 100 μπι. Eine Dicke der Trägerfolie 3 liegt zum Beispiel zwischen einschließlich 100 μπι und 200 μπι.
Der Silikongrundmasse 20 kann, bevorzugt homogen verteilt, ein Konversionsmittel in Form von Konversionsmittelpartikeln beigegeben sein, in den Figuren nicht gezeichnet. Die
Konversionsmittelpartikel weisen zum Beispiel einen
Seltenerden-dotierten Granat wie YAG:Ce, ein Seltenerden- dotiertes Orthosilikat wie (Ba, Sr^SiOz Eu oder ein
Seltenerden-dotiertes Siliziumoxinitrid oder Siliziumnitrid wie (Ba, Sr)2Si5Ng:Eu auf. Ein mittlerer Durchmesser der Konversionsmittelpartikel liegt zum Beispiel zwischen
einschließlich 2 μπι und 20 μπι, insbesondere zwischen
einschließlich 3 μπι und 15 μπι. Ein Gewichtsanteil der
Konversionsmittelpartikel an der gesamten aus der
Silikongrundmasse 20 geformten Silikonfolie 2 liegt insbesondere zwischen einschließlich 5 Gewichtsprozent und 80 Gewichtsprozent, bevorzugt zwischen einschließlich
10 Gewichtsprozent und 25 Gewichtsprozent oder zwischen einschließlich 60 Gewichtsprozent und 80 Gewichtsprozent.
Optional können der Silikongrundmasse 20 weitere bevorzugt partikelförmige Stoffe, beispielsweise zu einer Steigerung der Wärmeleitfähigkeit der Silikonfolie 2 oder als
Diffusorpartikel, beigegeben sein, bevorzugt mit einem
Gewichtsanteil zwischen 0 Gewichtsprozent und einschließlich 50 Gewichtsprozent. Derartige Partikel beinhalten oder bestehen insbesondere aus Oxiden oder Metallfluoriden wie Aluminiumoxid, Siliziumoxid oder Calciumfluorid. Mittlere Durchmesser der Partikel liegen bevorzugt zwischen
einschließlich 2 μπι und 20 μπι.
Beispielsweise sind der Silikongrundmasse 20 sowie der Silikonfolie 2 keine Thixotropiermittel beigegeben.
Insbesondere ist die Silikonfolie 2 und/oder die
Silikongrundmasse 20 frei oder im Wesentliche frei von
Siliziumdioxid-Nanopartikeln, die mittlere Durchmesser zwischen einschließlich 1 nm und 100 nm oder zwischen einschließlich 1 nm und 300 nm aufweisen. Es umfasst die Silikonfolie 2 insbesondere kein so genanntes Aerosil. Der Verzicht auf ein Thixotorpiermittel ist insbesondere dadurch möglich, dass die Silikongrundmasse 20 eine hohe Viskosität aufweist und somit die Konversionsmittelpartikel nicht oder nicht wesentlich sedimentieren . Alternativ hierzu ist es ebenso möglich, dass der
Silikongrundmasse 20 und/oder der Silikonfolie 2 mindestens ein Thixotropiermittel, insbesondere in Form von Nanopartikeln, zum Beispiel basierend auf Siliziumdioxid, beigegeben ist.
In Figur 1B ist das Presswerkzeug 5a, 5b, 5c in geschlossenem Zustand gezeigt. Beim Schließen des Presswerkzeugs 5a, 5b, 5c drückt der Teil 5a auf die Teile 5c, die hierdurch nachgeben, wodurch sich die Kavität 50 schließt. Das Schließen des
Presswerkzeugs 5a, 5b, 5c kann unter Vakuum erfolgen. Ebenso ist es möglich, dass das Presswerkzeug 5a, 5b, 5c in den Figuren nicht gezeichnete Luftauslässe aufweist.
Beim Schließen des Presswerkzeugs 5a, 5b, 5c werden die
Werkzeugfolie 1 sowie die Substratfolie 4 unmittelbar
aufeinander gepresst, wodurch die Kavität 50 abgedichtet wird. Die die Silikonfolie 2 ausbildende Silikongrundmasse 20 befindet sich im Wesentlichen zwischen der Trägerfolie 3 und der Werkzeugfolie 1 und steht in unmittelbarem Kontakt zu diesen. In einem ringförmigen Überlappbereich 24 lateral neben der Trägerfolie 3 steht die Silikongrundmasse 20 in unmittelbarem Kontakt der Substratfolie 4. Eine Breite des Überlappbereichs 24 liegt beispielsweise zwischen
einschließlich 0,5 mm und 10 mm, insbesondere zwischen einschließlich 1 mm und 3 mm, beispielsweise bei ungefähr 2 mm. Eine laterale Ausdehnung der Kavität 50 beträgt
beispielsweise zwischen einschließlich 50 mm und 500 mm, insbesondere zwischen einschließlich 60 mm und 200 mm, zum Beispiel ungefähr 100 mm.
In geschlossenem Zustand des Presswerkzeugs 5a, 5b, 5c wird die geformte Silikonfolie 2 zum Beispiel thermisch oder fotochemisch vorgehärtet oder vollständig ausgehärtet. Bei einer fotochemischen Aushärtung kann ultraviolette Strahlung zum Beispiel durch das Teil 5a des Presswerkzeugs und durch die Substratfolie 4 sowie durch die Trägerfolie 3 hindurch in die Silikonfolie 2 eingestrahlt werden.
In Figur IC ist die aus dem Presswerkzeug 5a, 5b, 5c
entnommene Silikonfolie 2 zu sehen. Die Werkzeugfolie 1 ist bereits von der Silikonfolie 2 entfernt. Dies ist dadurch ermöglicht, dass die Silikonfolie 2 zu der Substratfolie 4 eine stärkere Haftung aufweist als zu der Werkzeugfolie 1. Über ein Abtrennwerkzeug 8 wird mindestens der
Überlappbereich 24 von dem Teil der Silikonfolie 2 auf der
Trägerfolie 3 entfernt. Die Silikonfolie 2 überragt dann die Trägerfolie 3 in einer lateralen Richtung nicht mehr,
vergleiche Figur ID. Anders als in Figur 1D dargestellt, kann die Substratfolie 4 ebenso von der Trägerfolie 3 entfernt sein und/oder kann eine weitere, nicht gezeichnete
Trägerfolie an der Silikonfolie 2 aufgebracht sein, so dass sich die Silikonfolie 2 dann zwischen zwei schwach an der Silikonfolie 2 haftenden Trägerfolien, beispielsweise aus demselben Material, befindet.
Im optionalen Schritt gemäß Figur IE wird die Silikonfolie 2 zu einzelnen Silikonplättchen 26 vereinzelt, zum Beispiel durch Stanzen, Schneiden, Wasserstrahlschneiden, Lasern.
Anders als gemäß Figur IE dargestellt ist es ebenso möglich, dass von dem Vereinzeln auch die Trägerfolie 3 betroffen ist. Weiterhin alternativ zur Darstellung gemäß Figur IE kann die Silikonfolie 2 vor, mit oder nach dem Vereinzeln auf einen weiteren, nicht dargestellten Zwischenträger aufgebracht werden. Eine Größe der Silikonplättchen 26 liegt, in
Draufsicht gesehen, zum Beispiel zwischen einschließlich 0,25 rnm^ und 4 mm^, insbesondere zwischen einschließlich 1 rnm^ und 2 mm^ . In Figur 2A ist ein Ausführungsbeispiel eines
optoelektronischen Halbleiterbauteils 10 illustriert. Auf einem Trägerelement 60 ist ein optoelektronischer
Halbleiterchip 6, beispielsweise eine im blauen
Spektralbereich emittierende Leuchtdiode, aufgebracht. Über eine Schicht eines Verbindungsmittels 9 ist das
Silikonplättchen 26 aus der Silikonfolie 2 an der
Strahlungshauptseite 7 des Halbleiterchips 6 angebracht. Bei dem weiteren Ausführungsbeispiel des Halbleiterbauteils 10 gemäß Figur 2B befindet sich das Silikonplättchen 26 aus der Silikonfolie 2 unmittelbar an der Strahlungshauptseite 7 des Halbleiterchips 6. Es wird das Silikonplättchen auf der Strahlungshauptseite 7 zum Beispiel mit Hilfe der Trägerfolie 3 erst aufgebracht und nachfolgend, insbesondere thermisch, vollständig ausgehärtet. Durch das Aufbringen der
Silikonplättchen 26 auf die Strahlungshauptseite 7 in nicht vollständig ausgehärtetem Zustand ist eine gute Haftung zwischen dem Silikonplättchen 26 und dem Halbleiterchip 6 nach dem Aushärten realisierbar.
In Figur 3 ist in einer Schnittdarstellung ein weiteres Ausführungsbeispiel der Silikonfolie 2 dargestellt. Wie auch in allen anderen Ausführungsbeispielen weist die Silikonfolie 2 zwei einander gegenüberliegende Hauptseiten 21, 23 auf, die während des Herstellens in unmittelbarem Kontakt zu der
Werkzeugfolie 1 sowie zu der Trägerfolie 3 stehen. Eine
Oberflächenstruktur der Trägerfolie 3 sowie der Werkzeugfolie 1 wird in den Hauptseiten 21, 23 der Silikonfolie 2
nachgebildet. Eine mittlere Dicke T der Silikonfolie 2 liegt bevorzugt zwischen einschließlich 20 μπι und 200 μπι oder zwischen einschließlich 50 μπι und 150 μπι. Eine Härte der vollständig ausgehärteten Silikonfolie 2 beträgt, wie auch in allen anderen Ausführungsbeispielen, insbesondere zwischen einschließlich Shore A30 und Shore A90.
In Figur 4A ist eine schematische Draufsicht auf die
Hauptseite 23 der Silikonfolie 2 und in Figur 4B eine
schematische Schnittdarstellung durch die Silikonfolie 2 illustriert. Eine Aufrauung 25, die mindestens in der
Hauptseite 23 durch die Trägerfolie 3 während des Herstellens ausgebildet wurde, weist rillenförmige Strukturen auf. Die einzelnen Rillen sind im Wesentlichen parallel zueinander ausgerichtet und erstrecken sich im Wesentlichen entlang einer gemeinsamen Haupterstreckungsrichtung . Rillen bedeutet, dass eine Längsausdehnung der von der Aufrauung 25 umfassten Strukturen größer ist als eine mittlere Breite der einzelnen Strukturen. Eine mittlere Rillenlänge L liegt insbesondere bei mindestens 50 μπι. Zumindest einige der Rillen können ununterbrochen zwischen zwei Kanten der Hauptseite 23
verlaufen und sich, insbesondere bei den Silikonplättchen 26, durchgehend zwischen zwei Kanten der Silikonplättchen 26 erstrecken. Die mittlere Rillenlänge L kann dann, anders als in Figur 4A gezeichnet, größer oder gleich einer mittleren lateralen Ausdehnung der Hauptseite 23 sein. Eine mittlere Aufrautiefe D oder eine mittlere Tiefe der einzelnen Rillen liegt insbesondere zwischen einschließlich 0,05 μπι und 15 μπι. Durch die Aufrauung 25 kann eine Strahlungsauskopplung aus der Silikonfolie 2 heraus verbessert sein. Ebenso ist es möglich, dass durch die Aufrauung 25 eine Haftung an einen Halbleiterchip 6, unmittelbar oder über das Verbindungsmittel 9, verbessert ist, vergleiche die Figuren 2A und 2B.
Im Kontext der vorliegenden Anmeldung schließt der Begriff rillenförmige Aufrauung bevorzug ein, dass die Aufrauung 25 als Negativ einer mit Rillen versehenen Fläche etwa der Trägerfolie 3 gestaltet ist, dass die Strukturen der
Aufrauung 25 also als lang gestreckte, wallartige Erhebungen ausgebildet sind, wie in Figur 4C in einer Schnittdarstellung schematisch illustriert.
Die hier beschriebene Erfindung ist nicht durch die
Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele beschränkt.
Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmale oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist . Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deutschen Patentanmeldung 10 2010 047 454.1, deren Offenbarungsgehalt hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Herstellung einer Silikonfolie (2) zur Verwendung in einem optoelektronischen
Halbleiterbauteil (10) mittels Pressen mit den
Schritten :
- Einbringen einer Werkzeugfolie (1) in ein
Presswerkzeug (5),
- Einbringen einer Trägerfolie (3) in das Presswerkzeug (5), wobei die Trägerfolie (3) auf einer Substratfolie
(4) angebracht ist und die Substratfolie (4) die
Trägerfolie (3) innerhalb einer Kavität (50) des
Presswerkzeugs (5) mindestens stellenweise lateral überragt,
- Bereitstellen und Aufbringen einer Silikongrundmasse
(20) auf die Werkzeugfolie (1) oder auf die Trägerfolie (3) ,
- Pressen der Silikongrundmasse (20) zu der
Silikonfolie (2) in dem Presswerkzeug (5) zwischen der Werkzeugfolie (1) und der Trägerfolie (3), wobei die
Silikongrundmasse (20) in zumindest einem
Überlappbereich (24) lateral neben der Trägerfolie (3) in Kontakt zu der Substratfolie (4) gebracht wird,
- Entfernen der Werkzeugfolie (1) von der Silikonfolie (2 ) , und
- Abtrennen des Überlappbereichs (24) .
2. Verfahren nach dem vorhergehenden Anspruch,
bei dem die Silikongrundmasse (20) und/oder die
Silikonfolie (2) an der Substratfolie (4) stärker haften als an der Werkzeugfolie (1), und an der
Werkzeugfolie (1) stärker als an der Trägerfolie (3) .
3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem eine Oberflächenstruktur der Werkzeugfolie (1) und/oder der Trägerfolie (3) beim Pressen an der
Silikonfolie (2) nachgebildet wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
bei dem die Silikonfolie (2) bei geschlossenem
Presswerkzeug (5) vorgehärtet wird und ein
vollständiges Aushärten der Silikonfolie (2) erst nach dem Öffnen des Presswerkzeugs (5) erfolgt.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
bei dem der Silikongrundmasse (20) vor dem Aufbringen auf die Trägerfolie (3) oder auf die Werkzeugfolie (1) Konversionsmittelpartikel homogen verteilt beigemengt werden, wobei die Konversionsmittelpartikel dazu eingerichtet sind, elektromagnetische Strahlung in einem ersten Wellenlängenbereich wenigstens teilweise zu absorbieren und in eine Strahlung in einem zweiten Wellenlängenbereich, der von dem ersten
Wellenlängenbereich verschieden ist, umzuwandeln.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
bei dem eine Viskosität der Silikongrundmasse (20) beim Aufbringen auf die Trägerfolie (3) oder auf die
Werkzeugfolie (1) mindestens 0,1 Pa-s beträgt.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
bei dem die Silikongrundmasse (20) frei von einem
Thixotropiermittel , insbesondere frei von
Siliziumdioxid-Nanopartikeln mit mittleren Durchmessern zwischen einschließlich 1 nm und 100 nm, ist. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem für die Werkzeugfolie (1) und für die
Trägerfolie (3) jeweils Polyfluorolefinfolien
eingesetzt werden, wobei ein Fluorierungsgrad der
Trägerfolie (3) größer ist als bei der Werkzeugfolie (1) ,
und wobei für die Substratfolie (4) eine Polyimidfolie eingesetzt wird.
Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem eine Dicke (T) über die Silikonfolie (2) hinweg in dem Presswerkzeug (5) um höchstens 15 % um eine mittlere Dicke der Silikonfolie (2) schwankt.
Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Silikonfolie (2) zu einer Vielzahl von Silikonplättchen (26) vereinzelt wird.
Silikonfolie (2) mit
- einem Matrixmaterial mit einem Silikon,
- in dem Matrixmaterial homogen verteilten
Konversionsmittelpartikeln,
- zwei einander gegenüberliegenden Hauptseiten (21, 23 ) , und
- einer rillenförmigen Aufrauung (25) , die an
mindestens einer der Hauptseiten (21, 23) ausgebildet ist,
wobei eine mittleren Dicke (T) der Silikonfolie (2) zwischen einschließlich 20 μπι und 250 μπι liegt.
Silikonfolie (2) nach dem vorhergehenden Anspruch, bei der die Aufrauung (25) eine mittlere Aufrautiefe (D) zwischen einschließlich 0,05 μπι und 15 μπι und eine mittlere Rillenlänge (L) von mindestens 50 μπι aufweist. Silikonfolie (2) nach einem der Ansprüche 11 oder 12, die mit einem Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10 hergestellt ist.
Optoelektronisches Halbleiterbauteil (10) mit
- mindestens einem optoelektronischen Halbleiterchip ( 6 ) , und
- mindestens einem Silikonplättchen (26) aus einer Silikonfolie (2) nach einem der Ansprüche 11 bis 13, wobei das Silikonplättchen (26) zumindest mittelbar an einer Strahlungshauptseite (7) des Halbleiterchips (6) angebracht ist und die Strahlungshauptseite (7) mindestens teilweise bedeckt.
EP11760715.0A 2010-10-04 2011-08-17 Verfahren zur herstellung einer silikonfolie, silikonfolie und optoelektronisches halbleiterbauteil mit einer silikonfolie Withdrawn EP2625015A2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102010047454A DE102010047454A1 (de) 2010-10-04 2010-10-04 Verfahren zur Herstellung einer Silikonfolie, Silikonfolie und optoelektronisches Halbleiterbauteil mit einer Silikonfolie
PCT/EP2011/064174 WO2012045511A2 (de) 2010-10-04 2011-08-17 Verfahren zur herstellung einer silikonfolie, silikonfolie und optoelektronisches halbleiterbauteil mit einer silikonfolie

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EP2625015A2 true EP2625015A2 (de) 2013-08-14

Family

ID=44675540

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP11760715.0A Withdrawn EP2625015A2 (de) 2010-10-04 2011-08-17 Verfahren zur herstellung einer silikonfolie, silikonfolie und optoelektronisches halbleiterbauteil mit einer silikonfolie

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20130228799A1 (de)
EP (1) EP2625015A2 (de)
JP (1) JP5604008B2 (de)
KR (1) KR20130061744A (de)
CN (1) CN103153570A (de)
DE (1) DE102010047454A1 (de)
WO (1) WO2012045511A2 (de)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011080653A1 (de) * 2011-08-09 2013-02-14 Osram Opto Semiconductors Gmbh Trägerfolie für ein silikonelement und verfahren zum herstellen einer trägerfolie für ein silikonelement
DE102011081083A1 (de) * 2011-08-17 2013-02-21 Osram Ag Presswerkzeug und verfahren zum pressen eines silikonelements
DE102011082157A1 (de) * 2011-09-06 2013-03-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Presswerkzeug und Verfahrenzum Herstellen eines Silikonelements
DE102012216738A1 (de) * 2012-09-19 2014-03-20 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches bauelement
JP6720470B2 (ja) * 2014-11-28 2020-07-08 三菱ケミカル株式会社 蛍光体含有シリコーンシートの製造方法
CN105599315B (zh) * 2016-02-18 2017-12-22 东莞市正爱实业有限公司 智能餐具的制造方法
DE102018105910B4 (de) * 2018-03-14 2023-12-28 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren zur Herstellung einer Vielzahl von Konversionselementen
NL2021845B1 (en) * 2018-10-22 2020-05-13 Besi Netherlands Bv Mould half and mould method for encapsulating electronic components mounted on a carrier including a dual support surface and a method for using such

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5296182A (en) * 1992-05-28 1994-03-22 Creme Art Corporation Method for making formed laminate
AUPR245601A0 (en) * 2001-01-10 2001-02-01 Silverbrook Research Pty Ltd An apparatus (WSM09)
JP4719990B2 (ja) * 2001-03-02 2011-07-06 パナソニック電工株式会社 電子部品の製造方法
JP5101788B2 (ja) * 2003-12-22 2012-12-19 東レ・ダウコーニング株式会社 半導体装置の製造方法および半導体装置
JP4373237B2 (ja) * 2004-02-13 2009-11-25 Towa株式会社 半導体チップの樹脂封止成形方法および樹脂封止成形用金型
JP4020092B2 (ja) * 2004-03-16 2007-12-12 住友電気工業株式会社 半導体発光装置
KR100665219B1 (ko) * 2005-07-14 2007-01-09 삼성전기주식회사 파장변환형 발광다이오드 패키지
JP5196711B2 (ja) * 2005-07-26 2013-05-15 京セラ株式会社 発光装置およびそれを用いた照明装置
JP2007109946A (ja) * 2005-10-14 2007-04-26 Toyoda Gosei Co Ltd 蛍光体板及びこれを備えた発光装置
JP2008227119A (ja) * 2007-03-13 2008-09-25 Shin Etsu Chem Co Ltd 発光ダイオードチップとレンズとの一体化構造物及びその製造方法
JP4855329B2 (ja) * 2007-05-08 2012-01-18 Towa株式会社 電子部品の圧縮成形方法及び装置
JP2009071005A (ja) * 2007-09-13 2009-04-02 Sony Corp 波長変換部材及びその製造方法、並びに、波長変換部材を用いた発光デバイス
JP5234971B2 (ja) * 2009-02-04 2013-07-10 住友重機械工業株式会社 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
DE102009034370A1 (de) * 2009-07-23 2011-01-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauteil und Verfahren zur Herstellung eines optischen Elements für ein optoelektronisches Bauteil

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See references of WO2012045511A2 *

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130061744A (ko) 2013-06-11
US20130228799A1 (en) 2013-09-05
WO2012045511A3 (de) 2012-06-07
JP5604008B2 (ja) 2014-10-08
CN103153570A (zh) 2013-06-12
JP2013545279A (ja) 2013-12-19
WO2012045511A2 (de) 2012-04-12
DE102010047454A1 (de) 2012-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2625015A2 (de) Verfahren zur herstellung einer silikonfolie, silikonfolie und optoelektronisches halbleiterbauteil mit einer silikonfolie
EP3000139B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur herstellung eines elastomerstapelaktors
DE102012212963B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterbauteils
DE112010003083T5 (de) Gekapseltes Keramikelement undVerfahren zum Herstellen desselben
EP2605895A1 (de) Verfahren zur herstellung eines schichtverbunds aus einer lumineszenzkonversionsschicht und einer streuschicht
DE102014102293A1 (de) Verfahren zur Herstellung optoelektronischer Halbleiterbauteile und optoelektronisches Halbleiterbauteil
EP2474203B1 (de) Konversionsmittelkörper, optoelektronischer halbleiterchip und verfahren zur herstellung eines optoelektronischen halbleiterchips
DE102015103965A1 (de) Komposit-Pillarstrukturen
DE112018004186T5 (de) Fertigungsprozesse für effektiv transparente Kontakte
DE112006003839T5 (de) Verfahren zur Herstellung eines dünnen Halbleiter-Chips
DE102015102460A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines lichtemittierenden Bauteils und lichtemittierendes Bauteil
DE3888009T2 (de) Verfahren zur Bildung eines Schichtkörpers und das sich daraus ergebende Produkt.
DE102011082157A1 (de) Presswerkzeug und Verfahrenzum Herstellen eines Silikonelements
WO2013023971A1 (de) Presswerkzeug und verfahren zum pressen eines silikonelements
DE19737825A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Beschichtung
DE102009023355A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterbauteils
WO2018162470A1 (de) Verfahren zur herstellung von zumindest einem optoelektronischen bauelement und optoelektronisches bauelement
DE102011080653A1 (de) Trägerfolie für ein silikonelement und verfahren zum herstellen einer trägerfolie für ein silikonelement
WO2013045369A1 (de) Bauelement und verfahren zum herstellen dieses bauelementes mittels drucklosen sinternprozesses durch einwirken von wärme und ultraschall
WO2016177809A1 (de) Verfahren zum herstellen eines konverterbauteils
WO2016139204A1 (de) Verfahren zum herstellen eines metallverbundwerkstoffs mit eingebetteter funktionaler struktur und entsprechender metallverbundwerkstoff
EP2843712B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung eines Wafers mit einer selektiven Positionierung im Trägersystem
DE102018133202A1 (de) Stanzen von mindestens zwei übereinander angeordneten Metallblechen
EP2870620B1 (de) Wafer und verfahren zur herstellung von wafern mit oberflächenstrukturen
EP2650256A2 (de) Verfahren zur Herstellung eines mikrostrukturierten Formkörpers

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 20130225

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

DAX Request for extension of the european patent (deleted)
STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: THE APPLICATION HAS BEEN WITHDRAWN

18W Application withdrawn

Effective date: 20150818