EP2475804A1 - Cvd-reaktor - Google Patents

Cvd-reaktor

Info

Publication number
EP2475804A1
EP2475804A1 EP10751613A EP10751613A EP2475804A1 EP 2475804 A1 EP2475804 A1 EP 2475804A1 EP 10751613 A EP10751613 A EP 10751613A EP 10751613 A EP10751613 A EP 10751613A EP 2475804 A1 EP2475804 A1 EP 2475804A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
process chamber
wall
susceptor
reactor
heating device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP10751613A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Gerhard Karl Strauch
Daniel Brien
Martin Dauelsberg
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Aixtron SE
Original Assignee
Aixtron SE
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Aixtron SE filed Critical Aixtron SE
Publication of EP2475804A1 publication Critical patent/EP2475804A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/52Controlling or regulating the coating process
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P14/00Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
    • H10P14/20Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
    • H10P14/24Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials using chemical vapour deposition [CVD]

Definitions

  • the invention further relates to a method for thermally treating a substrate within a process chamber of a reactor forming a first and a second wall, in particular for depositing a layer in a CVD reactor, wherein the substrate rests on a susceptor forming the first wall of the process chamber, wherein at least one wall is heated by a heater spaced from the wall to a process temperature and wherein the at least one heated wall associated therewith a spaced cooling device which is arranged so that from the heater via the distance space between the heater and heated process chamber wall heat to the process chamber wall and heat is transferred to the cooling device from the heated process chamber wall via the clearance space between the heated process chamber wall and the cooling device.
  • a generic reactor is described by DE 100 43 601 AI.
  • the reactor described there has an outer wall, with which the interior of the reactor housing is sealed gas-tight from the outside world.
  • a process chamber bounded downwardly by a susceptor and upwardly by a process chamber ceiling.
  • Susceptor and process chamber ceiling are made of graphite and will heated via a high-frequency alternating field.
  • the relevant RF heaters are located below the susceptor or above the process chamber ceiling and each have the shape of a helical coil.
  • the bobbin consists of a hollow body. The hollow body is formed into a spiral. Through the hollow body, a cooling medium flows, so that the heater is simultaneously a cooling device.
  • the alternating fields generated by the RF coils generate eddy currents in the susceptor or in the process chamber ceiling, so that the susceptor or the process chamber ceiling heat up.
  • the 10 2005 055 252 AI also describes a genus in modern device, in which below a arranged in a process chamber susceptor, which consists of graphite, and which is also heated by a flow-through with coolant RF coil, provided a support plate made of quartz. On this quartz plate, the susceptor driven in rotation about a central axis slides on a gas cushion. Via channels running in the parting line between the susceptor underside and the quartz plate top side, a drive mechanism is supplied with drive gas to spin-drive substrate holders in the top of the susceptor. Again, the flowed through by a coolant RF coil is spaced from a distance space from the susceptor.
  • No. 5,516,283 A describes a treatment device for a multiplicity of disk-shaped substrates, heat transfer bodies being provided between the substrates, which are stacked at a distance from one another.
  • DE 198 80 398 B4 shows a temperature measuring device for a substrate, wherein the temperature on the underside of the substrate is measured by a temperature sensor which is inserted in a wrapping part.
  • US Pat. No. 6,228,173 B1 describes a heat treatment device for heat treatment of a semiconductor substrate. Below a worktop is an annular heat compensation part for reflecting heat radiation.
  • US 2005/0178335 AI relates to a temperature control, for which purpose a heat-conducting gas is introduced into a gap between a heated susceptor and a cooler.
  • control bodies may be introduced into the space between the heated wall and the cooling or heating device can be brought.
  • the control bodies may be displaced during the treatment process or between two consecutive treatment processes, thereby causing a local temperature change on the surface of the susceptor.
  • the invention is based on the finding that, in a CVD reactor, as described, for example, in DE 10 2005 055 252 A1, about 10 to 30% of the power transmitted by the RF heater to the susceptor or to a heated process chamber ceiling as heat conduction or heat radiation in the cooling device, so flow back through the flow of a coolant heating coil. With the rule bodies is to be intervened in this heat recovery path.
  • the processes taking place in the process chamber arranged in the reactor housing are carried out at total pressures which are greater than 1 millibar. Accordingly, there is a gas in the space between the susceptor and heating / cooling device with a total pressure of at least 1 millibar. As a rule, this is an inert gas, for example a noble gas, hydrogen or nitrogen. At process temperatures below 1000 ° C., an appreciable power is transferred via this gas from the side of the heated wall facing away from the process chamber, for example from the susceptor to the coolant-flowed spiral windings, via heat conduction. At higher temperatures, a significant amount of heat radiation is transmitted to these heatsinks.
  • an inert gas for example a noble gas, hydrogen or nitrogen.
  • control body consists of an electrically insulating material, then the energy supply, which takes place via the RF coupling into the susceptor or into the process chamber ceiling, is not affected.
  • control body has a reflecting surface at least on its side facing the susceptor or the process chamber ceiling. The surface is reflective for the heat radiation emitted by the susceptor or the ceiling of the process chamber, so that the heat return from the susceptor or at the process chamber ceiling surface to the RF spiral is reduced.
  • the control body preferably has a very low thermal conductivity. It is then lower than that of the gas. As a result, a local temperature increase at the susceptor surface is possible.
  • a ring-shaped regulating body which consists for example of a plurality of segments. If this is removed, this leads locally to an increase in the surface temperature on the susceptor or the process chamber ceiling. As a result, for example, the edges of a substrate resting on the susceptor can be heated to a greater extent than the central region of the susceptor. This counteracts a "boiler" of the substrate, ie a bending up of the edges.
  • FIG. 5 shows a second embodiment of the invention with a trained by a shower head process chamber ceiling
  • Fig. 6 shows a third embodiment of the invention, in which the susceptor 2 opposite the process chamber ceiling 3 is heated.
  • the control body 6 consists of quartz, sapphire, glass or a similar electrically non-conductive material. On its cross-section of the control body 6 thus forms a beideleittier, which has a higher thermal conductivity than the same route without control body.
  • the displacement of the control body 6 from the non-action position shown in phantom in FIG. 1 into the active position shown in solid lines thus results in an increased return of heat from the susceptor 2 to the heating coil 4 within the zone of the susceptor 2 covered by the control body 6. This results in a local cooling of the surface of the susceptor 2.
  • the control bodies 6 that form a ring in accordance with FIG. 2 lie in a radially outer zone below the susceptor 2 and below an edge of the substrate holder 7.
  • the control bodies 6 can be moved back and forth between the two positions shown in FIGS. 2 and 3 during a coating process with mechanical drives (not shown) that can be operated by a motor.
  • the same reference numerals designate the same elements of a process chamber.
  • the process chamber ceiling 3 is not made of a one-piece or multi-part solid graphite plate.
  • the process chamber cover 3 has a multiplicity of sieve-like arranged outlet openings 16.
  • the process chamber ceiling 3 is formed here by a "shower head" 15. Through the outlet openings 16, the process gas is introduced into the process chamber.
  • a variable position control body 6 with a high thermal conductivity, but which is electrically insulating.
  • the process chamber ceiling 3 is made of graphite or other electrically conductive material.
  • an RF heater 17 which is formed by a bent pipe to a spiral.
  • the tube forms a cooling channel 18, through which a cooling medium flows.
  • a control body 19 made of quartz, glass, sapphire or other suitable material having a high specific thermal conductivity, but which is electrically insulating. It can also be provided here a plurality of control bodies 19, which complement each other in the operative position shown in Figure 6 to a closed circle.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft einen CVD-Reaktor mit einem in einem Reaktorgehäuse angeordneten beheizbaren Körper (2, 3), mit einer vom Körper (2, 3) beabstandeten Heizeinrichtung (4, 17) zum Aufheizen des Körpers (2, 3) und mit einer vom Körper (2, 3) beabstandeten Kühleinrichtung (5, 18), die so angeordnet sind, dass von der Heizeinrichtung (4, 17) über den Abstandsraum zwischen Heizeinrichtung (4, 17) und Körper (2, 3) Wärme zum Körper (2, 3) und vom Körper (2, 3) über den Abstandsraum zwischen Körper (2, 3) und Kühleinrichtung (5, 18) Wärme zur Kühleinrichtung (5, 18) übertragen wird. Um die Oberflächentemperatur der beheizten Prozesskammerwandung lokal reproduzierbar zu beeinflussen, werden in den Abstandsraum zwischen Kühl-/ oder Heizeinrichtung (4, 5, 17, 18) bringbaren Regelkörper (6, 19) vorgeschlagen. Diese werden während der thermischen Behandlung oder zwischen zeitlich auf einander folgenden Behandlungsschritten derart verlagert, dass der Wärmetransport lokal beeinflusst wird.

Description

CVD-Reaktor
Die Erfindung betrifft einen Reaktor, insbesondere CVD-Reaktor mit einem in einem Reaktorgehäuse angeordneten beheizbaren Körper, mit einer vom Kör- per beabstandeten Heizeinrichtung zum Aufheizen des Körpers und mit einer vom Körper beabstandeten Kühleinrichtung, die so angeordnet sind, dass von der Heizeinrichtung über den Abstandsraum zwischen Heizeinrichtung und Körper Wärme zum Körper und vom Körper über den Abstandsraum zwischen Körper und Kühleinrichtung Wärme zur Kühleinrichtung übertragen wird
Die Erfindung betrifft darüber hinaus ein Verfahren zum thermischen Behandeln eines Substrates innerhalb einer eine erste und eine zweite Wandung ausbildenden Prozesskammer eines Reaktors, insbesondere zum Abscheiden einer Schicht in einem CVD-Reaktor, wobei das Substrat auf einem die erste Wand der Prozesskammer bildenden Suszeptor aufliegt, wobei zumindest eine Wandung von einer der Wandung beabstandeten Heizeinrichtung auf eine Prozesstemperatur geheizt wird und wobei der zumindest einen beheizten Wand eine davon beabstandete Kühleinrichtung zugeordnet ist, die so angeordnet ist, dass von der Heizeinrichtung über den Abstandsraum zwischen Heizeinrichtung und beheizter Prozesskammerwand Wärme zur Prozesskammerwand und von der beheizten Prozesskammerwand über den Abstandsraum zwischen beheizter Prozesskammerwand und Kühleinrichtung Wärme zur Kühleinrichtung übertragen wird. Ein gattungsgemäßer Reaktor wird von der DE 100 43 601 AI beschrieben. Der dort beschriebene Reaktor besitzt eine Außenwandung, mit der der Innenraum des Reaktorgehäuses gasdicht von der Außenwelt abgeschottet ist. Innerhalb des Reaktorgehäuses befindet sich eine Prozesskammer, die nach unten von einem Suszeptor und nach oben von einer Prozesskammerdecke begrenzt ist. Suszeptor und Prozesskammerdecke sind aus Graphit gefertigt und werden über ein Hochfrequenz- Wechselfeld beheizt. Die diesbezüglichen RF- Heizeinrichtungen befinden sich unterhalb des Suszeptors bzw. oberhalb der Prozesskammerdecke und haben die Form jeweils einer spiralförmigen Spule. Der Spulenkörper besteht aus einem Hohlkörper. Der Hohlkörper ist zu einer Spirale geformt. Durch den Hohlkörper fließt ein Kühlmedium, so dass die Heizeinrichtung gleichzeitig eine Kühleinrichtung ist. Die von den RF-Spulen erzeugten Wechselfelder erzeugen im Suszeptor bzw. in der Prozesskammerdecke Wirbelströme, so dass sich der Suszeptor bzw. die Prozesskammerdecke aufheizen.
Ähnliche Reaktoren beschreiben die DE 103 20 597 AI, DE 10 2006 018 515 AI und DE 10 2005 056 320 AI.
Die 10 2005 055 252 AI beschreibt ebenfalls eine gattungs gemäße Vorrichtung, bei der unterhalb eines in einer Prozesskammer angeordneten Suszeptors, der aus Graphit besteht, und der ebenfalls von einer mit Kühlflüssigkeit durchströmten RF-Spule beheizt wird, eine Auflageplatte aus Quarz vorgesehen. Auf dieser Quarzplatte gleitet der um eine zentrale Achse drehangetriebene Suszeptor auf einem Gaspolster. Über Kanäle, die in der Trennfuge zwischen Suszep- torunterseite und Quarzplattenoberseite verlaufen, wird ein Antriebsmechanismus mit Antriebsgas versorgt, um in der Oberseite des Suszeptors angeordneten Taschen einliegende Substrathalter drehanzutreiben. Auch hier ist die von einem Kühlmittel durchströmte RF-Spule von einem Abstandsraum vom Suszeptor beabstandet.
Die US 5,516,283 A beschreibt eine Behandlungseinrichtung für eine Vielzahl von kreisscheibenförmigen Substraten, wobei zwischen den mit Abstand über- einandergestapelten Substraten Wärmeübertragungskörper vorgesehen sind. Die DE 198 80 398 B4 zeigt eine Temperatur-Mess Vorrichtung für ein Substrat, wobei die Temperatur auf der Unterseite des Substrats von einem Temperaturfühler gemessen wird, der in einem Umhüllungsteil steckt. Die US 6,228,173 Bl beschreibt eine Wärmebehandlungseinrichtung zur Wärmebehandlung eines Halbleitersubstrates. Unterhalb einer Arbeitsplatte befindet sich ein ringförmiges Wärmekompensationsteil zur Reflektion von Wärmestrahlung. Die US 2005/0178335 AI betrifft eine Temperaturregelung, wozu in einen Spalt zwischen einem geheizten Suszeptor und einem Kühler ein wärmeleitendes Gas eingeleitet wird.
Es besteht das technologische Bedürfnis, lokal die Erwärmung der beheizten Prozesskammerwand zu beeinflussen. Bislang wurde hierzu lokal die Heizleistung modifiziert. Wegen der Komplexität des HF- Wechselfeldes und dessen Abhängigkeit von Randbedingungen und der Leistung, sind die Ergebnisse nicht zufriedenstellend. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Mittel anzugeben, mit denen sich die Oberflächentemperatur der beheizten Prozesskammerwandung lokal reproduzierbar beeinflussen lässt.
Gelöst wird die Aufgabe durch die in den Ansprüchen angegebene Erfindung, wobei die Unteransprüche nicht nur vorteilhafte Weiterbildungen der nebengeordneten Ansprüche sind, sondern auch jeweils eigenständige Lösungen der Aufgabe darstellen.
Zunächst und im wesentlichen ist vorgesehen, dass ein oder mehrere Regelkör- per in den Abstandsraum zwischen beheizter Wandung und Kühl-/ oder Heiz- einrichtung bringbar sind. Die Regelkörper können während des Behandlungsprozesses oder zwischen zwei aufeinanderfolgenden Behandlungsprozessen verlagert werden, um dadurch eine lokale Temperaturänderung auf der Oberfläche des Suszeptors zu bewirken.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, dass bei einem CVD-Reaktor, wie er beispielsweise in der DE 10 2005 055 252 AI beschrieben ist, etwa 10 bis 30 % der von der RF-Heizung auf den Suszeptor bzw. auf eine beheizte Prozesskammerdecke übertragenen Leistung als Wärmeleitung bzw. Wärmestrahlung in die Kühleinrichtung, also die von einem Kühlmittel durchströmte Heizspirale wieder zurückfließen. Mit den Regelkörpern soll in diesen Wärmerücktransportweg eingegriffen werden.
Üblicherweise werden die in der in der im Reaktorgehäuse angeordneten Pro- zesskammer stattfindenden Prozesse bei Totaldrucken durchgeführt, die größer sind als 1 Millibar. Demzufolge befindet sich im Zwischenraum zwischen Suszeptor und Heiz-/ Kühleinrichtung ein Gas mit einem Totaldruck von zumindest 1 Millibar. In der Regel handelt es sich hierbei um ein Inertgas, beispielsweise ein Edelgas, Wasserstoff oder Stickstoff. Über dieses Gas wird bei Pro- zesstemperaturen unterhalb 1000°C eine nennenswerte Leistung über Wärmeleitung von der von der Prozesskammer abgewandten Seite der beheizten Wandung, beispielsweise des Suszeptors zu den kühlmitteldurchströmten Spiralwindungen übertragen. Bei höheren Temperaturen wird eine nennenswerte Leistung über Wärmestrahlung an diese Kühlkörper übertragen. Wird lokal ein Regelkörper in den Abstandsraum zwischen Suszeptor bzw. Prozesskammerdecke und Heiz-/ Kühleinrichtung gebracht, so wird dieser Wärmerücktransport beeinflusst. Findet die Wärmerückleitung im wesentlichen über Wärmeleitung statt, so besitzt der Regelkörper bevorzugt eine spezifische Wärmeleitfähigkeit, die deutliche größer ist als die Wärmeleitfähigkeit des sich im Zwi- schenraum befindenden Gases. Bevorzugt beträgt der Quotient zwischen den beiden spezifischen Wärmeleitfähigkeiten mindestens zwei und besonders bevorzugt mindestens fünf. Bei dieser Variante des Verfahrens wird durch das Einschieben eines Regelkörpers von außerhalb in den Zwischenraum zwischen Suszeptor bzw. Prozesskammerdecke und Kühl-/ Heizeinrichtung lokal der Wärmerückfluss vergrößert, so dass an dieser Stelle die Oberflächentemperatur des Suszeptors bzw. der Prozesskammerdecke geringfügig absinkt. Besteht der Regelkörper aus einem elektrisch isolierenden Material, so wird die Energiezufuhr, die über die RF-Einkopplung in den Suszeptor bzw. in die Prozesskammerdecke erfolgt, nicht beeinflusst. In einer Variante der Erfindung ist vorgese- hen, dass der Regelkörper zumindest auf seiner zum Suszeptor bzw. zur Prozesskammerdecke hin weisenden Seite eine reflektierende Oberfläche aufweist. Die Oberfläche ist für die vom Suszeptor bzw. der von der Prozesskammer decke abgesandten Wärmestrahlung reflektierend, so dass die Wärmerückführung vom Suszeptor bzw. an der Prozesskammerdeckenoberfläche zur RF- Spirale reduziert wird. Bei dieser Variante hat der Regelkörper bevorzugt eine sehr geringe Wärmeleitfähigkeit. Sie ist dann geringer als die des Gases. Hierdurch ist eine lokale Temperaturerhöhung an der Suszeptoroberfläche möglich. Es ist ferner möglich, anstelle einer einzige RF-Spule mehrere koaxial geschachtelte RF-Spulen umeinander anzuordnen. Diese können mit unterschiedlicher Leistung betrieben werden. Hierdurch ist eine Grobeinstellung der lokalen Energiezufuhr zum Suszeptor bzw. zur Prozesskammerdecke erreicht. Die Feinstabstimmung erfolgt dann in der zuvor beschriebenen Weise durch Modulation des Wärmerücktransports von dem Suszeptor bzw. von der Prozesskammerdecke zur Kühleinrichtung. Dabei können Zonen vorgesehen sein, in denen eine erhöhte Leistung in den Suszeptor bzw. in die Prozesskammerdecke eingekoppelt wird. Im Normalzustand können im Bereich dieser Zone Regelkörper zwischen Heizspirale und Suszeptor bzw. Prozesskammerdecke angeordnet sein. Bei einer kreisförmigen Heizzone kann über den gesamten Bereich dieser Heizzone ein, beispielsweise aus mehreren Segmenten bestehender, ring- förmiger Regelkörper vorgesehen sein. Wird dieser entfernt, so führt dies lokal zu einem Anstieg der Oberflächentemperatur auf dem Suszeptor bzw. der Prozesskammerdecke. Hierdurch können beispielsweise die Ränder eines auf dem Suszeptor aufliegenden Substrates stärker beheizt werden als der Zentralbereich des Suszeptors. Hierdurch wird ein "Kesseln" des Substrates, also einem sich Hochbiegen der Ränder entgegengewirkt. Dies ist sogar möglich, wenn bei einem kreisförmigen Suszeptor die Substrate auf um das Zentrum des Suszeptors angeordneten Substrathaltern aufliegen, wobei diese, jeweils ein Substrat lagernden Substrathalter wie in der DE 10 2005 055 252 AI beschrieben, um ihre Achse rotieren. In diesem Falle braucht nur eine radial außen oder radial innen unterhalb des Randbereichs des Substrathalters liegende Heizzone moduliert werden. In ähnlicher Weise können die Oberflächentemperaturen auf ringförmigen Zonen der zur Prozesskammer weisenden Oberfläche der Prozesskammerdecke vermindert oder erhöht werden. Mit der erfindungsgemäßen Lösung wird eine Heizung angegeben, deren Heizleistung mit einfachen Mitteln lokal beeinflussbar ist, so dass damit die Temperaturhomogenität insbesondere auf einer Suszeptoroberfläche eingestellt werden kann. Die Modulation ist hinsichtlich ihrer Regelung robust und wartungsarm. Es ist lediglich eine grobe Voreinstellung durch Auswahl und Anordnung der von einer Kühlflüssigkeit durchströmten RF-Spulen erforderlicht. Die Einstellung erfolgt dabei im wesentlichen über den Abstand zum Suszeptor. Unregelmäßigkeiten, die beispielsweise durch de spiralförmige Gestalt der RF-Spule innerhalb der Oberflächentemperaturverteilung des Suszeptors auftreten können, können ebenfalls durch geeignet geformte und angeordnete Regelkörper ausgeglichen werden. Je höher die Suszeptortemperatur ist, desto stärker ist die Rückkopplung der Temperatur in die Heizspule.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand beigefügter Zeichnungen erläutert. Es zeigen: Fig. 1 einen halbseitigen Querschnitt durch eine Prozesskammer eines CVD- Reaktors, wobei die Wandung des Reaktors der Übersicht halber weggelassen ist;
Fig. 2 einen Schnitt gemäß der Linie II - II in Fig. 1, wobei die Regelkörper sich in ihrer Wirkstellung befinden;
Fig. 3 eine Darstellung gemäß Fig. 2 mit in eine Außerwirkstellung gebrachtem Regelkörper;
Fig. 4 einen Schnitt gemäß der Linie IV - IV in Fig. 1;
Fig. 5 ein zweites Ausführungsbeispiel der Erfindung mit einer von einem shower head ausgebildeten Prozesskammerdecke und
Fig. 6 ein drittes Ausführungsbeispiel der Erfindung, bei der auch die dem Suszeptor 2 gegenüberliegende Prozesskammerdecke 3 beheizbar ist.
In den Zeichnungen ist der Übersicht halber lediglich die im Inneren eines Reaktorgehäuses angeordnete Prozesskammer 1 mit ihrem Boden 2, Decke 3 und zur Erläuterung der Erfindung weiteren Aggregaten schematisch dargestellt.
Die Prozesskammer 1 und die in den Figuren dargestellten Aggregate befinden sich innerhalb eines Reaktorgehäuses aus Edelstahl. Durch die Wände des nicht dargestellten Reaktorgehäuses sind Zuleitungen für die Prozessgase bzw. für die Heizenergie zum Betrieb der im Reaktorgehäuse angeordneten Heizungen 4, 17 vorgesehen. Es sind ferner Ableitungen für verbrauchte Prozessgase und eine Kühlmittelzuleitung und -ableitung vorgesehen, um Kühlmittel, welches durch einen Kühlkanal 5, 18 strömt, in das Reaktorgehäuse und aus dem Reaktorgehäuse zu bringen. Das Reaktorgehäuse ist nach außen gasdicht, so dass es mittels einer ebenfalls nicht dargestellten Vakuumpumpe evakuiert bzw. auf einem definierten Totalinnendruck gehalten werden kann.
Das in den Figuren 1 bis 4 dargestellte erste Ausführungsbeispiel besitzt einen Suszeptor 2, der von einer ein- oder mehrteiligen Graphitscheibe ausgebildet wird. Der eine Kreisscheibenform aufweisende Suszeptor 2 ist um eine zentrale Achse, die in einer Säule 14 liegt, drehbar. Hierzu kann die Säule 14 von einem Drehantrieb drehangetrieben werden. Innerhalb der Säule 14 und dem Suszeptor 2 befinden sich Gaszuleitungen 8, die in Ausnehmungen der zur Prozess- kammer 1 hin weisenden Oberseite des Suszeptor s 2 münden. In diesen Ausnehmungen liegt jeweils ein kreisscheibenförmiger Substrathalter 7. Mittels eines aus den Austrittsöffnungen gerichteten Gasstrahles können die Substrathalter 7 in Schwebe gehalten gedreht werden. Auf den Substrathaltern 7 liegen ein oder mehrere Substrate auf, die in der Prozesskammer 1 wärmebehandelt wer- den.
Die Wärmebehandlung kann ein Beschichtungsprozess sein. Bei diesem handelt es sich um einen CVD-Prozess, bevorzugt um einen MOCVD-Prozess, bei dem durch ein Gaseinlassorgan 9, welches sich im Zentrum der Prozesskammer 1 befindet, reaktive Prozessgase zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer 1 eingeleitet werden. Bei den Prozessgasen kann es sich um ein Hydrid, beispielsweise um NH3 handeln, welches durch die Zuleitung 12, die sich unmittelbar oberhalb des Suszeptors 2 befindet, in die Prozesskammer eingeleitet wird. Durch die darüber liegenden Zuleitung 11 wird als Prozessgas ein Me- tallorganicum, beispielsweise TMGa oder TMIn in die Prozesskammer 1 eingeleitet.
Während die Prozesskammer 1 nach unten hin durch den Suszeptor 2 begrenzt wird, wird die Prozesskammer 1 nach oben hin von einer Prozesskammerdecke 3 begrenzt. Prozesskammerdecke 3 und Suszeptor 2 können aus Graphit bestehen.
Das durch das Gaseinlassorgan 9 in die Prozesskammer 1 eingeleitete Prozess- gas zerlegt sich im wesentlichen nur auf der Oberfläche eines auf dem Substrathalter 7 angeordneten Substrates. Dieses besitzt eine geeignete Oberflächentemperatur, damit die Zerlegung dort pyrolytisch erfolgen kann. Die Zerlegungsprodukte sollen sich unter Ausbildung einer einkristallinen III-V- Schicht auf der Substratoberfläche anlagern.
Zum Beheizen des Suszeptors 2 ist eine RF-Heizung vorgesehen, die aus einem zu einer Spirale gebogenen Rohr 4 besteht. Dieses spiralförmig gebogene Rohr 4 befindet sich in einer Parallelebene unterhalb des Suszeptors 2. Zwischen der RF-Heizung 4 und der Unterseite des Suszeptors 2 befindet sich ein Abstands- räum. Das Rohr bildet einen Kühlkanal 5 aus, durch welchen ein Kühlmittel, beispielsweise Wasser strömt. Das von der RF-Spule 4 erzeugte hochfrequente Wechselfeld erregt in dem elektrisch leitenden Suszeptor 2 Wirbelströme. Wegen des elektrischen Widerstandes des Suszeptors 2 erzeugen diese Wirbelströme dort Wärme, so dass sich der Suszeptor 2 auf Prozesstemperaturen un- ter 1000°C oder über 1000°C aufwärmt. Typischerweise liegen die Temperaturen, auf die sich der Suszeptor 2 aufheizt, oberhalb von 500°C.
Die flüchtigen Reaktionsprodukte und das Trägergas treten radial außen aus der kreisförmigen Prozesskammer 1 und werden mittels eines Gasauslassringes 10 abtransportiert. Der von einem Hohlkörper gebildete Gasauslassring 10 bildet Öffnungen 13, durch welche das Gas in den Gasauslassring 10 eintreten kann. Der Gasauslassring 10 ist mit der oben bereits erwähnten Vakuumpumpe verbunden. Das von der RF-Spule 4 erzeugte elektromagnetische Wechselfeld besitzt eine räumliche Gestaltung, die nicht nur von der Geometrie und den Werkstoffeigenschaften der die Prozesskammer 1 umgebenden Elemente abhängt. Die räumliche Ausbildung des elektromagnetischen Wechselfeldes hängt auch von der in die RF-Heizspirale eingespeisten Leistung ab. Infolge dessen lässt sich mit der Gestaltung der RF-Heizspirale 4, also mit dem Abstand der Spulenwindungen oder dergleichen das Temperaturprofil auf der zur Prozesskammer 1 weisenden Oberfläche des Suszeptors 2 nur grob einstellen. Die in den Suszep- tor 2 über das RF-Feld eingekoppelte Leistung wird vom Suszeptor 2 über Wärmestrahlung und über Wärmeleitung über das Trägergas innerhalb der Prozesskammer 1 abgeleitet. In dieser Richtung erfolgt die Ableitung in Richtung der Prozesskammerdecke 3. Diese heizt sich, sofern sie nicht selbst aktiv aufgeheizt wird, durch die vom Suszeptor 2 abgegebene Wärme auf. Ein erheblicher Teil der vom Suszeptor 2 aufgenommenen RF-Energie wird a- ber auch von der Unterseite des Suszeptors 2 in Richtung auf die gekühlte RF- Heizspirale 4 abgegeben. Der Zwischenraum zwischen Heizspirale 4 und Suszeptor 2 wird mit einem Spülgas, beispielsweise Wasserstoff oder Stickstoff gespült. Bei den dortigen Totaldrücken, die typischerweise oberhalb einem Milli- bar liegen, wird eine nennenswerte Wärme vom Suszeptor 2 über Wärmeleitung an die Heizspirale 4 abgegeben, wo sie von dem den Kühlkanal 5 durchströmenden Kühlmedium abgeführt wird.
Es sind Regelkörper 6 vorgesehen. Im Ausführungsbeispiel handelt es sich um Kreisringsegmente, die in Radialrichtung bezogen auf das Zentrum der Prozesskammer 1 von einer Außerwirkstellung in eine Wirkstellung verlagerbar sind. Die Kreissegmente 6 sind in der Figur 2 in der Draufsicht und in der Figur 1 im Querschnitt dargestellt. Die Figur 3 zeigt die Regelkörper 6 in ihrer Außerwirkstellung in der Draufsicht. Strichpunktiert ist der Regelkörper in der Figur 1 in seiner Außerwirkstellung dargestellt. Die Regelkörper 6, die sich in der Wirkstellung zu einem Kreis ergänzen, bestehen aus einem Werkstoff, der eine deutlich höhere Wärmeleitfähigkeit aufweist als das sich im Abstandsraum befindende Gas. Bei dem in der Figur 1 dargestellten Ausführungsbeispiel besitzt der Regelkörper 6 eine Materialstärke, die deutlich größer ist als die halbe Höhe des Abstandsraumes. Der Regelkörper 6 besteht dort aus Quarz, Saphir, Glas oder einem ähnlichen elektrisch nicht leitfähigen Werkstoff. Auf seinem Querschnitt bildet der Regelkörper 6 somit eine Wärmeleitstrecke aus, die ein höheres Wärmeleitungsvermögen besitzt als dieselbe Strecke ohne Regelkörper. Die Verlagerung des Regelkörpers 6 von der in der Figur 1 strichpunktiert dar- gestellten Außerwirkstellung in die durchgezogen dargestellte Wirkstellung führt somit dazu, dass innerhalb der vom Regelkörper 6 überdeckten Zone des Suszeptors 2 ein vergrößerter Rücktransport von Wärme vom Suszeptor 2 zur Heizspirale 4 stattfindet. Dies hat eine lokale Abkühlung der Oberfläche des Suszeptors 2 zur Folge. Die sich gemäß Figur 2 zu einem Ring ergänzenden Re- gelkörper 6 liegen in einer radial äußeren Zone unterhalb des Suszeptors 2 und unterhalb eines Randes des Substrathalters 7. Da sich der Substrathalter 7 um eine Achse dreht, die außerhalb des Regelkörpers 6 liegt, wird nur ein Randabschnitt des auf dem Substrathalter 7 aufliegenden Substrates gekühlt. Da sich der Substrathalter 7 beim Bearbeitungsprozess kontinuierlich um seine Dreh- achse 7 dreht, führt die lokale Temperaturabsenkung im radial äußeren Bereich des Suszeptors 2 zu einer Verminderung der Substrattemperatur auf dem gesamten Rand des kreisrunden, etwa sich über die gesamte Fläche des Substrathalters 7 erstreckenden Substrates. Hierdurch wird ein Durchbiegen des Substrates vermieden.
Die Regelkörper 6 können während eines Beschichtungsprozesses mit nicht dargestellten mechanischen Antrieben, die von einem Motor betrieben werden können, zwischen den beiden in den Figuren 2 und 3 dargestellten Stellungen hin und her gefahren werden. Bei dem in der Figur 5 dargestellten Ausführungsbeispiel bezeichnen dieselben Bezugsziffern dieselben Elemente einer Prozesskammer. Bei diesem Ausführungsbeispiel besteht die Prozesskammerdecke 3 nicht aus einer einteiligen oder mehrteiligen massiven Graphitplatte. Dort besitzt die Prozesskammerde- cke 3 eine Vielzahl siebartiger angeordneter Austrittsöffnungen 16. Die Prozesskammerdecke 3 wird hier von einem "shower head" 15 ausgebildet. Durch die Austrittsöffnungen 16 wird das Prozessgas in die Prozesskammer eingeleitet. Auch bei diesem Ausführungsbeispiel befindet sich zwischen dem Suszeptor 2 und der unterhalb des Suszeptors angeordneten Heizspirale 4 ein lageveränderbarer Regelkörper 6 mit einer hohen Wärmeleitfähigkeit, der aber elektrisch isolierend ist. Bei dem in Figur 6 dargestellten dritten Ausführungsbeispiel ist die Prozesskammerdecke 3 aus Graphit oder einem anderen elektrisch leitfähigen Material gefertigt. Oberhalb der Prozesskammerdecke 3 befindet sich einem vertikalen Abstand ebenfalls eine RF-Heizung 17, die von einem zu einer Spirale gebogenen Rohr ausgebildet ist. Das Rohr bildet einen Kühlkanal 18 aus, durch wel- chen ein Kühlmedium strömt. Zwischen der RF-Heizspirale und der Prozesskammerdecke 3 befindet sich ein Regelkörper 19 aus Quarz, Glas, Saphir oder einem anderen geeigneten Material mit einer hohen spezifischen Wärmeleitfähigkeit, welches aber elektrisch isolierend ist. Es können auch hier eine Vielzahl von Regelkörpern 19 vorgesehen sein, die sich in der in Figur 6 dargestellten Wirkstellung zu einem geschlossenen Kreis ergänzen.
Zwischen Suszeptor 2 und RF-Heizspirale 4 ist dort ebenfalls ein Regelkörper 6 vorgesehen. Die Regelkörper 19, 6 können zwischen einer Wirkstellung, in welcher sie außerhalb des Grundrisses der Prozesskammer 1 liegen, in eine Wirk- Stellung gebracht werden, in der sie innerhalb des Grundrisses der Prozesskammer 1 liegen.
In einer Variante der Erfindung ist vorgesehen, dass die Regelkörper 6, 19 aus einem Material bestehen, welches eine sehr niedrige Wärmeleitfähigkeit aufweist. Mit derartig ausgebildeten Regelkörpern 6, 19 kann der Rücktransport der Wärme vom Suszeptor 2 bzw. von der Prozesskammerdecke 3 zum Kühlkanal 5 bzw. 18 vermindert werden. Bei Prozesstemperaturen zwischen 500 und 1000°C ist die Wärmeleitung der maßgebliche Wärmetransportmechanismus zur Rückführung der Wärme. Bei höheren Temperaturen überwiegt die Wärmestrahlung. Um in diesen Transport optimal eingreifen zu können, kann die zum Suszeptor 2 hin weisende Oberfläche 6' des Regelkörpers 6 oder die zur Prozesskammerdecke 3 hin weisende Oberfläche 19' des Regelkörpers 19 reflektierend ausgebildet sein. Bei dieser Ausgestaltung wird durch das Einschieben des Regelkörpers 6, 19 in den Abstandsraum zwischen Heizspirale 4, 17 und Suszeptor 2 bzw. Prozesskammerdecke 3 der Wärmerücktransport von dem Suszeptor 2 bzw. der Prozesskammerdecke 3 zum Kühlkanal 5, 18 vermindert.
Die zur RF-Spirale 4, 17 weisenden Oberflächen 6",19" des Regelkörpers 6, 19 kann ebenfalls spiegelnd ausgebildet sein. Dies ist aber nicht erforderlich.
Alle offenbarten Merkmale sind (für sich) erfindungswesentlich. In die Offen- barung der Anmeldung wird hiermit auch der Offenbarungsinhalt der zugehörigen/beigefügten Prioritätsunterlagen (Abschrift der Voranmeldung) vollinhaltlich mit einbezogen, auch zu dem Zweck, Merkmale dieser Unterlagen in Ansprüche vorliegender Anmeldung mit aufzunehmen.

Claims

ANSPRÜCHE
Reaktor, insbesondere CVD-Reaktor mit einem in einem Reaktor ehäuse angeordneten beheizbaren Körper (2, 3), mit einer vom Körper (2, 3) beabstandeten Heizeinrichtung (4, 17) zum Aufheizen des Körpers (2, 3) und mit einer vom Körper (2, 3) beabstandeten Kühleinrichtung (5, 18), die so angeordnet sind, dass von der Heizeinrichtung (4, 17) über den Abstandsraum zwischen Heizeinrichtung (4, 17) und Körper (2, 3) Wärme zum Körper (2, 3) und vom Körper (2, 3) über den Abstandsraum zwischen Körper (2, 3) und Kühleinrichtung (5, 18) Wärme zur Kühleinrichtung (5, 18) übertragen wird, gekennzeichnet durch ein oder mehrere in den Abstandsraum zwischen Kühl-/ oder Heizeinrichtung (4, 5, 17, 18) bringbaren Regelkörper (6, 19) zur lokalen Beeinflussung des Wärmetransportes.
Reaktor nach Anspruch 1 oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass der Zwischenraum zwischen beheizbarem Körper (2, 3) und Kühleinrichtung (5, 18) ein Gas enthält, welches eine erste spezifische Wärmeleitfähigkeit aufweist und der Regelkörper (6, 19) eine zweite spezifische Wärmeleitfähigkeit aufweist, die von der ersten spezifischen Wärmeleitfähigkeit abweicht und insbesondere größer ist, bevorzugt um mindestens einen Faktor zwei oder fünf.
Reaktor nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass der beheizbare Körper (2, 3) von einem eine erste Wandung einer Prozesskammer (1) bildenden Suszeptor (2) zur Aufnahme eines thermisch zu behandelnden Substrates oder von einer zweiten Wandung (3) der Prozesskammer (1) gebildet ist, die dem Suszeptor (2) mit Abstand gegenüber liegt. Reaktor nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass der Regelkörper (6, 19) von einer Außerwirkstellung, in welcher sich der Regelkörper (6, 19) außerhalb des Grundrisses der Prozesskammer (1) befindet, in eine Wirkstellung in den Abstandsraum innerhalb des Grundrisses der Prozesskammer (1) oder zwischen zwei Wirkstellungen innerhalb des Grundrisses der Prozesskammer (1) im Abstandsraum verlagerbar ist.
Reaktor nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass die Heizeinrichtung
(4. 17) von einer RF-Spule und die Kühleinrichtung von einem Kühlkanal
(5. 18) in der RF-Spule ausgebildet ist.
Reaktor nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass die RF-Spule (4) spiralförmig in einer Ebene unterhalb des sich in einer Horizontalebene erstreckenden Suszeptors (2) angeordnet ist und der mindestens eine Regelkörper (6) in einer Parallelebene dazu zwischen Suszeptor (2) und RF- Spule (4) verlagerbar angeordnet ist.
Reaktor nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass die RF-Spule (17) spiralförmig in einer Ebene oberhalb der sich in einer Horizontalebene erstreckenden, einem Suszeptor (2) gegenüberliegenden Prozesskammerdecke (3) angeordnet ist und der mindestens eine Regelkörper (19) in einer Parallelebene dazu zwischen Prozesskammerdecke (3) und RF-Spule (17) verlagerbar angeordnet ist.
Reaktor nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass der Regelkörper (6, 19) ein elektrischer Isolator ist und insbesondere aus Quarz besteht.
Reaktor nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass die zum beheizbaren Körper (2, 3) oder zur Heizeinrichtung (4, 17) weisende Oberfläche (61, 6", 19', 19") des Regelkörpers (6, 19) reflektierend ist.
Verfahren zum thermischen Behandeln eines Substrates innerhalb einer eine erste und eine zweite Wandung (2, 3) ausbildenden Prozesskammer (1) eines Reaktors, insbesondere zum Abscheiden einer Schicht in einem CVD-Reaktor, wobei das Substrat auf einem die erste Wand der Prozesskammer (1) bildenden Suszeptor (2) aufliegt, wobei zumindest eine Wandung (2, 3) von einer der Wandung (2, 3) beabstandeten Heizeinrichtung (4, 19) auf eine Prozesstemperatur geheizt wird und wobei der zumindest einen beheizten Wand (2, 3) eine davon beabstandete Kühleinrichtung zugeordnet ist, die so angeordnet ist, dass von der Heizeinrichtung (4, 17) über den Abstandsraum zwischen Heizeinrichtung (4, 17) und beheizter Prozesskammerwand (2, 3) Wärme zur Prozesskammerwand (2, 3) und von der beheizten Prozesskammerwand (2, 3) über den Abstandsraum zwischen beheizter Prozesskammerwand (2, 3) und Kühleinrichtung (5, 18) Wärme zur Kühleinrichtung (5, 18) übertragen wird, dadurch gekennzeichnet, dass während der thermischen Behandlung und/ oder zwischen zeitlich aufeinander folgenden Behandlungsschritten ein oder mehrere im Abstandsraum zwischen Kühl-/ oder Heizeinrichtung (4, 5; 17, 18) bringbare Regelkörper (6, 19) derart verlagert werden, dass der Wärmetransport lokal beeinflusst wird zur lokalen Beeinflussung der Temperatur der zur Prozesskammer (1) weisenden Oberfläche der beheizten Wandung (2, 3). Verfahren nach Anspruch 10 oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass sich im Zwischenraum zwischen einem von der ersten Wandung ausgebildeten Suszeptor (2) oder von einer von der zweiten Wandung ausgebildeten Prozesskammerdecke (3) und der der jeweiligen Wandung zugeordneten Kühleinrichtung (5, 18) ein Gas befindet, welches eine erste spezifische Wärmeleitfähigkeit aufweist und der Regelkörper (6, 19) eine zweite spezifische Wärmeleitfähigkeit aufweist, die sich von der ersten spezifischen Leitfähigkeit um mindestens einen Faktor (2) unterscheidet.
Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 10 und 11 oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass das Gas Wasserstoff, Stickstoff oder ein Edelgas ist und der Totaldruck innerhalb des Abstandsraumes im Bereich zwischen einem und tausend Millibar liegt, der Regelkörper (6, 19) aus Quarz, Saphir oder Glas besteht und die beheizte Wandung (2, 3) von einem Graphitkörper ausgebildet wird.
Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 10 bis 12 oder insbesondere danach, dadurch gekennzeichnet, dass die Heizeinrichtung (4, 17) eine von einem Rohr ausgebildete spiralförmige RF-Heizung ist und durch den vom Rohr ausgebildeten Kühlkanal (5, 18) eine Kühlflüssigkeit strömt.
EP10751613A 2009-09-08 2010-08-30 Cvd-reaktor Withdrawn EP2475804A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009043960A DE102009043960A1 (de) 2009-09-08 2009-09-08 CVD-Reaktor
PCT/EP2010/062631 WO2011029739A1 (de) 2009-09-08 2010-08-30 Cvd-reaktor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EP2475804A1 true EP2475804A1 (de) 2012-07-18

Family

ID=43064513

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP10751613A Withdrawn EP2475804A1 (de) 2009-09-08 2010-08-30 Cvd-reaktor

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20120156396A1 (de)
EP (1) EP2475804A1 (de)
JP (1) JP2013503976A (de)
KR (1) KR20120073273A (de)
CN (1) CN102612571A (de)
DE (1) DE102009043960A1 (de)
TW (1) TW201118197A (de)
WO (1) WO2011029739A1 (de)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011055061A1 (de) * 2011-11-04 2013-05-08 Aixtron Se CVD-Reaktor bzw. Substrathalter für einen CVD-Reaktor
DE102012108986A1 (de) 2012-09-24 2014-03-27 Aixtron Se Substrathalter einer CVD-Vorrichtung
US10727092B2 (en) * 2012-10-17 2020-07-28 Applied Materials, Inc. Heated substrate support ring
DE102013109155A1 (de) * 2013-08-23 2015-02-26 Aixtron Se Substratbehandlungsvorrichtung
DE102013113046A1 (de) 2013-11-26 2015-05-28 Aixtron Se Stütz- bzw. Verbindungselemente an einem Heizorgan eines CVD-Reaktors
DE102013113048A1 (de) 2013-11-26 2015-05-28 Aixtron Se Heizvorrichtung für einen Suszeptor eines CVD-Reaktors
DE102013113045A1 (de) 2013-11-26 2015-05-28 Aixtron Se Heizvorrichtung
KR101598463B1 (ko) * 2014-04-30 2016-03-02 세메스 주식회사 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
DE102016103270B3 (de) * 2016-02-24 2017-05-11 Ev Group E. Thallner Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Halterung, Rotation sowie Heizung und/oder Kühlung eines Substrats
US11430639B2 (en) * 2018-12-13 2022-08-30 Xia Tai Xin Semiconductor (Qing Dao) Ltd. Plasma processing system
DE102019104433A1 (de) 2019-02-21 2020-08-27 Aixtron Se CVD-Reaktor mit Mitteln zur lokalen Beeinflussung der Suszeptortemperatur
DE102019116460A1 (de) * 2019-06-18 2020-12-24 Aixtron Se Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen und Einstellen der Neigungslage eines Suszeptors
CN110961489B (zh) * 2019-12-20 2021-06-15 芜湖通潮精密机械股份有限公司 一种气体扩散器的平面度热整形处理工艺
DE102020107517A1 (de) 2020-03-18 2021-09-23 Aixtron Se Suszeptor für einen CVD-Reaktor
KR102500070B1 (ko) * 2021-03-30 2023-02-15 주식회사 테스 유기금속화학기상증착장치
DE102022002350A1 (de) * 2022-06-29 2024-01-04 Aixtron Se Vorrichtung und Verfahren zum Behandeln eines Substrates
CN115632013B (zh) * 2022-12-23 2023-03-10 无锡先为科技有限公司 晶圆加热装置
CN118563289B (zh) * 2024-07-31 2024-11-29 上海陛通半导体能源科技股份有限公司 可改善成膜均匀性的化学气相沉积方法及设备

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5062386A (en) * 1987-07-27 1991-11-05 Epitaxy Systems, Inc. Induction heated pancake epitaxial reactor
JPH07254591A (ja) * 1994-03-16 1995-10-03 Toshiba Corp 熱処理装置
US5653808A (en) * 1996-08-07 1997-08-05 Macleish; Joseph H. Gas injection system for CVD reactors
JPH10239165A (ja) * 1997-02-27 1998-09-11 Sony Corp 基板の温度測定器、基板の温度を測定する方法および基板の加熱方法
US6228173B1 (en) * 1998-10-12 2001-05-08 Tokyo Electron Limited Single-substrate-heat-treating apparatus for semiconductor process system
DE10043601A1 (de) 2000-09-01 2002-03-14 Aixtron Ag Vorrichtung und Verfahren zum Abscheiden insbesondere kristalliner Schichten auf insbesondere kristallinen Substraten
AU2002240261A1 (en) * 2001-03-02 2002-09-19 Tokyo Electron Limited Method and apparatus for active temperature control of susceptors
US7412299B2 (en) * 2002-12-23 2008-08-12 Mattson Thermal Products Gmbh Process for determining the temperature of a semiconductor wafer in a rapid heating unit
JP4058364B2 (ja) * 2003-03-18 2008-03-05 株式会社日立製作所 半導体製造装置
DE10320597A1 (de) 2003-04-30 2004-12-02 Aixtron Ag Verfahren und Vorrichtung zum Abscheiden von Halbleiterschichten mit zwei Prozessgasen, von denen das eine vorkonditioniert ist
DE102005055252A1 (de) 2005-11-19 2007-05-24 Aixtron Ag CVD-Reaktor mit gleitgelagerten Suszeptorhalter
DE102005056320A1 (de) 2005-11-25 2007-06-06 Aixtron Ag CVD-Reaktor mit einem Gaseinlassorgan
DE102006018515A1 (de) 2006-04-21 2007-10-25 Aixtron Ag CVD-Reaktor mit absenkbarer Prozesskammerdecke
DE102007009145A1 (de) * 2007-02-24 2008-08-28 Aixtron Ag Vorrichtung zum Abscheiden kristalliner Schichten wahlweise mittels MOCVD oder HVPE

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See references of WO2011029739A1 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN102612571A (zh) 2012-07-25
TW201118197A (en) 2011-06-01
DE102009043960A1 (de) 2011-03-10
WO2011029739A1 (de) 2011-03-17
KR20120073273A (ko) 2012-07-04
US20120156396A1 (en) 2012-06-21
JP2013503976A (ja) 2013-02-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2011029739A1 (de) Cvd-reaktor
DE68909817T2 (de) Epitaxiereaktor mit einer gegen Beschlag geschützten Wand.
EP2470684B1 (de) Cvd-verfahren und cvd-reaktor
DE69731199T2 (de) Verfahren und einrichtung zur berührungslose behandlung eines scheiben förmiges halbleitersubstrats
EP2010693B1 (de) Cvd-reaktor mit absenkbarer prozesskammerdecke
DE69130293T3 (de) Minimierung der partikelerzeugung in cvd-reaktoren und verfahren
DE19622402C1 (de) Vorrichtung zum Behandeln wenigstens eines Substrats sowie Verwendung der Vorrichtung
DE69421545T2 (de) Gasdiffusionsplatte und radiofrequenzelektrode
DE69927003T2 (de) Vakuumbehandlungsvorrichtung
DE102014104218A1 (de) CVD-Reaktor mit Vorlaufzonen-Temperaturregelung
DE60133628T2 (de) Vorrichtung zur schnellen und gleichmässigen heizung eines halbleitersubstrats durch infrarotstrahlung
DE102011055061A1 (de) CVD-Reaktor bzw. Substrathalter für einen CVD-Reaktor
DE102013109155A1 (de) Substratbehandlungsvorrichtung
WO2011045241A1 (de) Cvd-reaktor mit auf einem mehrere zonen aufweisenden gaspolster liegenden substrathalter
WO2010105947A1 (de) Mocvd-reaktor mit einer örtlich verschieden an ein wärmeableitorgan angekoppelten deckenplatte
DE69710655T2 (de) Gaseinleitsystem für CVD Reaktoren
DE69428603T2 (de) Heizungssubstrathalter für eine halbleiterscheibe mit zwei-zonen rückwandheizung und segmentiertem klemmelement
DE102020123546A1 (de) CVD-Reaktor mit einer Kühlfläche mit bereichsweise vergrößerter Emissivität
DE112005000715T5 (de) Halbleitereinkristall-Herstellungsvorrichtung und Graphittiegel
WO2021185769A1 (de) Suszeptor für einen cvd-reaktor
DE102012001980A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur reaktiven Wärmebehandlung
DE3540628C2 (de) Herstellen eines Epitaxiefilms durch chemische Dampfabscheidung
DE69110814T2 (de) Einrichtung zur thermischen Behandlung mit Waferhorde.
EP1127176B1 (de) Vorrichtung zum herstellen und bearbeiten von halbleitersubstraten
WO2021144161A1 (de) Cvd-reaktor mit doppelter vorlaufzonenplatte

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 20120404

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR

DAX Request for extension of the european patent (deleted)
STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: THE APPLICATION IS DEEMED TO BE WITHDRAWN

18D Application deemed to be withdrawn

Effective date: 20150303