EA018767B1 - Способ идентификации металлов платиновой группы - Google Patents
Способ идентификации металлов платиновой группы Download PDFInfo
- Publication number
- EA018767B1 EA018767B1 EA201071181A EA201071181A EA018767B1 EA 018767 B1 EA018767 B1 EA 018767B1 EA 201071181 A EA201071181 A EA 201071181A EA 201071181 A EA201071181 A EA 201071181A EA 018767 B1 EA018767 B1 EA 018767B1
- Authority
- EA
- Eurasian Patent Office
- Prior art keywords
- mig
- energy
- spectrum
- channel
- identification
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/225—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
- G01N23/2251—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion using incident electron beams, e.g. scanning electron microscopy [SEM]
- G01N23/2252—Measuring emitted X-rays, e.g. electron probe microanalysis [EPMA]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/24—Earth materials
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Geology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Предложен способ идентификации минералов платиновой группы (МПГ) путем исследования образца минерала на сканирующем электронном микроскопе с целью получения энергодисперсионного спектра образца, включающий в себя сравнение амплитуды спектра в одном канале с данными справочной таблицы нормированных спектров различных видов МПГ.
Description
Уровень техники
Настоящее изобретение относится к идентификации минералов платиновой группы (РОМ, МИГ), присутствующих в образце.
Для идентификации минералов, присутствующих в образце, в коммерчески доступных системах применяют сканирующие электронные микроскопы (8ЕМ) в сочетании с рентгеновской энергодисперсионной спектроскопией (ΕΌ8).
Атомы в объеме образца, находящиеся в состоянии покоя, содержат электроны в основном (иначе говоря, невозбужденном) состоянии, находящиеся на дискретных энергетических уровнях, или в электронных оболочках, связанных с ядром. Иадающий электронный пучок, создаваемый 8ЕМ, возбуждает электрон во внутренней оболочке, при этом электрон выбивается из оболочки, а на его месте образуется дырка. Затем дырка заполняется электроном с более отдаленной от ядра оболочки с более высокой энергией; разность энергий между оболочками с большей и меньшей энергией высвобождается в виде рентгеновского излучения, которое затем детектируют и анализируют при помощи энергодисперсионного спектрометра. Данное рентгеновское излучение является характеристической величиной для разности энергий двух оболочек и атомной структуры элемента, которым оно было испущено. Описанная характеристика позволяет идентифицировать элементы, присутствующие в образце; и, исходя из того, какие элементы обнаружены (и в каких соотношениях), может быть выполнена идентификация минералов, при известности химического состава минералов в каждом месте проведения анализа.
В одной из систем применяется система окон, в которой ΕΌδ-спектр разделяют на 32 окна шириной по 200-240 электрон-вольт (эВ); каждое из которых соотносят с каким-нибудь элементом. Для определения присутствия конкретного элемента применяют общее количество рентгеновских импульсов в окне элемента. Для каждого минерала, присутствующего в образце, устанавливают набор правил, которым должен удовлетворять конкретный минерал для его корректной идентификации (в соответствии с общим количеством импульсов в окне элемента). Затем каждую точку анализа с применением подхода первого соответствия сравнивают с правилами идентификации минералов до тех пор, пока не будет найдено соответствие. Если соответствия не обнаруживается, минерал считают неидентифицированным.
Во второй системе весь ΕΌδ-спектр для каждого образца сравнивают с набором стандартных ΕΌ8спектров, принадлежащих минералам, имеющимся в образце, и предварительно идентифицированных вручную. Соответствие каждой точки анализа проверяют с применением подхода наилучшего соответствия вплоть до идентификации. Если соответствия не обнаруживается, минерал считают неидентифицированным.
Каждая система позволяет выполнить адекватную идентификацию минералов в большинстве образцов. Однако в случае руд МИГ часто имеет место неверная идентификация МИГ. Иричиной подобного чаще всего являются:
1) размер зерен МИГ. МИГ часто встречаются в виде частиц размером менее 5 мкм (приведено значение диаметра эквивалентной сферы). Ири анализе столь небольшого зерна ΕΌδ-системой также детектируются элементы минералов, находящихся рядом, что приводит к смешанному ΕΌδ-спектру и с большой вероятностью к невозможности идентификации;
2) химический состав МИГ может изменяться в широких пределах;
3) весь ΕΌδ-спектр применяется для идентификации. Ири этом определение стандартного набора правил или снятие стандартных спектров, необходимых для идентификации минералов, крайне затрудняется вследствие небольшого размера зерен и непостоянства состава;
4) возможность частичного перекрывания сигналов элементов (например, платины и циркония, свинца и серы, кальция и теллура) в ΕΌδ-спектрах. Иодобное перекрывание создает проблемы в описанной выше системе, в частности, вследствие того, что упомянутое перекрывание часто происходит в одном и том же предварительно заданном окне шириной в 200-240 эВ, что приводит к недостоверности идентификации элементов.
Ири этом автоматическое получение результатов оказывается затрудненным, поскольку каждый результат следует пересматривать для коррекции. Например, при одном сканировании образца, содержащего МИГ, проводимом так, что при этом возможно обнаружение 100 зерен, времена получения и обработки результатов обычно следующие:
Таблица 1
Стадия | Среднее время, ч |
Машинное время необходимое для обработки двух отполированных участков с разрешением 1 мкм | 8 |
Время обработки результатов с целью их вывода | 1 |
Время осмотра человеком 50% зерен МПГ и корректировки точности идентификации | 3,5 |
Количество рабочего времени, расходуемое при осмотре человеком | 28% |
- 1 018767
Задачей настоящего изобретения является разработка способа идентификации минералов платиновой группы, по меньшей мере частично устраняющего вышеприведенные недостатки и снижающего время, необходимое для проверки.
Краткое описание изобретения
В настоящем изобретении предложен способ идентификации минералов платиновой группы (МИГ), включающий этапы разграничения множества отдельных последовательных каналов энергии, каждый из которых имеет заранее определенную ширину по энергии и которые полностью охватывают энергетический спектр энергодисперсионного рентгеновского спектрометра, составление справочной таблицы нормированных спектров различных образцов МИГ, извлечение из спектров справочной таблицы значений числа импульсов для каждого канала энергии только для элементов, найденных среди МИГ или сопутствующих им, исследование образца минерала на электронном сканирующем микроскопе с получением энергодисперсионного спектра образца, и сравнение амплитуды спектра в единственном канале с данными, полученными из справочной таблицы, с целью обнаружения конкретного элемента, представляющего собой известную составляющую МИГ или сопутствующий элемент.
Ширина каждого канала энергии предпочтительно составляет 20 эВ. Поскольку стандартный ΕΌ8спектр состоит из 1024 каналов, интервал энергий составляет 1024 х 20 эВ = 20,480 кэВ.
Краткое описание чертежей
Настоящее изобретение описывается далее на примере со ссылкой на прилагаемые чертежи, на которых на фиг. 1 показан типичный ΕΌδ-спектр минерала платиновой группы;
на фиг. 2 показан вид ΕΌδ-спектра, на котором приведены данные для отдельных каналов шириной по 20 эВ;
на фиг. 3 показана блок-схема, на которой приведены этапы способа идентификации МИГ, в соответствии с настоящим изобретением.
Описание предпочтительного варианта осуществления
Согласно способу, предложенному в настоящем изобретении, идентификация МИГ проводится автоматически с применением методики, обычно называемой узкополосным селективным разбиением на окна и схематически показанной на фиг. 3.
Составляют справочную таблицу нормированных спектров различных образцов МИГ. Снимают ΕΌδ-спектры (этап 10 на фиг. 3) с применением стандартных для 8ΕΜ условий, чтобы убедиться в том, что спектры различных образцов одного и того же минерала всегда являются практически одинаковыми. Выбирают общее число импульсов рентгеновского спектра, равное 50000, и затем нормируют число импульсов приводя его к 10000 по формуле:
нормированное число импульсов = (число импульсов канала)/(общее число импульсов) -10000.
Нормирование обеспечивает постоянство значений долей элементов в конкретном МИГ, выраженных в числе импульсов в элементном канале, от одного анализа к другому вне зависимости от общего числа импульсов в спектре.
Иринимают во внимание только элементы, представляющие собой известные составляющие МИГ или сопутствующие им элементы; остальные элементы не принимают во внимание (этап 14 на фиг. 3). Иодобный подход позволяет решить серьезную проблему, существующую в системах второго типа, описанных выше, а именно неверную идентификацию минералов в случае смешанных спектров. Смешанные спектры представляют собой спектры МИГ, включающие в себя элементы, содержащиеся в иных минералах. Неверная идентификация в подобных спектрах может быть приписана, по меньшей мере, небольшому размеру зерен МИГ.
На фиг. 1 показан типичный ΕΌδ-спектр минерала платиновой группы, занимающий 1024 канала энергии шириной по 20 Эв каждый, т.е. охватывающий интервал энергий в 20,480 кэВ. Для получения спектра рентгеновские импульсы, зарегистрированные в каждом канале шириной в 20 Эв, строят в виде гистограммы.
На фиг. 2 видно, что один рентгеновский пик ΕΌδ-спектра имеет ширину в несколько каналов по 20 Эв. Однако в откалиброванной ΕΌδ-системе вершину пика определенного элемента всегда относят к определенной энергии. Например, платину относят к 2,052 Эв, а цирконий - к 2,042 Эв.
Затем импульсы в узкополосном окне элемента в полученном ΕΌδ-спектре сравнивают с набором условий идентификации различных образцов МИГ с применением подхода первого соответствия (этап 16 на фиг. 3). Установление упомянутых условий основывается на ранее проведенных анализах многих спектров МИГ, применяемых для составления справочной таблицы нормированных спектров. Число импульсов, равное 10000, выбрано в качестве нормированного значения во избежание использования дробных чисел для значений числа импульсов в модуле идентификации минералов. В случае применения подхода первого соответствия тщательно соблюдается порядок расположения минералов в наборе условий идентификации: сложные минералы помещаются в начало списка, более простые - в конец.
Согласно способу, предложенному в настоящем изобретении, находят канал шириной 20 Эв, соответствующий вершине рентгеновского пика элемента; данный канал соответствует наиболее интенсив
- 2 018767 ному каналу для конкретного элемента; для подтверждения присутствия данного элемента применяют только импульсы внутри данного канала.
Селективное разбиение на окна означает, что при выполнении идентификации принимают в расчет только энергетические пики ΕΌδ-спектров элементов, как правило, присутствующих в МИГ, сульфидах недрагоценных металлов и пустой породе, присутствующих в МИГ -содержащих рудах. Другие элементы, в частности, элементы, как правило, не присутствующие в составе МИГ, в расчет не принимают. Иоскольку весь спектр не рассматривают, удается избежать проблем при идентификации, возникающих при анализе смешанных спектров.
Выбранный канал находится по центру того пика ΕΌδ-спектра элемента, который имеет наивысшее значение числа импульсов. Это позволяет различать обычные случаи перекрывания ΕΌδ-спектров таких элементов, как свинец, центр пика которого находится при 2,346 кэВ, и сера, центр пика которой находится при 2,308 кэВ. Разница между данными пиками составляет всего 38 Эв и может быть частично разделена при размере окна в 20 Эв, но не может быть разделена при размере окна в 140 Эв.
Способ по изобретению был испытан и продемонстрировал точность идентификации МИГ, составляющую более 95%, при пространственном разрешении в 1 мкм.
Таблица 2
Стадия | Среднее время, ч |
Машинное время необходимое для обработки двух отполированных участков с разрешением 1 мкм | 8ч |
Время обработки результатов с целью их вывода | 1 ч |
Время осмотра человеком 5% зерен МПГ и корректировки точности идентификации | 20 мин |
Количество рабочего времени, расходуемое при осмотре человеком | 3,7% |
Табл. 2 показывает преимущества применения способа согласно настоящему изобретению и должна быть сравнена с табл. 1. Ири подходе, известном в уровне техники, время осмотра человеком 50% зерен МИГ составляет примерно три с половиной часа для одной системы. В способе по изобретению данное время снижается примерно до 20 мин, поскольку необходим осмотр только примерно 5% зерен МИГ.
Результаты, полученные данным способом, могут быть использованы в сочетании с результатами измерений на других системах, в которых измеряют степень выделения и размеры зерен.
Было проведено сравнение между автоматизированной системой идентификации МИГ по изобретению и документированием посредством ручного анализа; часть полученных результатов представлена в табл. 3. Испытания проводили следующим образом:
1. Были приготовлены четыре полированных сечения (обозначенных РИС 1, 2, 3 и 4) образца флотационного концентрата МИГ, полученного от производителя МИГ. Кроме того, на каждом сечении монтировали по три медных штифта, использованных в качестве реперов.
2. Всего на четырех полированных сечениях было найдено 165 включений МИГ. Регистрировали расположение каждого МИГ на каждом сечении и их положения относительно медных реперов. Иолучали цифровое изображение каждого найденного МИГ.
3. Иолучали и сохраняли ΕΌδ-спектр для каждого МИГ.
4. Затем проводили обработку каждого полученного ΕΌδ-спектра с применением способа согласно настоящему изобретению, предусматривающего автоматическую идентификацию минералов для каждого найденного МИГ.
5. Затем четыре полированных сечения подвергали независимому электронно-зондовому микроанализу. Для облегчения нахождения положения зерен МИГ данным способом применяли найденные значения положений каждого МИГ на полированном сечении и их цифровые изображения.
6. Выполняли электронно-зондовый микроанализ каждого МИГ с применением рентгеновской спектроскопии волновой дисперсии (\УЭ8). что позволило установить химический состав в каждой точке анализа.
7. Затем опытный специалист-минералог в области МИГ осуществлял ручную обработку результатов зондового анализа и отнесение каждого зерна МИГ к определенному виду минерала на основе полученного химического состава.
8. Затем осуществляли сравнение результатов ручной идентификации минералов с результатами их автоматической идентификации, полученными на предшествующей стадии 4.
Результаты испытаний показали, что способом по изобретению было успешно идентифицировано 162 из 165 зерен МИГ, при этом доля верных результатов составила более 98%.
Три случая неверной идентификации имели следующие причины.
В первом случае вследствие небольшого размера частицы МИГ был получен смешанный спектр МИГ и сопутствующего сульфида недрагоценного металла (Баке ше1а1 8и1йбе, ВМ8). Способ по изобре
- 3 018767 тению привел к получению результата (Р1Ре, ферроплатина), однако вследствие получения смешанного спектра это не могло быть подтверждено при ручной обработке результатов зондового микроанализа.
Во втором случае способ по изобретению привел к идентификации МИГ как РйТе (минералогическое название теллуропалладинит), однако в результате зондового микроанализа был идентифицирован темагамит (РйНдТе). Соответствие в данном случае оказалось частичным. Темагамит не является распространенным МИГ и на момент испытания не был внесен в базу данных, что и было причиной неверной идентификации. Иосле этого в базу данных внесли темагамит, и способ позволил успешно идентифицировать данный тип МИГ.
Третий случай неверной идентификации относился к зерну химического состава, для которого соответствия среди известных МИГ найдено не было. В данном случае способ по изобретению определил данный МИГ как неизвестный, причем результат зондового микроанализа также не позволил вручную соотнести его с каким-либо известным минералом класса МИГ.
Таблица 3. Сравнение результатов, полученных способом по изобретению, с ручной идентификацией МИГ
Номер Образеца/ МПГ | Идентификация МПГ в соответствии с программой 1деп(|р1а) | Название МПГ по 1РепЬр1а1 | Ручная идентификация МПГ по результатам зондового микроанализа | Химическая формула (получена по результатам зондового микроанализа) | Результат |
РРС1 ΡΘΜ1 | ΡΙΡΡΟιιΝιΡβδ | Хараелахит | Хараелахит | (Р1г βΡθι ?Νΐι еСИ1 аРЬо β)ι =β.2δθ.Β | Соответствует |
РРС1 РСМ2 | ΡίΡόδ | Брэггит | Брэггит | ΡΙοεΡεΙο υΝΐο25ο9 | Соответствует |
РРС1 РОМЗ | Р15 | Куперит | Куперит | Ρ(Εβοι3ο9 | Соответствует |
ρροι РЗМ4 | Ρά5 | Высоцкит | Высоцкит | Ράο θΝίο гРвогЗ | Соответствует |
РКС1 РОМ5 | РОтСиЗ | Маланит | РЬ-Маланит | (Ρί| 1РЬо5СОо2РС1(и)е=1 д( θ4ο.9Νΐοι1Ρ60.1)1=1.184 | Соответствует |
РКС1 РСМ6 | Ρ13 | Куперит | Куперит | Соответствует | |
РКС1 ΡΘΜ7 | ИРЬСиЗ | Маланит | РЬ-Маланит | (Ρίΐ οΡΠθ7θθϋ з1Г(цРС1о ι)ι =22(Сиь 9Ν10 зГе<12)7=14З3 4 | Соответствует |
РРС2 РСМ1а | Ρ13 | Куперит | Куперит | ΡΙοβΝϊοι5ι ι | Соответствует |
РРС2 РОМ1Ь | Ρ13 | Куперит | Куперит | Ρΐο βΡΚο 1 Ρ^Ο 2¾) 9 | Соответствует |
РРС2 ΡΘΜ2 | ΡίΑΒ | Сперрилит | Сперрилит | Ρίθ дПЬо 1 Α$1 д8о 2 | Соответствует |
РРСЗ ΡΘΜ1 | ΡΙΡόΡε | Ферроплатина (РФ | РГРРРе | РЬэ &Ρύο зЕео 2 | Соответствует |
РКСЗ РСМЗ | Ри(Оз,1г)3 | Лаурит | Лаурит | ΗΐΙογΟδοζΡθα 1¾ | Соответствует |
РКСЗ ромб | Р1РЬСиЗ | Маланит | Κή-Маланит | (Γ’ί-Ι οΚΪΊο «Соц Го 2)е=1 э(С 110.9^10.1 Γβο ΐ)ί=1.ΐ3·4 | Соответствует |
РРСЗ РОМ7а | Ри(Ов,1г)3 | Лаурит | Лаурит | Ρίΐο γΟδο 1 Ρ®α 2θ2 | Соответствует |
РРСЗ РОМ7Ь | Ри(О®,1г)3 | Лаурит | Лаурит | КЦд ?РЬд 1 Рбо 2^2 | Соответствует |
РРС4 РОМ2 | Р13 | Куперит | Куперит | Соответствует | |
РРС4 ΡΘΜ3 | Р(Рс13 | Брэггит | Брэггит | ΡγΙοτΡΙο ιΝίο 2*3 | Соответствует |
РРС4 РЗМ4 | Ρί3 | Куперит | Куперит | Ρϋο,(ΝιΊΡθ)018 | Соответствует |
РКС4 ΡΘΜ5 | Ри(Оз,1г)3 | Лаурит | Лаурит | Ρυο 9821 | Соответствует |
РРС4 ΡΘΜ6 | РГРПЕе | Ферроплатина (РФ | № | Ρύο 6Ρίο зР©о ι | Соответствует |
РКС4 ΡΘΜ7 | Р13 | Куперит | Куперит | ΡΙοβΡΰοιΝΐοιΡβοί3ι ι | Соответствует |
РРС4 РСМ8 | не определен | РЬ | ΚίίοΧΡΙ,ΡφίΓ,ΡΙ»)^ | Неизвестный МПГ |
ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ
Claims (1)
- Способ идентификации минералов платиновой группы (МИГ), включающий этапы:выделение множества отдельных последовательных каналов энергии, каждый из которых имеет ширину по энергии примерно 20 эВ и которые охватывают энергетический спектр энергодисперсионного рентгеновского спектрометра;составление справочной таблицы нормированных спектров различных образцов МИГ;извлечение из спектров справочной таблицы значений числа импульсов для каждого канала энергии только для элементов, найденных среди МИГ или сопутствующих им;- 4 018767 исследование образца минерала на электронном сканирующем микроскопе с получением энергодисперсионного спектра образца, нахождение для конкретного элемента канала, который соответствует вершине рентгеновского пика указанного конкретного элемента и является наиболее интенсивным каналом для указанного конкретного элемента, и сравнение амплитуды спектра в указанном выбранном канале с данными, полученными из справочной таблицы, с целью обнаружения присутствия конкретного элемента, представляющего собой известную составляющую М11Г или сопутствующий элемент, причем для подтверждения присутствия указанного конкретного элемента используют импульсы только внутри этого канала.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
ZA200807173 | 2008-08-20 | ||
PCT/ZA2009/000073 WO2010022409A2 (en) | 2008-08-20 | 2009-08-05 | Identification of platinum group minerals |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
EA201071181A1 EA201071181A1 (ru) | 2011-10-31 |
EA018767B1 true EA018767B1 (ru) | 2013-10-30 |
Family
ID=41402584
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
EA201071181A EA018767B1 (ru) | 2008-08-20 | 2009-08-05 | Способ идентификации металлов платиновой группы |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20110155907A1 (ru) |
EP (1) | EP2288907B1 (ru) |
JP (1) | JP5351966B2 (ru) |
AU (1) | AU2009282688B2 (ru) |
CA (1) | CA2725131C (ru) |
EA (1) | EA018767B1 (ru) |
WO (1) | WO2010022409A2 (ru) |
ZA (1) | ZA201007962B (ru) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9188555B2 (en) | 2012-07-30 | 2015-11-17 | Fei Company | Automated EDS standards calibration |
US9714908B2 (en) * | 2013-11-06 | 2017-07-25 | Fei Company | Sub-pixel analysis and display of fine grained mineral samples |
JP6361871B2 (ja) * | 2014-07-07 | 2018-07-25 | 住友金属鉱山株式会社 | データ処理装置、データ処理プログラム、データ処理方法および処理条件決定方法 |
CN105784736A (zh) * | 2016-03-14 | 2016-07-20 | 江苏大学 | 一种作物叶片内部氮磷钾分布特征的sem-edx检测方法 |
JP6975203B2 (ja) | 2019-06-14 | 2021-12-01 | 日本電子株式会社 | X線分析システム及びx線分析方法 |
JP7191902B2 (ja) * | 2020-07-27 | 2022-12-19 | 日本電子株式会社 | 試料分析装置及び方法 |
JP7306639B2 (ja) * | 2021-03-22 | 2023-07-11 | 日本電子株式会社 | X線スペクトル解析装置及び方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4476386A (en) * | 1980-06-11 | 1984-10-09 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organization | Method and apparatus for material analysis |
GB2223842A (en) * | 1988-09-06 | 1990-04-18 | Shell Int Research | Automated mineral identification and rock characterization |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6967183B2 (en) * | 1998-08-27 | 2005-11-22 | Cabot Corporation | Electrocatalyst powders, methods for producing powders and devices fabricated from same |
AUPS167402A0 (en) * | 2002-04-11 | 2002-05-16 | Platinum Australia Limited | Method for extracting pgms |
JP2004151045A (ja) * | 2002-11-01 | 2004-05-27 | Hitachi High-Technologies Corp | 電子顕微鏡またはx線分析装置及び試料の分析方法 |
US20050082491A1 (en) * | 2003-10-15 | 2005-04-21 | Seppi Edward J. | Multi-energy radiation detector |
GB0512945D0 (en) * | 2005-06-24 | 2005-08-03 | Oxford Instr Analytical Ltd | Method and apparatus for material identification |
US7533000B2 (en) * | 2006-07-28 | 2009-05-12 | Oxford Instruments Analytical Limited | Method and apparatus for analysing a dataset of spectra |
-
2009
- 2009-08-05 EP EP09793444A patent/EP2288907B1/en not_active Not-in-force
- 2009-08-05 US US13/058,376 patent/US20110155907A1/en not_active Abandoned
- 2009-08-05 JP JP2011524071A patent/JP5351966B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-08-05 EA EA201071181A patent/EA018767B1/ru not_active IP Right Cessation
- 2009-08-05 CA CA2725131A patent/CA2725131C/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-08-05 WO PCT/ZA2009/000073 patent/WO2010022409A2/en active Application Filing
- 2009-08-05 AU AU2009282688A patent/AU2009282688B2/en not_active Ceased
-
2010
- 2010-11-08 ZA ZA2010/07962A patent/ZA201007962B/en unknown
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4476386A (en) * | 1980-06-11 | 1984-10-09 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organization | Method and apparatus for material analysis |
GB2223842A (en) * | 1988-09-06 | 1990-04-18 | Shell Int Research | Automated mineral identification and rock characterization |
Non-Patent Citations (5)
Title |
---|
H.M. PRICHARD, R.A. IXER, R.А. LORD, J. MAYNARD, N. WILLIAMS: "Assemblages of platinum-group minerals and sulfides in silicate lithologies and chromite-rich rocks within the Shetland opholite" THE CANADIAN MINERALOGIST, vol. 32, 1994, pages 271-294, XP007910964 Retrieved from the Internet: URL :http ://rruf f .geo .arizona .edu/docl ib/cm /vol32/CM32_271.pdf> page 274, left-hand column, paragraph 3 - right-hand column, paragraph 1 * |
INTERNATIONAL, CHICAGO, IL, US, vol. 2, no. 3, 1 September 1988 (1988-09-01), pages 1247-1256, XP002040935 ISSN: 0891-7035 page 1249, right-hand column, paragraph 2 - paragraph 3 * |
PETRUK W.: "THE CAPABILITIES OH THE MICROPROBE KONTRON IMAGE ANALYSIS SYSTEM: APPLICATION TO MINERAL BENEFICIATION" SCANNING MICROSCOPY, SCANNING MICROSCOPY * |
SEABROOK С. L. ET AL.: "Platinum-group minerals in the Raglan Ni-Cu-(PGE) sulfide deposit, Cape Smith, Quebec, Canada" CANADIAN MINERALOGIST APRIL 2004 MINERALOGICAL ASSOCIATION OF CANADA CA, vol. 42, no. 2, April 2004 (2004-04), pages 485-497 , XP002574390 page 488, left-hand column, paragraph 3 - right-hand column, paragraph 1 * |
XIAO Z. ET AL.: "Characterizing and recovering the platinum group minerals - A review" MINERALS ENGINEERING SEPTEMBER/OCTOBER 2004 ELSEVIER LTD GB, vol. 17, no. 9-10, September 2004 (2004-09), pages 961-979, XP002574389 paragraph [5.1.] * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110155907A1 (en) | 2011-06-30 |
WO2010022409A2 (en) | 2010-02-25 |
WO2010022409A3 (en) | 2010-05-27 |
CA2725131A1 (en) | 2010-02-25 |
EP2288907B1 (en) | 2012-09-05 |
AU2009282688A1 (en) | 2010-02-25 |
JP5351966B2 (ja) | 2013-11-27 |
CA2725131C (en) | 2012-01-03 |
JP2012500976A (ja) | 2012-01-12 |
AU2009282688B2 (en) | 2013-10-03 |
EP2288907A2 (en) | 2011-03-02 |
EA201071181A1 (ru) | 2011-10-31 |
ZA201007962B (en) | 2011-09-28 |
WO2010022409A8 (en) | 2010-11-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EA018767B1 (ru) | Способ идентификации металлов платиновой группы | |
CN101311708B (zh) | X射线荧光设备和用于进行x射线荧光测量的方法 | |
Osbahr et al. | Efficient and accurate identification of platinum-group minerals by a combination of mineral liberation and electron probe microanalysis with a new approach to the offline overlap correction of platinum-group element concentrations | |
CN110088603B (zh) | 荧光x射线分析装置 | |
Sirven et al. | Towards the determination of the geographical origin of yellow cake samples by laser-induced breakdown spectroscopy and chemometrics | |
JP2010151632A (ja) | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム | |
CN109216142B (zh) | 电子探针显微分析仪及存储介质 | |
EP1912060A1 (en) | Light intensity measuring method and light intensity measuring device | |
Newbury | Mistakes encountered during automatic peak identification in low beam energy X‐ray microanalysis | |
US20090052620A1 (en) | Apparatus and Method for X-Ray Analysis of Chemical State | |
EP3770589B1 (en) | Analyzer | |
US20030048877A1 (en) | X-ray source and method of using the same | |
US5428656A (en) | Apparatus and method for fluorescent x-ray analysis of light and heavy elements | |
JP2001091481A (ja) | 蛍光x線分析装置のバックグラウンド補正方法 | |
US20090262890A1 (en) | X-ray fluorescence analysis to determine levels of hazardous substances | |
JP6191408B2 (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
US20130268210A1 (en) | Methods and systems for performing an elemental analysis | |
US20220198626A1 (en) | Method of processing an edx/xrf map and a corresponding image processing device | |
JP2000235009A (ja) | 電子プローブマイクロアナライザによる粒子解析装置 | |
JP2020003331A (ja) | バックグラウンド除去方法及び蛍光x線分析装置 | |
US20210010957A1 (en) | Devices and methods for detecting elements in a sample | |
WO2023210136A1 (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
EP4123299A1 (en) | Analyzer apparatus and method of image processing | |
Yeoh et al. | Advanced EDX Analysis for Memory Devices | |
EP3217420A1 (en) | Method, analysis system and computer program product for semi-automated x-ray elemental analysis using a particle microscope |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s) |
Designated state(s): AM AZ BY KZ KG MD TJ TM RU |