DES0031732MA - - Google Patents

Info

Publication number
DES0031732MA
DES0031732MA DES0031732MA DE S0031732M A DES0031732M A DE S0031732MA DE S0031732M A DES0031732M A DE S0031732MA
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
objective
plane
principle
imaging
course
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
Other languages
German (de)
English (en)

Links

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102010045860B4 (de) Zoomsystem hoher Spreizung
EP2172799A1 (de) Optisches System für ein Konfokalmikroskop
DE112008004172T5 (de) Strukturmessgerät und Strukturmessverfahren
DE2300984C3 (de) Pankratisches Objektiv
DE1299903B (de) Pankratisches Objektiv
DE597354C (de) Objektiv mit veraenderlicher Brennweite
DE968430C (de) Beleuchtungsvorrichtung fuer Projektionsbildgeraete
DE3625267C2 (enExample)
DE942052C (de) Optische Anordnung
DE2654319A1 (de) Belichtungseinrichtung fuer kopiergeraete
DES0031732MA (enExample)
DE10158921A1 (de) Verfahren zum Bestimmen von mindestens einer Kenngröße, die für die Beleuchtungswinkelverteilung einer der Beleuchtung eines Gegenstandes dienenden Lichtquelle einer Projektionsbelichtungsanlage charakteristisch ist
DE2215782C3 (de) Objektiv für Reproduktionszwecke
DE2718521C3 (de) Fotografisches Weitwinkelobjektiv mit großer relativer Öffnung
DE2928887C2 (de) Optische Meßvorrichtung
DE2302689A1 (de) Elektronenmikroskop
DE2649401A1 (de) Pankratisches kameraobjektiv
WO2007137835A2 (de) Verfahren und anordnung zur erfassung der optischen qualität einer transparenten scheibe
DE2459865A1 (de) Pankratisches objektiv
DE3150852C2 (enExample)
DE2726663C2 (de) Elektronenstrahlerzeugungssystem
DE19757791C2 (de) MoirE-Verfahren und MoirE-Anordnung zum Vermessen einer Oberfläche
DE2031486A1 (de) Elektrostatische Linse, insbesondere für elektrostatisches Vidikon
DE102005015743B4 (de) Abtasteinheit für eine Positionsmesseinrichtung zum optischen Abtasten einer Maßverkörperung und Positionsmesseinrichtung
DE736052C (de) Kinematographisches Aufnahme- und Wiedergabeverfahren