DE3874125T2
(de )
1993-04-08
Uv-abtastsystem fuer zentrifuge.
DE3428593A1
(de )
1985-02-14
Optisches oberflaechenmessgeraet
DE10392315B4
(de )
2007-09-20
Optische Konfiguration und Verfahren für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen
EP0628159B1
(de )
1997-06-11
Beobachtung von prüflingsoberflächen nach dem speckle-shearing-verfahren
EP0201861B1
(de )
1990-12-05
Verfahren und Vorrichtung zur optischen Spannungsmessung
DE102017131224A1
(de )
2019-06-27
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung einer Fokuslage eines Laserstrahls
DE102005027077C5
(de )
2021-01-28
Lichtscheibenmikroskop
DE102015201561A1
(de )
2016-08-04
Messkopf einer endoskopischen Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion und Messung eines Objektes
DE4018005C2
(de )
1995-02-09
Optische Prüfvorrichtung zum Prüfen eines optischen Systems
DE10033645A1
(de )
2002-01-24
Spektralellipsometer mit einer refraktiven Beleuchtungsoptik
DE4003699C2
(OSRAM )
1992-09-03
DE2602158C3
(OSRAM )
1979-08-30
DE102010016462B4
(de )
2015-07-16
Schichtmessverfahren und Messvorrichtung
EP0211803B1
(de )
1990-06-13
Vorrichtung mit einem telezentrischen, F-Theta-korrigierten Objektiv für kontaktloses Messen und Verwendung dieser Vorrichtung
DE3103670A1
(de )
1981-12-24
Messinstrument zur bestimmung von linsenparametern weicher kontaktlinsen
DE3244484A1
(de )
1983-06-16
Vorrichtung zur optimierung der kopplung zweier optischer systeme zur beobachtung und analyse von objekten
WO2001023939A2
(de )
2001-04-05
Vorrichtung zur optischen nahfeldmikroskopie
DE102011087978A1
(de )
2012-07-05
Verfahren und Anordnung zur Bestimmung des Brechzahlgradienten eines Materials
DE965607C
(de )
1957-06-13
Interferenzmikroskop
DEP0001160MA
(OSRAM )
DE69207686T2
(de )
1996-09-12
Geometrie-Messung der Beschichtungen von optischen Fasern
DE10231475A1
(de )
2004-01-22
Scanmikroskop mit optischem Bauteil und optisches Bauteil
DE3611030A1
(de )
1987-01-08
Optisch positionierbare einrichtung
DE3003333C2
(de )
1985-06-05
Vorrichtung zur Messung von Inhomogenitäten des Brechungsindex
DE4206151C2
(de )
1994-10-27
Vorrichtung zur Beobachtung einer Prüflingsoberfläche für die Verformungsmessung nach dem Speckle-Shearing-Verfahren