DE3003333C2 - Vorrichtung zur Messung von Inhomogenitäten des Brechungsindex - Google Patents
Vorrichtung zur Messung von Inhomogenitäten des BrechungsindexInfo
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Messung von Inhomogenitäten des Brechungsindex im
ultravioletten, sichtbaren und infraroten Spektralbereich von Körpern gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs
1.
Eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 ist aus »journal of Research« 73 C11969 S. 1
bis 4 bekannt. Diese bekannte Vorrichtung ist zwar in der Lage, verhältnismäßig genaue Aussagen über den
Gradienten des Brechungsindex zu liefern, diese Aussagen erhält man aber erst p.^ch Auswertung umständlich
zu lösender Gleichungssysteme. Darüberhinaus ist es mit der bekannten Vorrichtung nicht möglich schnell
eine »Grobaussage« über die optischen Eigenschaften des Körpers zu erhalten, da das Verhalten der lnterfercnzringc
eine unmittelbare Interpretation nicht zuläßt.
Außer diesem Bedienungsnachteil hat die bekannte Vorrichtung aber auch den Nachteil, daß ihr technischer
Aufbau in mehrfacher Hinsicht kompliziert ist. Fertigungstoleranzen bei dem aus zwei Komponenten zu·
sammengekiueten Prisma, dessen Grundfläche zudem sammelnde Wirkung haben muß, beeinflussen außerordentlich
stark das Auflösungsvermögen für den Brechungsindexgradienten. Die Justierung des Spiegels ist
— wie in der genannten Literaturstelle eingeräumt ist — kritisch. Dabei ist die Vorrichtung — wie alle nach
dem interierometrischen Prinzip arbeitende Vorrichtungen — äußerst empfindlich gegen Schwingungen,
was gerade bei der Vermessung ausgedehnter Körper äußer« störend ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung
gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 derart weiterzubilden, daß bei relativ geringem technischem
Aufwand präzise und leicht interpretierbare Meßergebnisse erhalten werden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebene
Merkmale gelöst.
Die Erfindung geht dabei von der Erkenntnis aus, daß in einer nahezu planparallelen Platte vorhandene Inhomogenitäten
des Brechungsindex eine Winkelablenkung eines durch die Platte hindurchtretenden Parallelstrahls
erzeugen. Die erfindungsgemäß vorgeschlagenen Intensitätsmessungen an der Linienbildflanke erlaubt
bei geringem technischen Aufwand eine genaue Messung der durch Inhomogenitäten des Brechungsindex
hervorgerufenen Auslenkungen des Parallelstrahls. Die Verwendung eines Strahls mit geringem Durchmesser
(beispielsweise 2 bis 3 mm) setzt nicht nur die Anforderungen an die Optik herab, die ebenfalls nur einen
derartigen Durchmesser haben muß, sondern erlaubt auch eine einfache Zuordnung des erhaltenen Meßergebnisses
— beispielsweise einer »Schreiber-Aufzeichnung« — zu der Lage der Inhomogenitäten in dem zu
untersuchenden Körper.
Dabei können die Inhomogenitäten sowohl monotone als auch wechselnde Gradienten haben.
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert, in der zeigt
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert, in der zeigt
F i g. 1 den schematischen Aufbau eines Gerätes zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
Fig. 2 die Intensitätsverteilung des Strahlenbündels
und
4$ Fig. 3 schematisch die Anordnung zur Feststellung
von Abweichungen von der Planparallelität des zu prüfenden Körpers.
Bei dem in Fig. 1 gezeigten Gerät wird die von der Strahlungsquelle 1 ausgesandte Strahlung durch den
Chopper 2 in Rech'eckimpulse zerhackt. Sie tritt dann durch ein Filtersystem 3 zur Auswahl des gewünschten
Spektralbereiches, um dann vom Kondensor 4 auf den Eintrittsspalt 5 des Kollimators 6 abgebildet zu werden.
Die Blende 7 dient zur Begrenzung des aus dem KoIIimator
6 austretenden Parallelstrahlenbundels auf den gewünschten Strahlquerschnitt, der das örilirhp Anfio
S'jngsvcrniögcn des derates bestimmt. Anschließend
durchdringt der Strahl den Prüfling 8 und wird dabei durch eine vorhandene Brechungsindex-Inhomogenität
in Richtung zum ansteigenden Brechungsindex abgelenkt. Der abgelenkte Strahl tritt nun in das Ferrohrobjektiv
10 ein und wird von diesem auf den Austrittsspalt II fokussiert. Über die Optik 12 wird der durch den
Ausirittsspalt 11 hindurchtretende Anteil der Strahlung
b5 auf den lR-Detektor 13 gelenkt, der die Intensität der
ankommenden Strahlung mißt.
F i g. 2 zeigt die Intensitätsverteilung der Strahlung in der Ebene des Spaltes 11, die durch die Abbildung des
Spaltes 5 über Kollimator- und Fernrohroptik erzeugt wird. Durch geeignete Wahl der Aberrationen der Optiken
6 und 10 und der Einstellebene des Spaltes 11 oder durch geeignete Form eines der Spalte 5 ode- Il wird
erreicht, daß diese Intensitätsverteilung im benutzten Bureich B eine lineare Abhängigkeit vom Ort X aufweist
Die in Fig.2 dargestellte Intensitätsverteilung wird als »Linienbild« bezeichnet Zur Einstellung des
Gerätes auf den Nullpunkt wird der Prüfling 8 aus dem
Strahlengang entfernt und der Spalt 11 in X-Richtung so
justiert, dab im Arbeitspunkt A eine mittlere Intensität
/ι durch den Spalt 11 hindurchtritt und vom Detektor 13 registriert werden kann.
Hat nun der Prüfling an der Meßstelle eine Inhomogenität derart, daß der Brechungsindex entlang des Weges
Sin .V-Richtung zunimmt, so wird der Meßstrahl in
X-Richtung abgelenkt und das Linienbild verschiebt sirh um einen Betrag X in X-Richtung von ΛΊ nach Xi.
Die durch den Spalt 11 hindurchtretende Strahlung ändert
damit ihre Intensität um///von 1\ auf/2, wobei gilt:
10
15
20
Al = k-Ax.
(I)
Die konstante Steigung k wird durch Ausmessung des Linienbildes bestimmt, indem der Spalt 11 um definierte
Strecken χ verschoben wird und dabei die Intensität / am Detektor 13 gemessen wird. Die Steigung k ergibt
sich dann zu
d/
30
dn
Ein Indexgradient —j— verursacht eine Linienbildver-
schiebung Ax, die abhängig ist von der Dicke d des
Prüflings und von der Brennweite Ader Linse 10:
d/7
(III)
Diese Linienbildverschiebungen Ax ruft eine Intensitätsänderung
AI am Detektor 13 hervor, die sich aus (1) und (III) berechnet zu:
40
(IV)
Bei einem aufgeführten erfindungsgemäßen Gerät wurde mit den Werten d = 1 cm und /= 10 cm gearbeitet.
Ein Ax von 1^ {λ = Wellenlänge der benutzten
Strahlung) konnte noch gemessen werden. Die Nachweisgrenzen des Gerätes lagen demnach im IR-Bereich
mit/? ■= 4 μπι nachGl. (III) bei:
45
50
q/7
ds
0,0002 cm
1 cm · 10 cm
1 cm · 10 cm
= 2 · ΙΟ-5
1
cm
55
Im sichtbaren Bereich mit λ = 0,5 μΐη ergibt sich:
0,000025 cm
0,000025 cm
Al
ds
ds
1 cm · 10 cm
2,5 · 10-*
cm
Der Prüfling 8 aus optisch durchlässigem Material befindet sich auf einem elektrisch ansteuerbaren Kreuztisch
9, mit dessen Hilfe er in X- und K-Richtung durch den Meßstrahl gefahren werden kann. Die elektrische
Ansteuerung 17 erlaubt so eine scannerartige Abtastung des gesamten Prüflings. Das vom Detektor 13
kommende Signal wird durch einen Wechselspannungsverstärker geringer Bandbreite mit maximaler Verstärkung
auf der Copperfrequenz verstärkt. Bei geringen Signalstärken, wie sie im IR-Bereich vorliegen, wird
hierzu vorzugsweise ein Lock-in-Verstärker verwendet,
der nm dem Referenzsignal der Lichtschranke 18 gesteuert
wird und so das Untergrundrauschen unterdrückt und nur die vom Chopper 2 modulierte Strahlung
registriert. Nach Bearbeitung in dem Auswertegerät 15 wird das Signal dem x-j'-Schreiber 16 zugeführt. Da die
Signalhöhe direkt proportional dem Indexgradienten des Prüflings am Meßort in X-Richtung ist. kann so eine
quasidrcidimensionale Aufzeichnung des Indexgradienten erfolgen. In vielen Fällen ist es wünschenswert, neben
dem Indexgradienten die Abhängigkeit des Brechungsindex π vom Meßort darzustellen. Hierfür besitzt
das Auswertegerät 15 einen mikroprozessorgesteuerten Integrator, der bei Einstellung auf einen Anfangswert
aus der Funktion des Indexgradienten
d/7 ,. ,
den Verlauf des Brechungsindex
"=J 77
berechnet.
Die bei der oben beschriebenen Messung verwendeten Materialproben müssen beiderseits genau planparallel
geschliffen und poliert sein. Die Ebenheit der Oberfläche, die erforderlich ist, um auch kleinste Inhomogenitäten
noch nachweisen zu können, ist hoch (Passe besser als 1 Ring) und verteuert die Messung erheblich.
Daher wird erfindungsgemäß eine zusätzliche Einrichtung verwendet, um mit demselben Gerät gleichzeitig
die Abweichungen der Prüflingsoberfläche zu messen und bei der Auswertung zu berücksichtigen.
Fi g. 3 zeigt die hierfür erfindungsgemäß verwendete
Einrichtung, bei der durch den Spalt 19 ein Lichtstrahl auf die Kollimatoroptik 20 fällt, die ihn zu einem Parallelstrahl
bündelt. Anstelle von 19 und 20 kann auch ein Laser Verwendung finden.
Der Lichtstrahl fällt bei 21 aui die gleiche Stelle des Prüflings S, die auch vom Meßstrahl ge'roffen wird.
Dort wird er (teilweise) reflektiert und dann über die Spiegel 22, 23, 24 und 25 auf die entgegengesetzte Seite
des Prüflings gelenkt, wo er auf der Stelle 26 auftritt, aus der der Meßstrahl wieder austritt. Hier wird er abermals
reflektiert und mit der Optik 27 auf den Spalt 28 abgebildet. Hier wird nun wieder, ähnlich wie in F i g. 1 und 2
beschrieben, die seitliche Ablenkung des Strahls in λ'-Riu'niung
bestimmt, die hier aber nicht von Inhomogenitäten des Materials, sondern von Unebenheiten der beiden
Oberflächen des Prüflings 8 bei 21 und 26 verursacht wird. Die Meßergebnisse werden gleichzeitig mit
dem Ergebnis der Messungen des Indexgradienten dem Auswertegerät 15 zugeführt und unter Benutzung des
mittleren Brechungsindex des Prüflings bei der Auswertung als Korrekturglieder berücksichtigt. Mit dieser zusätzlichen
Einrichtung brauchen die Materialproben für die Prüflinge nur noch mit einer geringeren werkstattüblichen
Genauigkeit bearbeitet zu werden, was für Serienprüfungen von erheblichem Vorteil ist.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Vorrichtung zur Messung von Inhomogenitäten des Brechungsindex im ultravioletten, sichtbaren
und infraroten Spektralbereich von Körpern, die in dem jeweiligen Spektralbereich transparent sind
und im wesentlichen ebene Außenflächen im Strahlengang haben,
mit einer Strahlungsquelle (1), einer Einrichtung (4, 5, 6) zur Erzeugung eines parallelen Lichtbündels,
das den zu prüfenden Körper (8) durchsetzt, einer Fokussierungseinrichtung (10) zur Erzeugung eines
Linienbildes, einer Austrittsblende (11) und einer Einrichtung zur Relativbewegung von optischem
System und Körper zur Prüfung des Körpers in mehreren Bereichen,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Einrichtung (7) den Querschnitt des parallelen Lichtbündels auf ein Maß begrenzt, das wesentlich kleiner ist als die Ausdehnung der zu ermittelnden Inhomogenitäten,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Einrichtung (7) den Querschnitt des parallelen Lichtbündels auf ein Maß begrenzt, das wesentlich kleiner ist als die Ausdehnung der zu ermittelnden Inhomogenitäten,
daß die Austrittsblende (11) wesentlich kleiner ist als
das Linienbild und in der Linienbildflanke angeordnet ist, und
daß ein Detektor (13) hinter der Austrittsblende die Intensität mißt, die ein Maß für die Verschiebung des
Strahlenbündels in verschiedenen Bereichen des Körpers ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine elektronische Recheneinheit die
gemessenen Abweichungen von der Planparallelität des zu messenden Körper? im Durchtrittsbereich
des Strahlenbündels bei der elektronischen Verarbeitung der Auslenkungsdaten berücksichtigt.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die elektronische Recheneinheit
die Meßdaten so aufbereitet, daß sie quasi dreidimensional darstellbar sind.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die elektronische Recheneinheit
aus den Daten des Indexgradienten die Indexkurven ableitet.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19803003333 DE3003333C2 (de) | 1980-01-30 | 1980-01-30 | Vorrichtung zur Messung von Inhomogenitäten des Brechungsindex |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19803003333 DE3003333C2 (de) | 1980-01-30 | 1980-01-30 | Vorrichtung zur Messung von Inhomogenitäten des Brechungsindex |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3003333A1 DE3003333A1 (de) | 1981-08-06 |
DE3003333C2 true DE3003333C2 (de) | 1985-06-05 |
Family
ID=6093289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19803003333 Expired DE3003333C2 (de) | 1980-01-30 | 1980-01-30 | Vorrichtung zur Messung von Inhomogenitäten des Brechungsindex |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3003333C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19624421B4 (de) * | 1995-06-30 | 2008-07-10 | Carl Zeiss Ag | Vorrichtung und Verfahren zur ortsaufgelösten Vermessung von Wellenfrontdeformationen |
DE102010039549A1 (de) * | 2010-08-20 | 2012-02-23 | Tu Bergakademie Freiberg | Verfahren und Spektrometer zur optischen Charakterisierung eines transparenten Mediums |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3326065C2 (de) * | 1982-07-31 | 1986-03-27 | Deutsche Forschungs- und Versuchsanstalt für Luft- und Raumfahrt e.V., 5000 Köln | Verfahren zur quantitativen Messung von Inhomogenitäten in optischen Gläsern |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE361737B (de) * | 1972-04-26 | 1973-11-12 | B Och H Rilbe |
-
1980
- 1980-01-30 DE DE19803003333 patent/DE3003333C2/de not_active Expired
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DE19624421B4 (de) * | 1995-06-30 | 2008-07-10 | Carl Zeiss Ag | Vorrichtung und Verfahren zur ortsaufgelösten Vermessung von Wellenfrontdeformationen |
DE102010039549A1 (de) * | 2010-08-20 | 2012-02-23 | Tu Bergakademie Freiberg | Verfahren und Spektrometer zur optischen Charakterisierung eines transparenten Mediums |
DE102010039549B4 (de) * | 2010-08-20 | 2014-11-06 | Tu Bergakademie Freiberg | Verfahren und Spektrometer zur optischen Charakterisierung eines transparenten Mediums |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3003333A1 (de) | 1981-08-06 |
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