DE3710323C2 - - Google Patents
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- DE3710323C2 DE3710323C2 DE19873710323 DE3710323A DE3710323C2 DE 3710323 C2 DE3710323 C2 DE 3710323C2 DE 19873710323 DE19873710323 DE 19873710323 DE 3710323 A DE3710323 A DE 3710323A DE 3710323 C2 DE3710323 C2 DE 3710323C2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/171—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with calorimetric detection, e.g. with thermal lens detection
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur photothermi
schen Untersuchung eines Materials auf Inhomogenitäten
durch Ausnutzen des Mirage-Effektes, bei dem die
Oberfläche des zu untersuchenden Materials mit einem
in seiner Intensität modulierten, fokussierten
Anregungsstrahl zur Erzeugung einer Wärmewelle im zu
untersuchenden Material bestrahlt wird und über den
bestrahlten Bereich parallel und dicht zur Oberfläche
des zu untersuchenden Materials ein Abtaststrahl
geführt wird, dessen Ablenkung infolge einer Bre
chungsindexänderung des den bestrahlten Bereich
umgebenden Mediums durch die periodische Erwärmung
bezüglich ihrer Amplitude und Phase zur Amplitude und
Phase des Anregungsstrahls als Meßsignal ausgewertet
wird.
Aus der DE 35 10 314 A1 ist ein solches Verfahren
bekannt, bei dem es erforderlich ist, daß die Mate
rialoberfläche eben und frei von Rauhigkeiten ist, um
ein reproduzierbares genaues Meßsignal zu erhalten.
Vertiefungen in der Materialoberfläche führen bei dem
bekannten Verfahren zu Meßfehlern, da durch diese
Vertiefungen der Abstand zwischen dem Abtaststrahl und
der Materialoberfläche größer wird.
Dies führt zu einem Fehler, der sich dadurch ergibt,
daß in einem größer werdende Abstand von der Mate
rialoberfläche die horizontale Ausdehnung des Bereichs
mit einem vergrößerten Brechungsindex kleiner wird. Da
der Abtaststrahl dann einen kürzeren Weg durch einen
Bereich mit verändertem Brechungsindex zurücklegt,
ergibt sich eine kleinere Ablenkung.
Ein zweiter Meßfehler entsteht dadurch, daß bei ver
größertem Abstand zwischen dem Abtaststrahl und der
Materialoberfläche eine zusätzliche Phasenverzögerung
auftritt, da die Wärmewelle einen größeren Weg im
Medium oberhalb der Materialoberfläche zurücklegen
muß.
Aus der DE 33 13 784 A1 ist ein Optikkopf mit einer
Objektivlinse bekannt, die zur genauen Einstellung
ihres Brennpunktes in Ausbreitungsrichtung eines
Laserlichtbündels mit Hilfe einer von einem Steuer
strom durchflossenen und einem Permanentmagneten
zugeordneten Spule bewegbar ist.
Ausgehend von diesem Stand der Technik liegt der
Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Prüfverfahren der
eingangs genannten Art auch für unebene und rauhe
Oberflächen verfügbar zu machen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch Messen
der durch Rauhheit oder Unebenheit zwischen der
Oberfläche des zu untersuchenden Materials und dem
Abtaststrahl verursachten Abstandsänderung in dem
bestrahlten Bereich, Zuordnen der durch die Abstands
änderung verursachten Änderung der Amplitude und der
Phase des Meßsignals zu dieser Abstandsänderung und
Korrigieren des erfaßten Wertes für die Amplitude und
Phase der Ablenkung des Abtaststrahles mit dem durch
die Abstandsänderung verursachten Anteil des Meßsi
gnals zur Bestimmung der Inhomogenitäten.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind in den
Unteransprüchen gekennzeichnet.
Nachfolgend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung
anhand der Zeichnung näher erläutert, die in einer
einzigen Figur ein Prinzipschaltbild einer für die
Durchführung des Verfahrens geeigneten Vorrichtung
zeigt.
Ein Laser 1 sendet einen parallelen Lichtstrahl aus,
der durch einen teildurchlässigen Spiegel 5 hin
durchtritt und auf ein Motorobjektiv 2 fällt. Das
Motorobjektiv 2 fokussiert den Lichtstrahl als
Anregungsstrahl auf die Oberfläche einer Probe 3, die
hier übertrieben uneben gezeichnet ist.
Der auf das absorptionsfähige Material der Probe 3
fokussierte Lichtstrahl ist moduliert (periodisch
unterbrochen). Der absorbierte Anteil dieses Lichts
pflanzt sich als Wärmewelle mit gleicher Frequenz,
aber unterschiedlicher Phase im Material der Probe 3
fort. Inhomogenitäten im Material, sowohl eingebrachte
wie ungewollte, wirken sich dabei charakteristisch auf
diese Ausbreitung aus. Ein Teil der Wärmewelle gelangt
wieder an die Oberfläche der Probe 3 in unmittelbarer
Nähe der Bestrahlungsstelle. Hier erwärmt sie das um
gebende Medium periodisch. Im allgemeinen handelt es
sich bei dem umgebenden Medium um Luft. Die Erwärmung
führt zu einer Änderung des Brechungsindexes des Me
diums, das zu der Ausbildung einer thermischen Linse
führt.
Ein Abtaststrahl 4 in der Gestalt eines Laserstrahls
wird parallel und dicht zur Oberfläche der Probe 3
geführt. Der Abtaststrahl 4 kreuzt den fokussierten
Anregungsstrahl. In diesem Bereich ist die thermische
Linse ausgebildet, die den Abtaststrahl 4 von der
Probe 3 weg ablenkt. Diesen Effekt bezeichnet man als
photothermischen Mirage-Effekt in Anlehnung an
Luftspiegelungen an heißen Tagen. Mit geeigneten in
der Zeichnung nicht dargestellten Sensoren, wie sie
z. B. in der DE 35 10 314 A1 beschrieben sind, läßt sich
diese Ablenkung messen. Sowohl die Signalamplitude als
auch die Phasendifferenz zwischen dem Anregungsstrahl
und der Wärmewelle hängen von Abstand X des Abtast
strahls 4 zur bestrahlten Probenstelle der Probe 3 ab.
Die exakte mathematische Beziehung zwischen Entfer
nungsänderungen einerseits und Amplituden- bzw. Phasen
änderung andererseits ist aber nur von den Eigenschaf
ten des das Materials umgebenden Mediums, im allge
meinen Luft, und von der Modulationsfrequenz abhängig.
Damit ist diese Beziehung durch eine einmalige
Versuchsmessung unter bekannten Versuchsbedingungen
ermittelbar.
Ein Teil des von der Probe 3 reflektierten Abtast
strahls wird vom Objektiv des Motorobjektivs 2 erfaßt.
Es fällt durch das Motorobjektiv 2 hindurch und wird
über den teildurchlässigen Spiegel 5 zu einer Photo
diode 6 geleitet. Das aufgenommene Meßsignal der
Photodiode 6 wird von einer Elektronik und einem
Rechner 7 ausgewertet. Dem Detektorsignal der Photo
diode 6 läßt sich ein definierter Abstand des Motorob
jektivs 2 von der Probe 3 zuordnen, da die vom
bestrahlten Material der Probe 3 reflektierten
Strahlen im Querschnitt sich in Abhängigkeit vom
Lichtfleckdurchmesser an der bestrahlten Stelle
ändern.
Diese Zuordnung gilt jedoch nur für unveränderte
Reflexionseigenschaften an jeder Prüfstelle, was auf
die meisten Materialien gerade nicht zutrifft.
Außerdem werden durch die Vergrößerung des Licht
fleckes auf der Probe 3 sowohl das Auflösungsvermögen
als auch die Bestrahlungsbedingungen nachteilig
verändert.
Der kleinste Lichtfleck zeichnet sich durch einen
Extremwert der von der Photodiode 6 empfangenen Intensität
oder eine besondere Symmetrie für die bestrahlte
Stelle aus. Er ist hiermit unabhängig vom Absolutwert
der Intensität, also auch von den Reflexionseigen
schaften der Probe.
Bei einer Veränderung des Abstandes zwischen Motorob
jektiv 2 und der Probe 3 verändert sich das Detektor
signal der Photodiode 6. Bei einem zweiten Meßpunkt,
der z. B. um eine Strecke δ X weiter zum Abtaststrahl
liegt, erfolgt eine optoelektronische Registrierung
dieser Änderung. Die Fokussierlinse wird elektro
motorisch zur Erzeugung des kleinsten Lichtfleckes
nachgefahren. Da die Strahlführung des Abtaststrah
les 4 starr mit dem Anregungsstrahl gekoppelt ist, ist
die festgestellte Abstandsänderung δ X des Motor
objektivs 2 von der Probe 3 identisch mit der Ab
standsänderung bezüglich des Abtaststrahles 4.
Die optoelektronische Registrierung der Änderung
führt zum Nachfokussieren des Objektiv, indem der
Rechner 7 den dazu erforderlichen Strom für das
Verfahren des Objektivs des Motorobjektivs 2 liefert.
Der hierzu notwendige Strom ist ein Maß für die
Abstandsänderung.
In einem Eichschritt unter Laborbedingungen wird eine
Materialstelle konstant bei Veränderung des Abstandes
dieser Probenstelle vom Abtaststrahl bestrahlt, indem
die auf einem Feinmeßtisch befestigte Probe 3 defi
niert verfahren wird, während die Strahlführung des
Abtaststrahles 4 starr mit der Anregungseinheit
gekoppelt ist. Die jeweilige Änderung des photo
thermischen Signals in Amplitude und Phase wird dabei
mit der erforderlichen Genauigkeit ermittelt.
Beim Meßvorgang wird von einem definierten Abstand
Probe 3 - Abtaststrahl 4 ausgegangen. Das hierbei
gemessene photothermische Signal wird mit der will
kürlich gewählten Entfernungsänderung 0 in Beziehung
gesetzt. Bei einer auftretenden Entfernungsänderung δ X
ändert sich die Größe des Lichtfleckes. Das Objektiv
im Motorobjektiv 2 wird deswegen elektromotorisch
verfahren, so daß bei einem um eine Strecke δ X
größeren Abstand des Motorobjektivs 2 von der Proben
oberfläche der Probe 3 der Lichtstrahl des Lasers 1
auf die Probenoberfläche fokussiert wird. Diese ist
schematisch mit dem Motorobjektiv 2′ dargestellt, bei
dem das Objektiv im Verhältnis zum Objektiv des
Motorobjektivs 2 um die vorbenannte Strecke δ X näher
an die Probe 3 herangefahren ist. Der hierzu erforder
liche Strom wird gleichzeitig als Meßwert an den
Rechner übergeben, dort in eine entsprechende Ampli
tuden- bzw. Phasenänderung des photothermischen
Meßwertes umgerechnet und vom Meßsignal subtrahiert.
Es bleibt die reine, von einer Abstandsänderung
befreite, material-spezifische photothermische
Meßgröße übrig.
Mit diesem Verfahren ist es möglich, Rauhigkeiten oder
Unebenheiten einer zu prüfenden Fläche von einigen
Mikrometern bis zu einigen Zehntel Millimetern
meßtechnisch auszugleichen.
Claims (3)
1. Verfahren zur photothermischen Untersuchung eines
Materials auf Inhomogenitäten durch Ausnutzen des
Mirage-Effektes, bei dem die Oberfläche des zu
untersuchenden Materials mit einem in seiner
Intensität modulierten, fokussierten Anregungs
strahl zur Erzeugung einer Wärmewelle im zu
untersuchenden Material bestrahlt wird und über
den bestrahlten Bereich parallel und dicht zur
Oberfläche des zu untersuchenden Materials ein
Abtaststrahl geführt wird, dessen Ablenkung
infolge einer Brechungsindexänderung des den
bestrahlten Bereich umgebenden Mediums durch die
periodische Erwärmung bezüglich ihrer Amplitude
und Phase zur Amplitude und Phase des Anregungs
strahles als Meßsignal ausgewertet wird, ge
gekennzeichnet durch Messen der
durch Rauhheit oder Unebenheit zwischen der
Oberfläche des zu untersuchenden Materials und
dem Abtaststrahl verursachten Abstandsänderung
in dem bestrahlten Bereich, Zuordnen der durch
die Abstandsänderung verursachten Änderung der
Amplitude und der Phase des Meßsignals zu dieser
Abstandsänderung und Korrigieren des erfaßten
Wertes für die Amplitude und Phase der Ablenkung
des Abtaststrahles mit dem durch die Abstandsän
derung verursachten Anteil des Meßsignals zur
Bestimmung der Inhomogenitäten.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß zur Erfassung der Abstandsänderung ein
Nachfokussieren des Anregungsstrahles durchge
führt wird und der zur Nachführung einer Fokus
sierlinse erforderliche Steuerstrom erfaßt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß der Anregungsstrahl nach seiner Re
flexion an der Oberfläche des zu untersuchenden
Materials über einen teildurchlässigen Spiegel zu
einem optoelektronischen Sensor ausgekoppelt
wird, dessen Ausgangssignal ein Maß für die
Lichtfleckgröße des Anregungsstrahls in dem be
strahlten Bereich ist und zur Nachführung der
Fokussierlinse verwendet wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873710323 DE3710323A1 (de) | 1987-03-28 | 1987-03-28 | Verfahren zur photothermischen materialpruefung mit dem mirage-effekt an proben mit rauhen oder unebenen oberflaechen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873710323 DE3710323A1 (de) | 1987-03-28 | 1987-03-28 | Verfahren zur photothermischen materialpruefung mit dem mirage-effekt an proben mit rauhen oder unebenen oberflaechen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3710323A1 DE3710323A1 (de) | 1988-10-06 |
DE3710323C2 true DE3710323C2 (de) | 1989-08-17 |
Family
ID=6324250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19873710323 Granted DE3710323A1 (de) | 1987-03-28 | 1987-03-28 | Verfahren zur photothermischen materialpruefung mit dem mirage-effekt an proben mit rauhen oder unebenen oberflaechen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3710323A1 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3840998A1 (de) * | 1988-12-06 | 1990-06-07 | Battelle Institut E V | Vorrichtung zum zerstoerungsfreien aufspueren von inhomogenitaeten in elastischen werkstoffen |
DE19606453C2 (de) * | 1996-02-21 | 1998-07-16 | Wagner Int | Verfahren und Vorrichtung zum photothermischen Prüfen von Werkstücken |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58179947A (ja) * | 1982-04-15 | 1983-10-21 | Olympus Optical Co Ltd | 光情報再生装置における合焦検出方式 |
DE3510314A1 (de) * | 1985-03-22 | 1986-09-25 | Harald Michael Robert Dr. 6604 Fechingen Petry | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen pruefung von materialien auf inhomogenitaeten |
-
1987
- 1987-03-28 DE DE19873710323 patent/DE3710323A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3710323A1 (de) | 1988-10-06 |
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