DE9321526U1 - Radiometrische Meßvorrichtung für Dickenmessungen - Google Patents
Radiometrische Meßvorrichtung für DickenmessungenInfo
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Description
Beschreibung
Die Erfindung betrifft eine radiometrische Meßeinrichtung für das berühungslose Messen der Oberflächendichte oder der Dicke
eines ebenen Produkts.
Unter einem ebenen Produkt wird jedes Produkt, jedes Material oder jedes Object verstanden, das fest, pastös oder viskos ist
und das eine Dimension aufweist, die als Dicke bezeichnet wird, die wesentlich kleiner ist als die beiden anderen Dimensionen
des Produkts, nämlich die Länge bzw. Breite. Vorzugsweise aber nicht ausschließlich werden unter flachen Produkten
im Sinne der vorstehenden Erfindung Bänder oder Beschichtungen verstanden, deren Länge die Breite übersteigt, seien sie kontinuierlich
oder diskontinuierlich, beweglich oder fest, bei-
2Q spielsweise wie sie bei verschiedenen industriellen Prozessen
erhalten werden und bei denen die Oberflächendichte oder das Gewicht kontaktlos gemessen werden soll oder auch die Dicke
bei gegebener Volumendichte.
Beispielsweise und nicht beschränkend kann ein ebenes Produkt im Sinne der vorstehenden Erfindung sein:
- eine Platte, ein Band oder ein Metallblech, wie diese Produkte in der Metallurgie oder beim Bearbeiten von
gQ Metallen erhalten werden,
ein Kunststoffilm mit mehr oder weniger bedeutender Dikke,
vorzugsweise aber mit geringer Dicke, beispielsweise in der Größenordnung von einigen 10 Mikron,
- ein dünner Überzug, beispielsweise die Grundlage für Spannteppiche oder Bodenbeläge,
ein Kautschukblatt,
- ein Papierblatt,
- ein Gewebe,
- eine Glasplatte,
- eine Platte oder eine Beschichtung aus agglomerierten Holzteilchen.
Im Sinne der vorstehenden Erfindung kann ein flaches Produkt auch eine Schicht aus einem gegebenen Material sein, das auf
einem flachen Träger abgeschieden ist und von dem man wie vorstehend erläutert die Oberflächendichte oder die Dicke
messen will.
Allgemein gesagt weisen berührungslose radiometrische Meßvorrichtungen
die folgenden Merkmale auf:
·,,- - Einen Sender für eine elektromagnetische Strahlung oder
für einen Teilchenstrom, dessen Quelle sich an der einen Seite des zu messenden flachen Produkts befindet, wobei
die Strahlung oder der Strahlenstrom auf das Produkt gerichtet wird,
- einen Empfänger für die Strahlung oder für den Strahlenstrom,
dessen Detektor sich in Bezug auf das flache, zu messende Produkte bezogen auf die Strahlenquelle auf der
Seite befindet, daß das Produkt durchstrahlt wird, oder der Empfänger nimmt die vom Produkt gestreuten Strahlen
auf, und zwar in beiden Fällen in geschwächter Form, wobei der Detektor ein Meßsignal abgibt,
eventuell einen mechanischen Träger, der den Empfänger oder auch den Empfänger und den Sender relativ zu dem zu
messenden flachen Produkt bewegen kann und der diese
QQ Teile trägt,
- eine Verarbeitungseinheit auf Analogbasis oder Digitalbasis für das Meßsignal, um eine Information zu erhalten,
die die Oberflächendichte oder die Dicke des flachen Produkts wiedergibt.
Die Änderungen des Meßsignals hängen von der Menge der Teilchen oder Photonen ab, die pro Zeiteinheit nachgewiesen wer-
; den, und von der Energie, die die Teilchen oder Photonen verlieren.
Die Schwankungen in der Schwächung des einfallenden Flusses entsprechen dem durchgelassenen oder reflektierten
Fluß. Diese werden mit den Schwankungen in der Dicke oder mit dem Gewicht des flachen Produkts korreliert und folglich ermöglicht
das Meßsignal, die Dicke oder das Gewicht (spezifische Gewicht) des flachen Produkts zu messen.
Es sind zwei Typen derartiger Meßvorrichtungen bekannt, die jQ der vorstehenden Definition entsprechen:
- Der erste Typ arbeitet im Durchstrahlungsverfahren. Er
weist einen Empfänger auf, dessen Detektor sich an der anderen Seite des flachen, zu messenden Produkts befindet,
und zwar bezogen auf die Strahlenquelle, um die vom
1g Produkt abgeschwächte Strahlung zu empfangen,
- der zweite Typ arbeitet mit Rückstreuung und weist einen Empfänger auf, dessen Detektor sich an derselben Seite
wie die Strahlenquelle befindet, bezogen auf das flache zu messende Produkt, um die Strahlung aufzunehmen, die in
2Q abgschwächter Form vom flachen Produkt reflektiert wird.
Die Meßvorrichtungen mit Rückstreuung werden vor allem eingesetzt,
um die Dicke einer Beschichtung zu messen, die sich auf einem Träger befindet, oder auch die Dicke eines flachen Produkts,
das nur von einer Seite her zugänglich ist, beispielsweise aus Fabrikationsgründen.
Für radiometrische Messungen gibt es zwei Typen von Sendern, nämlich
OQ - Sender für Photonenstrahlen (Röntgenstrahlen X oder Gammastrahlen
&ggr;), d. h. also mit einer Wellenlänge, die im wesentlichen zwischen 5 &khgr; 10"4 und 5 ran liegt.
Sender für ,Teilchenstrahlen (/3-Strahlen; positive oder negative Elektronen), oder auch für &agr;-Strahlen (Heliumkerne).
Sender für ,Teilchenstrahlen (/3-Strahlen; positive oder negative Elektronen), oder auch für &agr;-Strahlen (Heliumkerne).
^ ; Eine der wesentlichen Beschränkungen der bekannten Meßvorrichtungen,
die auf Strahlenbasis arbeiten, ist die Meßgenauigkeit.
Verschiedene Faktoren beeinflussen die Meßgenauigkeit. Bei den heute gebräuchlichen Geräten ist der Hauptgrund für die Ungenauigkeiten
in den statistischen Schwankungen der ausgesendeten Strahlungen begründet. Die Teilchen oder Photonen werden
zufällig ausgesendet und die Menge der pro Zeiteinheit ausge-2Q
sendeten Strahlung kann also schwanken.
Die auf den statistischen Schwankungen beruhenden Ungenauigkeiten hängen von der Dicke des flachen Produkts ab, von der
Art und den jeweiligen Anteilen der Atome, die das flache ,p- Produkt ausbilden, und auch von der Art der verwendeten Strahlung,
schließlich auch vom Emissionsgrad der Strahlenquelle und von der Meßzeit:
Die Meßzeit und der Emissionsgrad der Quelle sind zwei miteinander verbundene Größen. Wenn N die mittlere Anzahl
2Q der pro Zeiteinheit ausgesendeten Partikel ist und T die Meßzeit, so beträgt die Gesamtmenge der pro Zeiteinheit
ausgesendeten Teilchen NT. Die Aussendung eines Teilchens ist vom Charakter "alles oder nichts". Der Spannentyp
bei diesem Mittel gehorcht also einem binominalen Gesetz und ist also gleich VNT. Die Meßgenauigkeit ist
also eine Funktion dieses Parameters VNT.
- Die anderen Parameter - Dicke des flachen Produkts, Art des flachen Produkts, Art des Senders - tragen ebenfalls
zur Genauigkeit der Messung bei, und zwar mit der Fähig-3q
keit, die das flache Produkt hat, die einfallende Strahlung zu absorbieren.
Bezüglich der Dicke kann gesagt werden, daß, wenn es sich um geringe Dicken handelt, daß dann die das flache Produkt durchgg
querende Strahlung das Produkt praktisch nicht "sieht". Die durchgelassene Strahlung ist daher sehr nahe gleich der einfallenden
Strahlung. Daraus ergibt sich ein Meßsignal, das
wenig repräsentativ ist für die Dicke des flachen Produkts. Ganz entgegengesetzt wird bei dicken Gegenständen die Strahlung
praktisch angehalten und im flachen Produkt absorbiert. Jetzt ist also die gestreute oder durchgelassene Strahlung zu
schwach, um ein Meßsignal zu ergeben, das für die Dicke des flachen Produkts signifikant ist. In beiden Fällen ist die
Meßgenauigkeit also sehr schlecht.
Bezüglich der Art des Senders kann folgendes ausgeführt werden. Wenn die Teilchen oder Photonen zu durchdringend sind, so
ist die Wahrscheinlichkeit, daß sie mit dem flachen Produkt reagieren, vernachlässigbar. In diesem Fall können daher die
einfallende Strahlung und die durchgelassene Strahlung beide sehr nahe benachbart sein. Umgekehrt, wenn die Teilchen oder
Photonen sehr wenig durchdringend sind, dann ist die durch-
gelassene Strahlung ein vernachlassigkbarer Bruchteil der
einfällenden Strahlung.
In Bezug auf die Art des flachen Produkts kann folgendes ausgeführt
werden. Die Wahrscheinlichkeit der Reaktion hängt von der Art der Bestandteile des flachen Produkts ab. Beispielsweise
Röntgenstrahlen reagieren sehr empfindlich auf diese Zusammensetzung. Bei konstanter Dicke und für dieselben Röntgenstrahlen
kann man eine praktisch vernachlässigbare Reaktionswahrscheinlichkeit haben oder auch umgekehrt kann man
auch praktisch sicher sein, je nach der Natur und Art des flachen Produkts. Auch hier ist in beiden Fällen die Genauigkeit
sehr schlecht.
Folglich, wenn die Art und die mittlere Dicke eines flachen Produkts bekannt sind, kann eine gute Genauigkeit erhalten
werden, wenn der Typ des Senders und dessen Energie geeignet ausgewählt werden, wobei der beste Kompromiß getroffen werden
muß einerseits zwischen der Strahlungsintensität der höchsten Strahlung und den Kosten für die Strahlung und andererseits
zwischen der längstmöglichen Meßzeit und den Anforderungen an die Meßgeschwindigkeit und an eine gute Regelung beispiels-
• ·
weise,
Die folgende Tabelle erläutert die Meßgenauigkeit bei einigen typischen Fällen, wobei statistische Schwankungen berücksichtigt
wurden. (Die einfallende Strahlung ist gleich 107 Photonen X pro Sekunde und die Meßzeit beträgt 10 ms.)
Werkstoff | X-Strahlen- | 10 | 10 | Dicke (jum) | Meßgenauig |
energie (keV) | keit (%) | ||||
Polypropylen | 4 | 5 | 9 | ||
100 | 1.1 | ||||
500 | 0.53 | ||||
4 | 5 | (vernachläs | |||
sigbare Ab | |||||
sorption) | |||||
100 | 8.1 | ||||
500 | 1.75 | ||||
Aluminium | 5 | 0.83 | |||
100 | (Strahlung | ||||
vollständig | |||||
absorbiert) | |||||
500 | (Strahlung | ||||
vollständig | |||||
absorbiert) | |||||
5 | 9.4 | ||||
10 | 0.65 | ||||
500 | 0.511 |
Die Meßvorrichtungen für eine Strahlung (Röntgenstrahlung X) benutzen als Strahlenquellen Radioisotope. Unter Berücksichtigung
der zahlreichen zur Verfügung stehenden Strahlenquellen erscheint es möglich, das Radioisotop in Abhängigkeit von der
. I Art und/oder von der Dicke des zu messenden flachen Produkts
auszuwählen, um nach den obigen Prinzipien ein Meßsignal zu erhalten, das tatsächlich repräsentativ für die Oberflächendichte
oder für die Dicke ist. Jedoch ist man sehr häufig sehr c weit vom Optimum der Meßgenauigkeit entfernt, das man theoretisch
erreichen könnte. Die Gleichung flaches zu messendes Produkt/radioisotopische Strahlenquelle ist selten optimal.
Das beruht darauf, daß relativ wenige Isotope verwendet werden können. Wenn auch theoretisch mehrere Hundert Radioisotope in
-0 Frage kommen und wenn auch der Bereich der zur Verfügung stehenden
Energien sehr breit ist, so schränken doch mehrere Bedingungen drastisch die Anzahl der praktisch zur Verfügung
stehenden Radioisotope ein:
- Die Lebensdauer, die von der radioaktiven Periode wiedergegeben wird; man benötigt eine relativ lange Periode
für industrielle Anwendungen (wenigstens ein Jahr); sehr zahlreiche Radioisotope haben Perioden, die von einigen
Millisekunden zu einigen Minuten reichen, auch zu einigen Stunden oder Tagen,
on - man muß eingegossene (ungefährliche) Radioisotope finden;
es ist notwendig, daß die Aktivität der Quelle ausreicht; Quellen mit Aktivitäten von einigen Mbq können beispielsweise
nicht benutzt werden.
Die Gesamtheit dieser Bedingungen verringert die Anzahl der zur Verfügung stehenden Radioisotope auf etwa ein Dutzend im
Fall von auf Radioisotopen beruhenden Meßvorrichtungen. Heute kennt man die folgenden Radioisotope:
Radioisotopen | Strahlung | Flaches Produkt |
quelle | Typ Energie* | (beispielsweise) |
Promethium 147 | &bgr; 0,23 MeV | Dünne Kunststoffe |
typisch von 5 bis | ||
13 0 &mgr;&eegr; | ||
Krypton 85 | &bgr; 0,67 MeV | dickere Kunst |
stoffe | ||
0 - 1200 g/m2 | ||
Eisen 55 | &khgr; 5,9 keV | Magnetoxide |
auf Polyester | ||
(0-50 &mgr;&idiagr;&eegr;) | ||
Aluminiumblatt | ||
(O-lOO/Mi) | ||
Strontium 90 | &bgr; 2,2 MeV | dicke Kunststoffe |
200-7000 g/m2 | ||
Curium 144 | x 15/19/22 keV | dünne Metallblätt- |
chen, beispiels | ||
weise Aluminium | ||
(0-5 mm) | ||
Americium 241 | &khgr; 60 keV | Stahlblätter |
(0,5 mm) | ||
Kautschuk | ||
Caesium 137 | &ggr; 661 keV | dicke Metallblät |
ter | ||
Kobalt 60 | &ggr; 1,17/1,33 | sehr dicke Metall |
MeV | blätter |
(*) für /3-Strahlen wird die maximale Energie des Emissionspektrums
angegeben.
Wenn es sich um ein flaches Produkt mit verhältnismäßig geringer
Dicke handelt, beispielsweise um ein Kunststoffblatt mit
einer Dicke von etwa 10 Mikrometer, so können lediglich ßp·
Strahlenquellen als Radioisotopen-Strahlenquellen verwendet werden. Eine annehmbare Genauigkeit kann nur bei Verwendung
von Promethium 147 erreicht werden. ß-Strahlen von Krypton 85
beispielsweise sind schon zu durchdringend für diesen Einsatzzweck. Ganz dasselbe trifft zu auf Strahlen (Röntgenstrahlen)
von Eisen 55, deren Energie bei 5,9 keV liegt und dies sind viel zu stark durchdringende Strahlungen für die Messung dünner
Kunststoffe. Die einzige Rontgenstrahlenquelle, die eine genaue Messung ermöglicht, ist Calcium 4 0 (in der Größenordnung
von 4 keV) , aber hier wiederum ist die Intensität viel zu
schwach.
15
15
Aber die Verwendung von Promethium 147 hat auch Nachteile, die im folgenden erläutert werden.
Zunächst muß darauf hingewiesen werden, daß /3-Teilchen mit
verhältnismäßig geringer Energie empfindlich auf die Luftsäule reagieren, die zwischen der Strahlenquelle und dem Kunststoffblatt
besteht und auf die Luftsäule, die zwischen dem Kunststoffblatt und dem Detektor vorliegt, weil die gleichen Teilchen
einen Teil ihrer Energie in Luft verlieren. Das Emissionsspektrum
der /3-Strahlen ist kontinuierlich - es geht von der Energie Null bis zu einer maximalen Energie - und das
Maximum der Energieverteilung liegt etwa auf einem Drittel der Maximalenergie; eine Luftsäule hält alle /3-Strahlen geringer
Energie im unteren Teil des Spektrums an. Folglich reagiert
das empfangene Meßsignal empfindlich auf Schwankungen in der
Luftdichte und also auch auf Temperaturschv/ankungen. Eine derartige Abhängigkeit kann nicht vernachlässigt werden, insbesondere
wenn sie im Umfeld der Produktion auftritt, wo Wär-„ mequellen oder Kältesysteme in der Nähe der Meßvorrichtung
vorhanden sein können, mit der die Dicke gemessen werden soll.
j ' Der Meßbereich ist auch relativ begrenzt; er liegt zwischen
etwa 5 und 13 0 &mgr;&igr;&agr;, wodurch jedwede Standardisierung der Meßvorrichtungen
für einen fühlbaren Meßbereich unmöglich wird.
Darüber hinaus diffundieren die ß-Teilchen mit geringer Energie
und gehen zu fühlbaren Anteilen in der Luft verloren. Auch wenn daher der Abstand zwischen der Strahlenquelle und dem
Detektor verhältnismäßig gering ist, beispielsweise in der Größenordnung von 2 bis 3 cm Durchmesser, und auch bei einer
^q gut fokussierten Strahlenquelle (0,5 cm Durchmesser beispielsweise)
, so empfängt der Detektor eine geschwächte Strahlung mit einem Querschnitt oder Spot in der Größenordnung von 4 5
cm Durchmesser. Das macht eine räumliche Auflösung, die besser als die letztgenannten Werte ist, unmöglich. Weiterhin,
bei zahlreichen industriellen Prozessen, die kontinuierlich Ib
ablaufen, und bei denen die Dickemessung zu Regelzwecken eingesetzt
wird, müssen die Messungen in kurzen Intervallen erfolgen, beispielsweise in der Größenordnung von 2,5 cm. Auch
hier handelt es sich also um eine bedeutende Einschränkung n beim Einsatz von /3-Strahlenquellen.
Es muß auch darauf hingewiesen werden, daß die Streuung und die Dispersion der ß-Strahlen bei deren Weg in der Luft und in
der Materie ebenfalls die Meßgenauigkeit verringern. Desgleichen sind auch die statistischen Schwankungen bei der Aussendung
der ß-Strahlen, wie vorstehend erläutert, eine Quelle für
Ungenauigkeiten. Insoweit besteht auch ein statistischer Fehler, der auf dem zufälligen Charakter der Interaktion der ß-Strahlen
beruht:
- Der Energieverlust eines jß-Strahls bei einem bestimmten
Weg verteilt sich um einen mittleren Wert,
es besteht eine sehr große Dispersion beim Weg der ß-Strahlen, ausgehend von der Quelle, was sich sehr stark auf den Energieverlust auswirkt,
es besteht eine sehr große Dispersion beim Weg der ß-Strahlen, ausgehend von der Quelle, was sich sehr stark auf den Energieverlust auswirkt,
gg - die Winkeldispersion der ß-Strahlung spielt hier ebenfalls
eine Rolle wie auch die Anzahl der ß-Strahlen, die in den Detektor eindringen zufällig ist, mit einer Dis-
persion um den Mittelwert, die absolut nicht mehr vernachlässigt werden kann.
Man muß auch darauf hinweisen, daß, wenn man Promethium-Quellen mit konsequenter Aktivität (bis 0,5 Ci) erhalten kann,
dies schlußendlich immer noch zu geringe Aktivitäten oder Strahlungsintensitäten sind, beruhend auf den vorstehend diskutierten
statistischen Effekten, insbesondere für flache Produkte relativ geringer Dicke, wie Kunststoffolien mit einer
Dicke von etwa 10 &mgr;&pgr;&igr;.
Wie vorstehend erläutert gilt folgendes, und zwar sowohl für eine Photonenquelle X wie auch für eine Teilchenquelle &bgr; &igr; Je
kleiner die Ansprechzeit ist, um so größer muß die Aktivität oder Strahlungsintensität der Quelle sein, wenn man eine riehtige
Genauigkeit erzielen will, beispielweise eine Genauigkeit kleiner als einige Prozent, und dies unabhängig von der Dicke
des flachen und zu messenden Produkts.
Auch sind typische Transportgeschwindigkeiten für Kunststoffbänder
oder Kunststoffilme sehr hoch und können beispielsweise Lineargeschwindigkeiten in der Größenordnung von 10 m pro
Sekunde erreichen.
?F- Berücksichtigt man eine derartige Geschwindigkeit, so ist die
Meßzeit oder die Antwortzeit der Meßvorrichtung im allgemeinen kürzer oder gleich 2 0 ms, um ein gutes Abtasten des sich bewegenden
Bandes zu erreichen und/oder um eine ausreichende Anzahl von Messungen zwischen zwei Steuerungsorganen für die
Dicke durchzuführen.
Als Beispiel sei erläutert, daß eine Promethium-Strahlungsquelle eine maximale Aktivität von 0,5 Ci hat, was einem abgegebenen
Strahlenfluß von 1,85 &khgr; 1010 Teilchen pro Sekunde entspricht.
Berücksichtigt man den festen Winkel für die Streuung der Teilchen und die Absorption dieser Teilchen in der Luftsäule
zwischen der Strahlungsquelle und dem Detektor, so kön-
nen nur noch &Igr;&Ogr;8 Teilchen den Detektor erreichen. Unter Berücksichtigung
bekannter mathematischer Beziehungen, die die Meßgenauigkeit in Abhängigkeit von der Wahrscheinlichkeit des
Eindringens der betrachteten Teilchen wiedergeben, und zwar bei einem bekannten Material, ferner unter Berücksichtigung
der Dicke des durchstrahlten Materials, der Meßzeit und der Anzahl der pro Sekunde nachgewiesenen Teilchen, wenn das Material
sich nicht zwischen der Strahlungsquelle und dem Detektor befindet, und unter Berücksichtigung des zufälligen Effekts,
der aus der Interaktion der Strahlung mit der Materie beruht, kann man berechnen, daß es unter diesen Bedingungen unmöglich
erscheint, ausreichend genau zu messen und eine Meßgenauigkeit kleiner oder gleich einige Prozent und eine Meßzeit kleiner
oder gleich 20 ms zu erhalten. Dies wird auch durch die Spezifikationen bestätigt, die die Konstrukteure bekannter Meßvorrichtungen
angeben. Typischerweise gibt es hier eine Meßgenauigkeit von 6 % bei einer Anspruchzeit von 100 ms, wobei Promethium
147 verwendet wird, und zwar für einen Kunststoffilm mit einer Dicke vom 5 Mikron. Bei 2 0 ms fällt die Meßgenauigkeit
auf 13,5 % ab und bei 10 ms · beträgt sie 19 %, immer bezogen auf den gleichen Kunststoffilm.
Weiterhin hat die Verwendung einer radioaktiven Strahlenquelle zahlreiche Nachteile bei ihrem Einsatz und dieser Gesichtspunkt
geht noch über das vorstehend gesagte hinaus.
Man benötigt eine offizielle Genehmigung für den Betrieb radioaktiver Strahlenquellen oder künstlicher Radioelemente.
- Die Stahlenquellen müssen homolog sein,
- ihre Verwendung ist nur unter Beachtung strenger Sicherheitsvorrichtung
möglich, usf.
Immer noch bezogen auf radiometrische Meßvorrichtungen zum berührungslosen Messen können zwei Typen von Empfängern aufgeführt
werden, die bis heute vorgeschlagen oder beschrieben wordne sind, nämlich:
- Meßvorrichtungen mit einem Detektor, der aus einer Ionisationskammer
besteht,
- Meßvorrichtungen mit einem Photomultiplikator.
Eine Ionisationskammer ist ein Detektor ohne innere Verstärkung. Jede Interaktion im Gas der Ionisationskammer konkretisiert
sich durch das Erscheinen einer gewissen Anzahl von Elektronen/Ionen-Paaren. Wenn die Anzahl der Interaktionen
ausreicht, wird eine ausreichende Anzahl von Paaren erzeugt, jQ um einen meßbaren Elektronenstrom abzugeben.
Der Hauptvorteil der Ionisationskammer ist ihre große Stabilität wie auch ihre Robustheit.
, p- Im Gegensatz dazu hat die Ionisationskammer zwei Nachteile:
- Ionisationskammern müssen minutiös hergestellt werden. Insbesondere muß man sorgfältig darauf achten, daß die
metallischen Wände vor dem Einfüllen des Gases geeignet desorbiert werden. Dies ist sehr zeit- und kostenaufwendig/
- der zweite Nachteil beruht darauf, daß die Wanderung der
Ionen im Gas relativ langsam vonstatten geht. Dies hat zur Folge, daß die Ansprechzeit bei diesem Detektorentyp
begrenzt ist. Andererseits bei sehr hohen Strömen sammeln 2g sich die Ionen und die sich daraus ergebenden Aufladungen
im Raum können die Zuverlässigkeit der Messung stark beeinträchtigen.
Ein Photomultiplikator ist ein Detektor mit interner VerstäroQ
kung, weil ein auswertbares Meßsignal ausgehend von der Interaktion
eines einzigen Teilchens erhalten werden kann. Der sich daraus ergebende Strom ist aber wenig stabil, weil der innere
Verstärkungsvorgang statistischen Schwankungen unterworfen ist.
Dieses Problem der Stabilität kann man beseitigen, indem die Ereignisse individuell gezählt werden. Jedoch in sehr vielen
; 14
■ Fällen, insbesondere wenn das flache Produkt sehr dünn ist,
ergibt es sich, daß eine Zählung überhaupt unmöglich ist, und zwar weil aus Gründen der Meßgenauigkeit höhere Strahlungsintensitäten
notwendig sind, nämlich höher 106 Teilchen pro
g Sekunde. Jenseits dieses Werts ist es sehr schwierig, ein
System zu realisieren, das eine zuverlässige Zählung ermöglicht.
Zusammengefaßt kann also als Ergebnis der erschöpfenden techjQ.
nischen Untersuchung radiometrischer berührungsloser Meßvorrichtungen für die Oberflächendichte oder für die Dicke eines
ebenen Produkts festgestellt werden, daß heute keine zufriedenstellende technische Lösung erhältlich ist, um die Dicke
eines relativ dünnen Kunststoffblatts oder -films zu messen, . c beispielsweise in der Größenordnung von etwa 10 &mgr;&idiagr;&eegr;, wobei das
Material kontinuierlich transportiert wird, welcher Sachverhalt bei industriellen Produktionsverfahren sehr häufig anzutreffen
ist, so daß heute käufliche derartige Meßvorrichtungen nicht für alle Einsatzgebiete zufriedenstellend arbeiten.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde,
eine Meßvorrichtung der eingangs genannten Art vorzuschlagen, mit deren Hilfe es möglich ist, die Grenzen herkömmlicher
Meßvorrichtungen zu überschreiten, und zwar in Bezug auf einen „[- dünnen, kontinuierlich transportierten Kunststoffilm, wobei
die Erfindung auf dieses Einsatzgebiet aber nicht beschränkt sein soll.
Erfindungsgemäß hat man zunächst entdeckt, daß im vorstehend
erläuterten schwierigsten Fall eine Strahlung X (Röntgenstrahlung) verwendet werden kann, wobei die Eigenschaften aber
fühlbar abgeändert werden bezogen auf diejenigen, die bisher für das kontaktlose Messen eingesetzt wurden.
g5 Man kann tatsächlich von einer Entdeckung sprechen, weil man
sehr gut weiß, daß die Schwächung einer Strahlung X in einem Material mit der Ordnungszahl Z des Materials abnimmt. Bei
j ! herkömmlichen Kunststoffen mit verhältnismäßig niedriger Ordnungszahl
und insbesondere bei gewissen dieser Kunststoffe (beispielsweise bei Polypropylen) liegt Wasserstoff in einem
hohen Anteil vor und man kann daher erwarten, daß ein Kunst-
[- toffmaterial praktisch transparent für eine Strahlung X ist
und daher sich jedwede Dickemessung verbietet.
Es ist aber ein Teil der vorliegenden Erfindung, erkannt zu haben, daß durch Anpassung der Merkmale der Strahlung X diese
,Q eingesetzt werden kann, und zwar auch für den vorstehend erläuterten
schwierigsten Fall, aber auch für die anderen üblichen Meßanwendungen.
Erfindungsgemäß besteht diese Anpassung in folgendem:
Für einen Sender der Strahlen X, der aus einer Röntgenstrahlenröhre
besteht, wird eine besondere Antikathode ausgewählt derart, daß das Material, aus dem diese besteht,
eine Ordnungszahl Z gleich oder größer als 50 hat,
vorzugsweise größer als 70, daß das Material weiterhin &Dgr; U
eine gute thermische Leitfähigkeit besitzt und einen erhöhten Schmelzpunkt; diese Bedingungen, zusammen mit
der Notwendigkeit, ein marktübliches Material einzusetzen, begrenzt in der Praxis die Möglichkeiten auf Wolfram
(Z = 74, thermische Leitfähigkeit &rgr; = 1,77 WcItT1K"1,
Schmelzpunkt p.f. = 3410° C) und eventuell auch auf Tantal (Z = 73, &rgr; = 0,574 WCm-1K"1, p.f. = 2996°C) , auf Rhenium
(Z = 75, &rgr; = 0,486 Wcm-'K"1, p.f. = 31800C), auf Iridium
(Z = 77, &rgr; = 1,48 WCm-1K"1, p.f. = 24100C), auf Platin (Z
3Q = 78, &rgr; = 0,717 WCm-1K"1, p.f. = 1772 0C) und auf Gold (Z =
79, &rgr; = 3,19 Wcm-'K"1, p.f. = 10640C),
Ein Organ für die Einstellung oder Regelung der Spannung zwischen der Kathode und der Antikathode der Röntgenstrahlenröhre
vorzusehen derart, daß diese in einem vorbestimmten und relativ niedrigen Spannungsbereich arbeitet
(beispielsweise zwischen 3,7 und 5 kV, wenn es sich um die Messung dünner plastischer Filme handelt in der
16
&igr; Größenordnung von 10 &mgr;&igr;&agr; Dicke) ,
■ - Es muß auch ein Emissionspektrum für die X Strahlen
(Röntgenstrahlen) erhalten werden, das im wesentliche aus einer Bremsstrahlung besteht. Das Spektrum der erhaltenen
p. Röntgenstrahlen ist also kontinuierlich. Es ist zu den
hohen Energien durch eine maximal« kinetische Energie der Elektronen begrenzt, die auf das Ziel auftreffen, d.h.
durch die Beschleunigungsspannungen zwischen der Kathode und der Antikathode. Wenn im Prinzip auch Röntgenstrahlen
n sehr niedriger Energie ebenfalls ausgesendet werden, so
ist das Spektrum nur oberhalb von etwa 2,5 keV bemerkbar. Die Röntgenstrahlen niedriger Energie werden entweder von
der Antikathode selbst oder von dem Ausgangsfenster der Röhre angehalten. Das Spektrum hat keine charakteristischen
Strahlen Ka oder KjS, welche Strahlen nur bei sehr
viel höheren Hochspannungen erzeugt werden in der Größenordnung von 7 0 kV und mehr im Fall einer Auftreffplatte
aus Wolfram.
Weiter unten wird gezeigt, daß ein solches Spektrum es ermöglicht,
einerseits über ein ausreichend intensives Bremsspektrum zu verfügen, dessen Intensität für eine gute Präzision
ausreicht, bezogen auf die ins Auge gefaßten Messungen. Des weiteren kann die obere Grenze des Spektrums in Abhängigkeit
von dem zu messenden flachen Produkt angepaßt werden und insbesondere in Abhängigkeit von der gewünschten Schwächung, um
der gewünschten optimalen Präzision zu entsprechen, und dies ist möglich lediglich durch Abänderung der Spannung Kathode/-Antikathode.
Beispielsweise für sehr dünne Kunststoffilme, beispielsweise
aus Polypropylen mit einer Dicke typischerweise kleiner als 300 /xm, beschränkt man sich auf eine Hochspannung zwischen
etwa 3,7 und 5 kV. Eine höhere Hochspannung bringt den Nachteil mit sich, Röntgenstrahlen mit Energien größer als 5 keV
zu erzeugen, für die der Kunststoff praktisch transparent ist. Eine Hochspannung kleiner als etwa 3,7 keV kann nicht verwen-
det werden, weil, wie vorstehend schon erläutert, die Strah-
: lung im Ziel, im Ausgangsfenster der Röhre und im Eintrittsfenster
des Detektors geschwächt wird. Weiterhin, weil der Wirkungsgrad der Erzeugung der Bremsstrahlung mit dem Quadrat
der Hochspannung schwankt (bei konstantem Anodenstrom) ist die
abgegebene Strahlungsmenge mit Sicherheit nicht ausreichend, wenn die Hochspannung zu klein ist (kleiner als etwa 3,7 keV) .
Die Materialwahl der Ordnungszahl, die für die Antikathode so groß wie möglich sein soll, beruht darauf, daß der
Wirkungsgrad der Strahlungserzeugung für die Bremsstrahlung proportional zur Ordnungszahl ist. Ein Ziel aus
Wolfram erzeugt etwa 2,5 mal mehr Strahlung als ein Ziel aus Kupfer und vier mal mehr als ein Ziel aus Calcium
beispielsweise.
15
15
Die Beschränkung auf eine gute thermische Leitfähigkeit
und auf einen hohen Schmelzpunkt beruht darauf, daß, abhängig vom jeweiligen Fall, 99 bis 99,99 % der Energie
der beschleunigten Elektronen in der Antikathode in Wärme
umgewandelt werden, wodurch diese stets stark erhitzt 20
wird.
Bei einem anderen wichtigen Aspekt der Erfindung, der wirksam mit den vorstehend erläuterten Merkmalen in Bezug auf die
Strahlung zusammenarbeitet, ist der Detektor eine Vakuum-Photodiode. Dieses Merkmal umfaßt in an sich bekannter Weise:
einen Szintillationskristall, beispielsweise aus Natriumjodid, der die auf treffende Energie nach der Abschwächung
im flachen Produkt in Licht umwandelt,
- eine Photokathode, die das Licht in Elektronen umwandelt, 30
und eine Vakuumröhre mit einer Anode unter geringer Spannung (beispielsweise 20 Volt) , um die Elektronen zu sammeln,
wobei man mit Hilfe dieser Mittel ein elektrisches Meßsignal vom Stromtyp erhält.
In Bezug auf die anderen Detektoren, die in der Beschreibungseinleitung
diskutiert worden sind, wirkt die Vakuum-Photodiode
i 18
wie ein Photomultiplikator, aber ohne innere Verstärkung, d.h. also sie arbeitet viel stabiler. Ein derartiger Detektor erscheint
voll und ganz für eine erfindungsgemäße Meßvorrichtung
geeignet, weil er genau ist, wenig Platz einnimmt und relativ - schnell auf eine Strahlungsschwankung der empfangenen X-Strahlen
reagiert.
Im folgenden wird das Verhalten des Elementenpaars Sender der X-Strahlen/Vakuum-Photodiode untersucht, wobei die charakteristische
Emission einer Antikathode mit kleinem Atomgewicht verwendet wird und wobei die Bremsstrahlung eines Ziels mit
hoher Ordnungszahl Z vorliegt.
Die Verwendung der charakteristischen Strahlung ist nicht sehr geeignet, wenn das zu messende Material ein dünnes Kunststoff-5
teil ist. Eine charakteristische Strahlung mit sehr niedriger Energie kann ins Auge gefaßt werden, wenn Antikathoden mit
einer Ordnungszahl Z nahe 2 0 eingesetzt werden. Die von Materialien mit Ordnungszahlen kleiner als 20 ausgesendeten X-Strahlen
sind viel zu stark von den Fenstern der Röntgenstrahlenröhre und des Detektors geschwächt. Daraus folgt, daß die
Materialien, die die Aussendung der weichsten X-Strahlen ermöglichen, die mit einer industriellen Anwendung vereinbar
sind, das Calcium ist (Z = 20, Ka = 3,7 keV) und Titan (Z =
22, Ka = 4,5 keV). In Bezug auf sehr dünne Plastikteile
(< &Igr;&Ogr;&mgr;&tgr;&eegr;) , so ist die beste Wahl natürlich eine Antikathode aus
Calcium. Diese Möglichkeit wurde getestet und die Versuche zeigen, daß das Meßsignal (Meßstrom) auszureichen scheint,
(Fig. 1 zeigt den Strom des Detektors in pA gemessen in Abhängigkeit
vom Abstand zwischen dem Sender für die X-Strahlen 30
und dem Detektor gemessen in cm.) mit einer Hochspannung von 9 kV und für einen maximalen Anodenstrom (hier 0,2 mA), wobei
das Emissionsspektrum unglücklicherweise von einem großen Anteil der Bremsstrahlung verschmutzt ist. (Fig. 2 zeigt das
Energiespektrum in keV der abgegebenen Strahlung.) Die Bremsstrahlung ist zu durchdringend, um an der Messung des dünnen
Kunststoffs teilzunehmen, beaufschlagt aber die Fotodiode mit
•ix
&idigr; ~ '" : 19
einer unbrauchbaren Information. Bei der kleinsten Spannung, 5 kV beispielsweise, ist die Abschwächung im Kunststoff viel
besser, aber der Strom in der Photodiode ist jetzt schwach (ungefähr 2 5 pA bei einer Entfernung von 4 cm zwischen Röhre
_ und Detektor).
Eine stärkere Rontgenstrahlenrohrung als diejenige, die für
die Untersuchungen verwendet wurde, könnte auch benutzt werden. Zur Erleichterung der elektronischen Behandlung muß man
Ströme in der Größenordnung von Nano-Ampere anstreben. Man benötigt also eine Röntgenstrahlenröhre, die Anodenströme in
der Größenordnung von 5 mA abgibt. Nach Kenntnis der Anmelderin
gibt es im Handel keine derartige Röntgenstrahlenröhre, die die Leistung und das Ziel aus Calcium miteinander kombiniert.
Es ist aber nicht gesagt, daß eine solche Röhre reali-15
siert werden kann, weil die Schmelztemperatur von Calcium lediglich 839°C beträgt. Jedenfalls ist eine Wasserkühlung
notwendig, auch wenn die abgegebene Leistung etwa 20 Watt nicht überschreitet.
Die erfindungsgemäß vorgesehene Verwendung der Bremsstrahlung
war auch Gegenstand von Berechnungen und von Tests. In Fig. 3 (Anzahl der Photonen X in Abhängigkeit von der Energie in keV)
ist die Form des berechneten Spektrums aufgezeichnet, während die Antikathode aus Wolfram besteht mit einer· Hochspannung von
1,4 kV und mit einem Strom der Wendel von 5 mA. Das Fenster des Detektors entspricht 2 00 ßm Beryllium und das Fenster der
Röhre besteht aus 300 &mgr;&idiagr;&eegr; Beryllium. Der Abstand zwischen der
Röntgenstrahlenröhre und dem Detektor liegt hier bei 4 cm.
Unter Benutzung derselben Parameter zeigt Fig. 4 den erhaltenen Strom in Ampere in Abhängigkeit von der in &mgr;&tgr;&agr; aufgetragenen
Dicke des Kunststoffmaterials (aus Polypropylen), das zwischen Sender und Detektor angeordnet ist. Der Strom liegt
auch hier über 1 nA. Dadurch ist also eine leichtere elektro-35
nische Behandlung der Signale möglich. In Abhängigkeit von der Dicke des Kunststoffilms in /im zeigt Fig. 5 die statistische
j : 20;
Genauigkeit in Prozent. Die Fig. 6 und 7 zeigen die Wirkung einer Schwankung der Hochspannung der X-Röhre von 1/10000 und
anschließend des Anodenstroms (1/10000 ist ein sehr realistisches Regelungsniveau). Es ist klar, daß bei allen kumulierten
Schwankungen die globale Genauigkeit des Systems größer als einige Prozent ist (ungefähr 2 %) . Fig. 8 schließlich zeigt
die Schwankungen des erhaltenen Meßsignals (in &mgr;&ngr;") bei einer
Schwankung der Dicke von 1.%, ebenfalls in Abhängigkeit von
der Dicke in &mgr;&idiagr;&eegr;. Die kleisten Schwankungen (für die dünnsten
Materialien) sind fühlbar größer (um eine Größenordnung) als die kleinste tragbare Schwankung für einen Analog/Digitalwandler
von 14 bit und stärker als einer von 16 bit.
Alle Tests und Berechnungen zeigen darüber hinaus, daß die Ergebnisse umso besser sind als die X-Strahlen im Teil des
Bremsspektrums mit niedriger Energie an der Messung teilnehmen.
Zu diesem Zweck muß unbedingt die Abschwächung in den Fenstern der Rontgenstrahlenrohre und des Detektors verringert
werden. Dies erfolgt dadurch, daß ein Austrittsfenster aus Beryllium verwendet wird, das eine Dicke von 440 &mgr;&pgr;\ bei der
Röhre nicht überschreitet und beim Detektor ein zusammengesetztes Eintrittsfenster, das absolut dicht ist, insbesondere
wasserdicht, um den Schutz des sehr hygroskopischen NaI sicherzustellen. Das Eintrittsfenster hat für weiche X-Strahlen
(> 2,5 keV und < 5 keV) keine Abschwächung, die größer ist als 400 /xm Beryllium und es ist bespielsweise äquivalent 200 &mgr;&idiagr;&eegr;
Beryllium.
Die Gesamtheit dieser Ergebnisse zeigt, daß die Verwendung der Bremsstrahlung, die von einer Antikathode mit hohem Atomgewicht
(beispielsweise Wolfram) ausgesendet wird, sehr gut an die Messung der Dicke sehr dünnen Materials angepaßt ist,
beispielsweise von Kunststoffmaterial mit einer Dicke von etwa 10 &mgr;&igr;&eegr;, unter der Bedingung, daß eine Hochspannung unter einem
geeigneten Wert gehalten wird. Dies trifft natürlich auch auf ob
dickere Materialien zu.
Insgesamt vermeidet die erfindungsgemäße Meßvorrichtung die
hauptsächlichen Nachteile der Meßvorrichtungen nach dem ß- ! Strahlprinzip:
Wenn die Meßvorrichtung nicht mehr gebraucht wird, gibt
es keine Teilchenstrahlen, wodurch Sicherheitsprobleme fühlbar erleichtert werden. Das gilt auch für Probleme
mit dem Schutz und mit behördlichen Vorschriften.
- Die Meßvorrichtung ist wenig temperaturempfindlich, weil
praktisch keine X-Strahlen mit Energien kleiner als 2 keV die Röhre verlassen, während ganz im Gegenteil beispielsweise
bei einer Strahlenquelle aus Promethium 147 am Ausgang /3-Strahlen mit einer Energie praktisch gleich
Null vorliegen.
Die räumliche Auflösung liegt in der Größenordnung von
cm, d.h. sie ist um eine Größenordnung besser als bei 15
herkömmlichen Systemen, die eine Ionisationskammer benutzen.
Der Meßbereich ist sehr groß, weil es genügt, die Hochspannung etwas zu erhöhen, um dickere Materialien messen
zu können. Das System ermöglicht typischerweise präzise Messungen in der Größenordnung von Prozenten bei Dicken
von 5 &mgr;&idiagr;&eegr; bis zu mehreren Millimetern, abhängig von der
Art des Materials.
- Die Meßgenauigkeit hängt viel weniger von der Ansprechzeit ab, wie dies bei herkömmlichen Sytemen der Fall ist,
weil statistische Schwankungen stark verringert sind. Sie hängt aber im Gegensatz dazu vom Niveau der Stabilisierung
der Stromversorgung der Rontgenstrahlenrohre ab, welches Niveau sehr fein eingestellt werden kann; bei
sehr dünnen Kunststoffen ermöglicht das System die Ver-30
besserung der Genauigkeit, verglichen mit herkömmlichen
Meßsystemen unter Verwendung von Promethium 147 (vgl. Fig. 9) um eine Größenordnung.
Die innere Ansprechzeit der Vakuum-Photodiode ist praktisch gleich Null, verglichen mit derjenigen einer Ioni-35
sationskammer (etwa gleich 0,1 &mgr;&egr;, verglichen mit mehreren
Millisekunden).
; " ~" 22 i
, Die erfindungsgemäße Meßvorrichtung hat eine Meßgenauigkeit,
die linear abzuhängen scheint, und zwar sowohl von Spannungsschwankungen der Regelung zwischen Kathode und Antikathode wie
auch von Stromschwankungen der Kathode. Diese Linearität ermöglicht es, ggf. Ungenauigkeiten zu korrigieren, die von
Versorgungsschwankungen der Rontgenstrahlenrohre hervorgerufen
sind.
Erfindungsgemäße Meßvorrichtungen können eingesetzt werden, um
n die Qualität eines flachen Produkts zu kontrollieren, und auch
um einen Prozeß oder eine Produktionslinie zu steuern, in welchem Fall sie in ein Steuerungs- oder Regelungssystem des
Verfahrens eingebunden sind.
Die erfindungsgemäßen Meßvorrichtungen können auch raumfest
arbeiten. In diesem Fall wird die Oberflächendichte oder die Dicke des flachen Produkts in einem einzigen Gebiet gemessen,
beispielsweise entsprechend einem Band bei einem flachen Produkt, das kontinuierlich in Längsrichtung transportiert wird.
n Die Meßvorrichtungen können beweglich eingesetzt werden, beispielsweise
alternatierend in einer hin und hergehenden Translationsbewegung oder auch im Durchlauf. Hierbei werden der
Sender und der Empfänger der Meßvorrichtung zusammen verschoben, wobei sie einander immer gegenüberliegen, und zwar beidseits
des flachen, zu messenden Produkts. In diesem Fall und bei einem Produkt, das in Längsrichtung kontinuierlich zirkuliert,
wird die Dicke längs einer Zickzacklinie gemessen.
Fig. 10 zeigt als Beispiel eine praktische Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Meßvorrichtung, deren Bauelemente
beidseits eines flachen Materials 1 angeordnet sind, das zu kontrollieren ist und das sich in Richtung des Pfeiles F bewegt.
Die Rontgenstrahlenrohre ist bei Pos. 2 angedeutet mit
ihrer Antikathode 3, ihrer Wendel 4, die die Kathode ausbilg5
det, und mit ihrem Austrittsfenster 5, das zum flachen Material 1 weist. Die Röhre 2 befindet sich in einem thermostatisierten
Gehäuse 6, das an einer Seite des flachen Materials 1
j angeordnet ist. Das Gehäuse 6 schließt die folgenden weiteren
Bauteile ein: Eine Baueinheit 7, die eine stabilisierte Hochspannung V abgibt, an die die Antikathode 3 angeschlossen ist,
eine Versorgungseinheit 8 für die Wendel 4 und eine Einheit 9 für die Konstanthaltung der Temperatur. Die Einheit 7 regelt
die Spannung V, die praktisch an die Spannung zwischen der Kathode 4 und der Antikathode 3 angepaßt werden kann. (Die
Spannung der Kathode ist niedrig.)
Auf der anderen Seite des flachen Materials 1 gegenüber dem
Austrittsfenster 5 der Röhre 2 ist der Empfänger 10 angeordnet, der einen Detektor 11 für die Röntgenstrahlen aufweist,
der in Form einer Vakuum-Photodiode 11 realisiert ist. In an sich bekannter Weise weist die Vakuum-Photodiode 11 ein Eintrittsfenster
12 auf, einen Szintillationskristall 13, der die empfangene Energie in Licht umwandelt, weiter eine Photokathode
14, die das Licht in Elektronen umwandelt und eine Anode 15, die die Elektronen sammelt und die es ermöglicht, ein
elektrisches Meßsignal zu erhalten. Der gesamte Empfänger 10 hat auch eine Versorgungseinheit 16 für die Vakuum-Photodiode
11, die der Photodiode eine Spannung +v zuführt, und ein Meßelement
17 für den elektrischen Strom, der am Ausgang der Photodiode 11 anliegt. Die Strahlung der Photonen X (Röntgenphotonen)
die von der Antikathode 3 ausgesendet wird, wird zum flachen Material 1 geleitet, das die Strahlung teilweise umwandelt.
Der Photonenstrom ist bei Pos. 18 angedeutet. Das Meßelement 17 kann direkt den numerischen Wert für die Dicke
des flachen Materials 1 anzeigen.
Claims (6)
1. Radiometrische Meßvorrichtung für das berührungslose Messen der Oberflächendichte oder der Dicke eines ebenen
Produkts (l) mit
einer Strahlungsquelle (6) für Röntgenstrahlen, deren Quelle aus einer Rontgenstrahlenrohre (2)
besteht, die an einer Seite des flachen Produkts (1) angeordnet ist, und die zu diesem Produkt gerichtet
ist<
einem Empfänger (10) für die Röntgenstrahlen, dessen
Detektor (11) in Bezug auf die Rontgenstrahlenrohre
(2) und in Bezug auf das flache Produkt (1) ausgerichtet ist, um Röntgenstrahlen (18) zu empfangen,
die in vom flachen Produkt (1) abgeschwächter Form gestreut oder durchgelassen worden sind, wobei der
Empfänger (10) ein Meßsignal abgibt,
ferner ggf. mit einer mechanischen Stütze, die es ermöglicht, die Gesamtheit Sender/Empfänger relativ zu dem zu messenden flachen Produkt zu bewegen, und
ferner ggf. mit einer mechanischen Stütze, die es ermöglicht, die Gesamtheit Sender/Empfänger relativ zu dem zu messenden flachen Produkt zu bewegen, und
mit
- einem Organ für die Behandlung des Meßsignals, um eine Information zu erhalten, die die Oberflächendichte
oder die Dicke des flachen Produkts (1) wiedergibt,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Antikathode (3) der Rontgenstrahlenrohre (2) aus einem Material mit einer Ordnungszahl (Z) besteht, die gleich oder größer als 50 ist, vorzugsweise größer als 70, und das eine gute thermische Leitfähigkeit besitzt und das einen hohen Schmelzpunkt hat, wobei ein Steueroder Regelungsorgan (7) für die Spannung (V) zwischen der
daß die Antikathode (3) der Rontgenstrahlenrohre (2) aus einem Material mit einer Ordnungszahl (Z) besteht, die gleich oder größer als 50 ist, vorzugsweise größer als 70, und das eine gute thermische Leitfähigkeit besitzt und das einen hohen Schmelzpunkt hat, wobei ein Steueroder Regelungsorgan (7) für die Spannung (V) zwischen der
; 25
j Kathode (4) und der Antikathode (3) der Röntgenstrahlen-
! röhre (2) vorgesehen ist, wobei das Organ so ausgelegt : ist, daß es in einem vorbestimmten Bereich relativ niedriger
Spannungen arbeitet, um in Übereinstimmung mit der Antikathode (3) ein Rontgenstrahlenspektrum zu erhalten,
das im wesentlichen auf eine Bremstrahlung begrenzt ist,
deren maximale Energie vom Wert der Spannung (V) zwischen der Kathode (4) und der Antikathode (3) bestimmt ist.
1Q
2. Meßvorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Regel- oder Steuerspannung (V) zwischen der Kathode (4) und der Antikathode (3) zwischen 3,7 und 5 kV beträgt, insbesondere wenn es sich um die Messung von Kunststoffschichten, beispielsweise aus Polypropylen, mit geringer Dicke handelt, typischerweise kleiner als 300 .&mgr;&igr;&agr;.
daß die Regel- oder Steuerspannung (V) zwischen der Kathode (4) und der Antikathode (3) zwischen 3,7 und 5 kV beträgt, insbesondere wenn es sich um die Messung von Kunststoffschichten, beispielsweise aus Polypropylen, mit geringer Dicke handelt, typischerweise kleiner als 300 .&mgr;&igr;&agr;.
3. Meßvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
„n dadurch gekennzeichnet,
daß das die Antikathode (3) ausbildende Material zwischen folgenden Elementen ausgewählt ist: Tantal (Z = 73),
Wolfram (Z = 74), Rhenium (Z = 75), Iridium (Z = 77), Platin (Z = 78) oder Gold (Z = 79).
4. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Detektor eine Vakuum-Photodiode (11) ist, die in an sich bekannter Weise einen Szintillationskristall (13) OQ aufweist, der die empfangene Energie in Licht umwandelt, wobei eine Photokathode (14) das Licht in Elektronen umwandelt, sowie eine Vakuumröhre mit einer Anode (15), um die Elektronen zu sammeln und um ein elektrisches Meßsignal zu erzeugen.
daß der Detektor eine Vakuum-Photodiode (11) ist, die in an sich bekannter Weise einen Szintillationskristall (13) OQ aufweist, der die empfangene Energie in Licht umwandelt, wobei eine Photokathode (14) das Licht in Elektronen umwandelt, sowie eine Vakuumröhre mit einer Anode (15), um die Elektronen zu sammeln und um ein elektrisches Meßsignal zu erzeugen.
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j
5. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
j dadurch gekennze ic h &eegr; e t, ; daß das Austrittsfenster (5) der Röhre (2), die die Röntgenstrahlenquelle
darstellt, aus Beryllium besteht, wobei die Dicke des Fensters 400 &mgr;&idiagr;&eegr; nicht überschreitet.
6. Meßvorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß das Eintrittsfenster (12) des Detektors (11) für weiche Röntgenstrahlen (>
2,5 und < 5 keV) keine Abschwächung hat, die größer als ist als diejenige von 400 &mgr;&idiagr;&eegr;
Beryllium.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR9206156A FR2691247B1 (fr) | 1992-05-15 | 1992-05-15 | Jauge radiometrique de mesure d'epaisseur. |
DE4316083A DE4316083B4 (de) | 1992-05-15 | 1993-05-13 | Radiometrische Meßvorrichtung für Dickenmessungen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE9321526U1 true DE9321526U1 (de) | 1999-01-28 |
Family
ID=25925891
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE9321526U Expired - Lifetime DE9321526U1 (de) | 1992-05-15 | 1993-05-13 | Radiometrische Meßvorrichtung für Dickenmessungen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE9321526U1 (de) |
-
1993
- 1993-05-13 DE DE9321526U patent/DE9321526U1/de not_active Expired - Lifetime
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