DE2826484C2 - Regelverfahren zur automatischen Driftstabilisierung bei einer Strahlungsmessung und Verwendungen bei diesem Verfahren - Google Patents

Regelverfahren zur automatischen Driftstabilisierung bei einer Strahlungsmessung und Verwendungen bei diesem Verfahren

Info

Publication number
DE2826484C2
DE2826484C2 DE2826484A DE2826484A DE2826484C2 DE 2826484 C2 DE2826484 C2 DE 2826484C2 DE 2826484 A DE2826484 A DE 2826484A DE 2826484 A DE2826484 A DE 2826484A DE 2826484 C2 DE2826484 C2 DE 2826484C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
reference line
detector
electrons
individual electrons
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE2826484A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2826484A1 (de
Inventor
Fritz Dipl.-Phys. Dr. 7540 Neuenbürg Berthold
Helmut 7547 Wildbad Kubisiak
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Laboratorium Prof Dr Rudolf Berthold GmbH and Co KG
Original Assignee
Laboratorium Prof Dr Rudolf Berthold GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Laboratorium Prof Dr Rudolf Berthold GmbH and Co KG filed Critical Laboratorium Prof Dr Rudolf Berthold GmbH and Co KG
Priority to DE2826484A priority Critical patent/DE2826484C2/de
Priority to US06/047,723 priority patent/US4272677A/en
Priority to GB7918939A priority patent/GB2023814B/en
Publication of DE2826484A1 publication Critical patent/DE2826484A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2826484C2 publication Critical patent/DE2826484C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/36Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
    • G01T1/40Stabilisation of spectrometers

Description

Die Erfindung betrifft ein Regelverfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
In der Kernstrahlungsmeßtechnik, aber auch in der Photometrie, werden Detektoren, wie Szintillationszähler, Proportionalzählrohre, Halbleiterdetektoren oder Photovervielfacher mit innerer Verstärkung verwendet, die Impulse liefern, deren Impulsamplitude der von dem Detektor absorbierten Energie entspricht. Eine besondere Schwierigkeit liegt in der Drift derartiger Strahlungsmeßeinrichtungen insbesondere aufgrund veränderlicher innerer Verstärkung. Deren Änderung bewirkt eine Änderung der Impulshöhen, damit eine Verschiebung der Energielinien relativ zu den eingestellten Ansprechschwellen für die Impulsregistrierung und dadurch fehlerhafte Intensitätsmessungen. Zwar kann man diese Fehler durch regelmäßige Kontrolle mit Eichstrahlern und manuelle Nachstellung in zulässigen Grenzen halten. Besser sind jedoch automatische Regelverfahren zur Driftstabilisierung.
Regelverfahren der im Oberbegriff des Anspruchs 1 genannten Art sind bekannt: So ist es bekannt (Nucleonics, Bd. 13, 1955, Nr. 7, S. 36 bis 41), zur automatischen Driftstabilisierung bei Szintillationsspektrometern die Regelgröße von der Lage einer Bezugslinie im Impulsamplitudenspektrum abzuleiten, das i. a. von einer äußeren radioaktiven Quelle erzeugt wird.
Die Anwendung externer Strahler ist jedoch aufwendig und teuer. Es kann ferner zu Überlagerungen von Bezugslinien mit dem zu messenden Spektrum kommen.
Soweit als externe Bezugsstrahlungsquelle etwa
gepulste Lichtquellen verwendet werden, haben diese den Nachteil, selbst eine Drift aufzuweisen. Dies gilt z. B.
für ein bekanntes (»Nuclear Instruments and Methods«, Bd. 8,1960, Nr. 3, S. 331 bis 334) universelles Verfahren zur Stabilisierung von Szintillations-Spektrometeranordnungen; hierbei wird zur Driftstabilisierung eine äußere Impulslichtquelle verwendet, die zur Erzeugung einer künstlichen Spektrallinie innerhalb des Spektrums dient Des weiteren ist es io diesem Zusammenhang bekannt (»The Review of Scientific Instruments«, Bd. 46, 1975, Nr. 8, S. 980 bis 984), zur Stabilisierung von Photomultipliern in Flüssigkeitsszintillationszählern eine Leuchtdiode in der Meßkammer zur Erzeugung separater Bezugsimpulse zu verwenden, wobei die emittierte Wellenlänge in den Spektralbereich der Photokathode des Pbotomultipliers fallen soll; hierbei tritt eine Bezugslinie innerhalb des zu messenden Spektrumsauf.
Zur Vermeidung zusätzlicher Bezugslinien im Spektrum ist es bereits bekannt (DE-OS 18 09 520), die Strahlenquelle für die Messung selbst als Referenzstrahlenquelle zu benutzen und dabei die Regelgröße für die automatische Driftstabilisierung von einer Bezugslinie des Impulsamplitudenspektrums selbst abzuleiten. Dies setzt jedoch voraus, daß das Impulsamplitudenspektrum der Meßstrahlung überhaupt eine für das Regelverfahren geeignete Bezugslinie besitzt
Der Erfindung liegt demgegenüber die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der im Gattungsbegriff vorausgesetzten Art so zu gestalten, daß die Bezugslinie aus einer nicht radioaktiven, aber trotzdem inhärent stabilen Quelle abgeleitet wird.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird das gattungsgemäße Verfahren gemäß dem kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 ausgeführt.
Die Erfindung geht dabei von der Beobachtung aus, daß bei Kernstrahlungsmessungen im Bereich sonst nicht betrachteter, sondern dem allgemeinen Rauschen zugeordneter sehr niedriger Energien, nämlich im Falle von Photovervielfachern mit Natriumjodidkristallen beispielsweise bei einer Äquivalenzenergie von 800 eV, eine ausgeprägte und driftstabile Bezugslinie vorhanden ist, der gegebenenfalls sogar noch Seitenlinien zugeordnet sind. Ermittlungen haben ergeben, daß diese Bezugslinie der Emission von Einzelelektronen aufgrund von sonst in der KernneEtechnik nicht genutztem Phosphoreszieren oder Nachleuchten des Natriumjodidkristalls zuzuschreiben ist. Bei diesem Phosphoreszieren oder Nachleuchten erfolgen Energieübergänge aus angeregten in unangeregte Zustände unter Emission einzelner Photonen, die wiederum im Photovervielfacher zur Auslösung einzelner Elektronen mit Austrittsarbeit von höchstens wenigen eV führen. Diese einzelnen Elektronen laufen dann unter der einheitlichen Betriebsspannung gegen die erste Dynode an und erzeugen bei sonst in der Kernmeßtechnik nicht genutzten niedrigen Energiebereichen die erwähnte ausgeprägte driftstabile Bezugslinie. Seitenlinien können dann auftreten, wenn die Photokathode in einem Aufstäubverfahren oder einem ähnlichen Verfahren hergestellt ist, welches zum Auftrag photoemittierender Schichten auch noch in anderen Bereichen des Photovervielfachers, z. B. an der ersten Dynode, führt.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist sowohl für Kernstrahlungsmeßtechnik als auch für Lichtmessung bzw. Photometrie einsetzbar. Das Verfahren kann
ferner Anwendung finden bei beliebigen Detektoren mit Drifterscheinungen der erläuterten ArL Insbesondere kommen dabei solche Detektoren in Frage, bei denen die innere Verstärkung driftet, wie in dem bereits erwähnten Beispiel an den Dynoden eines Photovervielfachers.
Im Falle der Kernstrahlungsmeßterhnik kann der Detektor beispielsweise nicht nur ein Szintillationszähler aus einem Photovervielfacher und einem Szintillator, wie einem Natriumjodidkristall, sein, sondern auch aus einem Proportionalzählrohr oder einem Halbleiterdetektor mit innerer Verstärkung bestehen.
Im Falle der Photometrie kommt z. B. neben den Photovervielfacher auch ein Phototransistor, eine Avalanche-Diode oder ein äquivalenter Lichtverstärker auf anderem internen Prinzip in Frage, wie etwa ein Bildverstärker oder ein sog. Kanalplatten-Elektronenvervielfacher.
Der Anwendung der Erfindung auf die Lichtmessung mittels Photovervielfacher kommt besondere Bedeutung zu. Diese ist unter allen bekannten Luihtmeßmethoden die empfindlichste. Es gibt dabei im wesentlichen zwei Methoden, nämlich einerseits die Verstärkung des (integrierten) Ausgangsstroms oder die Einzelphotonenzählung. Letztere ist die nach derzeitiger Kenntnis überhaupt empfindlichste und stabilste Meßmethode, die bisher jedoch noch zu Fehlmessungen infolge von Schwankungen wegen schwankender Verstärkung der Dynoden des Photomultipliers Anlaß gibt. Dies kann zu Auswandern des Meßimpulses über oder unter eine Diskriminierungsgrenze führen, wenn nicht die Drift stabilisiert wird. Hierfür gibt die Erfindung ein besonders geeignetes Mittel.
Im Falle von Kernstrahlungsmessungen braucht das Spektrum der Meßsubstanz selbst keine ausgeprägte Bezugslinie mehr zu enthalten. Die nach der Erfindung genutzte, von Einzelelektroden herrührende Bezugslinie liegt außerdem weit unterhalb des bei normalen Kernstrahlungsspektren interessierenden Energiebereichs und kann daher auch nicht, wie bei bekannten externen Bezugsstrahlungsquellen, z. B. der α-Strahlung von Americium 241, zu Überlagerungen mit dem zu messenden Spektrum führen. Im Vergleich zu anderen bekannten, selbst driftenden externen Referenzquellen weist ferner die erfindungsgemäße Bezugslinie den -Vorteil auf, selbst keinerlei Drift zu besitzen.
Im Falle der Photometrie kann das auf Einzelelektro-Tienemission beruhende Meßspektrum selbst die Bezugslinie im Sinne der Erfindung liefern. Ein Beispiel ist die Lichtmessung durch Zählung von einzelnen Photoelektronen mit dem Photovervielfacher (sogenannten Photoncounting).
Das erfindungsgemäße Verfahren erweist sich dabei im Vergleich zu den erwähnten bekannten Verfahren als universell anwendbar und vom Aufwand her gesehen einfach durchführbar. Dabei ist keine radioaktive Bezugsquelle erforderlich, sondern es wird im Sinne der Aufgabenstellung eine dem Meßsystem inhärente stabile Bezugsquelle nutzbar gemacht.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist auch vielseitig anwendbar, z. B. für y-Kameras oder für Röntgenfeinstrukturmessungen mittels Proportionalzählrohren.
Die Ansprüche 2 bis 9 zeigen ferner die Universalität des erfindungsgemäßen Verfahrens in Hinblick auf verwendbare Quellen für die Einzelelektronenemission. Dabei betreffen insbesondere die Ansprüche 6 bis 9 einige besonders bevorzugte Quellen in der Kernstrahlungsmeßtechnik und die Ansprüche 2 bis 5 bevorzugte Quellen der Einzelelektronen in der Photometrie. Zusammenfassend ergibt sich, daß dabei ganz unterschiedliche Quellen genutzt werden können, zum Teil solche, die bei der Messung nebenher sowieso vorliegen und bisher keine Ausnutzung, geschweige denn zur Driftstabilisierung, gefunden haben. So kann man zunächst eine gesonderte Referenzlichtquelle vorsehen, beispielsweise eine schwach leuchtende Leuchtdiode. Man kann aber auch das Licht einer solchen Lichtquelle nur indirekt nutzen, indem man dai Licht einer gesonderten Referenzquelle — oder gar das Meßlicht im Falle der Photometrie — zunächst auf eine sekundäre Lichtquelle auftreffen läßt, beispielsweise einen fluoreszierenden Schirm. Im Falle der Kernstrahlungsmessung mittels eines Szintillator kann dessen Phosphoreszenz oder Nachleuchten als sekundäre induzierte Photonenemission genutzt werden. Schließlich kann man sogar spontane Elektronenemissionsvorgänge, wie beispielsweise beim thermischen Rauschen, nutzen.
Photoelektronen für die Verwendung gemäß Anspruch 3 können auch aus Laserstreulicht stammen. Lumineszenzlicht für die Verwendung gemäß Anspruch 4 kann auch von Biolumineszenz herrühren. Als Szintillator für die Verwendung gemäß Anspruch 5 kommt z. B. ein Natriumjodid-Szintillationskristall in Frage. Durch spontane Oberflächenemission freigesetzte Elektronen für die Verwendung gemäß Anspruch 6 sollen auch Exoelektronen einschließen.
Die Erfindung wird im folgender anhand schematischer Zeichnungen an Ausführungsbeispielen noch näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 ein Impulsamplitudenspektrum mit durch Einzelelektronen erzeugter Bezugslinie und Meßspektrum;
Fig.2 das Blockschaltbild einer Regelungsvorrichtung zur automatischen Driftstabilisierung eines Detektors mit innerer Verstärkung; und
F i g. 3 das Blockschaltbild der Regelungsvorrichtung eines Szintillationszählers mit Photovervielfacher.
In Fi g. 1 ist ein charakteristisches Impulsamplitudenspektrum mit einem Meßspektrum MS der zu messenden Strahlung und dem Spektrum der durch Einzelelektronen erzeugten Bezugslinie PE dargestellt. Auf der Abszisse ist dabei qualitativ im logarithmischen Maßstab die Impulsenergie E aufgetragen, während die Ordinate die Impulshäufigkeit N im logarithmischen Maßstab darstellt.
Im untersten Energiebereich ist zunächst ein Rauschspektrum RS zu sehen, das z. B. durch elektronisches Rauschen oder Dynodenrauschen verursacht sein kann. Mit zunehmender Energie folgt daran anschließend die durch Einzelelektronen erzeugte Bezugslinie PE, die als Bezugslinie zum Ableiten der Regelgröße für die automatische Driftstabilisierung verwendet wird. Der Energieunterschied zwischen der Bezugslinie der Einzelelektronen PE und dem eigentlichen Meßspektrum MS ist im Impulsamplitudendiagramm durch den unterbrochenen Übergang zu höheren Impulsenergie gekennzeichnet. Zur Verdeutlichung der Energiedifferenz zwischen der durch Einzelelektronen erzeugten Bezugslinie PE und einem Wert des Meßspektrums sei angenommen, daß die Bezugslinie im Meßspektrum MS von Cs137 erzeugt ist Unter dieser Annahme liegt die Bezugslinie für Cs137 bei einer Energie Z?von ca. 663 keV, während die durch Einzelelektronen erzeugte Bezugslinie PE bei einer Äquivalenzenergie EP von ca. 0,8 keV auftritj. Dies zeigt besonders deutlich, daß eine
Überlagerung und damit eine Störung des Meßspektrums MS durch die zur Driftstabilisierung verwendete Bezugslinie PE nicht auftritt. Außerdem wird deutlich, daß die Bezugslinie PE1 die früher unzutreffend dem Rauschen mit zugerechnet wurde, eine das Meßspektrum sogar weit überragende Höhe haben kann, z. B. bei Photomultipliern mit Nal-Szintillator aufgrund von Phosphoreszenz des letzteren.
In Fig.2 ist das prinzipielle Blockschaltbild einer Regelungsvorrichtung zur automatischen Driftstabilisierung bei Strahlungsmessung mittels eines Detektors, dessen Impulsamplitude der von ihm absorbierten Energie entspricht, dargestellt. Im Blockschaltbild nach F i g. 2 wird zur Messung einer Strahlung Sein Detektor D mit einem inneren Verstärker V verwendet. Das am Ausgang der Detektoranordnung DV mit innerer Verstärkung auftretende Signal wird über einen Meßkanal MK zu einem anlogen oder digitalen Anzeigegerät geführt. Das am Meßkanal MK auftretende Ausgangssignal wird über die eine Regelvorrichtung verarbeitet und zur Detektoranordnung DV zur Driftstabilisierung zurückgeführt. Da im gesamten Impulsspektrum neben der durch Einzelelektronen erzeugten Bezugslinie PE weitere durch die Strahlung 5 bewirkte Bezugslinien im Meßspektrum MS auftreten können, wird das Ausgangssignal der Detektoranordnung DV über einen Stabilisierungskanal SK zunächst einer Bestimmungseinrichtung BEP für die durch Einzelelektronen erzeugte Bezugslinie PE zugeführt. Das Ausgangssignal der Bestimmungseinrichtung BEP wird anschließend auf eine Regeleinrichtung RE gegeben, die die innere Verstärkung des Detektors regelt.
Die Bestimmungseinrichtung BEP zur Feststellung der Lage der von Einzelelektronen erzeugten Bezugsiinie kann z. B. (vgl. auch F i g. 3) aus zwei im Stabilisierungskanal parallel geschalteten Einkanaldiskriminatoren KD1 und KD 2 mit einem nachgeschalteten Impulsratenvergleicher IVaufgebaut sein. Die zwei Sollwerte des Einkanaldiskriminators KDi können dabei so gewählt sein, daß sie auf der vorderen Flanke der Bezugslinie PE liegen, während die Sollwerte des zweiten Einkanaldiskriminators KD 2 auf die hintere Flanke der Bezugslinie PE eingestellt werden. Anstelle der vier Sollwerte ist eine Einstellung der Einkanaldiskriminatoren KDi und KD 2 auch auf drei Sollwerte möglich, indem die beiden mittleren Einstellungen von vier Sollwerten gleich gewählt werden. Der den Einkanaldiskriminatoren nachgeschaltete Impulsratenvergleicher IV stellt aufgrund der von den Einkanaldiskriminatoren ermittelten Impulsanzahl fest ob es sich bei der erfaßten Bezugslinie um die von Einzelelektronen stammende Bezugsiinie FE zur Driftstabiiisierung handelt
Die Bestimmungseinrichtung BEP kann anstelle der oben erwähnten Ausführungsform einen Integraldiskriminator aufweisen, der eine Sollimpulsrate feststellt Hierzu wird dem Integraldiskriminator im statistischen Bereich der von Einzelelektronen erzeugten Bezugslinie PE ein Istwert vorgegeben, von dem ab die Impulsanzahl über den Stabilisierungskanal ermittelt wird. Durch das Erreichen einer bestimmten Sollimpulsrate als Erfahrungswert kann auch auf diese Weise die Lage der von Einzelelektronen erzeugten Bezugslinie PE festgelegt werden.
Die Lage der Bezugsiinie PE im für die auftreffende Strahlung charakteristischen Impulsamplitudenspektrum wird auf eine im Stabilisierungskanal nachgeschaltete Regeleinrichtung RE gegeben. Die Regeleinrichtung REverwendet diese nichtdriftende Bezugslinie, um über eine aus dem gesamten Impulsamplitudenspektrum ermittelte Regelgröße die Detektoranordnung DV zu steuern. Beispielsweise kann über diese Regelgröße die am Detektor anliegende Spannung hoch- oder heruntergeregelt werden.
Die im Blockschaltbild der Fig.2 dargestellte prinzipielle Regelungsvorrichtung kann sowohl für die
ίο Kernstrahlungsmeßtechnik wie auch für die Photometrie verwendet werden. In der Kernstrahlungsmeßtechnik besteht die Möglichkeit, die die Bezugslinie PE erzeugenden Einzelelektronen durch eine im Detektor selbst oder außerhalb des Detektors vorgesehene Lichtquelle zu erzeugen. Als Lichtquelle kommt dabei sowohl direktes wie indirektes Licht, in beiden Fällen z. B. aus einer Leuchtdiode oder im letztgenannten Fall aus einer phosphoreszierenden oder nachleuchtend lumineszierenden Lichtqauelle, z. B. einem NaJ-Szintillationskristall eines Photovervielfachers, stammendes, vorzugsweise schwaches. Licht in Betracht Hierbei ist es jedoch erforderlich, daß die auf den Detektor einfallende Lichtenergie größer ist als die Austrittsarbeit der Elektronen aus der Elektronenquelle, z. B. aus der Photokathode eines Photovervielfachers. Die die Bezugsiinie PE erzeugenden Einzelelektronen können jedoch auch aus spontanen Oberflächenemissionen von Elektronen resultieren, beispielsweise aus Kathodenrauschen, Rauschen einer nachgeordneten Dynode, insbesondere der ersten, eines Photovervielfachers, Feldemissionen oder aus der Emission von Exoelektronen in Proportionalzählrohren.
F i g. 3 zeigt ein Anwendungsbeispiel der Regelungsvorrichtung in der Kernstrahlungsmeßtechnik. Die Regelungsvorrichtung ist dabei als Blockschaltbild dargestellt, anhand dessen der Regelungsvorgang noch näher erläutert ist.
Der als Detektor dienende Szintillationszähler SZ ist an eine Hochspannungsquelle HQ angeschlossen. Der
AO Szintillationszähler besteht aus einem mehrere Dynoden DY aufweisenden Photovervielfacher PM. Die Dynoden sind zur Spannungsteilung mit Widerständen R beschaltet Abhängig von der gewünschten Verstärkung ist im Ausführungsbeispiel der Fig.3 das Ausgangssignal des Szintillationszählers SZ auf einen externen Verstärker VE gegeben. Dieses verstärkte Signal wird einerseits dem Meßkanal MK und andererseits dem Stabilisierungskanal SK zugeführt
Über einen Impulsbreitendiskriminator IBDi wird das Signal zu einer Anzeige — und/oder Auswerteinrichtung A geführt Ebenso wie im Meßkanal MK ist im Stabilisierungskanal SK zunächst ein Impulsbreitendiskriminator IBD 2 vorgesehen, dein ein Verstärker mit Begrenzer VB nachgeschaltet ist In Reihe zu diesem Verstärker VB liegt die Bestimmungseinrichtung BEP für die Lage der durch Einzelelektronen erzeugten Bezugslinie PE Die Bestimmungseinrichtung BEP ist hier aus zwei parallel geschalteten Kanaldiskriminatoren KD1 und KD 2 mit nachfolgendem Impulsratenvergleicher TV aufgebaut Die Signale des jeweiligen Kanaldiskriminators KDl bzw. KD 2 sowie das Ausgangssignal des Impulsratenvergleichers /Vwerden auf eine Einrastlogik EL gegeben, die der Regeleinrichtung RE vorgeschaltet ist Die Einrastlogik EL kann
dabei als elektronische Schaltung aufgebaut sein, die im Zusammenwirken mit dem Impulsratenvergleicher IV, der auf den Bereich der Bezugslinie PE bzw. auf diese selbst eingestellt ist ein Auswandern der Bezugslinie
durch schaltungstechnische Einflußfaktoren verhindert. Die von der Regeleinrichtung erzeugte Regelgröße schließt über die Hochspannungsquelle HQ den Regelkreis der Regelungsvorrichtung.
Zur Erläuterung der Funktionsweise wird von einem in der Kernstrahlungsmeßtechnik eingesetzten Szintillationszähler, der aus einem Photovervielfacher mit einem Natriumjodid-Szintillationskristall besteht, ausgegangen. Anstelle dieses Detektors könnte auch ein Proportionszählrohr oder ein Halbleiterdetektor mit innerer Verstärkung verwendet werden. Das Phosphoreszieren bzw. nachleuchtende Lumineszieren eines NaJ-Szintillationskristalls unter der Meßstrahlung, welches sonst nicht benutzt, wenn nicht als nachteilig angesehen wird, stellt hierbei eine ideale Quelle zur Erzeugung der Einzddcktror.en dar.
Der im Szintillationszähler SZ angeordnete Natriumjodidkristall dient also als Lichtquelle zur Erzeugung der Einzelelektronen für die driftstabile Bezugslinie PE Abhängig von der Verstärkung des Photovervielfachers, die z. B. etwa im Bereich zwischen 4 · 104 bis 107 liegen kann, wird das Ausgangssignal des Szintillationszählers SZ im externen Verstärker VE in die für die Auswertung zweckmäßige Signalgrößenordnung verstärkt. Der im Meßkanal MK angeordnete Impulsbreitendiskriminator IBD1 ist im Vergleich zu dem im Stabilisierungskanal SK angeordneten Impulsbreitendiskrimintator IBD 2 mit einer relativ großen Zeitkonstanten ausgelegt. Beispielsweise beträgt die Zeitkonstante des IBD1 230 ns gegenüber ca. 30 ns des IBD 2. Durch diese Auslegung werden über den Steuerkanal SK nur relativ kurze Impulse, beispielsweise die die Bezugslinie PE erzeugenden Impulse der Einzelelektronen, ausgewertet. Im Meßkanal MK selbst werden dagegen alle innerhalb der Zeitkonstanten des Impulsbreitendiskriminators IBD1 liegenden Impulse verarbeitet
Zur Verstärkung der Impulse mit geringer Impulshöhe ist dem Impulsbreitendiskriminator IBD2 ein Verstärker VS mit Begrenzung nachgeschaltet. Hierdurch wird der durch einzelne Photoelektronen ausgelöste schwache Impuls nochmals verstärkt, während impulse höheren Niveaus begrenzt werden. Die weiterhin im Stabilisierungskanal in Reihe geschaltete Bestimmungseinrichtung BEP arbeitet entsprechend der Beschreibung nach F i g. 2. Die Bestimmungseinrichtung BEP ermöglicht es der Regelungsvorrichtung z. B., bei Einsetzen der Strahlung einer statistischen Linie des Meßspektrums MS (Fig. 1) von der durch die Einzelelektronen erzeugten Bezugslinie PE zu unterscheiden. Um diese Bezugslinie .Pfund damit die für die Regelgröße maßgebliche Bezugslinie festzuhalten, werden die Ausgangssignale der beiden Kanaldiskriminatoren KD1 und KD 2 und des Impulsratenvergleichers IV auf eine in Reihe zur Bestimmungseinrichtung BEP liegende Einrastlogik EL gegeben. Diese Einrastlogik EL ist dabei auf ein minimales Impulsratenverhältnis bzw. einen vorgegebenen Bereich des Impulsratenverhältnisses zwischen Meßimpulsrate und Stabilisierungsimpulsrate eingestellt. Anstelle dieser Einstellung kann die Einrastlogik EL auch auf eine minimale Impulsrate im oberen Impulsamplitudenspektrum eingestellt werden. Diese Einrastlogik EL hält somit den Wert der Bezugslinie driftstabil fest, so daß die der Einrastlogik EL nachgeschaltete Regeleinrichtung RE zur Ermittlung der Regelgröße von dem driftstabilen Wert, nämlich der von Einzelelektronen erzeugten Bezugslinie PE, ausgehen kann. Die von der Regeleinrichtung RE erzeugte Regelgröße steuert die Hochspannungsquelle HQ und damit den Photovervielfacher PM des Szintillationszählers.
Eine derartige Regelungsvorrichtung kann außer in den Bereichen der Kernstrahlungsmeßtechnik und Photometrie z. B. auch in y-Kameras und bei Röntgen-Feinstrukturmessungen mittels Proportionalzählrohren eingesetzt werden. Bei y-Kameras werden beispielsweise 17 bis 90 Photovervielfacher nebeneinander flach hinter einem großen bzw. breit ausgedehnten NaJ-Kristall angeordnet, und die einzelnen Photovervielfacher sollten gemeinsam driftstabilisiert sein. Bei Röntgen-Feinstrukturmessung wird eine charakteristische Linie, z. B. der /ζχ-Strahlung, ausgeblendet und ist driftstabil zu messen. In beiden Anwendungsfällen sind NaJ-Szintillationskristalle wieder besonders geeignet.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
130234/328

Claims (1)

  1. Patentansprüche:
    5. Regelverfahren zur automatischen Driftstabilisierung bei einer Strahlungsmessung mittels eines durch Emission von Elektronen Impulse einer der von ihm absorbierten Strahlungsenergie entsprechenden Amplitude liefernden Detektors, bei dem die Regelgröße von der Lage einer Bezugslinie im Impulsamplitudenspektrum abgeleitet wird, dadurch gekennzeichnet, daß als Bezugslinie eine Linie gewählt wird, die nur von solchen Impulsen gebildet wird, deren jeder von der Emission eines einzelnen Elektrons im Detektor herrührt
    2. Verwendung von photoelektrisch ausgelösten einzelnen Elektronen als Erzeuger der Bezugslinie nach Anspruch 1.
    3. Verwendung von durch ein Eingangs-Meßsignal des Detektors ausgelösten Photoelektronen nach Anspruch 2.
    4. Verwendung von durch Lumineszenzlicht ausgelösten Photoelektronen nach Anspruch 2.
    5. Verwendung von im Szintillator eines Szintillationsdetektors entstehendem Licht als Lumineszenzlicht nach Anspruch 4.
    6. Verwendung von durch spontane Oberflächenemission freigesetzten einzelnen Elektronen nach Anspruch 1.
    7. Verwendung von durch Feldemission freigesetzten einzelnen Elektronen nach Anspruch 1.
    8. Verwendung einer gesonderten Lichtquelle zur Auslösung der einzelnen Elektronen nach Anspruch 2.
    9. Verwendung einer Leuchtdiode nach Anspruch 8.
DE2826484A 1978-06-16 1978-06-16 Regelverfahren zur automatischen Driftstabilisierung bei einer Strahlungsmessung und Verwendungen bei diesem Verfahren Expired DE2826484C2 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2826484A DE2826484C2 (de) 1978-06-16 1978-06-16 Regelverfahren zur automatischen Driftstabilisierung bei einer Strahlungsmessung und Verwendungen bei diesem Verfahren
US06/047,723 US4272677A (en) 1978-06-16 1979-06-12 Method and apparatus for the automatic stabilization of drift in radiation measurements
GB7918939A GB2023814B (en) 1978-06-16 1979-06-15 Indicator for a limit value and a measurement value

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2826484A DE2826484C2 (de) 1978-06-16 1978-06-16 Regelverfahren zur automatischen Driftstabilisierung bei einer Strahlungsmessung und Verwendungen bei diesem Verfahren

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2826484A1 DE2826484A1 (de) 1979-12-20
DE2826484C2 true DE2826484C2 (de) 1982-08-26

Family

ID=6041986

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2826484A Expired DE2826484C2 (de) 1978-06-16 1978-06-16 Regelverfahren zur automatischen Driftstabilisierung bei einer Strahlungsmessung und Verwendungen bei diesem Verfahren

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4272677A (de)
DE (1) DE2826484C2 (de)
GB (1) GB2023814B (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013215606A1 (de) * 2013-08-07 2015-02-12 Berthold Technologies Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Betreiben eines radiometrischen Messsystems und radiometrisches Messsystem
DE102013022357B3 (de) 2013-08-07 2022-05-25 Berthold Technologies Gmbh & Co. Kg Radiometrisches Messsystem

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4578578A (en) * 1983-12-05 1986-03-25 Texaco Inc. Method for correcting spectrum shift
JPH065280B2 (ja) * 1985-04-17 1994-01-19 株式会社東芝 シンチレ−シヨンカメラ
FR2608778B1 (fr) * 1986-07-10 1989-06-02 Electricite De France Dispositif de comptage de particules d'un rayonnement ionisant et son utilisation pour la mise en oeuvre d'un procede de mesure de debit de fuite entre les circuits primaire et secondaire d'un generateur de vapeur
US4918314A (en) * 1989-01-06 1990-04-17 Halliburton Logging Services, Inc. Gain stabilization circuit for photomultiplier tubes
US5160844A (en) * 1990-10-24 1992-11-03 Schlumberger Technology Corporation Gain stabilized neutron detector
US5237173A (en) * 1992-04-01 1993-08-17 Independent Scintillation Imaging Systems, Inc. Gain calibration in a scintillation camera
US5410153A (en) * 1993-07-27 1995-04-25 Park Medical Systems, Inc. Position calculation in a scintillation camera
US5576547A (en) * 1993-07-27 1996-11-19 Park Medical Systems Inc. Position calculation and energy correction in the digital scintillation camera
US5677536A (en) * 1996-06-19 1997-10-14 Smv America Gamma camera with on the fly calibration for PMT drift
CA2212196A1 (en) 1997-08-01 1999-02-01 Is2 Research Inc. Medical diagnostic apparatus and method
US6051830A (en) * 1998-03-11 2000-04-18 Halliburton Energy Services, Inc. Method for stabilizing a scintillation detector
US6087656A (en) * 1998-06-16 2000-07-11 Saint-Gobain Industrial Cermaics, Inc. Radiation detector system and method with stabilized system gain
WO2004061479A1 (en) * 2002-12-20 2004-07-22 Board Of Regents, The University Of Texas System Methods and apparatus for tuning scintillation detectors
EP1906211A1 (de) * 2005-07-22 2008-04-02 ICX Radiation GmbH Detektor für die Messung ionisierender Strahlen
CN101273283B (zh) * 2005-07-22 2012-05-30 Icx射线有限责任公司 测量电离辐射的检测器
CN103257358B (zh) * 2007-12-29 2016-01-20 同方威视技术股份有限公司 多道脉冲分析器及峰漂实时修正方法
FR2936355B1 (fr) * 2008-09-23 2010-10-15 Commissariat Energie Atomique Systeme de controle de derive de gain de photomultiplicateur et procede associe.
EP2237073B1 (de) * 2009-03-30 2012-10-31 Berthold Technologies GmbH & Co. KG Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung einer automatischen Driftkompensation
US8957385B2 (en) 2010-11-29 2015-02-17 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Radiation detection system, a radiation sensing unit, and methods of using the same
CN103576181A (zh) * 2012-07-27 2014-02-12 同方威视技术股份有限公司 用于射线探测谱仪的稳谱方法
WO2015173200A1 (en) 2014-05-11 2015-11-19 Target Systemelektronik Gmbh & Co. Kg Gain stabilization of detector systems utilizing photomultipliers with single photo electrons
CN107003421B (zh) * 2014-12-16 2020-02-07 皇家飞利浦有限公司 用于光子探测器的基线偏移确定
FR3070210B1 (fr) * 2017-08-18 2022-05-20 Commissariat Energie Atomique Procede et dispositif de retroaction sur la haute tension d'un detecteur gazeux
CN108168727B (zh) * 2017-12-27 2019-12-27 西北核技术研究所 基于闪烁晶体的低温温度计及其温度标定以及测量方法
CN108195443B (zh) * 2017-12-29 2020-10-02 北京奥特美克科技股份有限公司 水位测量方法、系统及设备

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3179801A (en) * 1958-09-23 1965-04-20 Serge A Scherbatskoy Stabilized scintillation detector system with comparison light pulses of constant amplitude to control the sensitivity of the system
US3270205A (en) * 1963-02-13 1966-08-30 Ca Atomic Energy Ltd Digital spectrum stabilizer for pulse analysing system
US3337737A (en) * 1963-04-10 1967-08-22 Itt Multiplier phototube with calibrating electron beam
AT326787B (de) * 1968-03-13 1975-12-29 Lab Prof De Rudolf Berthold Einrichtung zur automatischen driftstabilisierung bei der intensitätsmessung von kernstrahlungen
FR2211664B1 (de) * 1972-12-21 1976-08-27 Schlumberger Prospection
DE2352522A1 (de) * 1973-10-19 1975-04-30 Exatest Messtechnik Gmbh Verfahren und anordnung zur dickenmessung mittels gammastrahlenabsorption
FR2328207A1 (fr) * 1975-10-17 1977-05-13 Labo Electronique Physique Systeme de regulation automatique pour camera a scintillations

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013215606A1 (de) * 2013-08-07 2015-02-12 Berthold Technologies Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Betreiben eines radiometrischen Messsystems und radiometrisches Messsystem
DE102013215606B4 (de) * 2013-08-07 2015-06-18 Berthold Technologies Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Betreiben eines radiometrischen Messsystems und radiometrisches Messsystem
DE102013022357B3 (de) 2013-08-07 2022-05-25 Berthold Technologies Gmbh & Co. Kg Radiometrisches Messsystem

Also Published As

Publication number Publication date
US4272677A (en) 1981-06-09
GB2023814A (en) 1980-01-03
GB2023814B (en) 1982-12-15
DE2826484A1 (de) 1979-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2826484C2 (de) Regelverfahren zur automatischen Driftstabilisierung bei einer Strahlungsmessung und Verwendungen bei diesem Verfahren
DE2540861C2 (de) Gammakamera mit einem Szintillationskristall, Photovervielfachern, Verstärkern und einer Anordnung zur Stabilisierung der Ausgangssignale der Verstärker
EP1569012B1 (de) Verfahren zum Nachweis ionisierender Strahlung
DE102013015199A1 (de) Verstärkungssteuerung eines Szintillationsdetektors
DE2451301C2 (de) Radiographieapparat mit einer Gruppe von Hauptdetektoren zum Empfangen von zu einem ebenen Bündel kollimierter Röntgenstrahlung und mit zusätzlichen, außerhalb des Bündels angeordneten Detektoreinrichtungen
DE102008033960A1 (de) Strahlungsdetektormodulmodul, Strahlungsdetektor und bildgebende Tomografieeinrichtung
DE10044357A1 (de) Detektoranordnung zur Detektion von Röntgenstrahlen
DE10106221A1 (de) Röntgendetektor mit großem Dynamikbereich
DE102014119300A1 (de) Verfahren zum Erhöhen des dynamischen Bereichs eines Silizium-Photomultipliers (SiPM)
DE3403457A1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zum abstimmen der strahlungsdetektoren eines strahlungsanzeigegeraetes
DE112015002562T5 (de) Strahlungsdetektionsvorrichtung und zugehöriges Verfahren
DE3704716A1 (de) Ortsempfindlicher detektor
DE4223773C2 (de) Verfahren zur Unterscheidung und gleichzeitigen oder getrennten Messung von Einzel- und Mehrelektronenereignissen in einem optoelektronischen Detektor
DE1809520A1 (de) Einrichtung zur automatischen Driftstabilisierung bei Kernstrahlensonden
DE4428672A1 (de) Verfahren zum Bestimmen eines Verstärkungsfaktors eines Photomultipliers
DE102011080892B3 (de) Röntgenstrahlungsdetektor zur Verwendung in einem CT-System
DE1764603C3 (de) Verfahren zum automatischen Kompensieren von auf Löschvorgängen beruhenden spektralen Verschiebungen bei einem Flüssigkeitsszintillationszähler
DE1955860C3 (de) Flüssigkeits-Szintillationszähler mit zwei Fotovervielfacher!!, einer Impulssummier- und einer Koinzidenzschaltung sowie einem Impulshöhenanalysator, einem Impulszähler und einem Zeitgeber
DE1136024B (de) Kernteilchendiskriminator mit einem Szintillationszaehler
DE3704813A1 (de) Einkristall auf basis von seltenerdmetall-aluminium-granat
DE1238112B (de) Verfahren zur selbsttaetigen Stabilisierung eines Kernstrahlungsmessgeraetes
DE2722634A1 (de) Szintigraphieaufnahmesystem
DE1906047B2 (de) Stabilisierungseinrichtung für die Amplitudenverstärkung der Meßsignale des Strahlungsdetektors eines Flüssigkeitsszintillationszählers
DE102019122115B4 (de) Detektoreinheit für einen Szintillationszähler, radiometrischen Messgerät mit einer solchen Detektoreinheit, Verfahren zum Betreiben einer solchen Detektoreinheit und Computerprogrammcode
DE102017129490A1 (de) Verfahren zur Messung der Photonenanzahl mittels eines Photonendetektors

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
D2 Grant after examination
8339 Ceased/non-payment of the annual fee