DE929802C - Anordnung zur Dehnung von Praeparaten in Elektronenmikroskopen - Google Patents

Anordnung zur Dehnung von Praeparaten in Elektronenmikroskopen

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DE929802C
DE929802C DES35225A DES0035225A DE929802C DE 929802 C DE929802 C DE 929802C DE S35225 A DES35225 A DE S35225A DE S0035225 A DES0035225 A DE S0035225A DE 929802 C DE929802 C DE 929802C
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DE
Germany
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arrangement according
diaphragm
specimen
inner part
stretching
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Expired
Application number
DES35225A
Other languages
English (en)
Inventor
Henry Burmester
Cilly Dr Rer Nat Weichan
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Publication date
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/20Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

  • Anordnung zur Dehnung von Präparaten in Elektronenmikroskopen Bei der Untersuchung von Objekten in Elektronenmikroskopen ist es an sich üblich, die Objekte im ruhenden Zustand zu untersuchen. Es sind aber auch schon Einrichtungen bekannt, die es gestatten, Objektbewegungen im Elektronenmikroskop sichtbar zu machen. Man hat beispielsweise Objektträger gebaut, die eine willkürliche Beheizung der Objekte während der Untersuchung ermöglichen, so daß man die Relativbewegungen der Objektpartikelchen während der Temperatursteigerung sehen kann. Eine andere bekannte Einrichtung, bei der man auch Änderungen der Objekte beobachten kann, ist durch die sogenannten Reaktionskammern gegeben, bei denen es möglich ist, Objekte während der Untersuchung chemischen Veränderungen zu unterwerfen. Die Erfindung betrifft eine andere Anördnung zum Untersuchen von Objekten, die während der Untersuchung bewegt werden. Es handelt sich nämlich bei der Erfindung um eine Anordnung zur Dehnung von Präparaten während der Untersuchung in Elektronenmikroskopen. Zu diesem Zweck besteht erfindungsgemäß die Objektträgerblende aus zwei relativ zueinander, quer zum Strahl beweglichen Teilen, die zwischen sich einen vom Objekt überspannten Schlitz besitzen, wobei der Halter dieser Trägerblende einen zum Auseinanderspreizen der beiden Blendenteile dienenden Mechanismus enthält, oder durch einen von außen zu betätigenden Stößel zu verstellen ist. Mit einer solchen Einrichtung kann man nunmehr elastische Präparate, z. B. Gummi, Fasern u. dgl., im Elektronenmikroskop während der Untersuchung auch im mehr oder weniger gedehnten Zustand beobachten. Dabei ist die Einrichtung so ausgebildet, daß man das Objekt für die Untersuchung in einen der üblichen Obj ektblendenhalter einsetzen kann.. Dieser Objektblendenhalter kann beispielsweise eine Objektpatrone sein, der ein von außen zu betätigenderStößel zur Objektdehnung zugeordnet ist.
  • Für die Ausführung der Dehnungsvorrichtung nach der Erfindung gibt es die verschiedensten Wege. Man kann beispielsweise den in dem Obj ektblendenhalter, also beispielsweise der Objektpatrone, vorgesehenen Mechanismus aus einem gegen eine Druckfeder arbeitenden Schieber herstellen, der einen Spreizhebel um einen Drehpunkt schwenkt. Die in den Objektblendenhalter einzusetzende Dehnungsblende kann vorzugsweise so ausgebildet sein, daß zwei gegenüberliegende Flächen durch federnde Vorspanrnung :so gegeneinandergedrückt werden, daß zwischen diesen Flächen ein kleiner Spalt bestehen bleibt. Über diesen Spalt werden die zu untersuchenden Objekte gespannt. Dadurch, daß der Spalt sich in keiner Betriebslage ganz schließen kann, ist immer dafür gesorgt, daß der Elektronenstrahl einen entsprechend freien Durchtritt zur Abbildung des Obj ektes hat.
  • Die Dehnungsblende kann beispielsweise aus dem Innen- und einem Außenteil gebildet werden, wobei der Innenteil aus federhartem Material besteht und der Außenteil ein Ring ist, der den Innenteil so zusammendrückt, daß der gewünschte schmale Spalt für den Elektronenstrahldurchtritt eingehalten wird. Wenn es sich um eine Dehnungsblende handelt, die in einem magnetischen Objektiv angewendet--werden soll, empfiehlt es sich, den Innenteil der Blende aus gut federndem unmagnetischem Werkstoff herzustellen, -der zum Zweck der chemischen Reinigung auch säurebeständig ist. Ein geeignetes Material für diesen Zweck ist beispielsweise Contracid-Beryllium. Den Außenteil wird man in diesem Fall vorzugsweise aus einem ünmagnetischen und säurebeständigen Material, wie beispielsweise Platin, herstellen. Um einen festeren Halt des Präparates gegen Ablösen auf der Dehnungsblende zu erzielen, empfiehlt es sich, den Teilen der Dehnungsblende für das Ausspannen des Präparates Auflageflächen zu- geben, die mit schwachen Riefen quer zur Dehnrichtung versehen sind.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in den Fig. i und 2 dargestellt. Fig. i zeigt einen Querschnitt durch eine Objektpatrone. Die Patrone ist mit i bezeichnet. Am unteren Ende 2 ist mit Hilfe einer Schraubkappe 3 die Objektträgerblende 4. einsetzbar. Die Objektträgerblende selbst ist zusammen mit der Spreizvorrichtung in Fig. 2 perspektivisch herausgezeichnet. Die Blende besteht aus den beiden Teilen 5 und 6, zwischen denen ein Spalt 7 freibleibt. Die Flächen 5 und 6 sind mit schwachen Riefen 'versehen, so daß ein Baraufgeklebtes Präparat gut haftet. Um eine federnde Verspannung der beiden- Blendenteile 5 und 6- zu erzielen, sind diese mit einem ringförmigen Federungsteil 8 zusammengefügt, der in einem geschlossenen Ring 16 eingesetzt ist. Der Ring 16 ragt über den Federteil 8 auf beiden Seiten hinaus, um ein Festspannen der Anordnung beim Einsetzen in die Objektpatrone zu ermöglichen, ohne daß dabei der Federungsteil ä-festgeklemmt wird. Bei 9 und fo sind Führungslaschen vorgesehen, die das Einführen des Unterteils eines Spreizhebels i i erleichtern. Der Spreizhebel selbst ist bei i2 drehbar im Patronenkopf schwenkbar gelagert. Für die Schwenkung ist im mittleren Teil der Patrone ein Schieber 13 vorgesehen, der gegen den Druck einer eingebauten Feder 14 durch einen von außen her in der Richtung des Pfeiles 15 wirkenden Antriebsstößelin seiner Lagerung quer zur Strahlachse hin und her geschoben werden kann. Bei dieser Verstellbewegung greift der Schieber am oberen Ende des Spreizhebels i i an und schwenkt diesen zwecks Aufspreizens der Dehnungsblendenteile 5 und 6 in Richtung auf die Führungsbleche 9 und fo hin.
  • Da der Elektronenbeschuß zur Verkohlung jedes betrachtenden organischen Präparates in kürzester Zeit führt und eine Beobachtung der Elastizität nur an unveränderten Präparaten durchgeführt werden kann, ist es wichtig, die Dehnungsvorrichtung so zu konstruieren, daß innerhalb des kurzen Zeitraumes von fo bis 15 Sekunden ein Präparat sowohl -im ungespreizten Zustand als auch nach Dehnung um einen Betrag von rund 5o bis ioo°/o und mehr betrachtet und aufgenommen werden kann. Da trotz erschwerender Arbeitsbedingungen die Verkohlung des Präparates stetig zunimmt, ist es vorteilhaft, den Verstellantrieb -mit Markierungsmarken zu versehen, so daß man ein Präparat auch schon um bestimmte Beträge vordehnen kann, ehe durch Einwirkung der Elektronen- die Strukturumwandlung allmählich einsetzt.

Claims (7)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Anordnung zur Dehnung von Präparaten in Elektronenmikroskopen, dadurch gekennzeichnet, daß die Objektträgerblende aus zwei relativ zueinander, quer zum Strahl beweglichen Teilen besteht, die zwischen sich einen vom Objekt überspannten Sclhlitz besitzen, und daß der Halter dieser Trägerblende (z. B. die Objektpatrone) einen Mechanismus enthält, der durch einen zum Auseinanderspreizen der beiden $lendenteile dienenden, von außen zu betätigenden Stößel zu verstellen ist:
  2. 2. Anordnung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß der in -dem Objektblendenhalter vorgesehene Mechanismus aus einem gegen eine Druckfeder arbeitenden Schieber, der einen Spreizhebel um den 'Drehpunkt schwenkt, besteht.
  3. 3. Anordnung nach Anspruch i, dadurch-gekennzeichnet, daß die in den Objektblendenhalter einzusetzende Dehnungsblende so ausgebildet ist, daß zwei gegenüberliegende Flächen durch federnde Vorspannung so gegeneinandergedrückt werden, daß zwischen diesen Flächen ein kleiner Spalt bestehen bleibt.
  4. 4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Dehnungsblende aus einem ringförmigen, die Objekttrageflächen enthaltenden Federkörper besteht, der von einem die Vorspannung bewirkenden Ring umgeben ist.
  5. 5. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der äußere Ring in axialer Richtung nach beiden Seiten über den Federkörper hinausragt.
  6. 6. Anordnung nach Anspruch 3, 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Dehnungsblende aus einem Innenteil und einem Außenteil gebildet wird, wobei das Innenteil aus federhartem Material besteht und das Außenteil ein Ring ist, der das Innenteil so zusammendrückt, daß der gewünschte schmale Spalt eingehalten wird.
  7. 7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Innenteil aus gut federndem unmagnetischem Werkstoff besteht, der zum Zweck der chemischen Reinigung auch säurebeständig ist, z. B. Contracid-Beryllium, und das Außenteil aus unmagnetischem und säurebeständigem Material, z. B. Platin, gebildet ist. B. Anordnung nach Anspruch r oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Dehnungsblende zum Aufspannen des Präparates Auflageflächen enthält, die mit schwachen Riefen quer zur Dehnrichtung versehen sind.
DES35225A 1953-09-15 1953-09-15 Anordnung zur Dehnung von Praeparaten in Elektronenmikroskopen Expired DE929802C (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1489795B1 (de) * 1965-01-14 1970-01-29 Commissariat Energie Atomique Vorrichtung fuer Dehnungs- und Streckversuche im Elektronenmikroskop

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE1489795B1 (de) * 1965-01-14 1970-01-29 Commissariat Energie Atomique Vorrichtung fuer Dehnungs- und Streckversuche im Elektronenmikroskop

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