DE9110554U1 - Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten - Google Patents
Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden PrüfobjektenInfo
- Publication number
- DE9110554U1 DE9110554U1 DE9110554U DE9110554U DE9110554U1 DE 9110554 U1 DE9110554 U1 DE 9110554U1 DE 9110554 U DE9110554 U DE 9110554U DE 9110554 U DE9110554 U DE 9110554U DE 9110554 U1 DE9110554 U1 DE 9110554U1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- bus
- test
- digital
- analog
- data processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 71
- 230000000712 assembly Effects 0.000 title claims description 7
- 238000000429 assembly Methods 0.000 title claims description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 24
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000006855 networking Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/3167—Testing of combined analog and digital circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31723—Hardware for routing the test signal within the device under test to the circuits to be tested, e.g. multiplexer for multiple core testing, accessing internal nodes
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/261—Functional testing by simulating additional hardware, e.g. fault simulation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
PATENTANWÄLTE
KERN, BREHM & PARTNER
Albert-Roßhaupter-Str. 73 ■ D-8000 München 70 ■ Telefon (0 89) 7 60 55 20/ 7 60 55 26 Telucopy (0 89) .7 60 55 59 ■ Telex 5 214 950 isar d
ITE-8232/GM Vp/He 26. August 1991
ITE Ing.-Büro Guinari
Ligsalzstraße 37
8000 München 2
8000 München 2
VORRICHTUNG ZUM AUTOMATISCHEN PRÜFEN VON ELEKTRISCHE UND/ ODER ELEKTRONISCHE BAUELEMENTE BZW. BAUGRUPPEN AUFWEISENDEN
PRÜFOBJEKTEN
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische
Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Eine solche Vorrichtung ist aus der Praxis bekannt. Bei dieser Vorrichtung ist das Bussystem als Hybridbus, d.h.
als ein Bus aufgebaut, der die Informationen bzw. Signale sowohl in einer analogen als auch in digitaler Form verarbeiten
kann. Nachteilig ist dabei, daß ein Übersprechen und das Auftreten anderer parasitärer Effekte (Antenneneffekte)
nicht ausgeschlossen sind. Bei einer solchen Vorrichtung kann es deshalb zu ungenauen Messungen und/oder
zu Fehlmessungen kommen, so daß sich insgesamt hohe Meßfehler ergeben können. Die bekannten Vorrichtungen haben
einen großen Platzbedarf und einen hohen Preis und sind, wenn überhaupt, nur schwer zum Prüfen von größeren Prüfobjekten
erweiterbar.
-la- ITE-8232/GM
Eine Vorrichtung der eingangs erwähnten Art ist aus der US-PS 4 758 780 bekannt. Bei dieser Vorrichtung werden
digitale Testsignale in einem externen Prozeßsystem erzeugt und einer Digitalsteuerung zugeleitet.
-2- ITE-8232/GM
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs angegebenen Art zu schaffen, die leistungsfähiger,
preiswerter und flexibler ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einer Vorrichtung
der eingangs erwähnten Art durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
Die Aufspaltung des Bussystems in einen Digitalbus, einen Analogbus und einen Testbus ermöglicht eine voneinander
unabhängige, getrennte Signalverarbeitung. Dabei ist sichergestellt, daß die Signale nach Funktion, Art und
Zweck zusammengefaßt dem jeweiligen Bus zugeleitet werden. Mit dem erfindungsgemäßen, aus drei einzelnen Bussen bestehenden
Bussystem ist der Einbau eines Hybridbusses wirksam verhindert, so daß auch die bei Verwendung eines
Hybridbusses sich ergebenden Nachteile nicht auftreten können. Sowohl die digitalen als auch die analogen Signale
sind also auch hardwaremäßig eigenen Teilen der Vorrichtung zugeordnet. Das Steuergerät ist als Bindeglied
zwischen der Datenverarbeitungsanlage und dem aus den drei unterschiedlichen Bussen bestehenden Bussystem aufgebaut.
Es ermöglicht, digitale und analoge Signale sowie Testsignale getrennt voneinander zu verarbeiten.
Vorteilhafterweise weist das Steuergerät eine Digitalbus-,
Analogbus- und Testbussteuerung auf (auch Digitalbus-, Analogbus- und Testbusmanager genannt), die miteinander
und mit dem entsprechenden Bus verbunden sind. Die Analogbussteuerung dient zur Vermeidung von Softwarekorrekturen
und zur überwachung bzw. Regelung der analogen Signale des Analogbusses. Die Testbussteuerung übernimmt von der
Analogbussteuerung ausschließlich bereits korrigierte Signale und stellt deren Weiterleitung an den Testbus sicher.
Mit Hilfe der Digitalbussteuerung werden die ur-
-3- ITE-8232/GiM
sprünglichen Daten und Adressen sowie die für die gesamte Vorrichtung zuständigen Steuersignale vorbereitet und zum
Digitalbus weitergeleitet.
Vorteilhafterweise ist die Testbussteuerung zusätzlich an
den Analogbus angeschlossen. Dadurch ist es möglich, die gemessenen Werte mit Hilfe eines in der Testbussteuerung
vorgesehenen Vorverstärkers zu verstärken und zum Analogbus weiterzuleiten.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Vorrichtung
ist das Steuergerät in Form eines Sub-Rechners aufgebaut und weist eine eigene zentrale Datenverarbeitungseinheit
auf. Diese zentrale Datenverarbeitungseinheit gewährleistet ein präzises Ansprechen der Digitalbus-, Analogbus-
und Testbussteuerung und ein schnelles Verwalten und gezieltes Ablegen der dabei auftretenden Signale.
Vorzugsweise ist die zentrale Datenverarbeitungseinheit des Steuergeräts mit der Datenverarbeitungsanlage und mit
der Digitalbussteuerung verbunden.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Vorrichtung
hat das Steuergerät einen Adressen-Multiplexer, der einerseits
an die zentrale Datenverarbeitungseinheit des Steuergeräts und andererseits an die Digitalbussteuerung angeschlossen
ist. Damit ist es möglich, die benötigte Adressenkapazität unproblematisch zu vervielfachen, so daß die
Vorrichtung schnell an größere bzw. komplizierter aufgebaute Prüfobjekte anpaßbar ist.
Ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes wird
nachfolgend an Hand der Zeichnung näher erläutert, deren einzige Figur zeigt
eine schematische Darstellung des Aufbaus einer Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektri-
-4- ITE-8232/GM
sehe und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten.
Eine Vorrichtung 1 zum automatischen Prüfen eines nicht dargestellte elektrische und/oder elektronische Bauelemente
bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjektes 2 hat eine mit einem nicht näher dargestellten Bildschirm sowie
einer nicht gezeigten Tastatur ausgestattete Datenverarbeitungsanlage 3, die über ein Steuergerät 4 mit
einem Bussystem 5 verbunden ist, an das mehrere direkt mit dem Prüfobjekt 2 verbundene Testmodule 6 angeschlossen
sind. Die Testmodule 6 sind als sogenannte Test-Interface-Multiplexer
ausgebildet.
Die Datenverarbeitungsanlage 3 ist über einen sogenannten IEEE Bus 7 mit dem Steuergerät 4 verbunden. Dieses
ist in Form eines Sub-Rechners aufgebaut und weist eine eigene zentrale Datenverarbeitungseinheit 10 auf, welche
über einen Adressen-Multiplexer 11 mit einer Digitalbussteuerung 12 verbunden ist. Das Steuergerät 4 hat neben
der Digitalbussteuerung 12 ferner eine Analogbussteuerung 13 und eine Testbussteuerung 14, die miteinander
über eine elektrische Leitung 15 verbunden sind. Das Bussystem 5 weist einen Digitalbus 16, einen Analogbus 17
und einen Testbus 18 auf, die voneinander unabhängig digitale, analoge und Testsignale getrennt voneinander verarbeiten.
Jeder Bus ist mittels einer Leitung 20, 21, mit seiner entsprechenden Steuerung 12, 13, 14 verbunden.
Zusätzlich ist die Digitalbussteuerung über eine elektrische Leitung 23 direkt mit der Testbussteuerung verbunden,
welche zusätzlich an den Analogbus 17 über eine Leitung angeschlossen ist.
Der Digitalbus 16 verarbeitet Daten und Adressen, er sendet und empfängt Steuersignale. Gemäß der Figur weist der
Digitalbus 16 einen Protokollspeicher 25, eine optische
-5- ITE-8232/GM
Schnittstelle 26, sogenannter Test-Interface, ein Zählwerk
27, einen Softwareschutz 30 sowie einen Analog/ Digital-Wandler 31 und einen Digital/Analog-Wandler 32
auf. Mit Ausnahme des Analog/Digital-Wandlers 31 können einzelne der vorgenannten Elemente des Digitalbusses
16 entfallen und/oder weitere wahlweise hinzutreten. Letzterer Fall ist in der Figur durch die unterhalb
des Wandlers 32 angeordneten Punkte angedeutet.
Der Analogbus 17 umfaßt gemäß der Figur ein Element 33 zum Beeinflussen der Leistungsfähigkeit bzw. der Kapazität
des Busses, einen ersten Generator 34, einen zweiten Generator 35, einen Vergleicher (Comparator)
36, ein Digitalvoltmeter 37 und einen Verstärker 38. Auch beim Analogbus 17 können einzelne der vorgenannten
Elemente entfallen oder weitere hinzutreten.
Wie bereits beschrieben, weist der Testbus 18 mehrere Testmodule 6 auf, deren Anzahl an die Anzahl der zu prüfenden
Bauelemente bzw. Baugruppen (nicht dargestellt) des Prüfobjektes 2 angepaßt ist. Sie kann demgemäß wesentlich
größer, aber auch kleiner als die Anzahl der einzelnen Elemente in den beiden vorgenannten Bussen
sein. Die einzelnen Testmodule 6 sind mittels eines Adapters 40 an das Prüfobjekt 2 angeschlossen.
Wahlweise können an die Datenverarbeitungsanlage 3 Elemente 41, 42 für die Datenfernübertragung sowie Elemente
43, 44 zum Vernetzen der Vorrichtung mit anderen Systemen angeschlossen sein. Außerdem ist an das Steuergerät
4 wahlweise ein optisches Testgerät 45 vorzugsweise mit lichtemittierenden Dioden angeschlossen. Dieses arbeitet
vorzugsweise mit der optischen Schnittstelle 26 des Digitalbusses 16 zusammen.
-6- ITE-8232/GM
Gemäß der Figur ist die zentrale Datenverarbeitungseinheit 10 über eine Leitung 46 mit dem Adressen-Multiplexer
11 und dieser mittels einer Leitung 47 mit der Digitalbussteuerung 12 verbunden. Die Leitungen 20, 21, 22
sowie 46 und 47 sind doppelt dargestellt, was bedeutet, daß Signale in unterschiedlichen Richtungen übertragen
werden können. Im Gegensatz dazu sind die Leitungen 15 und 23 einfach ausgebildet, d.h., Signale können in der
Regel nur in einer Richtung, also beispielsweise von der Digitalbussteuerung 12 zu der Analogbussteuerung 13 (Leitung
15) oder zu der Testbussteuerung 14 (Leitung 23) übertragen werden. Gleiches gilt für die Leitungen, mit
deren Hilfe die einzelnen Elemente 25 bis 32, 33 bis 38 sowie 6 an den jeweiligen Bus 16, 17, 18 angeschlossen
sind. Wichtig ist dabei, daß der Analog/Digital-Wandler und der Digital/Analog-Wandler 32 sowohl an den Digitalbus
16 als auch an den Analogbus 17 angeschlossen sind, wie in der Figur gezeigt ist.
Nachfolgend wird die Arbeitsweise der erfindungsgemäßen
Vorrichtung beispielhaft erläutert.
Es soll ein Kondensator 50 des Prüfobjektes 2 überprüft werden, über eine nicht dargestellte Eingabetastatur
wird die interne Numerierung dieses Bauelementes in die Datenverarbeitungsanlage 3 eingegeben. Der eingegebene
Befehl erscheint auf dem nicht dargestellten Bildschirm. Die Datenverarbeitungsanlage 3 gibt ein Signal an die
zentrale Datenverarbeitungseinheit 10 (Sub-Rechner) des Steuergeräts 4 ab, das über die Leitung 46 zum Adressen-Multiplexer
11 und über die Leitung 47 zu der Digitalbussteuerung 12 gelangt.
Die Digitalbussteuerung 12 gibt daraufhin zwei Signale ab. Ein erstes, über die Leitung 23 zur Testbussteuerung 14
-7- ITE-8232/GM
übermitteltes Signal dient zur Vorbereitung der Testbussteuerung, daß nämlich zwei Leitungen des Kondensators
50 freigemacht werden sollen. Ein zweites Signal gelangt über die Leitung 15 zur Analogbussteuerung 13, welche
nach dem Ohm1sehen Gesetz arbeitet und zusätzlich einen
Zeit-Controller umfaßt, der die Geschwindigkeit der nachfolgend beschriebenen Regelung bestimmt. Die Analogbussteuerung
13 aktiviert über die Leitung 21 den Analogbus 17, beispielsweise den ersten Generator 34, welcher
beispielsweise eine gewählte Spannung von 16 Volt (Soll-Spannung) an den Analogbus 17 und die Analogbussteuerung
13 abgibt. Die Analogbussteuerung 13 prüft, ob die abgegebene Spannung tatsächlich 16 Volt beträgt.
Falls dies der Fall ist, wird das damit verbundene Signal über die Leitung 15 an die Testbussteuerung 14 weitergeleitet.
Wenn dies nicht der Fall ist, bringt die Analogbussteuerung 13 die Spannung zunächst exakt auf
Volt und leitet erst diesen korrigierten Wert an die Testbussteuerung 14 weiter.
Die Testbussteuerung 14 ist vollständig erst dann aktiviert, wenn die beiden zuvor beschriebenen Signale über
die Leitung 15 und 23 vorliegen, d.h., daß zum einen über die Leitung 23 das Vorbereitungssignal von der Digitalbussteuerung
und zum anderen über die Leitung 15 das einer Spannung von 16 Volt entsprechende Signal in die Testbussteuerung
14 eingegeben sind. Die Testbussteuerung 14 macht nun die Leitung (Adresse) zum Prüfen des Kondensators
50 frei. Sämtliche andere Leitungen bleiben geschlossen. Über die Testmodule 6 wird nun der auf dem Prüfobjekt
2 befindliche Kondensator 50 überprüft.
Der an dem Kondensator 50 gemessene Wert beträgt beispielsweise 2 Millivolt und wird über den betreffenden Testmodul
oder die Testmodule 6 in den Vorverstärker der Testbussteu-
ITE-8232/GM
erung 14 geleitet. Dieser verstärkt den gemessenen Wert in einem festen Verhältnis auf eine für die Weiterverarbeitung
geeignete, bestimmte Spannung. Dieses Signal gelangt von der Testbussteuerung 14 über die Leitung 24 direkt
in den Analogbus 17 und von dort in den Verstärker 38. Dieser verstärkt die Spannung auf einen gewünschten höheren
Wert. Das nunmehr verstärkte Signal wird mittels des Analog/Digital-Wandlers 31 in ein digitales Signal
umgewandelt und gelangt über den Digitalbus 16, die Leitung 20 in die Digitalbussteuerung 12 und über die Leitung
47, den Adressen-Multiplexer 11, die Leitung 46 und die zentrale Datenverarbeitungseinheit 10 schließlich zu
der Datenverarbeitungsanlage 3, auf deren Bildschirm beispielsweise der gemessene Wert oder der korrigierte gemessene
Wert angezeigt wird.
Eine solche Vorrichtung ist in der Lage, das Prüfen von Bauelementen bzw. Baugruppen auf Prüfobjekten schnell und
flexibel vorzunehmen.
Claims (6)
1. Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden
Prüfobjekten, mit einer Datenverarbeitungsanlage (3) und einem damit verbundenen, einen Digitalbus
(16) sowie einen Analogbus (17) aufweisenden Bussystem (5), an das mehrere direkt mit dem Prüfobjekt (2) verbundene
Testmodule (6) angeschlossen sind, dadurch gekennzeichnet ,
daß das Bussystem (5) zusätzlich einen Testbus (18) aufweist, und
daß das Bussystem (5) zusätzlich einen Testbus (18) aufweist, und
daß Digital- (16), Analog- (17) und Testbus (18) voneinander unabhängig jeweils an ein mit der Datenverarbeitungsanlage
(3) verbundenes Steuergerät (4) angeschlossen sind, so daß digitale, analoge Signale und Testsignale
getrennt voneinander verarbeitbar sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß das Steuergerät (4)
eine Digitalbus- (12), Analogbus- (13) und Testbussteue-
-2" ITE-8232/GM
rung (14) aufweist, die miteinander und mit dem entsprechenden Bus (16, 17, 18) verbunden sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet , daß die Testbussteuerung zusätzlich an den Analogbus (17) angeschlossen ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet , daß das Steuergerät
(4) in Form eines Sub-Rechners aufgebaut ist und eine eigene zentrale Datenverarbeitungseinheit (10) aufweist
.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß die zentrale Datenverarbeitungseinheit
(10) des Steuergeräts (4) mit der Datenverarbeitungsanlage (3) und mit der Digitalbussteuerung
(12) verbunden ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet , daß das Steuergerät (4)
einen Adressen-Multiplexer (11) hat, der einerseits an die zentrale Datenverarbeitungseinheit (10) des Steuergeräts
(4) und andererseits an die Digitalbussteuerung (12) angeschlossen ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE9110554U DE9110554U1 (de) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten |
DE4223436A DE4223436C2 (de) | 1991-08-26 | 1992-07-16 | Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE9110554U DE9110554U1 (de) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE9110554U1 true DE9110554U1 (de) | 1992-07-02 |
Family
ID=6870618
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE9110554U Expired - Lifetime DE9110554U1 (de) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten |
DE4223436A Expired - Fee Related DE4223436C2 (de) | 1991-08-26 | 1992-07-16 | Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4223436A Expired - Fee Related DE4223436C2 (de) | 1991-08-26 | 1992-07-16 | Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (2) | DE9110554U1 (de) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5646521A (en) * | 1995-08-01 | 1997-07-08 | Schlumberger Technologies, Inc. | Analog channel for mixed-signal-VLSI tester |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4118772A (en) * | 1975-06-16 | 1978-10-03 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | Digital controller system |
US4758780A (en) * | 1986-12-08 | 1988-07-19 | Ncr Corporation | Circuit board test apparatus and method |
DE3923764C1 (de) * | 1989-07-18 | 1990-08-02 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De |
-
1991
- 1991-08-26 DE DE9110554U patent/DE9110554U1/de not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-07-16 DE DE4223436A patent/DE4223436C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4118772A (en) * | 1975-06-16 | 1978-10-03 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | Digital controller system |
US4758780A (en) * | 1986-12-08 | 1988-07-19 | Ncr Corporation | Circuit board test apparatus and method |
DE3923764C1 (de) * | 1989-07-18 | 1990-08-02 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
DE-Z: Der richtige Mix macht`s. In: productronic 10, 1990, S.46,48,50 * |
DE-Z: Die Busstruktur macht's. In: Elektronik 9/3.5.1985, S.13 * |
DE-Z: Multifunktionssystem ersetzt acht kom- plexe Messgeräte. In: Elektronik Informationen, Nr.11-1987, S.58-61 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4223436C2 (de) | 1995-03-16 |
DE4223436A1 (de) | 1993-03-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2340547B2 (de) | Schaltungsanordnung zum testen logischer schaltungen | |
DE3836812A1 (de) | Anordnung und verfahren zur eichung von digital/analog-wandlern | |
DE2220057A1 (de) | ||
EP0318768A1 (de) | Logikanalysator | |
EP0029569A1 (de) | Verfahren und Gerät zur Korrektur der räumlichen Verzerrung einer Szintillationskamera | |
DE19525536C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung eines Fehlers in einem IC unter Verwendung eines Strahls geladener Teilchen | |
DE2706928A1 (de) | Analog-digital-umwandlungsverfahren und -system | |
EP0274767A1 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Ermittlung der Stellung des Abgriffes eines Widerstandsferngebers | |
DE2952631C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Diagnose einer Datenverarbeitungsanlage | |
DE2121330C3 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Prüfen digital arbeitender elektronischer Geräte und ihrer Bauteile | |
EP0060321B1 (de) | Verfahren für eine rasche interne Logikprüfung an integrierten Schaltungen | |
DE1774314B1 (de) | Einrichtung zur maschinellen zeichenerkennung | |
DE3719497A1 (de) | System zur pruefung von digitalen schaltungen | |
DE3836813C2 (de) | ||
EP0258231B1 (de) | Signalverarbeitungsgerät | |
EP0365786A1 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Übertragungsfunktion einer Videokamera | |
CH702504B1 (de) | Universalschnittstellenkanal-Prüfsystem. | |
DE3817143C2 (de) | ||
DE3634052A1 (de) | Verfahren und schaltungsanordnung zur messung des widerstandswertes eines sensorwiderstandes | |
DE9110554U1 (de) | Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten | |
EP3399425A1 (de) | Verfahren zur erkennung einer verdrahtungstopologie | |
DE19860465A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Kodierung der Adressen von baugleichen Funktionseinheiten | |
DE102015003211A1 (de) | Anordnung zur Diagnose eines Kraftfahrzeugs | |
DE4321014B4 (de) | Verfahren und Schaltungen zum Schutz von Eingängen von als integrierte Schaltungen vorliegenden Analogmultiplexern | |
EP3701276A1 (de) | Integrierte schaltung und asic |