DE4223436A1 - Vorrichtung zum automatischen pruefen von elektrische und/oder elektronische bauelemente bzw. baugruppen aufweisenden pruefobjekten - Google Patents

Vorrichtung zum automatischen pruefen von elektrische und/oder elektronische bauelemente bzw. baugruppen aufweisenden pruefobjekten

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Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum auto­ matischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Eine solche Vorrichtung ist aus der Praxis bekannt. Bei dieser Vorrichtung ist das Bussystem als Hybridbus, d. h. als ein Bus aufgebaut, der die Informationen bzw. Signale sowohl in einer analogen als auch in digitaler Form verar­ beiten kann. Nachteilig ist dabei, daß ein Übersprechen und das Auftreten anderer parasitärer Effekte (Antennen­ effekte) nicht ausgeschlossen sind. Bei einer solchen Vor­ richtung kann es deshalb zu ungenauen Messungen und/oder zu Fehlmessungen kommen, so daß sich insgesamt hohe Meß­ fehler ergeben können. Die bekannten Vorrichtungen haben einen großen Platzbedarf und einen hohen Preis und sind, wenn überhaupt, nur schwer zum Prüfen von größeren Prüfob­ jekten erweiterbar.
Eine Vorrichtung der eingangs erwähnten Art ist aus der US-PS 47 58 780 bekannt. Bei dieser Vorrichtung werden digitale Testsignale in einem externen Prozeßsystem er­ zeugt und einer Digitalsteuerung zugeleitet.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs angegebenen Art zu schaffen, die leistungs­ fähiger, preiswerter und flexibler ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einer Vorrichtung der eingangs erwähnten Art durch die kennzeichnenden Merk­ male des Anspruchs 1 gelöst.
Die Aufspaltung des Bussystems in einen Digitalbus, einen Analogbus und einen Testbus ermöglicht eine voneinander unabhängige, getrennte Signalverarbeitung. Dabei ist si­ chergestellt, daß die Signale nach Funktion, Art und Zweck zusammengefaßt dem jeweiligen Bus zugeleitet werden. Mit dem erfindungsgemäßen, aus drei einzelnen Bussen be­ stehenden Bussystem ist der Einbau eines Hybridbusses wirksam verhindert, so daß auch die bei Verwendung eines Hybridbusses sich ergebenden Nachteile nicht auftreten können. Sowohl die digitalen als auch die analogen Signa­ le sind also auch hardwaremäßig eigenen Teilen der Vor­ richtung zugeordnet. Das Steuergerät ist als Bindeglied zwischen der Datenverarbeitungsanlage und dem aus den drei unterschiedlichen Bussen bestehenden Bussystem aufge­ baut. Es ermöglicht, digitale und analoge Signale sowie Testsignale getrennt voneinander zu verarbeiten.
Vorteilhafterweise weist das Steuergerät eine Digitalbus-, Analogbus- und Testbussteuerung auf (auch Digitalbus-, Analogbus- und Testbusmanager genannt), die miteinander und mit dem entsprechenden Bus verbunden sind. Die Analog­ bussteuerung dient zur Vermeidung von Softwarekorrekturen und zur Überwachung bzw. Regelung der analogen Signale des Analogbusses. Die Testbussteuerung übernimmt von der Analogbussteuerung ausschließlich bereits korrigierte Signale und stellt deren Weiterleitung an den Testbus si­ cher. Mit Hilfe der Digitalbussteuerung werden die ur­ sprünglichen Daten und Adressen sowie die für die gesamte Vorrichtung zuständigen Steuersignale vorbereitet und zum Digitalbus weitergeleitet.
Vorteilhafterweise ist die Testbussteuerung zusätzlich an den Analogbus angeschlossen. Dadurch ist es möglich, die gemessenen Werte mit Hilfe eines in der Testbussteuerung vorgesehenen Vorverstärkers zu verstärken und zum Analog­ bus weiterzuleiten.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Vorrichtung ist das Steuergerät in Form eines Sub-Rechners aufgebaut und weist eine eigene zentrale Datenverarbeitungseinheit auf. Diese zentrale Datenverarbeitungseinheit gewährlei­ stet ein präzises Ansprechen der Digitalbus-, Analogbus- und Testbussteuerung und ein schnelles Verwalten und ge­ zieltes Ablegen der dabei auftretenden Signale.
Vorzugsweise ist die zentrale Datenverarbeitungseinheit des Steuergeräts mit der Datenverarbeitungsanlage und mit der Digitalbussteuerung verbunden.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Vorrichtung hat das Steuergerät einen Adressen-Multiplexer, der einer­ seits an die zentrale Datenverarbeitungseinheit des Steuer­ geräts und andererseits an die Digitalbussteuerung ange­ schlossen ist. Damit ist es möglich, die benötigte Adres­ senkapazität unproblematisch zu vervielfachen, so daß die Vorrichtung schnell an größere bzw. komplizierter aufge­ baute Prüfobjekte anpaßbar ist.
Ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes wird nachfolgend an Hand der Zeichnung näher erläutert, deren einzige Figur zeigt
eine schematische Darstellung des Aufbaus einer Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektri­ sche und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjekten.
Eine Vorrichtung 1 zum automatischen Prüfen eines nicht näher dargestellte elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufweisenden Prüfobjektes 2 hat eine mit einem nicht näher dargestellten Bildschirm sowie einer nicht gezeigten Tastatur ausgestattete Da­ tenverarbeitungsanlage 3, die über ein Steuergerät 4 mit einem Bussystem 5 verbunden ist, an das mehrere direkt mit dem Prüfobjekt 2 verbundene Testmodule 6 angeschlos­ sen sind. Die Testmodule 6 sind als sogenannte Test-In­ terface-Multiplexer ausgebildet.
Die Datenverarbeitungsanlage 3 ist über einen sogenann­ ten IEEE Bus 7 mit dem Steuergerät 4 verbunden. Dieses ist in Form eines Sub-Rechners aufgebaut und weist eine eigene zentrale Datenverarbeitungseinheit 10 auf, welche über einen Adressen-Multiplexer 11 mit einer Digitalbus­ steuerung 12 verbunden ist. Das Steuergerät 4 hat neben der Digitalbussteuerung 12 ferner eine Analogbussteue­ rung 13 und eine Testbussteuerung 14, die miteinander über eine elektrische Leitung 15 verbunden sind. Das Bus­ system 5 weist einen Digitalbus 16, einen Analogbus 17 und einen Testbus 18 auf, die voneinander unabhängig di­ gitale, analoge und Testsignale getrennt voneinander ver­ arbeiten. Jeder Bus ist mittels einer Leitung 20, 21, 22 mit seiner entsprechenden Steuerung 12, 13, 14 verbunden. Zusätzlich ist die Digitalbussteuerung über eine elektri­ sche Leitung 23 direkt mit der Testbussteuerung verbunden, welche zusätzlich an den Analogbus 17 über eine Leitung 24 angeschlossen ist.
Der Digitalbus 16 verarbeitet Daten und Adressen, er sen­ det und empfängt Steuersignale. Gemäß der Figur weist der Digitalbus 16 einen Protokollspeicher 25, eine optische Schnittstelle 26, sogenannter Test-Interface, ein Zähl­ werk 27, einen Softwareschutz 30 sowie einen Analog/Digital-Wandler 31 und einen Digital/Analog-Wandler 32 auf. Mit Ausnahme des Analog/Digital-Wandlers 31 kön­ nen einzelne der vorgenannten Elemente des Digital­ busses 16 entfallen und/oder weitere wahlweise hinzu­ treten. Letzterer Fall ist in der Figur durch die un­ terhalb des Wandlers 32 angeordneten Punkte angedeutet.
Der Analogbus 17 umfaßt gemäß der Figur ein Element 33 zum Beeinflussen der Leistungsfähigkeit bzw. der Kapa­ zität des Busses, einen ersten Generator 34, einen zweiten Generator 35, einen Vergleicher (Comparator) 36, ein Digitalvoltmeter 37 und einen Verstärker 38. Auch beim Analogbus 17 können einzelne der vorgenannten Elemente entfallen oder weitere hinzutreten.
Wie bereits beschrieben, weist der Testbus 18 mehrere Testmodule 6 auf, deren Anzahl an die Anzahl der zu prü­ fenden Bauelemente bzw. Baugruppen (nicht näher darge­ stellt) des Prüfobjektes 2 angepaßt ist. Sie kann demgemäß wesentlich größer, aber auch kleiner als die An­ zahl der einzelnen Elemente in den beiden vorgenannten Bussen sein. Die einzelnen Testmodule 6 sind mittels eines Adapters 40 an das Prüfobjekt 2 angeschlossen.
Wahlweise können an die Datenverarbeitungsanlage 3 Ele­ mente 41, 42 für die Datenfernübertragung sowie Elemente 43, 44 zum Vernetzen der Vorrichtung mit anderen Syste­ men angeschlossen sein. Außerdem ist an das Steuergerät 4 wahlweise ein optisches Testgerät 45 vorzugsweise mit lichtemittierenden Dioden angeschlossen. Dieses arbeitet vorzugsweise mit der optischen Schnittstelle 26 des Digi­ talbusses 16 zusammen.
Gemäß der Figur ist die zentrale Datenverarbeitungsein­ heit 10 über eine Leitung 46 mit dem Adressen-Multiple­ xer 11 und dieser mittels einer Leitung 47 mit der Digi­ talbussteuerung 12 verbunden. Die Leitungen 20, 21, 22 sowie 46 und 47 sind doppelt dargestellt, was bedeutet, daß Signale in unterschiedlichen Richtungen übertragen werden können. Im Gegensatz dazu sind die Leitungen 15 und 23 einfach ausgebildet, d. h., Signale können in der Regel nur in einer Richtung, also beispielsweise von der Digitalbussteuerung 12 zu der Analogbussteuerung 13 (Lei­ tung 15) oder zu der Testbussteuerung 14 (Leitung 23) übertragen werden. Gleiches gilt für die Leitungen, mit deren Hilfe die einzelnen Elemente 25 bis 32, 33 bis 38 sowie 6 an den jeweiligen Bus 16, 17, 18 angeschlossen sind. Wichtig ist dabei, daß der Analog/Digital-Wandler 31 und der Digital/Analog-Wandler 32 sowohl an den Digitalbus 16 als auch an den Analogbus 17 angeschlossen sind, wie in der Figur gezeigt ist.
Nachfolgend wird die Arbeitsweise der erfindungsgemäßen Vorrichtung beispielhaft erläutert.
Es soll ein Kondensator 50 des Prüfobjektes 2 überprüft werden. Über eine nicht dargestellte Eingabetastatur wird die interne Numerierung dieses Bauelementes in die Datenverarbeitungsanlage 3 eingegeben. Der eingegebene Befehl erscheint auf dem nicht dargestellten Bildschirm. Die Datenverarbeitungsanlage 3 gibt ein Signal an die zentrale Datenverarbeitungseinheit 10 (Sub-Rechner) des Steuergeräts 4 ab, das über die Leitung 46 zum Adressen- Multiplexer 11 und über die Leitung 47 zu der Digitalbus­ steuerung 12 gelangt.
Die Digitalbussteuerung 12 gibt daraufhin zwei Signale ab. Ein erstes, über die Leitung 23 zur Testbussteuerung 14 übermitteltes Signal dient zur Vorbereitung der Testbus­ steuerung, daß nämlich zwei Leitungen des Kondensators 50 freigemacht werden sollen. Ein zweites Signal gelangt über die Leitung 15 zur Analogbussteuerung 13, welche nach dem Ohmschen Gesetz arbeitet und zusätzlich einen Zeit-Controller umfaßt, der die Geschwindigkeit der nachfolgend beschriebenen Regelung bestimmt. Die Analog­ bussteuerung 13 aktiviert über die Leitung 21 den Ana­ logbus 17, beispielsweise den ersten Generator 34, wel­ cher beispielsweise eine gewählte Spannung von 16 Volt (Soll-Spannung) an den Analogbus 17 und die Analogbus­ steuerung 13 abgibt. Die Analogbussteuerung 13 prüft, ob die abgegebene Spannung tatsächlich 16 Volt beträgt. Falls dies der Fall ist, wird das damit verbundene Sig­ nal über die Leitung 15 an die Testbussteuerung 14 wei­ tergeleitet. Wenn dies nicht der Fall ist, bringt die Analogbussteuerung 13 die Spannung zunächst exakt auf 16 Volt und leitet erst diesen korrigierten Wert an die Testbussteuerung 14 weiter.
Die Testbussteuerung 14 ist vollständig erst dann akti­ viert, wenn die beiden zuvor beschriebenen Signale über die Leitung 15 und 23 vorliegen, d. h., daß zum einen über die Leitung 23 das Vorbereitungssignal von der Digitalbus­ steuerung und zum anderen über die Leitung 15 das einer Spannung von 16 Volt entsprechende Signal in die Testbus­ steuerung 14 eingegeben sind. Die Testbussteuerung 14 macht nun die Leitung (Adresse) zum Prüfen des Kondensa­ tors 50 frei. Sämtliche andere Leitungen bleiben geschlos­ sen. Über die Testmodule 6 wird nun der auf dem Prüfobjekt 2 befindliche Kondensator 50 überprüft.
Der an dem Kondensator 50 gemessene Wert beträgt beispiels­ weise 2 Millivolt und wird über den betreffenden Testmodul oder die Testmodule 6 in den Vorverstärker der Testbussteu­ erung 14 geleitet. Dieser verstärkt den gemessenen Wert in einem festen Verhältnis auf eine für die Weiterverarbei­ tung geeigneten bestimmte Spannung. Dieses Signal gelangt von der Testbussteuerung 14 über die Leitung 24 direkt in den Analogbus 17 und von dort in den Verstärker 38. Dieser verstärkt die Spannung auf einen gewünschten hö­ heren Wert. Das nunmehr verstärkte Signal wird mittels des Analog/Digital-Wandlers 31 in ein digitales Signal umgewandelt und gelangt über den Digitalbus 16, die Lei­ tung 20 in die Digitalbussteuerung 12 und über die Lei­ tung 47, den Adressen-Multiplexer 11, die Leitung 46 und die zentrale Datenverarbeitungseinheit 10 schließlich zu der Datenverarbeitungsanlage 3, auf deren Bildschirm bei­ spielsweise der gemessene Wert oder der korrigierte ge­ messene Wert angezeigt wird.
Eine solche Vorrichtung ist in der Lage, das Prüfen von Bauelementen bzw. Baugruppen auf Prüfobjekten schnell und flexibel vorzunehmen.

Claims (6)

1. Vorrichtung zum automatischen Prüfen von elektrische und/oder elektronische Bauelemente bzw. Baugruppen aufwei­ senden Prüfobjekten, mit einer Datenverarbeitungsanlage (3) und einem damit verbundenen, einen Digitalbus (16) so­ wie einen Analogbus (17) aufweisenden Bussystem (5), an das mehrere direkt mit dem Prüfobjekt (2) verbundene Test­ module (6) angeschlossen sind, dadurch gekennzeichnet,
daß das Bussystem (5) zusätzlich einen Testbus (18) auf­ weist, und
daß Digital- (16), Analog- (17) und Testbus (18) vonein­ ander unabhängig jeweils an ein mit der Datenverarbei­ tungsanlage (3) verbundenes Steuergerät (4) angeschlossen sind, so daß digitale, analoge Signale und Testsignale ge­ trennt voneinander verarbeitbar sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Steuergerät (4) eine Digitalbus- (12), Analogbus- (13) und Testbussteue­ rung (14) aufweist, die miteinander und mit dem entspre­ chenden Bus (16, 17, 18) verbunden sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Testbussteuerung zusätzlich an den Analogbus (17) angeschlossen ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, da­ durch gekennzeichnet, daß das Steuer­ gerät (4) in Form eines Sub-Rechners aufgebaut ist und eine eigene zentrale Datenverarbeitungseinheit (10) auf­ weist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die zentrale Daten­ verarbeitungseinheit (10) des Steuergeräts (4) mit der Datenverarbeitungsanlage (3) und mit der Digitalbus­ steuerung (12) verbunden ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Steuergerät (4) einen Adressen-Multiplexer (11) hat, der einerseits an die zentrale Datenverarbeitungseinheit (10) des Steuer­ geräts (4) und andererseits an die Digitalbussteuerung (12) angeschlossen ist.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2737575A1 (fr) * 1995-08-01 1997-02-07 Schlumberger Technologies Inc Voies analogiques pour testeur de vlsi a signaux melanges

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51148339A (en) * 1975-06-16 1976-12-20 Toshiba Corp Computer control unit
US4758780A (en) * 1986-12-08 1988-07-19 Ncr Corporation Circuit board test apparatus and method
DE3923764C1 (de) * 1989-07-18 1990-08-02 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen, De

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
LEIMBACH, W.: Board-Test ohne Kompromisse. In: der elektroniker 11/1987, S. 84-90 *
SCHÄFER, H.J.: "Die Busstruktur macht's". In: ELEKTRONIK, H. 9, 1985, S. 13-14 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2737575A1 (fr) * 1995-08-01 1997-02-07 Schlumberger Technologies Inc Voies analogiques pour testeur de vlsi a signaux melanges

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