DE8621171U1 - Prüfeinrichtung für beidseitige Kontaktierung bestückter Leiterplatten - Google Patents

Prüfeinrichtung für beidseitige Kontaktierung bestückter Leiterplatten

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DE8621171U1 DE19868621171 DE8621171U DE8621171U1 DE 8621171 U1 DE8621171 U1 DE 8621171U1 DE 19868621171 DE19868621171 DE 19868621171 DE 8621171 U DE8621171 U DE 8621171U DE 8621171 U1 DE8621171 U1 DE 8621171U1
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    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07321—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support the probes being of different lengths

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4008771A1 (de) * 1990-03-19 1991-09-26 Lohse Christian Schalttech Pruefgeraet fuer beidseitig mit integrierten schaltungen bestueckte leiterplatten

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DE4008771A1 (de) * 1990-03-19 1991-09-26 Lohse Christian Schalttech Pruefgeraet fuer beidseitig mit integrierten schaltungen bestueckte leiterplatten

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