DE8621171U1 - Prüfeinrichtung für beidseitige Kontaktierung bestückter Leiterplatten - Google Patents
Prüfeinrichtung für beidseitige Kontaktierung bestückter LeiterplattenInfo
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19868621171 DE8621171U1 (de) | 1986-08-07 | 1986-08-07 | Prüfeinrichtung für beidseitige Kontaktierung bestückter Leiterplatten |
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DE8621171U1 true DE8621171U1 (de) | 1988-01-21 |
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ID=6797233
Family Applications (1)
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DE19868621171 Expired DE8621171U1 (de) | 1986-08-07 | 1986-08-07 | Prüfeinrichtung für beidseitige Kontaktierung bestückter Leiterplatten |
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Country | Link |
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DE (1) | DE8621171U1 (pt) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4008771A1 (de) * | 1990-03-19 | 1991-09-26 | Lohse Christian Schalttech | Pruefgeraet fuer beidseitig mit integrierten schaltungen bestueckte leiterplatten |
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1986
- 1986-08-07 DE DE19868621171 patent/DE8621171U1/de not_active Expired
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DE4008771A1 (de) * | 1990-03-19 | 1991-09-26 | Lohse Christian Schalttech | Pruefgeraet fuer beidseitig mit integrierten schaltungen bestueckte leiterplatten |
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