DE85981T1 - Verfahren und einrichtung zur bestimmung des bewegungsindexprofils von optischen fasern und faservorformen. - Google Patents

Verfahren und einrichtung zur bestimmung des bewegungsindexprofils von optischen fasern und faservorformen.

Info

Publication number
DE85981T1
DE85981T1 DE198383101165T DE83101165T DE85981T1 DE 85981 T1 DE85981 T1 DE 85981T1 DE 198383101165 T DE198383101165 T DE 198383101165T DE 83101165 T DE83101165 T DE 83101165T DE 85981 T1 DE85981 T1 DE 85981T1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
fiber
preform
bundle
monochromatic
radiations
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE198383101165T
Other languages
English (en)
Inventor
Giorgio Torino Grego
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Telecom Italia SpA
Original Assignee
CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni SpA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni SpA filed Critical CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni SpA
Publication of DE85981T1 publication Critical patent/DE85981T1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/04—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Manufacture, Treatment Of Glass Fibers (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Claims (12)

Patentansprüche
1. Verfahren zum Bestimmen des Brechungsindexprofils einer optischen Faser oder der Vorform einer optischen Faser, gekennzeichnet durch die folgenden Verfahrensschritte:
Man erzeugt ein zwei Lichtstrahlungen mit geringfügig unterschiedlicher Frequenz aufweisendes Strahlenbündel;
man verbreitert das Strahlenbündel auf einen Querschnitt, der mindestens gleich groß wie der der Faser oder Vorform ist;
man trennt die beiden Strahlungen unter Erzeugung eines ersten und eines zweiten monochromatischen Teilbündels;
man erzeugt elektrische Signale mit einer Frequenz gleich der Differenz zwischen den beiden Frequenzen, wobei die elektrischen Signale die Schwebungen zwischen
den Strahlungen des ersten monochromatischen Bündels, das man einem festgelegten optischen Weg folgen läßt, und des zweiten monochromatischen Bündels, das man einem die getestete Faser oder Vorform schneidenden Weg folgen läßt, wiedergibt;
man mißt die aufgrund der Unterschiede der optischen Wege auftretenden Phasendifferenzen zwischen den Schwebungen und einer Bezugsschwebung, die aus Strahlungen der beiden Frequenzen erhalten wird, welche einem Weg außerhalb der Faser oder Vorform folgten;
und man erhält das Brechungsindexprofil der Faser oder Vorform aus den Phasendifferenzen.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
man das Brechungsindexprofil durch eine Auswerteinheit
erhält, die zur Durchführung einer Berechnung nach der folgenden Beziehung aufgebaut ist:
f dr
wobei 0 = die Phase des die Faser oder Vorform in einem Abstand r vom Zentrum schneidenden Strahls; η (ρ) = Brechungsindex des Faser- oder Vorformkerns in einem Abstand <?<r vom Zentrum; η = Brechungsindex des Mantels; und λ = Wellenlänge der bei der Messung verwendeten Strahlung.
3· Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß man die beiden Lichtstrahlungen durch den Zeeman-Effekt erhält.
4'. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3> dadurch gekennzeichnet, daß man die Bezugsschwebung als Ausgangssignal eines Fotodetektors erhält, dem man einen Strahlenbündelteil, der die die beiden verschiedene Frequenzen aufweisenden Strahlungen enthält und vor dem Trennen der Strahlungen extrahiert worden ist, eingibt.
5· Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3> dadurch gekennzeichnet, daß man das Strahlenbündel so verbreitert, daß das zweite monochromatische Teilbündel Strahlen umfaßt, die nicht von der Faser oder Vorform gebeugt werden, und die Bezugsschwebung zwischen diesen Strahlen und den entsprechenden Strahlen im ersten monochromatischen Teilbündel erzeugt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5> dadurch gekennzeichnet, daß man das zweite monochromatische Teilbündel einer Phasenverschiebung unterwirft, die komplementär der von einer Bezugsfaser oder einer Bezugsvorform bewirkten Phasenverschiebung ist, und die Brechungsindexwerte durch Vergleich mit der Bezugsfaser oder Bezugsvorform erhält.
7· Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß man das erste und das zweite monochromatische Teilbündel vor der Erzeugung des Schwebungssignals zu einem einzigen Strahlenbündel re-kombiniert.
8. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 7, gekennzeichnet durch:
- eine Quelle (l) eines Lichtbündels (2), das zwei Strahlungen mit geringfügig unterschiedlichen Frequenzen (Fl, F2) enthält;
- einen Bündelexpander (8), der die Querschnittsgröße des Bündels (2) auf Werte erhöht, die mindestens gleich denen der Querschnittsgröße der getesteten Faser oder Vorform (6) sind;
- ein optisches System (9, 10, H), das das expandierte Strahlenbündel (2c) in zwei monochromatische Teilbündel (2d, 2e) spaltet, eines der beiden Teilbündel (2d) entlang einem festgelegten optischen Weg schickt und das andere (2e) entlang einem Weg schickt, der die
008598
- 4 getestete Faser oder Vorform (6) schneidet;
- einen ersten Fotodetektor (12), der, in Strahlungsrichtung gesehen, hinter der getesteten Faser oder Vorform (6) angeordnet ist und die Strahlen sowohl des ersten als auch des zweiten monochromatischen Teilbündels (2d, 2e) empfängt, und der elektrische Signale einer Frequenz gleich der Differenz zwischen den Frequenzen der beiden Strahlungen erzeugt, wobei die elektrischen Signale die Schwebungen zwischen den Strahlungen der beiden monochromatischen Teilbündel (2d, 2e) wiedergeben ;
- ein Phasenvergleichsystem (15) > das die elektrischen Signale und ein Bezugssignal gleicher Frequenz empfängt und Signale erzeugt, die die Phasendifferenz zwischen den elektrischen Signalen und dem Bezugssignal wiedergeben;
- ein Rechensystem (17)} das aus den Phasendifferenzwerten den Brechungsindex berechnet.
9· Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Quelle ein Zeemaneffekt-Laser ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 95 dadurch gekennzeichnet, daß sie weiterhin einen einen Teil (2a) des von der Quelle (1) emittierten Strahlenbündels (2) extrahierenden Strahlspalter (4.) und einen zweiten Photodetektor (5)j der diesen Bündelteil (2a) empfängt und das Bezugssignal als Schwebungssignal zwischen den beiden enthaltenen Strahlungen erzeugt, enthält.
11. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9> dadurch gekennzeichnet, daß der erste Photodetektor auch die Bezugsschwebung erzeugt.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß in Serie mit der getesteten Vorform
008598
oder Faser (6) das komplementäre Hologramm (18) einer Standard-Vorform oder -Faser mit bekanntem Indexprofil angeordnet ist und das Rechensystem die Brechungsindexwerte durch Vergleich mit den bekannten Werten entnimmt.
13· Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß sie zwischen der getesteten Vorform oder Faser (6) und dem ersten Photodetektor (12) eine Einrichtung zum Rekombinieren der beiden monochromatischen Teilbündel (2d, 2e) zu einem einzigen Bündel enthält.
14· Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Photodetektor (12) in einem Muster angeordnete Photodioden oder eine Telekamera ist.
DE198383101165T 1982-02-10 1983-02-08 Verfahren und einrichtung zur bestimmung des bewegungsindexprofils von optischen fasern und faservorformen. Pending DE85981T1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT67150/82A IT1155285B (it) 1982-02-10 1982-02-10 Procedimento e apparecchiatura per la determinazione del profilo d'indice di rifrazione di fibre ottiche e preforme per fibre ottiche

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE85981T1 true DE85981T1 (de) 1983-12-08

Family

ID=11300000

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE8383101165T Expired DE3365511D1 (en) 1982-02-10 1983-02-08 Method of and apparatus for determining the refractive-index profile of optical fibres and optical-fibre preforms
DE198383101165T Pending DE85981T1 (de) 1982-02-10 1983-02-08 Verfahren und einrichtung zur bestimmung des bewegungsindexprofils von optischen fasern und faservorformen.

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE8383101165T Expired DE3365511D1 (en) 1982-02-10 1983-02-08 Method of and apparatus for determining the refractive-index profile of optical fibres and optical-fibre preforms

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4565449A (de)
EP (1) EP0085981B1 (de)
JP (1) JPS58140338A (de)
CA (1) CA1183365A (de)
DE (2) DE3365511D1 (de)
IT (1) IT1155285B (de)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1179066B (it) * 1984-08-22 1987-09-16 Cselt Centro Studi Lab Telecom Procedimento e dispositivo per la determinazione in tempo reale dello stato di polarizzazione di un fascio luminoso quasi monocromatico
JP2517551B2 (ja) * 1986-05-09 1996-07-24 キヤノン株式会社 位相分布測定装置
DE3627876A1 (de) * 1986-08-16 1988-02-25 Felten & Guilleaume Energie Verfahren und einrichtung zum messen der gaskonzentration in einem gasgemisch
JPS6352034A (ja) * 1986-08-21 1988-03-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 単一モ−ド光フアイバの測定方法および装置
US4779978A (en) * 1986-09-08 1988-10-25 Sumitomo Electric Research Triangle, Inc. Method of measuring the refractive index profile of optical fibers
US4764680A (en) * 1987-04-14 1988-08-16 United Technologies Corporation Method of and arrangement for testing cylindrical objects for shape deviations
US4906095A (en) * 1988-01-25 1990-03-06 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Apparatus and method for performing two-frequency interferometry
US5151752A (en) * 1988-06-16 1992-09-29 Asahi Kogaku Kogyo K.K. Method of measuring refractive indices of lens and sample liquid
JP2644609B2 (ja) * 1990-05-28 1997-08-25 科学技術振興事業団 ヘテロダイン検波受光系を用いた振幅像及び位相像の同時検出装置
US5133602A (en) * 1991-04-08 1992-07-28 International Business Machines Corporation Particle path determination system
US5396323A (en) * 1994-02-07 1995-03-07 Corning Incorporated Method and apparatus for analyzing optical waveguide cane
US6260386B1 (en) * 1994-03-10 2001-07-17 Lucent Technologies Inc. Optical fiber preform cleaning method
DE19501158C1 (de) * 1995-01-06 1996-04-11 Oeg Ges Fuer Optik Elektronik Vorrichtung zur Homogenitätsprüfung von optischen Gläsern und Kristallen
IT1280841B1 (it) * 1995-04-05 1998-02-11 Cselt Centro Studi Lab Telecom Procedimento e apparecchiatura per la misura dell'indice di rifrazione di lastrine di materiale vetroso
DE69633322T2 (de) * 1995-10-31 2005-09-22 Kyoto Daiichi Kagaku Co. Ltd. Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung durch Polarisationsanalyse
JP3828111B2 (ja) * 2001-07-02 2006-10-04 株式会社アドバンテスト 伝搬測定装置及び伝搬測定方法
JP4115313B2 (ja) * 2003-03-27 2008-07-09 ダイセル化学工業株式会社 マイクロカプセルの壁膜の厚み算出装置
SE0302676D0 (sv) * 2003-10-09 2003-10-09 Neural Ab Method and apparatus for holographic refractometry
JP5008650B2 (ja) * 2008-12-25 2012-08-22 キヤノン株式会社 屈折率分布計測方法及び屈折率分布計測装置
JP5328437B2 (ja) * 2009-03-25 2013-10-30 キヤノン株式会社 透過波面測定方法、屈折率分布測定方法、光学素子の製造方法、及び透過波面測定装置
JP4968965B2 (ja) * 2009-11-18 2012-07-04 キヤノン株式会社 屈折率分布の計測方法および計測装置
JP4968966B2 (ja) * 2009-12-07 2012-07-04 キヤノン株式会社 屈折率分布の計測方法および計測装置
JP5021054B2 (ja) * 2010-05-25 2012-09-05 キヤノン株式会社 屈折率分布計測方法および屈折率分布計測装置
JP4895409B2 (ja) * 2010-05-25 2012-03-14 キヤノン株式会社 屈折率分布計測方法および屈折率分布計測装置
JP5008763B2 (ja) 2010-12-03 2012-08-22 キヤノン株式会社 屈折率分布計測方法、屈折率分布計測装置および光学素子の製造方法
JP6207383B2 (ja) * 2013-12-25 2017-10-04 キヤノン株式会社 屈折率分布計測方法、屈折率分布計測装置、及び光学素子の製造方法
CN104807615A (zh) * 2015-04-23 2015-07-29 上海大学 基于数字全息的光纤折射率三维分布测量装置和方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3463924A (en) * 1966-12-16 1969-08-26 Lockheed Aircraft Corp Opposite circularly-polarized optical heterodyne detection system
US3881823A (en) * 1967-06-02 1975-05-06 Philips Corp Apparatus for measuring the variation of an optical path length with the aid of an interferometer

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0233088B2 (de) 1990-07-25
CA1183365A (en) 1985-03-05
JPS58140338A (ja) 1983-08-20
EP0085981A1 (de) 1983-08-17
DE3365511D1 (en) 1986-10-02
US4565449A (en) 1986-01-21
IT1155285B (it) 1987-01-28
IT8267150A0 (it) 1982-02-10
EP0085981B1 (de) 1986-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE85981T1 (de) Verfahren und einrichtung zur bestimmung des bewegungsindexprofils von optischen fasern und faservorformen.
DE3326555C2 (de)
DE69725859T2 (de) Messen von Effekten des Brechungsindex eines Gases mit unterschiedlicher Vielfach - Interferometrie ( superheterodyn )
DE68914472T2 (de) Verfahren und Gerät zur Messung von Vibrationen.
DE19528676C2 (de) Interferometeranordnung zur absoluten Distanzmessung
DE2431551C2 (de) Anordnung zur Messung von Bewegungen und Geschwindigkeiten
DE3608075A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur abstandsmessung durch laserstrahlen
DE4244605A1 (de) Optisches Niederkohärenzreflektometer von verbesserter Empfindlichkeit mit optischer Dämpfung
DE69303464T2 (de) System zur interferometrischen Detektion und Lokalisierung von reflektierenden Defekten in Lichtleiterstrukturen
DE3937851A1 (de) Laser-doppler-geschwindigkeitsmesser
DE69631400T2 (de) System für das Messen von Dünnfilmen
DE1302592B (de) Geraet zur konzentrationsbestimmung eines analysenstoffes mittels selektiver absorption modulierter strahlung
DE2934191C2 (de)
DE2656520B2 (de) Verfahren zur Ermittlung des Verhältnisses von Kernradius zu Mantelradius einer ummantelten optischen Faser
DE69715519T2 (de) Vorrichtung zur Charakterisierung optischer Pulse
DE60307260T2 (de) Verfahren und vorrichtung für die laservibrometrie
DE19517534A1 (de) Gerät und Verfahren zur kontaktlosen Dickemessung
DE2636211B1 (de) Interferometrisches verfahren zur abstands- oder ebenheitsmessung
DE272466T1 (de) Raeumlich verteilter temperatursensor mit einer optischen faser als messaufnehmer.
DE172568T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur echtzeitmessung des polarisationszustandes eines quasimonochromatischen lichtbuendels.
DE4403021A1 (de) Luftrefraktometer mit hoher Akkuranz
DE69026817T2 (de) Methode zum Detektieren und Messen von äusseren Einwirkungen
DE291962T1 (de) Verfahren zum messen der polarisation und doppelbrechung in optischen fasern vom monomodetyp.
DE4400680A1 (de) Vorrichtung zur Bestimmung von Abstandsänderungen eines Objekts
DE3627876C2 (de)