DE821128C - Verfahren und Einrichtung zur Erzeugung eines Phasenkontrastes - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur Erzeugung eines Phasenkontrastes

Info

Publication number
DE821128C
DE821128C DEP52090A DEP0052090A DE821128C DE 821128 C DE821128 C DE 821128C DE P52090 A DEP52090 A DE P52090A DE P0052090 A DEP0052090 A DE P0052090A DE 821128 C DE821128 C DE 821128C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
condenser
lens
objective
image
phase contrast
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEP52090A
Other languages
English (en)
Inventor
Hermann Heine
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ernst Leitz Wetzlar GmbH filed Critical Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority to DEP52090A priority Critical patent/DE821128C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE821128C publication Critical patent/DE821128C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/14Condensers affording illumination for phase-contrast observation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Verfahren und Einrichtung zur Erzeugung eines Phasenkontrastes Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und die zugehörigen Einrichtungen zur Erzeugung eines Phasenkontrastes insbesondere bei der Abbildung mikroskopischer Objekte.
  • Man kennt zwei 'Methoden, um unter Phasenkontrast zu beobachten; die eine ist in der deutschen Patentschrift 636 168 und in dem Aufsatz von F. Zernike, »Physica I«, (I934), S. 689 bis 704 dargestellt, die andere in »Journal of the Optical Society of America 37« (I947), S. 726 bis 730 vori 1I. Osterberg beschrieben. Es ist außerdem aus der Technik der Schlierenverfahren bekannt, das Beugungsbild einer punktförmigen oder nahezu punktförmigen Lichtquelle teilweise durch eine Schneide abzublenden, um auf diese Weise Inhomogenitäten eines Objekts oder Unebenheiten einer Spiegelfläche sichtbar zu machen (vgl. auch den obengenannten Aufsatz von Z e r n i k e) .
  • Bei der erstgenannten Methode wird in der Austrittspupille eines jeden zur Verwendung kommenden Objektivs eine Phasenplatte angebracht, die mit einer ringförmigen, die Phase verändernden Schicht versehen ist und nach Lage und Breite zu einer ebenfalls ringförmigen, im Kondensor des -IikroskopsbefindlichenÖffnungsblendekonjugiertist. Die Phasenplatte hat den Zweck, den Phasenunterschied zwischen den beleuchtenden und den im Objekt abgebeugten Strahlen zu verändern.
  • Bei der zweiten -Methode, die unter dem Namen Polanretverfahren bekanntgeworden ist, wird der Phasenunterschied durch polarisierende Hilfsmittel erzeugt.
  • Durch eine besondere Ausbildung der Phasenplatte bzw. der polarisierenden Hilfsmittel kann man außer der Phasenänderung noch eine Lichtschwächung der beleuchtenden Strahlenbündel in der Austrittspupille des Objektivs herbeiführen.
  • Durch den Eingriff, z. B. durch die Phasenplatte nach Z e r n i k e oder die Platte nach Osterberg wird bekanntlich die nicht absorbierende Struktur des Objekts als Phasenkontrastbild sichtbar gemacht.
  • Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren wird dieser Erfolg erreicht ohne die erwähnten Hilfsmittel. Es hat ferner den Vorteil, daß man durch einfaches Hoch- und Tiefstellen des Kondensors von der gewöhnlichen Hellfeldbeobachtung zur Phasenkontrastbeobachtung und dann zur Dunkelfeldbeobachtung übergehen kann, so daß die drei Beobachtungsarten unter ständiger Fixierung des Objektes ausgeübt werden können. Auch entfällt bei Auswechslung des Objektivs das bei Verwendung einer Phasenplatte erforderliche Auswechseln der Kondensorblende und deren Zentrierung; es genügt vielmehr, den Kondensor der Höhe nach einzustellen.
  • Das Beobachtungsverfahren nach der Erfindung besteht darin, daß man in der Austrittspupille eines das Objekt abbildenden Objektivs ein durch Diffraktion an der engsten Strahlenbegrenzung deutlich verbreitertes Beugungsbild einer schmalen, ringförmigen Beleuchtungsbasis erzeugt und die dasselbe aufbauenden Lichtwellen zur Bildung des Phasenkontrastbildes mit Hilfe von solchen Einrichtungen beeinflußt, die in üblichen Abbildungssystemen bereits vorkommen. Die Forderung, daß die Breite des Ringbildes in der Austrittspupille im wesentlichen durch die Diffraktion bestimmt ist, setzt voraus, daß erstens die Beleuchtungsbasis genügend schmal ist und daß zweitens die geometrischen Aberrationen bei der Abbildung der Beleuchtungsbasis in die Austrittspupille genügend klein sind.
  • Die zur Beeinflussung erforderlichen Mittel bestehen entweder in einer ringförmigen und zentrierten teilweisen Abblendung des durch die Beugung verbreiterten Bildes der Beleuchtungsbasis oder in der Änderung seiner Phase in der Weise, daß das Beugungsbild auf diejenige Zone der Austrittspupille des Objektivs gebracht wird, welche die gewünschte Phasenverzögerung bewirkt. Man kann auch bei Verwendung eines Mikroskopobjektivs mit Korrektionsfassung die Wellenfläche so verändern, daß in der benutzten Zone infolge der Aberrationen die erforderliche Phasenbeeinflussung entsteht.
  • Zur Schaffung einer schmalen, ringförmigen Beleuchtungsbasis bedient man sich entweder eines ringförmigen Glühfadens oder beispielsweise eines Kondensors, der unten näher beschrieben ist. Man kann auch den in der amerikanischen Patentschrift 2 130 494 beschriebenen Auflichtkondensor verwenden, falls man ihn als Durchlichtkondensor unterhalb des Objekts anordnet. Bei diesem bekannten Kondensor sind die reflektierenden Flächen so gekrümmt, daß sie in seiner Austrittsfläche ein einfallendes paralleles Lichtbündel zu einer ringförmigen Brennlinie konzentrieren, während bei sonst bekannten Dunkelfeldkondensoren das Lichtbündel im Objekt konzentriert wird.
  • Für den Fall der Anwendung von Immersionsobjektiven wird zwischen den Kondensor und den Objektträger eine plankonvexe Saiiinielliiise eingefügt, deren plane Seite finit dem Objektträger durch eine Immersionsflüssigkeit verbunden wird. Diese Zwischenlinse darf an der Höheneinstellung des Kondensors nicht teilnehmen.
  • In dem Aufsatz in der »Zeitschrift für Technische Physik«, 16. S. 454 bis 457 (I935) hat Zernike ausgeführt, daß das SchneidenverfalirenBilder ergibt, die der Struktur des beobachteten Objekts unähnlich sind. Daß durch die ringförmige Schneidenanordnung nicht bestimmte Richtungen im Bild ausgezeichnet sind wie bei dein punktförmigen Schneidenverfahren, folgt aus der Rotationssymmetrie der Anordnung. Darüber hinaus enthält aber die Erfindung die neue Erkenntnis, daß bei Verwendung der ringförmigen Schneidenanordnung die Hell-Dunkel-Verteilung im Bild diejenige eines Phasenkontrastbildes ist. Der Phasenkontrast ist positiv oder negativ, je nachdem das Beugungsbild der Beleuchtungsbasis von innen oder von außen abgeblendet wird.
  • In der Zeichnung sind zur Ausübung des erfindungsgemäßen Verfahrens geeignete Einrichtungen beispielsweise dargestellt, und zwar zeigt Fig. i ein Mikroskop mit der erfindungsgemäßen Einrichtung, teilweise im Schnitt, den Tubus unterbrochen, Fig. 2 bis 6 den Kondensor aus Fig. i in verschiedenen Gebrauchsstellungen.
  • Das Mikroskop üblicher Bauart besteht aus dem nur teilweise gezeigten Fuß i, dein ebenfalls nur teilweise gezeigten Oberteil e mit Scharfstellvorrichtung 3, Tubus 4, Objekttisch 5 und Beleuchtungsapparat 6. Letzterer kann insgesamt mittels Zahntrieb 7, 8 in der Höhe eingestellt «-erden. Über dem Spiegel 9 ist die aus der Kollektorlinse io und dem Kondensor i i bestehende Beleuchtungsoptik angeordnet. Der Kondensor i i ist in seiner Fassung 12 mittels Zahntrieb 13, 13" gegenüber der Kollektorlinse io in Richtung der bptischen Achse verstellbar. Der Kondensor i i kann außerdem durch die in Fig. i a dargestellte Linse i ia ergänzt werden, wie in Fig. 3 zu sehen. Auf dem Tisch 5 befindet sich der Objektträger i_5 und darüber im Arbeitsabstand von den am Revolver 16 sitzenden Objektiven 17 und 18 das Objektiv 17. Am oberen Ende des Tubus ,4 ist das Okular i9 eingeschoben. Das Objektiv 17 besteht im wesentlichen aus drei Linsengruppen 17a, 17b, 17E und der in der hinteren 17E Brennebene liegenden Austrittspupille 17d. Mit ist eine Blende bezeichnet.
  • Die für die Aufhellung des Objekts 15 bestimmten Beleuchtungsstrahlen werden über den Spiegel 9 der Kollektorlinse io zugeführt, die dieselben leicht konvergierend zum Kondensor i i weiterleitet. Die aus dem Kondensor austretenden Strahlen hellen dann das Objekt 15 auf, das durch Objektiv 17 und Okular i9 abgebildet wird.
  • In den Fig. 2 bis 6 ist der Kondensor i i in verschiedenen Anwendungen dargestellt, und zwar in den Fig. 2, 4, 6 mit demselben Objektiv 17, das eine mittlere Brennweite haben möge, in der Fig. 3 mit einem kurzbrennweitigen Immersionsobjektiv und in der Fig. 5 finit einem schwachen, langbrennweitigen Objektiv 18. Diese drei Objektive sind jeweils mir durch ihre Frontlinse 17a, 25a und 18° angedeutet, weil der Objektivaufbau an sich bekannt, und die Lage des Beugungsbildes der Basis zur Austrittspupille eines jeden Objektivs der Darstellung in Fig. i analog ist.
  • Der Kondensor i i ist dem Aufbau nach ein bekannter Dunkelfeldkondensor. Seine Abmessungen sind jedoch kleiner als die der meist gebräuchlichen Kondensoren, so daß seine ringförmige Austrittsfläche 21 vollständig in der Austrittspupille des Objektivs abgebildet wird, wenn der Kondensor sich in der Stellung (hig. 4) für Phasenkontrast befindet.
  • Wenn in der Eintrittsfläche 2o des Kondensors ein Gemisch von Strahlen verschiedener Richtungen eintritt, so wird ein Teil dieser Strahlen zurückreflektiert oder absorbiert, die anderen Strahlen verlassen den Kondensor in zwei voneinander getrennten Bündeln, deren eines, das in Fig.2 mit 22 bezeichnet ist, zur Dunkelfeldbeleuchtung dient, während das Bündel 23 je nach der Höhenstellung des Kondensors zur Phasenkontrastbeleuchtung oder zur IIellfeldbeleuchtung dient.
  • In Fig. 2 ist dargestellt, daß das zur Dunkelfeldbeleuchtung dienende Bündel 22 innerhalb des Kondensors zweimal reflektiert und im Objekt 15 konzentriert wird. Die Fig. 3 bis 6 zeigen, daß das andere Bündel 23 durch dreimalige Reflexion entsteht und in der ringförmigen Beleuchtungsbasis konzentriert wird. Dieses Bündel verläßt den Kondensor in allen Höhenlagen des Kondensors divergent und in demselben Öffnungswinkel. Damit dieses Bündel voll zur Wirkung kommt, sind, wie in den Figuren durch dickere Linien dargestellt, die Flächen an den das zweite Bündel reflektierenden Stellen verspiegelt mit Ausnahme der Eintrittsfläche 20.
  • In der dem Objekt 15 nahen Stellung des Kondensors i i, entsprechend der Fig. 2, kommt nur das Strahlenbündel 22 zur Wirkung, so daß das Objekt 15 im Dunkelfeld gesehen wird. Senkt man nun den Kondensor i i durch Drehen am Trieb 13 etwa in die Stellung nach Fig. ,4 ab, so wird das Objekt 15 von dein Büschel 23 beleuchtet, aus dem die Frontlinse 17a den Bereich 23a aufnimmt, der in der Figur schraffiert ist. Es ist dies das Büschel, das in der Austrittspupille 17d des Objektivs 17 das Bild der Beleuchtungsbasis 24 in der zur Erzeugung des Phasenkontrastes richtigen Lage entwirft.
  • Senkt man den Kondensor i i noch weiter ab, und zwar in die Stellung der Fig. 6, so wird ein anderer Bereich 23b des Büschels 23 von der Frontlinse 17a aufgenommen, wodurch das Bild der Basis vom Rand der Austrittspupille 17d nach innen wegrückt, so daß ein reines Hellfeldbild entsteht.
  • In der Fig.3 wird gezeigt, daß das Phasenkontrastverfahren mit dem gleichen Kondensor i i auch bei Immersionsobjektiven ausgeübt werden kann, wenn man die Linse i ja vorschaltet und diese mit dem Objektträger 14 durch eine Immersionsflüssigkeit verbindet. Der Kondensor i i muß dann gegenüber der Stellung in Fig. 4 angehoben werden. Aus dein gesamten Büschel wird der Bereich 23c von der Frontlinse 25a aufgenommen, wodurch dann ebenfalls das Bild der Basis 24 in der richtigen Lage zur Austrittspupille dieses Objektivs hervorgerufen wird.
  • Schließlich zeigt die Fig. 5, daß nach Einschalten des schwach vergrößernden Objektivs 18 der Kondensor i i sehr stark abgesenkt werden muß, um das Bild der Basis in die richtige Lage zur Austrittspupille des Objektivs 18 zu bringen. Von der Frontlinse wird darin der Bereich 23e aufgenommen.
  • Durch entsprechende Höheneinstellung des Kondensors i i können auch mit den Objektiven der Fig.3 und 5 Dunkelfeld- und reine Hellfeldbeobachtungen vorgenommen werden. Lediglich zur Übersichtlichkeit der Darstellung sind die entsprechenden Einstellungen des Kondensors nicht abgebildet.

Claims (14)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Optisches Beobachtungsverfahren mit Phasenkontrast insbesondere für mikroskopische Beobachtungen, dadurch gekennzeichnet, daß man in der Austrittspupille eines das Objekt abbildenden Objektivs ein durch Diffraktion an der engsten Strahlenbegrenzung deutlich verbreitertes Beugungsbild einer hierzu genügend schmalen ringförmigen Beleuchtungsbasis erzeugt und die dasselbe aufbauenden Lichtwellen zur Bildung des Phasenkontrastbildes mit solchen Einrichtungen beeinflußt, die in gewöhnlichen, für Phasenkontrast nicht vorgesehenen Mikroskopen vorkommen, wie z. B. mit einer Aperturblende oder einer Korrektionsfassung.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß man auf die seitliche Ausdehnung dieses Bildes durch eine ringförmige, teilweise Abblendung einwirkt.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Zone des Objektivs, in der das Bild der Beleuchtungsbasis liegt, mit an sich bekannten Mitteln in ihrem Korrektionszustand relativ zu den anderen Zonen des Objektivs derart beeinflußt wird, daß die Verbiegung der Wellenfläche in der Zone des Bildes der Basis sich gegenüber der mittleren Verbiegung in den anderen Zonen um einen für den Phasenkontrast geeigneten Wert unterscheidet.
  4. 4. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß auf das Bild der Beleuchtungsbasis gleichzeitig mit den Mitteln nach Anspruch 2 und 3 eingewirkt wird.
  5. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche i bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß durch eine Verschiebung des Kondensors längs der Mikroskopachse das Bild der Beleuchtungsbasis auf diejenige Zone des Objektivs gebracht wird, welche die jeweils gewünschte Phasenverzögerung bewirkt.
  6. 6. Einrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach Anspruch i oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Objektiv in seiner Austrittspupille mit einer Irisblende ausgestattet ist.
  7. 7. Einrichtung zur Ausübung des 1'erfahrens nach Anspruch 2 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Objektiv in seiner Austrittspupille eine feste Ringblende besitzt, die eine Zone des Objektivs abdeckt. B.
  8. Einrichtung nach den Ansprüchen 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung eines Objektivs, dessen eine Zone durch eine feste Ringblende in der Austrittspupille abgeblendet wird, in der Austrittspupille zugleich eine Irisblende angeordnet ist.
  9. 9. Einrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Objektiv mit einer sogenannten Korrektionsfassung ausgestattet ist, welche den erforderlichen Korrektionszustand des Objektivs herbeizuführen gestattet. io.
  10. Einrichtung nach einem der Ansprüche i bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Intensität des Bildes der Beleuchtungsbasis durch absorbierende Mittel beeinflußt ist. i i.
  11. Einrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach einem der Ansprüche i bis 5, dadurch gekennzeichnet, daB ein Kondensor verwendet ist, der mindestens eine reflektierende Rotationsfläche und eine Strahleneintrittsfläche aufweist, die in den Kondensor eintretende Strahlen derart reflektieren, daß sie au; einer schmalen, ringförmigen Beleuchtungsbasis heraus dem Objekt und dem Objektiv zugeführt werden.
  12. 12. Kombination des Verfahrens nach einem der Ansprüche i bis 5 finit bekannten i1-likroskopierverfahren, dadurch gekennzeichnet, daß der Kondensor in Richtung der \likroskopaclise in einem solchen Umfange verschoben wird, daß bei Entfernung des Kondensors vom Objekt eine Beobachtung des Objekts nacheinander im Dunkelfeld, dann im Phasenkontrast und schließlich im Hellfeld erfolgt.
  13. 13. Einrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach einem der Ansprüche i bis 5 und 12 unter Benutzung der Einrichtungen nach einem der Ansprüche 6 bis i i in Verbindung mit einem Immersionsobjektiv, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Kondensor und dem Objektträger eine Linse einschaltbar ist, die mit dem Objektträger durch eine Immersionsflüssigkeit verbunden wird und an der Verschiebung des Kondensors gemäß Anspruch 5 oder 12 nicht teilnimmt.
  14. 14. Einrichtung zurAusübung desVerfahrens nach einem der Ansprüche i bis 5, 12 und 13, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen Kondensor und Lichtduelle eine Kollektorlinse eingeschaltet ist, die dem Kondensor die beleuchtenden Strahlen der erforderlichen Neigung zuführt.
DEP52090A 1949-08-16 1949-08-16 Verfahren und Einrichtung zur Erzeugung eines Phasenkontrastes Expired DE821128C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEP52090A DE821128C (de) 1949-08-16 1949-08-16 Verfahren und Einrichtung zur Erzeugung eines Phasenkontrastes

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEP52090A DE821128C (de) 1949-08-16 1949-08-16 Verfahren und Einrichtung zur Erzeugung eines Phasenkontrastes

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE821128C true DE821128C (de) 1951-11-15

Family

ID=7385542

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEP52090A Expired DE821128C (de) 1949-08-16 1949-08-16 Verfahren und Einrichtung zur Erzeugung eines Phasenkontrastes

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE821128C (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CH678663A5 (de)
DE2852203B2 (de) Lichtleiteinrichtung für eine mit Auflicht betriebene Abbildungsvorrichtung
DE3617421A1 (de) Optisches bauelement und vorrichtung zu dessen verwendung
DE3831950A1 (de) Mikroskop mit spiegelobjektiv und abbildungsverfahren
DE2316943A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur erzeugung eines reliefartigen kontrastes im mikroskopischen bild eines durchsichtigen phasenobjektes
DE102015112960B3 (de) Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe
DE102016108226A1 (de) Mikroskop
DE2165599A1 (de) Auflicht-Dunkelfeld-Beleuchtungsapparat für ein Mikroskop
DE2915639C2 (de) Augenuntersuchungsgerät zur Untersuchung des Augenhintergrundes
DE3122538C2 (de) Beleuchtungsoptik-Wählvorrichtung für ein Mikroskop
CH469480A (de) Spaltlampengerät für Augenuntersuchungen
DE102014118025B4 (de) Vorrichtung zur Lichtblattmikroskopie
DE821128C (de) Verfahren und Einrichtung zur Erzeugung eines Phasenkontrastes
DE102007046872B4 (de) Optische Abbildungsvorrichtung
DE2021784A1 (de) Beleuchtungseinrichtung fuer Auflichtmikroskope
DE112015002930T5 (de) Abbildendes optisches System, Beleuchtungsvorrichtung und Beobachtungsvorrichtung
DE603322C (de) Vorrichtung zur Hellfeld- und Dunkelfeldbeleuchtung mikroskopischer Objekte
DE102016120312B3 (de) Verfahren zum Beleuchten von Fokuspositionen objektseitig eines Objektivs eines Mikroskops und Mikroskop
DE1263339B (de) Fuer Auf- und/oder Durchlicht-Untersuchungen geeignetes Mikroskop mit zwei Lichtquellen
DE2633965A1 (de) Justiereinrichtung fuer laseroptische geraete bzw. komponenten
DE720900C (de) Optische Einrichtung fuer Mikroskope
DE255788C (de)
DE3105571A1 (de) "durchlicht-dunkelfeldkondensor"
DE1008929B (de) Anordnung zur photographischen Aufnahme des Augenhintergrundes, insbesondere der Netzhaut
AT237923B (de) Für Auf- und/oder Durchlicht-Untersuchungen geeignetes Mikroskop