DE745958C

DE745958C - Abdruckverfahren zur mikroskopischen Untersuchung von Oberflaechen, insbesondere von Kristallschichten auf Metallen

Info

Publication number: DE745958C
Application number: DEH166859D
Authority: DE
Inventors: Dr Aloys Wuestefeld
Original assignee: HAK HANSEATISCHES KETTENWERK G
Current assignee: HAK HANSEATISCHES KETTENWERK G
Priority date: 1941-11-26
Filing date: 1941-11-26
Publication date: 1944-12-11

Description

Abdruckverfahren zur mikroskopischen Untersuchung von Oberflächen, insbesondere von Kristallschichten auf Metallen Bei betrieblich hergestellten Kristallschichten auf Metallen wurde die Untersuchung der kristallinen Oberfläche stets beeinträchtigt durch Schmutz und Staubteilen, die sich im Kristallnet festgesetzt hatten. Besonders in letzter Zeit wurden Obelflächenuntersuchungsverfahren bekannt, die meistens mit rein optischen Hilfsmitteln durchgeführt wurden. Es ist bereits bekannt, getreue Abbildung der Oberfläche vermittels eines wieder abziehbaren dünnen Oberflächenfilms zu erhalten oder die Oberfläche in ein durchsichtiges Material geringer Dicke abzudrucken. Diese beiden Verfahren wurden entwickelt zur Untersuchung besonders feiner Oberflächen, wie Gefügereliefs oder Oberflächen von Sei den raupeneiern, Maulbeerblättern usw.
Mit den aufgeführten Verfahren können verschmutzte rauhe Oberflächen, beispielsweise Kristallschichten, nicht untersucht werden.
Die vorliegende Erfindung dient dem Zweck der Herstellung eines getreuen Abbildes der Oberfläche selbst von verschmutzten Kristallschichten mit Hilfe eines Abdruckverfahrens, das sich der Anwendung optischer wie mechanischer Hilfsmittel bedient.
Legt man erfindungsgemäß auf die zu unter suchende kristalline Schicht ein poliertes Metallband, das weicher als die zu untersuchenden Kristalle und härter als die ihnen anhaftenden Schmutzteilchen ist, und iibt darauf einen hohen Druck aus, so erhält man überratschend gute Abbilder der kristallinen Schicht, weil sich die Kristalle in das Band eindrücken und die Schmutzteilchen nicht mit abgedrückt werden.
Nach dem vorstehenden Verfahren wurden Abdrücke erzielt, die, im Mikroskop bei Dunkelfeldbeleuchtung betrachtet oder photogra phiert, wesentlich eindeutigere und kontrastreichere Bilder erg2ben, als sie bei Betrachtung selbst sauberer Rristallschichten im Original erhalten werden können.
Mit Erfolg für den Abdruck benutztes Metallband fanden Wir in blankgewalztem Material einer Aluminium-Magnesium-Legierung.
Die praktische Ausführung des Verfahrens ist einfach und schnell, bietet wesentliche Erleichterungen bei der mikroskopischen Untersuchung und ermöglicht sie überhaupt erst, wenn verschmutzte Oberflächen vorliegen.

Claims

PATENTANSPRUCH: Verfahren zur Untersuchung nichtmetallischer, kristalliner Oberflächen, dadurch gekennzeichnet, daß von diesen unabhängig von ihrer Verschmutzung für die mikroskopische Betrachtung ein getreuer Ahdruck auf einem Material hergestellt wird, das poliert, undurchsichtig und gleichzeitig weicher als die zu untersuchenden Kristalle und härter als die ihnen anhaftenden Schmutzteilchen ist.

Zur Abgrenzung des Anmeldungsgegenstandes vom Stand der Technik sind im Erteilungsverfahren folgende Druckschriften in Betracht gezogen worden: deutsche Patentschrift ...., Nr. 572 098; Zeitschrift »Metallwirtschaft«, Bd. 20, 1941 S. 983 bis 986.