DE69825644T2 - Unterscheidungsvorrichtung und -verfahren für optische Platten - Google Patents

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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung und ein Speicherscheibenunterscheidungsverfahren, die in der Lage sind, zu unterscheiden, welcher Speicherscheibentyp auf einer Speicherscheibenvorrichtung geladen ist, auf der ein unterschiedlicher Speicherscheibentyp, beispielsweise eine CD, eine DVD und dergleichen, geladen werden kann.
  • In letzter Zeit wurden Speicherscheibenvorrichtungen entwickelt, auf denen ein unterschiedlicher Speicherscheibentyp geladen werden kann. In diesem Fall muss unterschieden werden, welcher Speicherscheibentyp auf der Speicherscheibenvorrichtung geladen ist.
  • Jedoch haben eine CD (Compact Disk), eine DVD (Digital Versatile Disk), eine CD-ROM, etc. den gleichen Speicherscheibendurchmesser von 12 cm, und deren Klemmzentralloch hat auch den gleichen Durchmesser. Folglich kann ein Typ einer Speicherscheibe nicht nur durch deren Form und deren Größe unterschieden werden.
  • Um dieses Problem zu bewältigen, wenden herkömmliche Speicherscheibenvorrichtungen ein derartiges Verfahren zum Unterscheiden eines Typs einer Speicherscheibe, die darauf geladenen ist, an, dass das auf der Speicherscheibe aufgezeichnete Signal durch einen optischen Kopf und durch Rotieren der Speicherscheibe gelesen wird, wenn sie geladen ist, um dadurch die Übertragungsgeschwindigkeit und den Aufbau des so gelesenen Signals zu bestimmen.
  • Jedoch kann das Verfahren zum Unterscheiden eines Typs einer Speicherscheibe, die auf der Speicherscheibenvorrichtung geladen ist, durch Rotieren der Speicherscheibe und Lesen ihres Signals durch den optischen Kopf nicht sofort den Typ unterscheiden, kurz nachdem die Speicherscheibe geladen ist, und eine lange Zeit ist zum Abschluss des Unterscheidungsverfahrens erforderlich.
  • Wenn beispielsweise nur zwei Speicherscheibentypen, nämlich eine CD und eine DVD, durch das obige Verfahren unterschieden werden, ist es ausreichend, dass eine Kontrollschaltung nur zwei Signaltypen unterscheidet. Bei einer Speicherscheibenvorrichtung, auf der mehrere Speicherscheibentypen geladen werden, ist es jedoch erforderlich, dass die Kontrollschaltung eine Mehrzahl von Signaltypen unterscheidet und das Unterscheidungsverfahren, das von der Kontrollschaltung durchgeführt wird, wird sehr komplex gemacht.
  • Es sind auch eine Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung und ein Speicherscheibenunterscheidungsverfahren bekannt, die in der Lage sind, eine Speicherscheibe in einer kurzen Zeit ohne das Erfordernis des Lesens des auf der Speicherscheibe aufgezeichneten Signals zu unterscheiden.
  • JP-A-9-35401 beschreibt ein herkömmliches Unterscheidungsverfahren und eine herkömmliche Unterscheidungsvorrichtung, die auf dem Reflexionsvermögen der Oberfläche der Speicherscheibe unter Verwendung von Licht von einer speziellen Wellenlänge basieren.
  • Die vorliegende Erfindung schafft eine Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung, wie sie in Anspruch 1 beansprucht ist, und ein Unterscheidungsverfahren, wie es in Anspruch 5 beansprucht ist.
  • Erfindungsgemäß ist es möglich, eine Speicherscheibe zu unterscheiden, bei der der Reflexionsfaktor einer Aufzeichnungsoberfläche bezüglich einer unterschiedlichen Wellenlänge unterschiedlich ist.
  • Die obige Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung ist derart ausgelegt, dass Licht mit einer unterschiedlichen Wellenlänge individuell von der Lichtabstrahleinrichtung abgestrahlt wird und die Unterscheidungseinrichtung einen Typ in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren des Lichtes an der Aufzeichnungsoberfläche der Speicherscheibe basierend auf der Menge von empfangenem reflektiertem Licht und der Wellenlänge des Detektionslichts unterscheidet.
  • In diesem Fall kann eine einzelne Lichtempfangseinrichtung oder ein Satz von Lichtempfangseinrichtungen vorgesehen sein, können zwei Sätze von Lichtquellen, von denen Licht mit einer unterschiedlichen Wellenlänge individuell emittiert wird, mit einer Lichtemissionseinheit benachbart zueinander als eine Lichtabstrahleinrichtung vorgesehen sein, und die zwei Lichtquellen können derart geschaltet werden, dass zu unterschiedlicher Zeit Licht individuell von diesen emittiert wird. Andererseits ist es auch möglich, dass eine Lichtquelle mit einer Wellenlänge und eine Lichtempfangseinrichtung als ein Satz angeordnet sind, eine Lichtquelle mit einer anderen Wellenlänge und die Lichtempfangseinrichtung als ein Satz angeordnet sind und die Lichtabstrahleinrichtung und die Lichtempfangseinrichtung als ein individueller Satz für jede zu verwendende Wellenlänge angeordnet sind.
  • Andererseits wird Detektionslicht, das Licht mit einer unterschiedlichen Wellenlänge aufweist, von der Lichtabstrahleinrichtung abgestrahlt, eine Wellenlängenseparationseinrichtung ist zum Separieren des von der Aufzeichnungsoberfläche reflektierten Lichts bezüglich einer unterschiedlichen Wellenlänge vor der Lichtempfangseinrichtung angeordnet, die Lichtempfangseinrichtung weist individuelle Lichtempfangsbereiche zum individuellen Empfangen des reflektierten Lichts mit der unterschiedlichen Wellenlänge auf, und die Unterscheidungseinrichtung unterscheidet einen Typ in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren des Lichts an der Aufzeichnungsoberfläche der Speicherscheibe basierend auf den Mengen des Lichts, das von den entsprechenden Lichtempfangsbereichen empfangen wird, und den Wellenlängen des Lichts, mit dem die Lichtempfangsbereiche beaufschlagt werden.
  • Die Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung zum Unterscheiden einer Speicherscheibe basierend auf dem Reflexionsfaktor von Licht an einer Aufzeichnungsoberfläche wird vorzugsweise mit einer Kontrollreflexionsoberfläche zum Reflektieren des Detektionslichts versehen, das von der Lichtabstrahlein richtung in Richtung zu den Lichtempfangsbereichen gestrahlt wird, wenn keine Speicherscheibe geladen ist.
  • Bei der mit der Kontrollreflexionsoberfläche versehenen Anordnung wird die Menge des Lichts detektiert, das von der Kontrollreflexionsoberfläche reflektiert wird, wenn z. B. eine Stromversorgung eingeschaltet wird, und wenn eine Speicherscheibe tatsächlich geladen ist, bestimmt die Unterscheidungseinrichtung die Menge des davon reflektierten Lichts basierend auf der obigen Menge von reflektiertem Licht. Sogar wenn eine Lichtquelle verwendet wird, deren Menge von davon emittiertem Licht aufgrund ihrer Verwendung für eine lange Zeit beeinträchtigt ist, oder eine Lichtquelle verwendet wird, deren Lichtmenge immer schwankt, kann deshalb die Differenz der Reflexionsfaktoren an einer Aufzeichnungsoberfläche immer genau bestimmt werden.
  • Ein Speicherscheibenunterscheidungsverfahren der vorliegenden Erfindung, das die obige Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung verwendet, ist gekennzeichnet durch Aufweisen der Schritte des Unterscheidens eines Typs zuerst in Abhängigkeit von der Differenz der Dicken von der vorderen Oberfläche einer Speicherscheibe zu deren Aufzeichnungsoberfläche basierend auf der Differenz zwischen den Mengen des reflektierten Lichts, das von den zwei Lichtempfangsbereichen empfangen wird, und danach durch Unterscheiden eines Typs in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren des Lichts an der Aufzeichnungsoberfläche basierend auf der Summe der Mengen des reflektierten Lichts, das von den zwei Lichtempfangsbereichen empfangen wird, um dadurch eine Mehrzahl von Speicherscheibentypen zu unterscheiden.
  • Im Gegensatz dazu ist es auch möglich, zuerst die Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche basierend auf der Summe der Mengen des reflektierten Lichts zu unterscheiden und danach die Differenz zwischen den Dicken der Schutzschicht, die die Aufzeichnungsoberfläche bedeckt, basierend auf der Differenz zwischen den Mengen des reflektierten Lichts zu unterscheiden. Ferner ist bevorzugt, die obige Unterscheidung unter Ver wendung einer unterschiedlichen Wellenlänge durchzuführen. Eine Mehrzahl von Speicherscheibentypen kann durch das Verfahren unterschieden werden.
  • Ausführungsformen der Erfindung werden jetzt nur als Beispiel unter Bezugnahme auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben, wobei gilt:
  • 1 ist eine Ansicht, die eine erste Ausführungsform einer Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung beschreibt;
  • 2 ist eine Ansicht, die eine Modifikation der in 1 gezeigten Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung beschreibt;
  • 3 ist eine Ansicht, die eine zweite Ausführungsform der Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung beschreibt;
  • 4A ist eine Draufsicht eines Wellenlängenfilters, und 4B ist eine Draufsicht einer Detektionseinrichtung; und
  • 5 ist ein Flussdiagramm eines Speicherscheibenunterscheidungsverfahrens der vorliegenden Erfindung.
  • 1 ist eine Ansicht, die eine erste Ausführungsform einer Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung beschreibt.
  • Die Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung 1 ist mit einer Speicherscheibenvorrichtung versehen, auf der ein unterschiedlicher Speicherscheibentyp geladen und angebracht wird. Die Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung 1 ist beispielsweise an einer Position an der Seite eines Drehtellers, auf den die Speicherscheibe geladen ist, außerhalb des Weges des sich bewegenden Bereichs eines optischen Kopfes oder an dem optischen Kopf angebracht.
  • In 1 wird eine Speicherscheibe, die an den Drehteller der Speicherscheibenvorrichtung geklemmt ist, durch Symbol D dargestellt. Symbol Da zeigt die vordere Oberfläche der Speicherscheibe. Wenn die Speicherscheibe D beispielsweise eine CD, eine CD-R oder eine CD-E ist, hat die Schutzschicht, die zwischen einer Aufzeichnungsoberfläche R1 und der vorderen Oberfläche Da der Speicherscheibe zwischengesetzt ist, eine Dicke von 1,2 mm. Wenn die Speicherscheibe D beispielsweise eine DVD, eine DVD-R oder eine DVD-RAM ist, hat die Schutzschicht, die zwischen einer Aufzeichnungsoberfläche R2 und der vorderen Oberfläche Da der Speicherscheibe zwischengesetzt ist, eine Dicke von 0,6 mm. Da die vordere Oberfläche Da der Speicherscheibe für beliebige Speicherscheiben an der gleichen Oberfläche des Drehtellers gestützt ist, gibt es eine Differenz zwischen der Höhe der Aufzeichnungsoberfläche R1 und der der Aufzeichnungsoberfläche R2 in der Speicherscheibenvorrichtung.
  • Die Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung 1 ist auch mit einer Kontrollreflexionsoberfläche 2 versehen, die über der geladenen Speicherscheibe D angeordnet ist. Die Kontrollreflexionsoberfläche 2 kann aus einer Spiegellage bestehen, die über der Speicherscheibenvorrichtung angebracht ist, oder aus einem Metallfilm bestehen, der an einem mechanischen Element eines Hauptkörpers der Vorrichtung, der über dem Bereich positioniert ist, wo die Speicherscheibe D geladen ist, oder an der Decke eines Gehäuses haftet.
  • Eine Lichtabstrahleinrichtung 3 ist an der Position angeordnet, die der Speicherscheibe D gegenüber liegt, die auf dem Drehteller der Speicherscheibenvorrichtung geladenen ist, sowie der Kontrollreflexionsoberfläche 2 gegenüber liegt, wenn die Speicherscheibe D nicht geladen ist. Die Lichtabstrahleinrichtung 3 weist eine Lichtquelle 3a und eine Blendeneinrichtung 3b zum Begrenzen des Lichtstrahls eines Detektionslichts auf, das von der Lichtquelle 3a abgestrahlt wird.
  • Obwohl 1 nur die eine Lichtquelle 3a zeigt, besteht die Lichtquelle 3a in der Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung 1 aus zwei Lichtquellen zum Emittieren von Licht mit einer unterschiedlichen Wellenlänge. Die Wellenlänge des von einer Lichtquelle emittierten Lichts ist 780 nm oder nahe daran, die Wellenlänge des von der anderen Lichtquelle emittierten Lichts ist 650 nm oder nahe daran und beide Lichtquellen werden geschaltet, um das Licht zu einem unterschiedlichen Zeitpunkt zu emittieren. Ein Durchgangsloch 3c, das an der Blendeneinrichtung 3b definiert ist, ist ein Loch, wie beispielsweise ein Schlitz mit einer speziellen Öffnungsbreite und einer Länge, die sich länger als die Öffnungsbreite in der Richtung rechtwinklig zu der Papieroberfläche erstreckt, ein quadratisches Loch oder ein kreisförmiges Loch. Das Detektionslicht wird schräg von der Lichtabstrahleinrichtung 3 auf die vordere Oberfläche der Speicherscheibe D emittiert.
  • Eine Lichtempfangseinrichtung 4 ist an der Position angeordnet, wo das Licht auftrifft, das von der Lichtabstrahleinrichtung 3 abgestrahlt wird und von der Aufzeichnungsoberfläche R1 oder der Aufzeichnungsoberfläche R2 der Speicherscheibe D oder der Kontrollaufzeichnungsoberfläche 2 reflektiert wird. Die Lichtempfangseinrichtung 4 weist zwei Lichtempfangsbereiche 4a und 4b auf, die in der Neigungsrichtung des reflektierten Lichts geteilt sind.
  • Es sind eine Subtraktionseinrichtung 5 zum Bestimmen der Differenz zwischen dem fotoelektrischen Wandlungsausgangssignal, das von dem einen Lichtempfangsbereich 4a erhalten wird, und des fotoelektrischen Wandlungsausgangssignals, das von dem anderen Lichtempfangsbereich 4b erhalten wird, und eine Additionseinrichtung 6 zum Addieren der fotoelektrischen Wandlungsausgangssignale, die sowohl von dem Lichtempfangsbereich 4a als auch dem Lichtempfangsbereich 4b erhalten werden, als eine elektrische Schaltungsanordnung vorgesehen, an die die Lichtempfangseinrichtung 4 angeschlossen ist. Es ist auch eine Unterscheidungseinrichtung 7 vorgesehen, an die die Ausgangssignale von der Subtraktionseinrichtung 5 und der Additionseinrichtung 6 geliefert werden. Die Subtraktionseinrichtung 5 besteht aus einem Differenzverstärker oder dergleichen, und die Additionseinrichtung 6 besteht aus einem Summenverstärker oder dergleichen. Die Unterscheidungseinrichtung besteht aus einem Mikrocomputer oder dergleichen, und das Ausgangssignal von der Subtraktionseinrichtung 5 und das Ausgangssignal von der Additionseinrichtung 6 werden einer A/D-Wandlung (analog-zu-digital-Wandlung) unterzogen und durch den Mikrocomputer oder dergleichen miteinander verglichen.
  • Die Arbeitsweise der in 1 gezeigten Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung 1 wird beschrieben.
  • Was durch das Symbol X von den von der Lichtempfangseinrichtung 4 empfangenen Lichtstrahlen gezeigt ist, ist ein reflektierter Lichtstrahl von der Aufzeichnungsoberfläche R1 der Speicherscheibe, deren Schutzschicht eine Dicke von 1,2 mm hat, und was durch Symbol Y davon gezeigt ist, ist ein reflektierter Lichtstrahl von der Aufzeichnungsoberfläche R2 der Speicherscheibe, deren Schutzschicht die Dicke von 0,6 mm hat. Zusätzlich ist ein reflektierter Lichtstrahl, der von der Kontrollreflexionsoberfläche 2 reflektiert wird, wenn die Speicherscheibe D nicht geladen ist, durch Symbol Z gezeigt.
  • Die Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung 1 kann die Differenz zwischen den Dicken der Schutzschichten (1,2 mm und 0,6 mm) unterscheiden. Sie kann auch die Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren des Lichts an den Aufzeichnungsoberflächen R1 und R2 zusammen mit der obigen Differenz zwischen den Dicken unterscheiden und kann ferner die Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche R1 oder R2 bezüglich Licht mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran und die Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren daran bezüglich Licht mit der Wellenlänge von 650 nm oder nahe daran unterscheiden.
  • Die folgende Tabelle zeigt die Beziehung zwischen den Speicherscheibentypen und den Dicken der Schutzschicht und ferner die Lichtreflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche R1 oder der Aufzeichnungsoberfläche R2 in Abhängigkeit von den Speicherscheibentypen sowohl bezüglich der Wellenlänge von 780 nm als auch der Wellenlänge von 650 nm.
  • Tabelle
    Figure 00090001
  • Wenn eine Speicherscheibe, deren Schutzschicht die Dicke von 1,2 mm hat, geladen ist und das Detektionslicht mit einer beliebigen der Wellenlängen von der Lichtabstrahleinrichtung 3 abgestrahlt wird, wird das Licht von der Aufzeichnungsoberfläche R1, die 1,2 mm über der vorderen Oberfläche Da der Speicherscheibe angeordnet ist, reflektiert, und das reflektierte Licht X wird sowohl von dem Lichtempfangsbereich 4a als auch dem Lichtempfangsbereich 4b empfangen. Wenn eine Speicherscheibe, deren Schutzschicht die Dicke von 0,6 mm hat, geladen ist und das Detektionslicht mit derselben Wellenlänge wie in dem Fall der Speicherscheibe mit der Schutzschicht von 1,2 mm von der Lichtabstrahleinrichtung 3 abgestrahlt wird, wird das Licht von der Aufzeichnungsoberfläche R2, die 0,6 mm über der vorderen Oberfläche Da der Speicherscheibe angeordnet ist, reflektiert, und das reflektierte Licht Y wird sowohl von dem Lichtempfangsbereich 4a als auch dem Lichtempfangsbereich 4b empfangen.
  • Der Bereich, wo der Lichtstrahl auf die Lichtempfangseinrichtung 4 auftrifft, unterscheidet sich zwischen dem reflektierten Licht X und dem reflektierten Licht Y in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Dicken der Schutzschichten, nämlich der Differenz zwischen den Höhen von der vorderen Oberfläche Da der Speicherscheibe zu den Aufzeichnungsoberflächen R1 und R2. Folglich ist das Verhältnis zwischen der Menge des Lichts, das an dem Lichtempfangsbereich 4a empfangen wird, und der Menge des Lichts, das an dem Lichtempfangsbereich 4b empfangen wird, zwischen dem reflektierten Licht X und dem reflektierten Licht Y unterschiedlich.
  • Daher ermöglicht die Differenz zwischen der Menge des Lichts, das an dem Lichtempfangsbereich 4a empfangen wird, und der Menge des Lichts, das an dem Lichtempfangsbereich 4b empfangen wird, die durch die Subtraktionseinrichtung 5 bestimmt wird, der Unterscheidungseinrichtung 7, zu unterscheiden, ob die Höhe von der vorderen Oberfläche Da der Speicherscheibe zu der Aufzeichnungsoberfläche 1,2 mm oder 0,6 mm ist. Wenn beispielsweise ein Wert als ein Schwellenwert gesetzt wird, der sich an einem Mittelpunkt zwischen der Differenz zwischen den Mengen des Lichts, das von dem Lichtempfangsbereich 4a und dem Lichtempfangsbereich 4b empfangen wird, wenn die Position der Aufzeichnungsoberfläche 1,2 mm hoch ist, und der Differenz zwischen Mengen des Lichts, das von dem Lichtempfangsbereich 4a und dem Lichtempfangsbereich 4b empfangen wird, wenn die Position der Aufzeichnungsoberfläche 0,6 mm hoch ist, befindet, kann die Unterscheidungseinrichtung 7 eine Speicherscheibe in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Dicken der Schutzschicht durch Vergleich des Schwellenwerts mit dem von der Subtraktionseinrichtung 5 erhaltenen Ausgangssignal unterscheiden.
  • Wenn keine der Speicherscheiben D geladen ist, wird das Detektionslicht von der Lichtabstrahleinrichtung 3 von der Kontrollreflexionsoberfläche 2 reflektiert und von der Lichtempfangseinrichtung 4 empfangen. Da der Bereich des Lichtstrahls des reflektierten Lichts rechts des reflektierten Lichts X in der Figur positioniert ist, ist zu diesem Zeitpunkt die Differenz zwischen der Menge des Lichts, das von dem Lichtempfangsbereich 4a empfangen wird, und der Menge des Lichts, das von dem Lichtempfangsbereich 4b empfangen wird, größer als in dem Fall des reflektierten Lichts X. Folglich kann auch durch Unterscheiden der Differenz zwischen der Menge des Lichts in dem Fall des reflektierten Lichts X und der Differenz der Menge des Lichts in dem Fall des reflektierten Lichts Z basierend auf einem anderen Schwellenwert unterschieden werden, ob ir gendeine Speicherscheibe geladen ist oder nicht. Ferner kann auch durch die Reduzierung der Menge des empfangenen Lichts unterschieden werden, ob die Speicherscheibe D geladen ist oder nicht, wenn die Kontrollreflexionsoberfläche 2 nicht vorgesehen ist, da die Menge des Lichts, das von der Lichtempfangseinrichtung 4 empfangen wird, ohne Laden der Speicherscheibe D stark reduziert ist.
  • Obwohl die Subtraktionseinrichtung 5 in 1 vorgesehen ist, ist es auch möglich, ohne Vorsehen der Subtraktionseinrichtung 5 das fotoelektrische Wandlungsausgangssignal von dem Lichtempfangsbereich 4a und das fotoelektrische Wandlungsausgangssignal von dem Lichtempfangsbereich 4b direkt in die Unterscheidungseinrichtung 7 einzuspeisen, um dadurch direkt die Differenz zwischen den Mengen des Lichts zu bestimmen, das von den beiden Lichtempfangsbereichen 4a und 4b empfangen wird, und danach die Differenz mit obigem Schwellenwert zu vergleichen. Obwohl es andererseits auch möglich ist, das Verhältnis zwischen dem fotoelektrischen Wandlungsausgangssignal von dem Lichtempfangsbereich 4a und dem fotoelektrische Wandlungsausgangssignal von dem Lichtempfangsbereich 4b durch die Unterscheidungseinrichtung 7 zu bestimmen und die Differenz zwischen den Dicken der Schutzschicht basierend auf dem Verhältnis zu detektieren, weist die vorliegende Erfindung im Wesentlichen die Bestimmung des Verhältnisses durch die Bestimmung der Differenz zwischen den Mengen des empfangenen Lichts auf.
  • Ob die Schutzschicht die Dicke von 1,2 mm oder 0,6 mm hat, kann durch das Ausgangssignal von der Subtraktionseinrichtung 5 unterschieden werden. Folglich ist es möglich, die in Tabelle 1 gezeigte Differenz zwischen der CD, der CD-R, der CD-E und der DVD, der DVD-R, der DVD-RAM zu detektieren. Da die Dicke der Schutzschicht einer PD analog zu der der CD und dergleichen ist, kann ferner die PC auch unterschieden werden.
  • Obwohl die Dicke der Schutzschichten beispielsweise der CD und der CD-E 1,2 mm ist, wie in Tabelle 1 gezeigt ist, unterscheiden sich deren Reflexionsfaktoren der Aufzeichnungsoberfläche R1 stark voneinander. Das heißt, der Reflexionsfaktor der Aufzeichnungsoberfläche der CD ist durch den Standard auf 70% oder höher festgelegt, wogegen der Reflexionsfaktor der Aufzeichnungsoberfläche der CD-E durch den Standard auf von 15% bis 25% festgelegt ist.
  • Wenn Licht von der Lichtquelle mit einer beliebigen der Wellenlängen abgestrahlt wird und das Ausgangssignal von der Additionseinrichtung 6 kontrolliert wird, nachdem durch das Ausgangssignal von der Subtraktionseinrichtung 5 unterschieden wurde, dass die Position der Aufzeichungsoberfläche R1 1,2 mm hoch ist, ist die Summe der Mengen des empfangenen Lichts, die von der Additionseinrichtung erhalten wird, groß, wenn eine geladene Speicherscheibe eine CD ist, wogegen die Summe der Mengen des Lichts niedrig ist, wenn die geladene Speicherscheibe eine CD-E ist. Wenn ein Wert, der sich an einem Mittelpunkt zwischen den Mengen des Lichts befindet, das von beiden Speicherscheiben reflektiert wird, für die Unterscheidungseinrichtung 7 als ein Schwellenwert gesetzt ist und die Menge des Lichts, das von der Additionseinrichtung 6 empfangen wird, mit dem Schwellenwert verglichen wird, kann deshalb unterschieden werden, ob die geladene Speicherscheibe eine CD oder eine CD-E ist.
  • Das ist auch auf die Unterscheidung der DVD und der DVD-RAM anwendbar, die in ähnlicher Weise eine 0,6 mm dicke Schutzschicht haben. Wenn Licht mit einer beliebigen der Wellenlängen abgestrahlt wird, nachdem durch das Ausgangssignal von der Subtraktionseinrichtung 5 bestimmt wurde, dass die Dicke der Schutzschicht 0,6 mm ist, ist der Reflexionsfaktor der Aufzeichnungsschicht zwischen der DVD und der DVD-RAM stark unterschiedlich. Folglich kann die Unterscheidungseinrichtung 7 durch Vergleich des Ausgangssignals von der Additionseinrichtung 6 mit dem Schwellenwert unterscheiden, ob die geladene Speicherscheibe eine DVD oder eine DVD-RAM ist.
  • Obwohl die Reflexionsfaktoren der Aufzeichnungsoberfläche R1 der CD und der CD-R bezüglich Licht mit der Wellenlänge von 780 nm größer als 70% (CD) und größer als 65% (CD-R) sind und beide Reflexionsfaktoren analog zueinander sind, sind die Reflexionsfaktoren von deren Aufzeichnungsoberflächen R1 bezüglich Licht mit der Wellenlänge von 650 nm stark unterschiedlich. Das heißt, bezüglich des Lichts mit der Wellenlänge von 650 nm ist der Reflexions faktor der CD größer als 70%, und der Reflexionsfaktor der CD-R ist durch den Standard auf 10% festgelegt. Deshalb ermöglicht das Abstrahlen des Lichts mit der Wellenlänge von 650 nm oder nahe daran von der Lichtquelle an die geladene Speicherscheibe und das Kontrollieren der Menge des Lichts, das von der Additionseinrichtung 6 empfangen wird, zu unterscheiden, ob die geladene Speicherscheibe eine CD oder eine CD-R ist.
  • Das ist auch auf die DVD und die DVD-R anwendbar. Die Reflexionsfaktoren des Lichts mit der Wellenlänge von 650 nm an der Aufzeichnungsoberfläche R2 der DVD und der DVD-R sind analog zueinander. Jedoch sind die Reflexionsfaktoren an deren Aufzeichnungsoberfläche R2 bezüglich des Lichts mit der Wellenlänge von 780 nm stark unterschiedlich. Das heißt, der Reflexionsfaktor der DVD ist auf größer als 70% und der der DVD-R ist auf kleiner als 20% durch den Standard festgelegt. Daher ermöglicht das Abstrahlen des Lichts mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran von der Lichtquelle und das Unterscheiden des Ausgangssignals von der Additionseinrichtung 6 durch die Unterscheidungseinrichtung 7, zu unterscheiden, ob die geladene Speicherscheibe eine DVD oder eine DVD-R ist.
  • Wenn die Speicherscheibe durch die Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche unterschieden wird, ist bevorzugt, dass die Menge des Lichts von der Lichtquelle 3a stabil ist. Jedoch kann die Menge des Detektionslichts von der Lichtquelle 3a durch das Schwanken der Spannung einer Stromversorgung, die Verschlechterung der Lichtquelle aufgrund ihrer Verwendung für eine lange Zeit und dergleichen schwanken. Dieses Problem kann durch das Bereitstellen der Kontrollreflexionsoberfläche 2 bewältigt werden, wie in 1 gezeigt ist. Das heißt, die Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche der Speicherscheibe kann, sogar wenn die Menge des Lichts von der Lichtquelle 3a schwankt, auf derartige Weise unterschieden werden, dass, wenn keine Speicherscheibe geladen ist, Licht von der Lichtquelle 3a abgestrahlt wird, das von der Kontrollreflexionsoberfläche 2 reflektierte Licht auf die Lichtempfangseinrichtung 4 gegeben wird und die Menge des Lichts durch das Ausgangssignal von der Additionseinrichtung 6 detektiert wird, wogegen das Ausgangssignal von der Additions einrichtung 6 unter Verwendung der Menge des Lichts, das von der Kontrollreflexionsoberfläche 2 reflektiert wird, als Referenz unterschieden wird, wenn die Speicherscheibe geladen ist.
  • 2 und 3 zeigen andere Ausführungsformen der Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung.
  • Bei einer in 2 gezeigten Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung 1a besteht eine Lichtabstrahleinrichtung 13 aus zwei Lichtquellen 13a zum Emittieren von Detektionslicht mit einer unterschiedlichen Wellenlänge und einer Kollimatorlinse 13b, um das Licht von den Lichtquellen zu parallelen Lichtstrahlen zu machen. Das Licht von jeder der Lichtquellen 13a wird von der Aufzeichnungsoberfläche R1 oder R2 der Speicherscheibe D oder von der Kontrollreflexionsoberfläche 2 reflektiert und von der Lichtempfangseinrichtung 4 empfangen. 2 zeigt das Licht, das von den entsprechenden Oberflächen reflektiert wird, durch X, Y und Z in ähnlicher Weise wie das Licht in 1. Eine Kondensorlinse zum Konzentrieren des reflektierten Lichts X, Y oder Z kann vor der Lichtempfangseinrichtung 4 angeordnet sein.
  • Bei einer in 3 gezeigten Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung 1b ist eine Lichtquelle 23a, die mit einer Lichtabstrahleinrichtung 23 bereitgestellt wird, beispielsweise eine Weißlichtquelle zum Emittieren von Licht, das eine Wellenlänge nahe an 780 nm und eine Wellenlänge mit 650 nm aufweist.
  • Eine Lichtempfangseinrichtung 14 ist in vier Lichtempfangsbereiche 14a, 14b, 14c, 14d aufgeteilt, wie in der Draufsicht von 4B gezeigt ist. Zusätzlich ist ein Wellenlängenfilter 8 als eine Wellenlängenseparationseinrichtung über der Lichtempfangseinrichtung 14 angeordnet.
  • Wie in 4A gezeigt ist, ist der Bereich des Wellenlängenfilters 8, der die Lichtempfangsbereiche 14a und 14b der Lichtempfangseinrichtung 14 bedeckt, ein Bandpassfilter 8a, welches das Licht mit der Wellenlänge von 650 nm oder nahe daran passieren lässt, und der Bereich des Wellenlängenfilters 8, der die Lichtempfangsbereiche 14c und 14d bedeckt, ist ein Bandpassfilter 8b, welches das Licht mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran, passieren lässt.
  • Folglich ist die Lichtempfangseinrichtung 14 in die Lichtempfangsbereiche (14a, 14b) zum Empfangen des Lichts mit der Wellenlänge von 650 nm oder nahe daran des reflektierten Lichts X, Y, Z und in die Bereiche (14c, 14d) davon zum Empfangen des Lichts mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran aufgeteilt. Dann ist der Bereich zum Empfangen des Lichts mit der Wellenlänge von 650 nm oder nahe daran ferner in die zwei Lichtempfangsbereiche 14a und 14b aufgeteilt, und es sind eine Subtraktionseinrichtung 5a zum Bestimmen der Differenz zwischen den Mengen des Lichts, das von beiden Lichtempfangsbereichen empfangen wird, und eine Additionseinrichtung 6a zum Bestimmen der Summe der Mengen des empfangenen Lichts vorgesehen. Zusätzlich ist der Bereich zum Empfangen des Lichts mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran in die zwei Lichtempfangsbereiche 14c und 14d aufgeteilt, und es sind eine Subtraktionseinrichtung 5b zum Bestimmen der Differenz zwischen den Mengen des Lichts, das von den entsprechenden Lichtempfangsbereichen 14c, 14d empfangen wird, und eine Additionseinrichtung 6b zum Bestimmen deren Summe vorgesehen.
  • Als nächstes wird nachstehend basierend auf dem in 5 gezeigten Flussdiagramm ein Speicherscheibenunterscheidungsverfahren zum Unterscheiden, von welchem Speicherscheibentyp unter vielen Speicherscheibentypen eine geladene Speicherscheibe ist, unter Verwendung der in 1 bis 4 beschriebene Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung beschrieben.
  • Zuerst wird, wenn Strom im Schritt (a) zugeführt wird, Detektionslicht von der Lichtabstrahleinrichtung 3 (oder 13 oder 23) abgestrahlt. Im Schritt (b) unterscheidet die Unterscheidungseinrichtung 7 die Dicke der Schutzschicht der Speicherscheibe D basierend auf dem Ausgangssignal von der Subtraktionseinrichtung 5 (oder 5a oder 5b). In diesem Fall wird ein Wert, der einem Subtraktionsausgangssignal entspricht, wenn eine Aufzeichnungsoberfläche 0,9 mm über der vorderen Oberfläche Da der Speicherscheibe positioniert ist, als ein Schwellenwert gesetzt, der mit dem Ausgangssignal von der Subtrakti onseinrichtung verglichen wird. In 5 zeigt das Flussdiagramm auf der rechten Seite des Schritts (b) den Fall, dass die Dicke der Schutzschicht als 0,6 mm bestimmt wurde, wogegen das Flussdiagramm auf der linken Seite des Schritts (b) den Fall zeigt, dass die Dicke der Schutzschicht als 1,2 mm bestimmt wird.
  • Als nächstes wird im Schritt (c) der Reflexionsfaktor an der Aufzeichnungsoberfläche R2 bezüglich des Lichts mit 780 nm oder nahe daran unterschieden. In 1 werden die lichtemittierenden Lichtquellen der Lichtabstrahleinrichtung 3 auf diejenige zum Emittieren des Lichts mit der Wellenlänge von 870 nm oder nahe daran geschaltet, und die Größe der Menge des empfangenen Lichts, die von der Additionseinrichtung 6 erhalten wird, wird bestimmt. In den in 3 und 4 gezeigten Anordnungen wird die Summe der Ausgangssignale von den Lichtempfangsbereichen 14c, 14d zum Detektieren des Lichts, das durch das Bandpassfilter 8d gelangt ist, von der Additionseinrichtung 6a erhalten, und die Unterscheidungseinrichtung 7 bestimmt die Größe davon. Zu diesem Zeitpunkt wird ein Wert, der dem Reflexionsfaktor von 50% an der Aufzeichnungsoberfläche R2 entspricht, als ein Schwellenwert gesetzt, und das Ausgangssignal von der Additionseinrichtung wird mit dem Schwellenwert verglichen.
  • Eine Speicherscheibe, deren Reflexionsfaktor bezüglich Licht mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran durch die Unterscheidung im Schritt (c) als größer als 50% bestimmt wird, ist eine DVD. Wenn durch die Unterscheidung im Schritt (c) festgestellt wird, dass eine Speicherscheibe einen Reflexionsfaktor von kleiner als 50% bezüglich des Lichts mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran hat, wird der Reflexionsfaktor an der Aufzeichnungsoberfläche R2 der Speicherscheibe bezüglich des Lichts mit der Wellenlänge von 650 nm oder nahe daran weiter im Schritt (d) unterschieden. Das wird durch Schalten der Lichtquellen 3a in 1 oder durch Detektieren des addierten Wertes der Lichtempfangsbereiche 14a und 14b durchgeführt, der von der Additionseinrichtung 6a in 3 oder 4 erhalten wird.
  • Wenn der Reflexionsfaktor von 50% bezüglich des Lichts mit der Wellenlänge von 650 nm oder nahe daran als ein Schwellenwert gesetzt ist und der Reflexionsfaktor an der Aufzeichnungsoberfläche R2 größer als 50% ist, wird die Speicherscheibe als eine DVD-R bestimmt, während dann, wenn der Reflexionsfaktor kleiner als 50% ist, die Speicherscheibe als eine DVD-RAM bestimmt wird.
  • Wenn andererseits durch die Unterscheidung im Schritt (b) bestimmt wird, dass die Dicke der Schutzschicht 1,2 mm ist, wird das Detektionslicht mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran auf die Aufzeichnungsoberfläche R1 im Schritt (e) gegeben, und die Menge des Lichts, das von der Aufzeichnungsoberfläche R1 reflektiert wird, wird durch die in 1 gezeigte Additionseinrichtung 6 oder die in 4B gezeigte Additionseinrichtung 6b detektiert. Wenn detektiert wird, dass der Reflexionsfaktor kleiner 50% ist, wird folglich entschieden, dass die geladene Speicherscheibe eine CD-E oder eine PD ist.
  • Wenn im Schritt (e) entschieden wird, dass der Reflexionsfaktor an der Aufzeichnungsoberfläche R1 bezüglich des Lichts mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran größer als 50% ist, wird das Detektionslicht mit der Wellenlänge von 650 nm oder nahe daran auf die Aufzeichnungsoberfläche R1 der Speicherscheibe gegeben. Wenn der Reflexionsfaktor an der Aufzeichnungsoberfläche R1 bezüglich des Detektionslichts kleiner als 50% ist, wird bestimmt, dass die geladene Speicherscheibe eine CD-R ist, wogegen bestimmt wird, dass die geladene Speicherscheibe eine CD ist, wenn der Reflexionsfaktor größer als 50% ist.
  • Da, wie oben beschrieben ist, die Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtungen, die in 1, 2 und 3 gezeigt sind, die Differenz zwischen den Dicken der Schutzschicht der Speicherscheiben, die Größe der Reflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche bezüglich des Lichts mit der Wellenlänge von 780 nm oder nahe daran und die Größe der Reflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche bezüglich des Lichts mit der Wellenlänge von 650 nm oder nahe daran unterscheiden können, können die Unterscheidungs vorrichtungen viele Speicherscheibentypen unterscheiden, wie in 5 gezeigt ist.
  • Da ein Speicherscheibentyp durch Abstrahlen von Licht an die Aufzeichnungsoberfläche der Speicherscheibe und durch Detektieren des davon reflektierten Lichts bestimmt wird, kann, wie zuvor beschrieben ist, erfindungsgemäß der Typ einer Speicherscheibe sofort unterschieden werden, kurz nachdem sie geladen wurde, ohne dass es erforderlich ist, mit einem optischen Kopf das auf der Speicherscheibe aufgezeichnete Signal tatsächlich zu lesen.
  • Da die Speicherscheibe sowohl durch die Dicke der Schutzschicht einer Speicherscheibe als auch die Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren an deren Aufzeichnungsoberfläche unterschieden wird, können viele Speicherscheibentypen unterschieden werden.
  • Insbesondere können mehrere Speicherscheibentypen durch Detektieren der Differenz zwischen den Reflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche bezüglich Licht mit einer unterschiedlichen Wellenlänge unterschieden werden.

Claims (5)

  1. Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung (1), die mit einem Speicherscheibengerät vorgesehen ist, in das unterschiedliche Typen von optischen Speicherscheiben (D) geladen werden können, von denen jede einen unterschiedlichen Lichtreflexionsfaktor ihrer Aufzeichnungsoberfläche aufweist, wobei die Vorrichtung aufweist: eine Lichtabstrahleinrichtung (3) zum schrägen Abstrahlen eines Detektionslichtstrahls auf die Aufzeichnungsoberfläche; eine Lichtempfangseinrichtung (4) mit zwei Empfangsbereichen (4a, 4b) zum Empfangen des von der Aufzeichnungsoberfläche reflektierten Lichts; und eine Unterscheidungseinrichtung (7) zum Unterscheiden des Speicherscheibentyps basierend auf der Menge des von der Lichtempfangseinrichtung empfangenen reflektierten Lichts in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Lichtreflexionsfaktoren der Aufzeichnungsoberfläche der Speicherscheibe; dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtstrahl Licht zweier unterschiedlicher Wellenlängen aufweist, die einzeln von der Lichtabstrahleinrichtung abgestrahlt werden; und die Unterscheidungseinrichtung den Speicherscheibentyp basierend auf der Menge des reflektierten Lichts in Abhängigkeit von der Wellenlänge des Detektionslichtstrahls unterscheidet.
  2. Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei die unterschiedlichen Speicherscheibentypen eine Speicherscheibe, deren Dicke von einer vorderen Oberfläche zu einer Aufzeichnungsoberfläche unterschiedlich ist, und eine Speicherscheibe, bei der der Lichtreflexionsfaktor an einer Aufzeichnungsoberfläche unterschiedlich ist, umfassen; wobei die Vorrichtung ferner aufweist: eine Einrichtung (5) zum Bestimmen der Differenz zwischen den Mengen des reflektierten Lichts, das von den zwei Lichtempfangsbereichen empfangen wird; eine Einrichtung (6) zum Bestimmen der Summe der Mengen des reflektierten Lichts, das von den zwei Lichtempfangsbereichen empfangen wird; und wobei die Unterscheidungseinrichtung (7) den Speicherscheibentyp in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Dicken von der vorderen Oberfläche der Speicherscheibe zu deren Aufzeichnungsoberfläche basierend auf der Differenz unterscheidet, sowie einen Typ in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Lichtreflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche basierend auf der Summe unterscheidet.
  3. Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung nach Anspruch 2, wobei eine Wellenlängenseparationseinrichtung (8) zum Separieren des von der Aufzeichnungsoberfläche reflektierten Lichts vor der Lichtempfangseinrichtung angeordnet ist, wobei die Lichtempfangseinrichtung für jede der unterschiedlichen Wellenlängen einen individuellen Lichtempfangsbereich aufweist und die Unterscheidungseinrichtung den Speicherscheibentyp in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Lichtreflexionsfaktoren der Aufzeichnungsoberfläche der Speicherscheibe basierend auf der Lichtmenge jeder der Wellenlängen unterscheidet, die von den entsprechenden Lichtempfangsbereichen empfangen werden.
  4. Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, die eine Kontrollreflexionsoberfläche (2) zum Reflektieren des Detektionslichts aufweist, das von der Lichtabstrahleinrichtung in Richtung zu den Lichtempfangsbereichen abgestrahlt wird, wenn keine Speicherscheibe geladen ist.
  5. Verfahren zum Unterscheiden von Speicherscheiben, das die Speicherscheibenunterscheidungsvorrichtung nach Anspruch 2 verwendet, aufweisend: den Schritt des anfänglichen Unterscheidens des Speicherscheibentyps in Abhängigkeit von der Dickendifferenz von der vorderen Oberfläche einer Speicherscheibe zu deren Aufzeichnungsoberfläche basierend auf der Differenz zwischen den Mengen des reflektierten Lichts, das von den zwei Lichtempfangsbereichen empfangen wird, gefolgt von dem Schritt des weiteren Unterscheidens des Speicherscheibentyps in Abhängigkeit von der Differenz zwischen den Lichtreflexionsfaktoren an der Aufzeichnungsoberfläche basierend auf der Summe der Mengen des reflektierten Lichts jeder Wellenlänge, das von den zwei Lichtempfangsbereichen empfangen wird, um dadurch eine Mehrzahl von Speicherscheibentypen zu unterscheiden.
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