DE69631284D1 - Programmier- und Lese-Verwaltungsarchitektur für Speicheranordnungen, insbesondere für Testzwecke - Google Patents
Programmier- und Lese-Verwaltungsarchitektur für Speicheranordnungen, insbesondere für TestzweckeInfo
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US5025344A (en) * | 1988-11-30 | 1991-06-18 | Carnegie Mellon University | Built-in current testing of integrated circuits |
US5117426A (en) * | 1990-03-26 | 1992-05-26 | Texas Instruments Incorporated | Circuit, device, and method to detect voltage leakage |
JPH0831001B2 (ja) * | 1990-08-23 | 1996-03-27 | 株式会社東芝 | マイクロコンピュータ |
FR2673295B1 (fr) * | 1991-02-21 | 1994-10-28 | Sgs Thomson Microelectronics Sa | Dispositif de detection de l'etat logique d'un composant dont l'impedance varie suivant cet etat. |
US5245572A (en) * | 1991-07-30 | 1993-09-14 | Intel Corporation | Floating gate nonvolatile memory with reading while writing capability |
US5400343A (en) * | 1992-02-28 | 1995-03-21 | Intel Corporation | Apparatus and method for defective column detection for semiconductor memories |
DE4219464A1 (de) * | 1992-06-13 | 1993-12-16 | Philips Patentverwaltung | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Erzeugen einer Programmierspannung |
JPH06130124A (ja) * | 1992-10-20 | 1994-05-13 | Mitsubishi Electric Corp | しきい値を有する信号入力回路のテスト回路 |
JP3346652B2 (ja) * | 1993-07-06 | 2002-11-18 | シャープ株式会社 | 電圧補償回路および表示装置 |
TW243531B (de) * | 1993-09-03 | 1995-03-21 | Motorola Inc | |
US5510748A (en) * | 1994-01-18 | 1996-04-23 | Vivid Semiconductor, Inc. | Integrated circuit having different power supplies for increased output voltage range while retaining small device geometries |
US5544175A (en) * | 1994-03-15 | 1996-08-06 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for the capturing and characterization of high-speed digital information |
JPH08123583A (ja) * | 1994-10-27 | 1996-05-17 | Oki Electric Ind Co Ltd | 内部状態確定装置 |
JP2818571B2 (ja) * | 1996-02-21 | 1998-10-30 | 山形日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5710778A (en) * | 1996-04-01 | 1998-01-20 | Cyrpress Semiconductor Corporation | High voltage reference and measurement circuit for verifying a programmable cell |
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