DE69521141D1 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dicke einer schicht auf einem lichtwellenleiter - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dicke einer schicht auf einem lichtwellenleiterInfo
- Publication number
- DE69521141D1 DE69521141D1 DE69521141T DE69521141T DE69521141D1 DE 69521141 D1 DE69521141 D1 DE 69521141D1 DE 69521141 T DE69521141 T DE 69521141T DE 69521141 T DE69521141 T DE 69521141T DE 69521141 D1 DE69521141 D1 DE 69521141D1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- lamp
- determining
- thickness
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
- G01B11/0625—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection
- G01B11/0633—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection using one or more discrete wavelengths
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9403974A SE503513C2 (sv) | 1994-11-17 | 1994-11-17 | Förfarande och anordning för bestämning av tjocklek och koncentricitet hos ett skikt pålagt på en cylindrisk kropp |
PCT/SE1995/001358 WO1996016314A1 (en) | 1994-11-17 | 1995-11-15 | Method and device for determining the thickness and concentricity of a layer applied to a cylindrical body |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69521141D1 true DE69521141D1 (de) | 2001-07-05 |
DE69521141T2 DE69521141T2 (de) | 2001-09-20 |
Family
ID=20396015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69521141T Expired - Lifetime DE69521141T2 (de) | 1994-11-17 | 1995-11-15 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dicke einer schicht auf einem lichtwellenleiter |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6055058A (de) |
EP (1) | EP0792438B1 (de) |
JP (1) | JPH10508946A (de) |
AU (1) | AU3944195A (de) |
DE (1) | DE69521141T2 (de) |
SE (1) | SE503513C2 (de) |
WO (1) | WO1996016314A1 (de) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE514004C2 (sv) * | 1998-03-20 | 2000-12-11 | Precimeter Ab | Tjockleksmätning med en detektor genom belysning av två ytor hos ett föremål, anordning, apparat och metod |
GB2345539A (en) * | 1999-01-06 | 2000-07-12 | Samfit Uk Ltd | Detecting a non-uniform coating on a core member |
US6285451B1 (en) * | 1999-04-30 | 2001-09-04 | John M. Herron | Noncontacting optical method for determining thickness and related apparatus |
DE19928171B4 (de) * | 1999-06-19 | 2011-01-05 | Leybold Optics Gmbh | Verfahren zur kontinuierlichen Bestimmung der optischen Schichtdicke von Beschichtungen |
WO2002071038A1 (en) * | 2001-03-05 | 2002-09-12 | Omniguide Communications | Optical waveguide monitoring |
JP4690183B2 (ja) * | 2005-12-01 | 2011-06-01 | 国立大学法人福井大学 | 肉厚測定装置及び肉厚測定方法 |
US7824730B2 (en) * | 2007-08-31 | 2010-11-02 | United Technologies Corporation | Method and apparatus for measuring coating thickness with a laser |
US7573586B1 (en) | 2008-06-02 | 2009-08-11 | United Technologies Corporation | Method and system for measuring a coating thickness |
US9593939B1 (en) * | 2013-12-30 | 2017-03-14 | Flextronics Ap, Llc | Glue thickness inspection (GTI) |
CN106892556A (zh) * | 2017-04-28 | 2017-06-27 | 成都中住光纤有限公司 | 一种光纤拉丝夹头的在线调节系统 |
US11256027B2 (en) | 2017-11-01 | 2022-02-22 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical fiber glass eccentricity measurement device and measurement method |
CN109669232B (zh) * | 2019-01-17 | 2021-01-12 | 上海大学 | 单晶半导体芯光纤及其制备方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3017512A (en) * | 1959-06-29 | 1962-01-16 | American Can Co | Coating thickness gauge |
US4583851A (en) * | 1981-07-13 | 1986-04-22 | Northern Telecom Limited | Method and apparatus for monitoring optical fiber concentricity |
DE3503086C1 (de) * | 1985-01-30 | 1986-06-19 | Dipl.-Ing. Bruno Richter GmbH & Co. Elektronische Betriebskontroll-Geräte KG, 8602 Stegaurach | Verfahren bzw.Vorrichtung zur Messung der Wanddicke von transparenten Gegenstaenden |
JPS63274804A (ja) * | 1987-05-01 | 1988-11-11 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 光ファイバ寸法測定方法及び装置 |
JPS63286738A (ja) * | 1987-05-20 | 1988-11-24 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 光ファイバ特性測定方法およびその装置 |
JPH0252205A (ja) * | 1988-08-17 | 1990-02-21 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 膜厚測定方法 |
CA2034162A1 (en) * | 1990-02-23 | 1991-08-24 | Akira Inoue | Method and apparatus for measuring the thickness of a coating |
JPH04363612A (ja) * | 1990-07-19 | 1992-12-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 被覆厚測定方法及び装置並びにそれを用いた光ファイバの製造方法 |
FR2670883B1 (fr) * | 1990-12-21 | 1994-03-18 | Alcatel Fibres Optiques | Dispositif de detection des irregularites du diametre d'un fil. |
JPH0579821A (ja) * | 1991-09-24 | 1993-03-30 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | 炭素被覆光フアイバの炭素被膜厚さ測定装置 |
JPH05288517A (ja) * | 1992-04-10 | 1993-11-02 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 偏肉測定方法及び装置 |
JP3737107B2 (ja) * | 1993-11-29 | 2006-01-18 | テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン | 光学的な軸非対称性を持つ光ファイバの間の角オフセットの決定とファイバの芯合わせおよび継ぎ合わせ |
SE502879C2 (sv) * | 1994-06-16 | 1996-02-12 | Ericsson Telefon Ab L M | Sätt och anordning för att skarva ihop ändar på optiska fibrer |
-
1994
- 1994-11-17 SE SE9403974A patent/SE503513C2/sv not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-11-15 DE DE69521141T patent/DE69521141T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-15 AU AU39441/95A patent/AU3944195A/en not_active Abandoned
- 1995-11-15 JP JP8516768A patent/JPH10508946A/ja not_active Ceased
- 1995-11-15 WO PCT/SE1995/001358 patent/WO1996016314A1/en active IP Right Grant
- 1995-11-15 US US08/836,223 patent/US6055058A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-15 EP EP95937290A patent/EP0792438B1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE9403974L (sv) | 1996-05-18 |
JPH10508946A (ja) | 1998-09-02 |
WO1996016314A1 (en) | 1996-05-30 |
AU3944195A (en) | 1996-06-17 |
EP0792438B1 (de) | 2001-05-30 |
DE69521141T2 (de) | 2001-09-20 |
SE9403974D0 (sv) | 1994-11-17 |
SE503513C2 (sv) | 1996-07-01 |
EP0792438A1 (de) | 1997-09-03 |
US6055058A (en) | 2000-04-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69733100D1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Verteilung einer inneren Eigenschaft | |
DE69923852D1 (de) | Vorrichtung mit einer vielzahl von analysepunkten auf einer oberfläche und verfahren zur herstellung der vorrichtung | |
DE50005162D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der örtlichen verteilung einer messgrösse | |
DE69534331D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Hervorhebung der Einzelheit einer Baumstruktur | |
DE69023545D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Eigenschaften einer mehrphasigen Flüssigkeit. | |
DE69704264D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur nichtinvasiven Bestimmung der Konzentration einer Komponente | |
DE59305934D1 (de) | Verfahren und Verwendung einer Vorrichtung zur Bestimmung der Viskosität von Flüssigkeiten | |
DE69513232D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Schätzung des Gefälle- und Seitenneigungswinkels einer Fahrbahn | |
DE69533230D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur verbesserung der fehlertoleranz eines netzwerkes | |
DE69535753D1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur mehrschichtigen beschichtigung und zur wulstbeschichtung | |
DE19581483T1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bildung von Dünnschichten | |
DE69720581D1 (de) | Verfahren zur Engasung von Flüssigkeiten und Gebrauch einer Vorrichtung dafür | |
DE69933753D1 (de) | Verbessertes verfahren und vorrichtung zur schichtdickenbestimmung | |
DE69821429D1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Dünnschicht einer Verbindung | |
DE69837033D1 (de) | Gerät und Verfahren zur Messung der Tiefe einer vertieften Grenzschicht | |
DE68914828D1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der ortung einer schiene. | |
DE69705996D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung der Oberfläche von Zigaretten | |
DE69618900D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur interpolation einer formfreien oberfläche | |
DE69510965D1 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Position und zugehörige Vorrichtung | |
DE69934812D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der herkunft einer datenträgerplatte | |
DE69521141D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dicke einer schicht auf einem lichtwellenleiter | |
DE59403877D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der topographie einer reflektierenden oberfläche | |
DE59710036D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Schutzbeschichtung von Verspiegelungsschichten | |
DE69626611D1 (de) | Schaltung und Verfahren zur Bestimmung der Einfallzeit | |
DE3887880D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur gleichzeitigen Messung der Dicke und Zusammensetzung einer dünnen Schicht. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition |