DE69521141T2 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dicke einer schicht auf einem lichtwellenleiter - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dicke einer schicht auf einem lichtwellenleiter

Info

Publication number
DE69521141T2
DE69521141T2 DE69521141T DE69521141T DE69521141T2 DE 69521141 T2 DE69521141 T2 DE 69521141T2 DE 69521141 T DE69521141 T DE 69521141T DE 69521141 T DE69521141 T DE 69521141T DE 69521141 T2 DE69521141 T2 DE 69521141T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
lamp
determining
thickness
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69521141T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69521141D1 (de
Inventor
Erik Krahbichler
Georges Borak
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Original Assignee
Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB filed Critical Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Application granted granted Critical
Publication of DE69521141D1 publication Critical patent/DE69521141D1/de
Publication of DE69521141T2 publication Critical patent/DE69521141T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0616Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
    • G01B11/0625Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection
    • G01B11/0633Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection using one or more discrete wavelengths

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
DE69521141T 1994-11-17 1995-11-15 Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dicke einer schicht auf einem lichtwellenleiter Expired - Lifetime DE69521141T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9403974A SE503513C2 (sv) 1994-11-17 1994-11-17 Förfarande och anordning för bestämning av tjocklek och koncentricitet hos ett skikt pålagt på en cylindrisk kropp
PCT/SE1995/001358 WO1996016314A1 (en) 1994-11-17 1995-11-15 Method and device for determining the thickness and concentricity of a layer applied to a cylindrical body

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69521141D1 DE69521141D1 (de) 2001-07-05
DE69521141T2 true DE69521141T2 (de) 2001-09-20

Family

ID=20396015

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69521141T Expired - Lifetime DE69521141T2 (de) 1994-11-17 1995-11-15 Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dicke einer schicht auf einem lichtwellenleiter

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6055058A (de)
EP (1) EP0792438B1 (de)
JP (1) JPH10508946A (de)
AU (1) AU3944195A (de)
DE (1) DE69521141T2 (de)
SE (1) SE503513C2 (de)
WO (1) WO1996016314A1 (de)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE514004C2 (sv) * 1998-03-20 2000-12-11 Precimeter Ab Tjockleksmätning med en detektor genom belysning av två ytor hos ett föremål, anordning, apparat och metod
GB2345539A (en) * 1999-01-06 2000-07-12 Samfit Uk Ltd Detecting a non-uniform coating on a core member
US6285451B1 (en) * 1999-04-30 2001-09-04 John M. Herron Noncontacting optical method for determining thickness and related apparatus
DE19928171B4 (de) * 1999-06-19 2011-01-05 Leybold Optics Gmbh Verfahren zur kontinuierlichen Bestimmung der optischen Schichtdicke von Beschichtungen
US6816243B2 (en) * 2001-03-05 2004-11-09 Omniguide Communications Optical waveguide monitoring
JP4690183B2 (ja) * 2005-12-01 2011-06-01 国立大学法人福井大学 肉厚測定装置及び肉厚測定方法
US7824730B2 (en) * 2007-08-31 2010-11-02 United Technologies Corporation Method and apparatus for measuring coating thickness with a laser
US7573586B1 (en) 2008-06-02 2009-08-11 United Technologies Corporation Method and system for measuring a coating thickness
US9593939B1 (en) * 2013-12-30 2017-03-14 Flextronics Ap, Llc Glue thickness inspection (GTI)
CN106892556A (zh) * 2017-04-28 2017-06-27 成都中住光纤有限公司 一种光纤拉丝夹头的在线调节系统
JP7451181B2 (ja) * 2017-11-01 2024-03-18 住友電気工業株式会社 光ファイバのガラス偏心測定装置および測定方法
CN109669232B (zh) * 2019-01-17 2021-01-12 上海大学 单晶半导体芯光纤及其制备方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3017512A (en) * 1959-06-29 1962-01-16 American Can Co Coating thickness gauge
US4583851A (en) * 1981-07-13 1986-04-22 Northern Telecom Limited Method and apparatus for monitoring optical fiber concentricity
DE3503086C1 (de) * 1985-01-30 1986-06-19 Dipl.-Ing. Bruno Richter GmbH & Co. Elektronische Betriebskontroll-Geräte KG, 8602 Stegaurach Verfahren bzw.Vorrichtung zur Messung der Wanddicke von transparenten Gegenstaenden
JPS63274804A (ja) * 1987-05-01 1988-11-11 Mitsubishi Rayon Co Ltd 光ファイバ寸法測定方法及び装置
JPS63286738A (ja) * 1987-05-20 1988-11-24 Mitsubishi Rayon Co Ltd 光ファイバ特性測定方法およびその装置
JPH0252205A (ja) * 1988-08-17 1990-02-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 膜厚測定方法
CA2034162A1 (en) * 1990-02-23 1991-08-24 Akira Inoue Method and apparatus for measuring the thickness of a coating
JPH04363612A (ja) * 1990-07-19 1992-12-16 Sumitomo Electric Ind Ltd 被覆厚測定方法及び装置並びにそれを用いた光ファイバの製造方法
FR2670883B1 (fr) * 1990-12-21 1994-03-18 Alcatel Fibres Optiques Dispositif de detection des irregularites du diametre d'un fil.
JPH0579821A (ja) * 1991-09-24 1993-03-30 Mitsubishi Cable Ind Ltd 炭素被覆光フアイバの炭素被膜厚さ測定装置
JPH05288517A (ja) * 1992-04-10 1993-11-02 Sumitomo Electric Ind Ltd 偏肉測定方法及び装置
US5572313A (en) * 1993-11-29 1996-11-05 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson Determination of angular offset between optical fibers having optical, axial asymmetry and alignment and splicing of such fibers
SE502879C2 (sv) * 1994-06-16 1996-02-12 Ericsson Telefon Ab L M Sätt och anordning för att skarva ihop ändar på optiska fibrer

Also Published As

Publication number Publication date
AU3944195A (en) 1996-06-17
WO1996016314A1 (en) 1996-05-30
EP0792438A1 (de) 1997-09-03
EP0792438B1 (de) 2001-05-30
SE9403974D0 (sv) 1994-11-17
SE503513C2 (sv) 1996-07-01
SE9403974L (sv) 1996-05-18
DE69521141D1 (de) 2001-07-05
US6055058A (en) 2000-04-25
JPH10508946A (ja) 1998-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69733100D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Verteilung einer inneren Eigenschaft
DE69923852D1 (de) Vorrichtung mit einer vielzahl von analysepunkten auf einer oberfläche und verfahren zur herstellung der vorrichtung
DE50005162D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der örtlichen verteilung einer messgrösse
DE69534331D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Hervorhebung der Einzelheit einer Baumstruktur
DE69023545D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Eigenschaften einer mehrphasigen Flüssigkeit.
DE69704264T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur nichtinvasiven Bestimmung der Konzentration einer Komponente
DE59305934D1 (de) Verfahren und Verwendung einer Vorrichtung zur Bestimmung der Viskosität von Flüssigkeiten
DE69513232D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Schätzung des Gefälle- und Seitenneigungswinkels einer Fahrbahn
DE69533230D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur verbesserung der fehlertoleranz eines netzwerkes
DE69535753D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur mehrschichtigen beschichtigung und zur wulstbeschichtung
DE19581483T1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bildung von Dünnschichten
DE69807949T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer Dünnschicht
DE69837033D1 (de) Gerät und Verfahren zur Messung der Tiefe einer vertieften Grenzschicht
DE68914828D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der ortung einer schiene.
DE69510965T2 (de) Verfahren zur Bestimmung der Position und zugehörige Vorrichtung
DE69934812D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der herkunft einer datenträgerplatte
DE69521141D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der dicke einer schicht auf einem lichtwellenleiter
DE59403877D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der topographie einer reflektierenden oberfläche
DE59710036D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Schutzbeschichtung von Verspiegelungsschichten
DE69626611D1 (de) Schaltung und Verfahren zur Bestimmung der Einfallzeit
DE3887880D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur gleichzeitigen Messung der Dicke und Zusammensetzung einer dünnen Schicht.
DE69406683D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der formeigenschaften von teilchen
DE69207979D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Feststellung der Anwesenheit und der Grösse einer Vorlage
DE69525879D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Dickebewertung
DE69917703D1 (de) Verfahren zur Herstellung einer spiralförmigen Dichtung und Vorrichtung und Einrichtung zur Herstellung derselben

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition