DE69508228T2 - Verfahren zur wiederholten abbildung eines maskenmusters auf einem substrat und vorrichtung zur durchführung des verfahrens - Google Patents

Verfahren zur wiederholten abbildung eines maskenmusters auf einem substrat und vorrichtung zur durchführung des verfahrens

Info

Publication number
DE69508228T2
DE69508228T2 DE69508228T DE69508228T DE69508228T2 DE 69508228 T2 DE69508228 T2 DE 69508228T2 DE 69508228 T DE69508228 T DE 69508228T DE 69508228 T DE69508228 T DE 69508228T DE 69508228 T2 DE69508228 T2 DE 69508228T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
implementing
substrate
mask pattern
repeating imaging
repeating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69508228T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69508228D1 (de
Inventor
Manfred Tenner
Der Werf Jan Van
Uijen Cornelis Van
Peter Dirksen
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ASML Netherlands BV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Publication of DE69508228D1 publication Critical patent/DE69508228D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69508228T2 publication Critical patent/DE69508228T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/70605Workpiece metrology
    • G03F7/70653Metrology techniques
    • G03F7/70675Latent image, i.e. measuring the image of the exposed resist prior to development
DE69508228T 1994-06-02 1995-05-09 Verfahren zur wiederholten abbildung eines maskenmusters auf einem substrat und vorrichtung zur durchführung des verfahrens Expired - Fee Related DE69508228T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP94201577 1994-06-02
PCT/IB1995/000341 WO1995034025A1 (en) 1994-06-02 1995-05-09 Method of repetitively imaging a mask pattern on a substrate, and apparatus for performing the method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69508228D1 DE69508228D1 (de) 1999-04-15
DE69508228T2 true DE69508228T2 (de) 1999-09-23

Family

ID=8216918

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69508228T Expired - Fee Related DE69508228T2 (de) 1994-06-02 1995-05-09 Verfahren zur wiederholten abbildung eines maskenmusters auf einem substrat und vorrichtung zur durchführung des verfahrens

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5673101A (de)
EP (1) EP0737330B1 (de)
JP (1) JP3851657B2 (de)
DE (1) DE69508228T2 (de)
TW (1) TW270984B (de)
WO (1) WO1995034025A1 (de)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6559465B1 (en) * 1996-08-02 2003-05-06 Canon Kabushiki Kaisha Surface position detecting method having a detection timing determination
EP0985977A1 (de) * 1998-09-11 2000-03-15 Lucent Technologies Inc. Analyse von latenten Bildern bei der Herstellung von integrierten Schaltkreisen
TW460755B (en) * 1998-12-16 2001-10-21 Asm Lithography Bv Lithographic projection apparatus
US6124924A (en) * 1998-12-24 2000-09-26 Applied Materials, Inc. Focus error correction method and apparatus
TW405062B (en) * 1999-02-18 2000-09-11 Asm Lithography Bv Lithographic projection apparatus
EP2077444A3 (de) * 2000-09-25 2009-11-04 Panasonic Corporation Chromatographiemengen-Messvorrichtung
TW200305773A (en) * 2001-12-26 2003-11-01 Pentax Corp Projection Aligner
TWI265550B (en) 2002-05-14 2006-11-01 Toshiba Corp Fabrication method, manufacturing method for semiconductor device, and fabrication device
SG138445A1 (en) * 2003-02-14 2008-01-28 Asml Netherlands Bv Device and method for wafer alignment with reduced tilt sensitivity
US7476490B2 (en) * 2004-06-25 2009-01-13 Asml Netherlands B.V. Method for producing a marker on a substrate, lithographic apparatus and device manufacturing method
DE102005025535A1 (de) * 2005-06-03 2006-12-07 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Verbesserung der Messgenauigkeit bei der Bestimmung von Strukturdaten
US7869022B2 (en) * 2007-07-18 2011-01-11 Asml Netherlands B.V. Inspection method and apparatus lithographic apparatus, lithographic processing cell, device manufacturing method and distance measuring system
US8867022B2 (en) * 2007-08-24 2014-10-21 Nikon Corporation Movable body drive method and movable body drive system, pattern formation method and apparatus, and device manufacturing method
US8184264B2 (en) * 2008-12-01 2012-05-22 Micron Technologies, Inc. Calibration methods and devices useful in semiconductor photolithography
DE102013210078B4 (de) * 2013-05-29 2015-04-30 Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg Vorrichtung, Verfahren und Computerprogrammprodukt zur Bestimmung der Fokusposition eines Hochenergiestrahls
US11036129B2 (en) * 2018-07-31 2021-06-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Photomask and method for forming the same

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL7606548A (nl) * 1976-06-17 1977-12-20 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het uitrichten van een i.c.-patroon ten opzichte van een halfgelei- dend substraat.
NL186353C (nl) * 1979-06-12 1990-11-01 Philips Nv Inrichting voor het afbeelden van een maskerpatroon op een substraat voorzien van een opto-elektronisch detektiestelsel voor het bepalen van een afwijking tussen het beeldvlak van een projektielenzenstelsel en het substraatvlak.
EP0354148A3 (de) * 1981-05-15 1990-06-20 General Signal Corporation Vorrichtung zur Projektion einer Bildserie auf die Elemente einer Halbleiterplatte
JPS60249327A (ja) * 1984-05-25 1985-12-10 Hitachi Ltd レジストパタ−ン検出方法
JPS61201427A (ja) * 1985-03-04 1986-09-06 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 位置ずれ検出方法
US4640619A (en) * 1985-03-13 1987-02-03 Gca Corporation Microlithographic calibration scheme
NL8600639A (nl) * 1986-03-12 1987-10-01 Asm Lithography Bv Werkwijze voor het ten opzichte van elkaar uitrichten van een masker en een substraat en inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze.
NL8601547A (nl) * 1986-06-16 1988-01-18 Philips Nv Optisch litografische inrichting met verplaatsbaar lenzenstelsel en werkwijze voor het regelen van de afbeeldingseigenschappen van een lenzenstelsel in een dergelijke inrichting.
DE3888876T2 (de) * 1987-06-15 1994-10-27 Canon Kk Belichtungsvorrichtung.
JP2666859B2 (ja) * 1988-11-25 1997-10-22 日本電気株式会社 目合せ用バーニヤパターンを備えた半導体装置
NL8900991A (nl) * 1989-04-20 1990-11-16 Asm Lithography Bv Apparaat voor het afbeelden van een maskerpatroon op een substraat.
US5124927A (en) * 1990-03-02 1992-06-23 International Business Machines Corp. Latent-image control of lithography tools
NL9000503A (nl) * 1990-03-05 1991-10-01 Asm Lithography Bv Apparaat en werkwijze voor het afbeelden van een maskerpatroon op een substraat.
NL9100215A (nl) * 1991-02-07 1992-09-01 Asm Lithography Bv Inrichting voor het repeterend afbeelden van een maskerpatroon op een substraat.
NL9100410A (nl) * 1991-03-07 1992-10-01 Asm Lithography Bv Afbeeldingsapparaat voorzien van een focusfout- en/of scheefstandsdetectie-inrichting.

Also Published As

Publication number Publication date
EP0737330B1 (de) 1999-03-10
JP3851657B2 (ja) 2006-11-29
EP0737330A1 (de) 1996-10-16
US5673101A (en) 1997-09-30
TW270984B (de) 1996-02-21
JPH09501803A (ja) 1997-02-18
WO1995034025A1 (en) 1995-12-14
DE69508228D1 (de) 1999-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69221340D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur wiederholten Abbildung eines Maskermusters auf einem Substrat
DE69531854D1 (de) Verfahren zur wiederholten abbildung eines maskenmusters auf einem substrat
DE69533230D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur verbesserung der fehlertoleranz eines netzwerkes
DE69626145D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Verschiebung eines Bildobjektgitters
DE69133544D1 (de) Vorrichtung zur Projektion eines Maskenmusters auf ein Substrat
DE69517087T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Einstellung eines Druckkopfes
DE69130783T2 (de) Vorrichtung zur Projecktion eines Maskenmusters auf ein Substrat
DE69107882D1 (de) Verfahren und Gerät zur Untersuchung eines Oberflächenmusters eines Objektes.
DE69405451D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines strukturierten Reliefbildes aus vernetztem Photoresist auf einer flachen Substratoberfläche
DE59108671D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Formung eines Giesstrahls
DE69322926T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines lichtempfindlichen Elements
DE69508228T2 (de) Verfahren zur wiederholten abbildung eines maskenmusters auf einem substrat und vorrichtung zur durchführung des verfahrens
DE59000959D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum beschichten eines schichttraegers.
DE69323966T2 (de) Verfahren zur Ausführung eines Kopierverfahrens und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE69627357D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur trocknung eines beschichteten substrats
DE59805194D1 (de) Verfahren zur herstellung eines mehrlagigen etiketts und vorrichtung zur durchführung des verfahrens
DE69506013T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Simulierung eines Farbdrucks
DE69432092D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Veränderung des Massstabs eines gedruckten Musters
DE69624009T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur platzierung eines fadens auf einem substrat
DE69704623T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur herstellung eines dreidimensionalen gegenstandes aus einer härtbaren flüssigkeit
AT400157B (de) Verfahren und vorrichtung zur reinigung einer umlaufenden gewebebahn
DE69822248D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Generierung eines Bitmapbildes
DE59106477D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Flüssigkeitsauftrags auf einem Substrat.
DE59808261D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Beschichtung eines Druckerzeugnisses
DE69322216T2 (de) Verfahren und Gerät zur graphischen Mustererzeugung

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: ASM LITHOGRAPHY B.V., VELDHOVEN, NL

8339 Ceased/non-payment of the annual fee