DE69428964D1 - Verfahren zur Analyse von Metallen mittels Sekundärionenmassenspektrometrie und Verfahren zur Vorbereitung einer Standardprobe dafür - Google Patents

Verfahren zur Analyse von Metallen mittels Sekundärionenmassenspektrometrie und Verfahren zur Vorbereitung einer Standardprobe dafür

Info

Publication number
DE69428964D1
DE69428964D1 DE69428964T DE69428964T DE69428964D1 DE 69428964 D1 DE69428964 D1 DE 69428964D1 DE 69428964 T DE69428964 T DE 69428964T DE 69428964 T DE69428964 T DE 69428964T DE 69428964 D1 DE69428964 D1 DE 69428964D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
methods
preparing
mass spectrometry
standard sample
ion mass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69428964T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69428964T2 (de
Inventor
Shoji Oishi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Application granted granted Critical
Publication of DE69428964D1 publication Critical patent/DE69428964D1/de
Publication of DE69428964T2 publication Critical patent/DE69428964T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N2001/2893—Preparing calibration standards

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
DE1994628964 1993-11-30 1994-05-31 Verfahren zur Analyse von Metallen mittels Sekundärionenmassenspektrometrie und Verfahren zur Vorbereitung einer Standardprobe dafür Expired - Fee Related DE69428964T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5326206A JP2726816B2 (ja) 1993-11-30 1993-11-30 二次イオン質量分析法及びそれに用いる標準試料の調製方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69428964D1 true DE69428964D1 (de) 2001-12-13
DE69428964T2 DE69428964T2 (de) 2002-06-06

Family

ID=18185194

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1994628964 Expired - Fee Related DE69428964T2 (de) 1993-11-30 1994-05-31 Verfahren zur Analyse von Metallen mittels Sekundärionenmassenspektrometrie und Verfahren zur Vorbereitung einer Standardprobe dafür

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0655618B1 (de)
JP (1) JP2726816B2 (de)
DE (1) DE69428964T2 (de)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6717136B2 (en) 2001-03-19 2004-04-06 Gyros Ab Microfludic system (EDI)
CA2442342A1 (en) 2001-03-19 2002-09-26 Gyros Ab A microfluidic system (edi)
CA2441206A1 (en) 2001-03-19 2002-09-26 Gyros Ab Characterization of reaction variables
WO2005052551A1 (ja) 2003-11-26 2005-06-09 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 微量含有物の分析方法
JP4711326B2 (ja) 2003-12-22 2011-06-29 キヤノン株式会社 検定試料および検量線の作製方法
JP5164145B2 (ja) * 2007-11-20 2013-03-13 独立行政法人産業技術総合研究所 二次イオン質量分析装置
JP6727722B2 (ja) 2016-11-29 2020-07-22 株式会社日立製作所 気流型分析システムの標準試料作成方法
CN107449648B (zh) * 2017-06-30 2019-09-27 中国科学院广州地球化学研究所 一种适用于二次离子质谱仪分析的矿石矿物的样品靶的制备方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2083622B (en) * 1980-06-23 1984-03-07 Baldeck Charles M Apparatus for collecting a component from a gas mixture
JPH0654286B2 (ja) * 1986-06-02 1994-07-20 株式会社島津製作所 レ−ザイオン化質量分析計用試料作成方法および試料台
JPH01114735A (ja) * 1987-10-28 1989-05-08 Sumitomo Electric Ind Ltd 分析装置の試料作製方法
SU1546517A1 (ru) * 1988-07-04 1990-02-28 Институт физической химии им.Л.В.Писаржевского АН УССР Способ обработки вольфрамовой проволоки
JP2539557B2 (ja) * 1991-08-23 1996-10-02 日本碍子株式会社 分析試料の前処理方法
JP2539558B2 (ja) * 1991-08-23 1996-10-02 日本碍子株式会社 自動分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE69428964T2 (de) 2002-06-06
EP0655618A3 (de) 1996-06-12
EP0655618B1 (de) 2001-11-07
JPH07151714A (ja) 1995-06-16
JP2726816B2 (ja) 1998-03-11
EP0655618A2 (de) 1995-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69637323D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Verbindungen in einer Lösung mittels Massenspektrometrie
DE69806415T2 (de) Verfahren zur untersuchung von ionen in einem apparat mit einem flugzeit-spektrometer und einer linearen quadrupol-ionenfalle
DE69622308D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Massenspektrometrie mittels Ioneneinfang
DE69434842D1 (de) Vorrichtung zur Mehrfach-Entnahme von Biopsie-Proben
DE69719399D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Analyse einer Probe
DE69117411D1 (de) Vorrichtung zur Analyse von Proben
GB2287315B (en) Method for mass spectrometric analysis of samples from electrophoresis plates
DE69728808D1 (de) Verfahren zur Massenabtastung mittels eines Ionenfallenmassenspektrometers
DE69019884D1 (de) Massenspektrometer zur Analyse von Stoffen.
DE3686598T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur analyse mittels positionsausloeschung und elektronenmikroskop mit derartiger einrichtung.
GB2324906B (en) Ion source for a mass analyser and method of providing a source of ions for analysis
DE69031062T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse
DE69112764D1 (de) Massenspektrometer und Vorrichtung zur Probeneinführung mittels eines Ionenzerstäubers.
DE69319861T2 (de) Sekundärionen-massenspektrometrische Analyse von Metallen und Verfahren zur Herstellung eines Probenstandards hierfür
DE69428964D1 (de) Verfahren zur Analyse von Metallen mittels Sekundärionenmassenspektrometrie und Verfahren zur Vorbereitung einer Standardprobe dafür
DE69026541D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Analyse fester Proben
GB2323965B (en) A method of comparative analysis using an ion trap mass spectrometer
DE69122970D1 (de) Automatisches gerät zur kolorimetrischen analyse von proben
DE3762472D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur entladung nichtleitender proben waehrend einer ionenstrahl-analyse.
DE69025135D1 (de) Verfahren zur Analyse von Catecholamin
DE59103565D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Proben mittels Atomabsorptions-Spektroskopie.
EP0425204A3 (en) Secondary ion mass analyzing apparatus
DE69024899T2 (de) Verfahren und Einrichtung zur Analyse durch Synthetisieren von Sprache
DE69518902T2 (de) Vorrichtung zur Verringerung der Kontamination einer Ionenquelle zur Verwendung in einem Massenspektrometer zur Lecksuche
DE59010149D1 (de) Vorrichtung zur Vorbereitung von Gasproben für die Analyse

Legal Events

Date Code Title Description
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE

8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee