DE69313303T2 - Gerät und verfahren zum berührungslosen stromeinspeisen zur verwendung bei linearen bipolaren schaltungen - Google Patents

Gerät und verfahren zum berührungslosen stromeinspeisen zur verwendung bei linearen bipolaren schaltungen

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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE516226C2 (sv) * 1995-04-10 2001-12-03 Forskarpatent I Linkoeping Ab Bipolära transistorer med extra bas-kollektor- och bas- emitterstrukturer
DE19606512A1 (de) * 1996-02-22 1997-08-28 Philips Patentverwaltung Meßvorrichtung zur Abbildung einer Signalverteilung
US6608494B1 (en) * 1998-12-04 2003-08-19 Advanced Micro Devices, Inc. Single point high resolution time resolved photoemission microscopy system and method
US6483327B1 (en) * 1999-09-30 2002-11-19 Advanced Micro Devices, Inc. Quadrant avalanche photodiode time-resolved detection
US6844747B2 (en) * 2001-03-19 2005-01-18 International Business Machines Corporation Wafer level system for producing burn-in/screen, and reliability evaluations to be performed on all chips simultaneously without any wafer contacting
US6828809B1 (en) 2002-12-20 2004-12-07 Advanced Micro Devices, Inc. Photon detection enhancement of superconducting hot-electron photodetectors
US6833718B1 (en) * 2002-12-20 2004-12-21 Advanced Micro Devices, Inc. Photon beacon
US7659981B2 (en) * 2005-08-26 2010-02-09 Dcg Systems, Inc. Apparatus and method for probing integrated circuits using polarization difference probing
US7450245B2 (en) 2005-06-29 2008-11-11 Dcg Systems, Inc. Method and apparatus for measuring high-bandwidth electrical signals using modulation in an optical probing system
US7733100B2 (en) 2005-08-26 2010-06-08 Dcg Systems, Inc. System and method for modulation mapping
SG166089A1 (en) 2009-05-01 2010-11-29 Dcg Systems Inc Systems and method for laser voltage imaging state mapping
JP5448675B2 (ja) * 2009-09-25 2014-03-19 パナソニック株式会社 プローブカード及びそれを用いた半導体ウェーハの検査方法
US8933720B2 (en) * 2012-02-10 2015-01-13 Asm Technology Singapore Pte Ltd Apparatus for conducting automated maintenance of a test contactor module
US10051225B2 (en) * 2016-12-12 2018-08-14 Omnivision Technologies, Inc. Current injection for fast ramp start-up during analog-to-digital operations

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4698587A (en) * 1985-03-28 1987-10-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Method of characterizing critical timing paths and analyzing timing related failure modes in very large scale integrated circuits
US4755748A (en) * 1985-06-05 1988-07-05 Bell Communications Research, Inc. Method and apparatus for analyzing semiconductor devices using charge-sensitive electron-beam-injected-carrier microscopy
GB2177254B (en) * 1985-07-05 1988-09-01 Stc Plc Testing integrated circuits
JPH065691B2 (ja) * 1987-09-26 1994-01-19 株式会社東芝 半導体素子の試験方法および試験装置
KR0136603B1 (ko) * 1988-02-29 1998-11-16 고다까 토시오 레이저 주사 시스템
US5012314A (en) * 1989-03-31 1991-04-30 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Liquid crystal display restoring apparatus
US5111137A (en) * 1990-10-29 1992-05-05 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for the detection of leakage current

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DE69313303D1 (de) 1997-09-25
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US5412328A (en) 1995-05-02

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