DE19606512A1 - Meßvorrichtung zur Abbildung einer Signalverteilung - Google Patents
Meßvorrichtung zur Abbildung einer SignalverteilungInfo
- Publication number
- DE19606512A1 DE19606512A1 DE1996106512 DE19606512A DE19606512A1 DE 19606512 A1 DE19606512 A1 DE 19606512A1 DE 1996106512 DE1996106512 DE 1996106512 DE 19606512 A DE19606512 A DE 19606512A DE 19606512 A1 DE19606512 A1 DE 19606512A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- coupling
- test signal
- test
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/308—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
- G01R31/309—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation of printed or hybrid circuits or circuit substrates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Toxicology (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Meßvorrichtung zur Abbildung einer Signalverteilung in
einem Meßobjekt, die von einem eingekoppelten Testsignal verursacht wird.
Bei Meßvorrichtungen zur Qualitätssicherung wird ein Meßobjekt, beispielsweise
eine Platine mit elektronischer Schaltung, meist in der Weise untersucht, daß in
seiner Umgebung nach einem Störsignal, das von einem Stromfluß in der Platine
verursacht wird, gesucht wird. Dazu wird an einer festgelegten Position ein
Testsignal in die Platine eingekoppelt. In interessierenden Bereichen in der
Umgebung der Platine wird das Störsignal detektiert, so daß an bestimmten Stellen
in der elektronischen Schaltung ein Strom nachgewiesen werden kann. Damit kann
eine beabsichtigte oder fehlerhafte Verbindung in der Schaltung ermittelt werden.
Dabei ist die Messung jedoch auf eine örtlich begrenzte Detektion beschränkt, da
nicht die Auswirkungen einer Fehlfunktion an einer bestimmten Position im
gesamten Meßobjekt gemessen werden können. Insbesondere ist in verschiedenen
Entwicklungsstufen eines neuen Produktes jedoch eine detailliertere Messung und
Darstellung von verschiedenen Störsignalen in einem größeren Bereich
wünschenswert.
Daher ist es die Aufgabe der Erfindung, eine Meßvorrichtung zu schaffen, die eine
unbeschränkte Messung und Darstellung der Auswirkungen einer Fehlfunktion an
einer bestimmten Position in einem Meßobjekt ermöglicht.
Diese Aufgabe wird bei der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung dadurch gelöst, daß
die Meßvorrichtung mit einer Einkoppeleinheit zur Einkoppelung eines Testsignals
an einer beliebigen Position in einem Meßobjekt, einer Sensoreinheit zum Empfang
von vom Testsignal verursachten Störsignalen an mehreren Positionen am gesamten
Meßobjekt und mit einer Auswerteeinheit zur Bildung einer Signalverteilung im
gesamten Meßobjekt aus den empfangenen Störsignalen ausgestattet ist.
Durch die Einkoppelung eines Testsignals an einer beliebigen Position im Meßobjekt
können alle möglichen Testsituationen geschaffen werden. Dabei ist auch die Art des
Testsignals frei wählbar. Da die Sensoreinheit beispielsweise durch einen geeigneten
Filter nur die Störsignale empfängt, die vom Testsignal verursacht werden, kann das
jeweilige Meßobjekt in einem normalen Betriebszustand getestet werden. Die
Auswerteeinheit bildet eine Verteilung eines gewünschten Signals, das sich aus den
empfangenen Störsignalen ableiten läßt. Damit stehen Meßwerte für die Signalvertei
lung im gesamten Meßobjekt zur Verfügung. So können beispielsweise die
Auswirkungen beliebiger Fehlersituationen im normalen Betrieb simuliert und
ausgewertet werden.
Eine bevorzugte Ausführungsform der anspruchsgemäßen Erfindung ergibt sich,
wenn als Testsignal ein elektrisches Signal mit wählbarer Frequenz, als
Einkoppeleinheit ein optoelektronischer Wandler zum Einbau im Meßobjekt und ein
mit der wählbaren Frequenz modulierbarer optischer Strahler zur Energieversorgung
des Wandlers und als Sensoreinheit ein positionierbarer Meßkopf mit einer
Meßsonde zum Empfang von elektromagnetischen Emissionen der wählbaren
Frequenz vorgesehen ist. Mit einem elektrischen Testsignal können z. B. bei einer zu
testenden elektronischen Schaltung von unterschiedlichen Bauelementen ausgehende
Fehler simuliert werden. Mit einem optoelektronischen Wandler, der vorzugsweise
durch eine Photodiode realisiert wird, kann eine gesteuerte Stromquelle in die
Schaltung integriert werden, ohne daß deren normaler Betrieb gestört wird. Um das
Testsignal zu generieren, versorgt ein optischer Strahler die Photodiode mit
Photonenenergie. Dazu kann insbesondere ein LASER verwendet werden, der mit
der wählbaren Frequenz moduliert wird. Möglich wäre auch eine Einkopplung des
elektrischen Signals über einen Kondensator, wobei das Testsignal dann jedoch über
elektrische Kabel zugeführt werden müßte, deren elektromagnetische Emissionen bei
fließendem Strom von der Sensoreinheit empfangen werden. Da diese Emissionen
im Frequenzbereich des Testsignals liegen, werden sie von der Auswerteeinheit
ebenfalls verarbeitet und führen zu einer fehlerhaften Abbildung. Die für den
Frequenzbereich des verwendeten Testsignals geeignete Meßsonde im Meßkopf
empfängt die elektromagnetischen Emissionen und führt sie der Auswerteeinheit zu,
die aus diesem Signal die Frequenz des Testsignals herausfiltert. Dabei ist der
Meßkopf vorzugsweise so ausgeführt, daß er das Meßobjekt nicht berührt und bei
einer Kollision automatisch nachgibt und ausweicht. Des weiteren ist er vorteilhaft
so ausgebildet, daß er die Messung der elektromagnetischen Emissionen durch
Störung der Felder nicht verfälscht. Außerdem ist die Meßsonde so gelagert, daß sie
ausgetauscht werden kann, um an den gewählten Frequenzbereich angepaßt werden
zu können.
In einer vorteilhaften Weiterbildung ist die Sensoreinheit zur aufeinanderfolgenden
Messung zweier orthogonaler Magnetfeldkomponenten an jeweiligen Meßorten und
die Auswerteeinheit jeweils zur Bildung eines Meßwertes für den Strom an diesen
Meßorten vorgesehen. Mit geeigneten Meßsonden kann jeweils nur der Anteil des
Magnetfeldvektors an einem Meßort aufgenommen werden, der in eine bestimmte
Richtung zeigt. Durch eine Vektoraddition dieser zwei Anteile des
Magnetfeldvektors an einem Meßort, die nacheinander aufgenommen werden, ergibt
sich ein die Stromstärke an diesem Ort charakterisierender Wert. Ein entsprechendes
Verfahren kann beispielsweise auch angewendet werden für den Vektor des
elektrischen Feldes und die Spannung an einem Meßort.
Bei einer vorteilhaften Ausführung der Erfindung ist zur visuellen Darstellung der
Signalverteilung eine zweidimensionale Abbildung einer Ansicht des Meßobjektes
auf einem Bildschirm mit einer farblichen Kennzeichnung für die Leistungsstärke
der elektromagnetischen Emission am jeweiligen Meßort vorgesehen. Zur
Darstellung der Auswertung der Messung wird eine zweidimensionale Karte des
Meßobjektes angelegt, in der an den jeweiligen Meßorten die Leistungsstärke des
gewünschten Signals angegeben wird. Dabei kann jedes graphische Ausgabegerät
verwendet werden, das vorzugsweise eine annähernde Echtzeitkontrolle erlaubt.
Des weiteren betrifft die Erfindung ein Meßverfahren zur Abbildung einer
Signalverteilung in einem Meßobjekt durch Einkoppelung eines Testsignals in das
Meßobjekt an einer beliebigen Position, durch Empfang von vom Testsignal
verursachten Störsignalen an mehreren Positionen am gesamten Meßobjekt und
durch Auswertung der empfangenen Störsignale zu einer Abbildung der
Signalverteilung im gesamten Meßobjekt.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung soll im folgenden anhand einer Zeichnung
offenbart und erläutert werden. Dabei zeigt:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer erfindungsgemäßen
Meßvorrichtung.
Die Fig. 1 enthält eine prinzipielle Darstellung einer Ausführungsform der
Erfindung. In einem Meßobjekt 1, eine Platine mit elektronischer Schaltung, ist ein
optoelektronischer Wandler in Form einer PIN-Photodiode 2 eingebaut. Diese wird
über einen Lichtwellenleiter 3 von einem LASER 4 angesteuert, so daß eine
gesteuerte Stromquelle realisiert wird. Damit wird ein Testsignal in Form eines
Stromes mit der Modulationsfrequenz des LASER′s 4 in die Schaltung 1 injiziert.
Eine Sensoreinheit 5, die auf einer Seite parallel zur Schaltung 1 frei positionierbar
ist, ist mit einer Meßsonde 6 verkoppelt. Diese Meßsonde 6 nimmt an bestimmten
Positionen die von der Schaltung 1 ausgehenden Signale auf. Die Sensoreinheit 5 ist
mit einer Auswerteeinheit 7 gekoppelt, die die von der Meßsonde 6 empfangenen
Signale so auswertet und aufbereitet, daß von einem Ausgabegerät in Form eines
Bildschirms 8 die Auswirkungen des injizierten Testsignals angezeigt werden
können.
Da das Testsignal mit der lichtempfindlichen PIN-Photodiode 2 eingekoppelt wird,
kann es an jeder beliebigen Position in die Schaltung 1 injiziert werden. Dadurch
kann jede mögliche Fehlersituation simuliert werden und die Schaltung 1 dabei
jeweils dennoch im normalen Betriebszustand arbeiten. Die Erzeugung der für das
Testsignal notwendigen Energie durch einen LASER 4 ermöglicht zusammen mit der
Zuführung als Photonenenergie über den Lichtwellenleiter 3 eine störarme
Energieversorgung der gesteuerten Stromquelle 2. Durch die Modulation des
LASER′s 4 wird ein hochfrequenter Strom eingeprägt. Der Empfang des Störsignals
durch die Meßsonde 6 wird von der optischen Übertragung nicht beeinflußt, da sie
in einem anderen Frequenzbereich stattfindet. Aus diesem Grund ist eine
Einkoppelung über Kabel und eine Kapazität zwar möglich, aber weniger vorteilhaft.
Da die elektrischen Verhältnisse zur Bezugsmasse durch ein zusätzliches Kabel
gegenüber einem normalen Betriebszustand stark abweichen, verändert sich die
Ausbreitung der Ströme dadurch völlig.
Mit Hilfe einer solchen Meßvorrichtung nach dem Injektionsverfahren können die
Wege eines Testsignals in der Schaltung 1 von der Quelle bis zur Senke dargestellt
werden. Die Wahl der Position der PIN-Photodiode 2 und der Frequenz des
injizierten Testsignals richtet sich nach der zu simulierenden Situation. Dabei wird
die PIN-Photodiode 2 an die Position einer möglichen Fehlerquelle geschaltet und
die Testfrequenz möglichst nah an die nachzubildende Frequenz eines möglichen
Fehlersignals angeglichen. Um eine auswertbare Trennung zwischen vom Testsignal
verursachten Störsignalen und durch den normalen Betrieb der Schaltung 1
entstandenen Signalen zu ermöglichen, darf die Testfrequenz nicht exakt mit der
Fehlersignalfrequenz übereinstimmen.
An bestimmten Meßpositionen nimmt die für die Frequenz des Testsignals geeignete
Meßsonde 6 der Sensoreinheit 5 Magnetfeldmeßwerte auf. Es werden zwei
orthogonale Komponenten des zeitabhängigen Magnetfeldvektors an dieser Position
aufgenommen, wobei durch einen schmalbandigen Filter in der Auswerteeinheit 7
nur der Frequenzbereich des Testsignals zur Ausgabe 8 kommt. Zur exakteren
Auswertung kann eine Referenzmessung ohne Testsignal vorgenommen werden,
deren Meßergebnis jeweils von den folgenden Messungen subtrahiert wird. Der
Leistungspegel des eingekoppelten Testsignals wird jeweils so groß gewählt, daß
gerade noch keine Funktionsstörung in der Schaltung 1 auftritt, um bei fehlerfreiem
Betrieb möglichst große Magnetfeldmeßwerte zu erhalten.
In der Auswerteeinheit 7 wandelt nach dem schmalbandigen Filter ein A/D-Wandler
die empfangenen Magnetfeldvektorkomponenten um, und ein Prozessor steuert das
Einschreiben der digitalen Werte in einen entsprechenden Speicher. In einem
nächsten Schritt wird der digitalisierte Wert der zweiten, senkrechten Komponente
des Magnetfeldes am selben Meßort in den Speicher eingeschrieben. In einem
weiteren Schritt bildet der Prozessor aus den zwei quantisierten Magnetfeldwerten an
einem Meßort durch Umrechnung einen Wert für den Strom an diesem Meßort.
Dieser Wert kann unmittelbar zur Ausgabe gebracht oder in einen weiteren Speicher
eingeschrieben werden. Vorzugsweise kann der Prozessor noch zwei gespeicherte
Werte für den Strom an einem Meßort voneinander subtrahieren und so jeweils
einen dritten, relativierten Wert erzeugen, der ebenfalls gespeichert oder unmittelbar
ausgegeben werden kann.
Aus den zwei aufgenommen orthogonalen Komponenten des Magnetfeldes, aus
denen jeweils der Frequenzbereich des Testsignals herausgefiltert wurde, läßt sich
durch eine Vektoraddition in der Auswerteeinheit 7 eine Größe für die Stromstärke
gewinnen. Dabei gehören jeweils zwei Ortskoordinaten der Position der
Sensoreinheit 5 zu einem Meßwert, so daß eine zweidimensionale Karte aufbereitet
werden kann, in der die Meßorte jeweils eine Kennzeichnung für die Stromstärke
besitzen. Diese Karte wird auf einem Bildschirm 8 angezeigt, wobei durch die
Meßpositionen eine Raster entsteht, dessen Felder verschiedene Farben entsprechend
der gemessenen Stromstärke annehmen. Jede andere sinnvolle Darstellung eines
Zahlentripels aus jeweils zweidimensionalen Ortskoordinaten und einem Meßwert
kann auch verwendet werden, um die Signalverteilung in der Schaltung 1 sichtbar zu
machen. Ebenso ist eine Ausgabe über einen Drucker oder einen Plotter möglich.
Claims (5)
1. Meßvorrichtung mit einer Einkoppeleinheit (2) zur Einkoppelung eines
Testsignals an einer beliebigen Position in einem Meßobjekt (1), mit einer
Sensoreinheit (5) zum Empfang von vom Testsignal verursachten Störsignalen an
mehreren Positionen am gesamten Meßobjekt (1) und mit einer Auswerteeinheit (7)
zur Bildung einer Signalverteilung im gesamten Meßobjekt (1) aus den empfangenen
Störsignalen.
2. Meßvorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Testsignal ein elektrisches Signal mit wählbarer Frequenz,
daß als Einkoppeleinheit (2) ein optoelektronischer Wandler (2) zum Einbau im Meßobjekt (1) und ein mit der wählbaren Frequenz modulierbarer optischer Strahler (4) zur Energieversorgung des Wandlers (2) und
daß als Sensoreinheit (5) ein positionierbarer Meßkopf (5) mit einer Meßsonde (6) zum Empfang von elektromagnetischen Emissionen der wählbaren Frequenz vorgesehen ist.
daß als Testsignal ein elektrisches Signal mit wählbarer Frequenz,
daß als Einkoppeleinheit (2) ein optoelektronischer Wandler (2) zum Einbau im Meßobjekt (1) und ein mit der wählbaren Frequenz modulierbarer optischer Strahler (4) zur Energieversorgung des Wandlers (2) und
daß als Sensoreinheit (5) ein positionierbarer Meßkopf (5) mit einer Meßsonde (6) zum Empfang von elektromagnetischen Emissionen der wählbaren Frequenz vorgesehen ist.
3. Meßvorrichtung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sensoreinheit (5) zur aufeinanderfolgenden Messung zweier orthogonaler
Magnetfeldkomponenten an jeweiligen Meßorten und daß die Auswerteeinheit (7)
jeweils zur Bildung eines Meßwertes für den Strom an diesen Meßorten vorgesehen
ist.
4. Meßvorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß zur visuellen Darstellung der Signalverteilung eine zweidimensionale Abbildung
einer Ansicht des Meßobjektes auf einem Bildschirm (8) mit einer farblichen
Kennzeichnung für die Leistungsstärke der elektromagnetischen Emissionen am
jeweiligen Meßort vorgesehen ist.
5. Meßverfahren zur Abbildung einer Signalverteilung in einem Meßobjekt (1) durch
Einkoppelung eines Testsignals in das Meßobjekt an einer beliebigen Position, durch
Empfang von vom Testsignal verursachten Störsignalen an mehreren Positionen am
gesamten Meßobjekt und durch Auswertung der empfangenen Störsignale zu einer
Abbildung der Signalverteilung im gesamten Meßobjekt (1).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1996106512 DE19606512A1 (de) | 1996-02-22 | 1996-02-22 | Meßvorrichtung zur Abbildung einer Signalverteilung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1996106512 DE19606512A1 (de) | 1996-02-22 | 1996-02-22 | Meßvorrichtung zur Abbildung einer Signalverteilung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19606512A1 true DE19606512A1 (de) | 1997-08-28 |
Family
ID=7786046
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1996106512 Withdrawn DE19606512A1 (de) | 1996-02-22 | 1996-02-22 | Meßvorrichtung zur Abbildung einer Signalverteilung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19606512A1 (de) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4053833A (en) * | 1974-02-12 | 1977-10-11 | Westinghouse Electric Corporation | Contactless test method for integrated circuits |
EP0178425A1 (de) * | 1984-09-13 | 1986-04-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Fehlerlokalisierung einer elektrischen Schaltung mit einem Lichtstrahl |
US4736159A (en) * | 1985-05-21 | 1988-04-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Laser probing for solid-state device |
DE3700787A1 (de) * | 1987-01-13 | 1988-08-11 | Mauer Blitz Bau Service Gmbh | Greifzange zum reihenweisen versetzen von mauersteinen |
US5412328A (en) * | 1992-12-31 | 1995-05-02 | United Technologies Corporation | Non-contact current injection apparatus and method for use with linear bipolar circuits |
-
1996
- 1996-02-22 DE DE1996106512 patent/DE19606512A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4053833A (en) * | 1974-02-12 | 1977-10-11 | Westinghouse Electric Corporation | Contactless test method for integrated circuits |
EP0178425A1 (de) * | 1984-09-13 | 1986-04-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Fehlerlokalisierung einer elektrischen Schaltung mit einem Lichtstrahl |
US4736159A (en) * | 1985-05-21 | 1988-04-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Laser probing for solid-state device |
DE3700787A1 (de) * | 1987-01-13 | 1988-08-11 | Mauer Blitz Bau Service Gmbh | Greifzange zum reihenweisen versetzen von mauersteinen |
US5412328A (en) * | 1992-12-31 | 1995-05-02 | United Technologies Corporation | Non-contact current injection apparatus and method for use with linear bipolar circuits |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69813443T2 (de) | Impulsgeneratorschaltung für Zeitbereichsreflektometer | |
DE3785955T2 (de) | Verfahren und geraet zur ueberwachung elektromagnetischer strahlung elektrischer schaltungen. | |
DE69627777T2 (de) | Pulsbasiertes Impedanz-Messgerät | |
DE4417580C2 (de) | Testvorrichtung zum Testen einer elektronischen Schaltungsplatine | |
DE69637461T2 (de) | Überwachung von teilentladungen in leistungstransformatoren | |
EP0886762B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur überprüfung eines sensors | |
DE69329567T2 (de) | Identifikation von offenen Anschlussfehlern durch kapazitive Kopplung | |
DE19930571B4 (de) | Diagnosevorrichtung für eine Mehrantennenanordnung | |
DE69921277T2 (de) | System und Verfahren zur Fehlererkennung in einer elektrischen Schaltung durch Ruhestromanalyse | |
DE10154511B4 (de) | Netzwerkanalysator und Verfahren zur Vektorcharakterisierung von Frequenzumsetzungsvorrichtungen | |
EP0060321A1 (de) | Verfahren für eine rasche interne Logikprüfung an integrierten Schaltungen | |
DE19621401C2 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Schirmwirkung einer abgeschirmten Verkabelungsstrecke | |
DE19832805A1 (de) | Magnetfeldmeßgerät und Gerät zum Messen der räumlichen Auflösung eines Magnetfelddetektors | |
DE69102811T2 (de) | Verfahren zum Testen der Zweckmässigkeit der elektromagnetischen Abschirmung eines Leiters und Anordnung dafür. | |
DE4439971A1 (de) | Fehleranalysesystem für integrierte Schaltkreise | |
DE3936988C2 (de) | ||
DE19606512A1 (de) | Meßvorrichtung zur Abbildung einer Signalverteilung | |
DE10139159A1 (de) | Verfahren zum messen eines Fluidpegels | |
DE3404192C2 (de) | ||
DE3022279C2 (de) | ||
EP1287511B1 (de) | Schaltungsanordnung und verkehrsmittel beinhaltend ein zwei-leiter-messgerät sowie verfahren zu dessen prüfung | |
DE19651922C2 (de) | Anpaßverstärker für eine Induktionssonde und Meßvorrichtung mit mindestens zweiim Abstand voneinander angeordneten Induktionssonden | |
LU503820B1 (de) | Messgerät zur kontaktlosen Strommessung und Verfahren zu dessen Kalibrierung | |
DE19849250B4 (de) | Spannungsprüfgerät | |
DE2460558C3 (de) | Verfahren zur Messung des AM/PM-Konversionskoeffizienten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |