DE69308984T2 - Überwachung der optischer Verstärkung eines optischen Halbleiterverstärkers - Google Patents

Überwachung der optischer Verstärkung eines optischen Halbleiterverstärkers

Info

Publication number
DE69308984T2
DE69308984T2 DE69308984T DE69308984T DE69308984T2 DE 69308984 T2 DE69308984 T2 DE 69308984T2 DE 69308984 T DE69308984 T DE 69308984T DE 69308984 T DE69308984 T DE 69308984T DE 69308984 T2 DE69308984 T2 DE 69308984T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
section
optical
coupled
amplifier according
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69308984T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69308984D1 (de
Inventor
Uziel Koren
Michael A Newkirk
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AT&T Corp
Original Assignee
AT&T Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by AT&T Corp filed Critical AT&T Corp
Application granted granted Critical
Publication of DE69308984D1 publication Critical patent/DE69308984D1/de
Publication of DE69308984T2 publication Critical patent/DE69308984T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/50Amplifier structures not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Lasers (AREA)

Description

    Erfindungsgebiet
  • Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein Halbleiterbauelemente und insbesondere ein Halbleiterbauelement, das bei Betrieb als optischer Verstärker eine Überwachung der optischen Verstärkung bereitstellt.
  • Stand der Technik
  • Halbleiterlaserverstärker werden für Anwendungen mit optischer Signalverarbeitung zu immer wichtigeren Komponenten. Zusätzlich zu den einfachen Funktionen der Verlustkompensation und des Schaltens kann ein Halbleiterlaserverstärker gleichzeitig Verstärkung und Erfassung eines optischen Signals bereitstellen. In jüngster Zeit haben Verstärker, die diese doppelte Kapazität aufweisen, durch Einsatz eines geteilten Kontakts und Ausführung der Erfassungsfunktion am hinteren Kontakt eine verbesserte Erfassungskapazität gezeigt. Siehe dazu C. Jorgensen et al., "Two-Section Semiconductor Optical Amplifier Used as an Efficient Channel Dropping Node", IEEE Photon. Technol. Letters, Band 4, S. 348-350, 1992.
  • EP-A-0377948 offenbart einen optischen Halbleiterverstärker mit einem Eingangsabschnitt, einem Ausgangsabschnitt und einem Mittelabschnitt und mit einem Verstärkungsmedium und einem durchgehenden optischen Wellenleiter, der sich durch den Eingangsabschnitt, den Mittelabschnitt und den Ausgangsabschnitt hindurch erstreckt.
  • Mit zunehmender Komplexität von photoelektronischen integrierten Schaltungen mit integrierten Halbleiterlaserverstärkern wird es notwendig, die Verstärkung des Verstärkers zu überwachen, so daß eine automatische Verstärkungskontrolle durchgeführt bzw. die Widerstandsfähigkeit des Systems vergrößert werden kann. Die vorliegende Erfindung besteht darin, dieses Erfordernis der Überwachung der optischen Verstärkung eines Halbleiterlaserverstärkers zu erfüllen.
  • Kurze Darstellung der Erfindung
  • Die Erfindung ist in Anspruch 1 definiert und betrifft einen Halbleiterlaserverstärker, der außer zur Verstärkung eines optischen Signals auch zur Überwachung der Verstärkung des Verstärkers verwendet werden kann. Es hat sich herausgestellt, daß bei elektrischer, nicht optischer, Teilung eines Halbleiterlaserverstärkers in drei getrennte Abschnitte, zwei Endabschnitte und einen Mittelabschnitt, und beim parallelen Anlegen einer Durchlaßvorspannung an alle drei Abschnitte die optische Verstärkung des Halbleiterverstärkers zu dem Verhältnis der Spannungen an den beiden Endabschnitten in Beziehung steht und daß diese Beziehung lediglich von festen Größen wie den Längen der drei Abschnitte abhängt.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnung
  • Figur 1 zeigt schematisch den erfindungsgemäßen Aufbau zum Überwachen der optischen Verstärkung eines Halbleiterlaserverstärkers.
  • Figur 2 ist eine graphische Darstellung des Spannungssignals am Eingang und Ausgang des Halbleiterlaserverstärkers bei einem Vorpolarisierungsstrom Idc=26 mA.
  • Figur 3 ist eine graphische Darstellung des Spannungssignals am Eingang und Ausgang des Halbleiterlaserverstärkers bei einem Vorpolarisierungsstrom Idc=110 mA; und
  • Figur 4 ist eine graphische Darstellung der inneren optischen Verstärkung des Verstärkers über die Spannungsverstärkung des Halbleiterlaserverstärkers.
  • Ausführliche Beschreibung
  • Die Verstärkung eines optischen Halbleiterverstärkers kann durch Teilen des optischen Halbleiterverstärkers in drei elektrisch getrennte Abschnitte, die sich entlang eines durchgehenden optischen Wellenleiters erstrecken, überwacht werden. Ein erster Abschnitt liegt am Eingangsende des Verstärkers, ein zweiter Abschnitt liegt am Ausgangsende des Verstärkers und ein dritter Abschnitt liegt zwischen dem ersten und dem zweiten Abschnitt. Jeder Abschnitt trägt einen elektrischen Kontakt, der zum individuellen Anlegen einer Durchlaßvorspannung in jedem Abschnitt verwendet wird. Bei Betrieb steht das Verhältnis der Spannungen an den an den ersten bzw. Eingangsabschnitt und den dritten bzw. Ausgangsabschnitt angekoppelten Kontakten in Beziehung zu der Verstärkung des Verstärkers.
  • Unter Bezugnahme auf Figur 1 wird ein Blockschaltbild eines Halbleiterlaserverstärkers gezeigt, der eine Überwachung der optischen Verstärkung bereitstellt. Das Material des Halbleiterverstärkers 10 kann unter Verwendung der Epitaxie aus der Gasphase einer metallorganischen Verbindung bei Normaldruck gezogen werden. Der Basiswafer umfaßt eine spannungskompensierte Mehrquantenmuldenverstärkungsschicht 11 für eine Wellenlänge von 1,55 µm auf einem 280 nm (2800 Å) dicken passiven InGaAsP-Wellenleiter 13, der dem in B.I. Miller et al., "Strain-Compensated Strained-Layer Superlattices for 1.5 µm Wavelength Lasers", Appl. Phys. Lett., Band 58, S. 1952-1954, 1991 ähnlich ist. Der Quantenmuldenstapel besteht aus sechs 3 nm (30 Å) dicken InGaAs-Mulden mit 1,3% Zugspannung, die durch 12,5 nm (125 Å) dicke InGaAsP-Sperrschichten mit 0,2% Zugspannung mit einer Photolumineszenz-Spitzenwellenlänge von 1,25 µm getrennt sind. Der Halbleiterverstärker 10 verwendet die halbisolierende, planare vergrabene Heterostruktur, wie sie von U. Koren et al., "Semi-Insulating Blocked Planar Buried Heterostructure GaInAs-InP Laser With High Power and High Modulation Bandwidth", Electron. Lett., Band 24, S. 138-139, 1988 offenbart worden ist. Mesas mit einer Dicke von 3 µm werden durch standardmäßige Photolithographie und naßchemisches Ätzen und danach zweimaliges Aufwachsen durch Epitaxie aus der Gasphase einer metallorganischen Verbindung für Stromblockier-, Ummantelungs- und p-Kontaktierungsschichten geschaffen. Der Halbleiterverstärker 10 ist 880 µm lang, wobei der obere Kontakt in drei Abschnitte unterteilt ist, einen 640 µm langen Mittelabschnitt 12, einen 100 µm langen Eingangsabschnitt 14 und einen 100 µm langen Ausgangsabschnitt 16, die durch 20 µm lange Lücken 18, 20 getrennt sind, an der vorderen bzw. hinteren Facette. Durch Implantierung von Ionen in den Lückenbereichen 18, 20 sind die drei Abschnitte 12, 14 und 16 voneinander elektrisch getrennt.
  • Ionen, die zu diesem Zweck eingesetzt werden können, sind unter anderem Wasserstoff, Helium und Fluor. Bei Vorspannung der drei Abschnitte in Durchlaßrichtung stellt es sich heraus, daß das Bauelement eine Laserschwelle von 30 mA aufwies, bevor die Facetten mit einer Antireflexionsschicht beschichtet wurden.
  • Es folgt unten eine theoretische Beschreibung des Halbleiterlaserverstärkers 10 mit drei Abschnitten. Die Ratengleichung für die Ladungsträger-Photonen-Dynamik bei einem gegebenen Weg entlang des Verstärkers lautet:
  • wobei n und p Kleinsignal-Ladungsträgerdichte- und Photonendichtemodulationsamplituden, gn und g die Differenzverstärkung und die ungesättigte Materialverstärkung, P&sub0; die Photonendichte im eingeschwungenen Zustand, vg die Gruppengeschwindigkeit und τsp die spontane Lebensdauer der Ladungsträger sind. Unter der vereinfachenden Annahme, daß der Verstärker auf ungesättigte Art betrieben wird, wird die Beziehung (1) für Modulationsfrequenzen unter 1/τsp
  • n(t)=-gvgτsp(t). (2)
  • Die Kleinsignal-Diodenübergangsspannung v ist ebenfalls proportional zur Ladungsträgerdichtemodulation
  • v(t)=mVTn(t)/No, (3)
  • wobei m eine Konstante ist, die die Dichte von Zuständen betrifft, VT die Temperaturspannung und N&sub0; die Ladungsträgerdichte im eingeschwungenen Zustand ist. Durch Kombinieren der Beziehungen (2) und (3) ergibt sich v(t) α p (t).
  • Die innere Verstärkung G des Verstärkers ist das Verhältnis aus der Eingangs- und Ausgangsphotonendichtemodulation. Bei ungesättigtem Betrieb ist
  • G=Pout/Pin=exp[(Γg-α)(L&sub1; +L&sub2;+L&sub3;)-2αgapLgap) (4)
  • wobei Γ der Modenbegrenzungsfaktor, a der Verlustkoeffizient und αgap der Überschußverlust von den ungepumpten Lückenbereichen ist. Um G zu den Facettenkontaktspannungen v&sub1; und v&sub3; in Beziehung zu setzen, ist es erforderlich, die örtliche Photonendichte unter den Kontakten zu mitteln. Durch Integration erhält man die Spannungsverstärkung
  • Für den Fall, wo die Facettenkontakte die gleiche Länge aufweisen (L&sub3;=L&sub1;), kann diese Beziehung mit Beziehung (4) kombiniert werden und ergibt
  • G(dB)=[1+L&sub3;/L&sub1;+L&sub2;].v&sub3;/v&sub1;(dB)+4,34[2αgapLgap][L&sub3;/L&sub1;+L&sub2;] (6)
  • wobei G und v&sub3;/v&sub1; nun in Dezibel ausgedrückt werden. Bei einer doppeltalgorithmischen Darstellung ist G deshalb eine lineare Funktion der Spannungsverstärkung v&sub3;/v&sub1;. Diese Beziehung hängt lediglich von festen Größen ab, da die von der Vorspannung abhängige Kleinsignalverstärkung g aus der Gleichung eliminiert worden ist. Auch ist für alle sinnvollen Werte von &alpha;gap (< 100 cm&supmin;¹) die Versetzung aufgrund von Lückenverlust gering (< 0,3 dB). Bei diesem Bauelement beträgt die Steigung 1+L&sub3;/L&sub1;+L&sub2;=1,14.
  • Nun wiederum auf Figur 1 Bezug nehmend, wird ein die Erfindung verkörpernder Halbleiterverstärker gezeigt, der so angeschlossen ist, daß seine optische Verstärkung überwacht werden kann. In einer Überprüfung der Erfindung wird ein optisches Eingangssignal Pin von einem Mehrquantenmulden-Bragg-Reflektor-Laser bei 1,561 µm durch eine Sinuswelle mit 50 MHz direkt moduliert. Das Licht wird dann gedämpft und mit einer Objektlinse in den Verstärker 10 eingekoppelt. Das Eingangslicht ist TE-polarisiert und in diesem Fall wird die auftreffende durchschnittliche optische Leistung als -6 µm bestimmt. An die drei Abschnitte 14, 12, 16 des Halbleiterverstärkers 10 ist Durchlaßvorspannung parallel angelegt, und die Wechselspannungssignale an den Kontakten der Abschnitte 14, 16 werden mit einem Paar Vorspannungsabzweige, die aus den Kondensatoren 22, 24 und den Induktoren 26, 28 bestehen, ausgekoppelt. Das Wechselstromsignal von dem Kontakt auf dem Abschnitt 14 wird von einem Verstärker 30 elektrisch verstärkt, und das Wechselstromsignal von dem Kontakt auf dem Abschnitt 16 wird von einem Verstärker 32 elektrisch verstärkt. Die Verstärkung des Halbleiterverstärkers ist proportional zu dem Verhältnis der verstärkten Signale von den Verstärkern 30, 32.
  • Das verstärkte optische Signal Pout von dem Halbleiterverstärker 10 wird mit einer zweiten Objektivlinse gesammelt und mit einem optischen Leistungsmesser, wo die erfaßte Leistung von der Hintergrundspontanemission von dem Meßwert abgezogen wird, überwacht. Die Spannungssignale von den Kontakten auf den Abschnitten 14, 16 werden dann zu der optischen Verstärkung des Verstärkers in Beziehung gesetzt.
  • Figuren 2 und 3 zeigen typische Testergebnisse. Die Spannungen werden als Funktion des Verstärker-Vorpolarisierungsstroms Idc für konstante mittlere, auffallende optische Leistung gemessen. Bei einem Vorpolarisierungsstrom Idc=26 mA wurde der Halbleiterverstärker 10 in der Nähe von Nullverlust betrieben; wo der Spannungsverstärkungsfaktor gleich Eins ist. Unter Bezugnahme auf Figur 2 ist die obere Kurve die Spannung am Eingangsabschnitt 14 und die untere Kurve die Spannung am Ausgangsabschnitt 16. Bei Erhöhung der Vorspannung steigt auch die Spannungsmodulation am Ausgangsabschnitt 16. Figur 3 zeigt, daß bei einem Vorpolarisierungsstrom Idc=110 mA die Spannungsverstärkung 12,1 dB beträgt. In Figur 3 ist die obere Kurve die Spannung am Eingangsabschnitt 14 und die untere Kurve die Spannung am Ausgangsabschnitt 16, mit halbem Maßstab gezeigt.
  • Figur 4 zeigt die innere Verstärkung des Halbleiterverstärkers 10 über die Spannungsverstärkung für den gleichen Bereich von Vorpolarisierungsströmen. Die optische Signalverstärkung bei einem Vorpolarisierungsstrom von 110 mA beträgt 7,2 dB, und der Eingangskopplungsverlust und &alpha;gap werden auf -9 dB bzw. 60 cm&supmin;¹ geschätzt, so daß sich bei dem Vorpolarisierungsstrom eine innere Verstärkung von 16,2 dB ergibt. Es ist zu bemerken, daß die Daten über den gesamten Bereich von Vorpolarisierungsströmen auf eine gerade Linie fallen. Die Steigung der Linie, die von Schätzungen für die Kopplung und &alpha;gap unabhängig ist, beträgt 1,35, was geringfügig höher liegt als der theoretische Wert von 1,14. Eine ausführlichere theoretische Behandlung, die die Wirkungen der Verstärkungssättigung mit einschließt, könnte möglicherweise über die kleine Abweichung Aufschluß geben.
  • Zusammengefaßt wird offenbart, daß durch Bereitstellung eines optischen Halbleiterverstärkers mit drei elektrisch voneinander getrennten Abschnitten, die sich vom Eingang zum Ausgang entlang des optischen Wellenleiters erstrecken, die optische Verstärkung dadurch überwacht werden kann, daß Spannungsveränderungen an den beiden Endabschnitten verglichen werden. Die Versuchsdaten, die mit der Theorie übereinstimmen, zeigen, daß bei Kleinsignalmessungen an einem drei Anschlüsse aufweisenden Mehrguantenmulden-Verstärker mit 1,55 µm die optische Verstärkung proportional zur Spannungsverstärkung ist.

Claims (12)

1. Optischer Halbleiterverstärker mit
einem Eingangsabschnitt (14), einem Ausgangsabschnitt (16) und einem zwischen dem Eingangsabschnitt und dem Ausgangsabschnitt angeordneten Mittelabschnitt (12) und mit einem Verstärkungsmedium (11) und einem durchgehenden optischen Wellenleiter, der sich durch den Eingangsabschnitt, den Mittelabschnitt und den Ausgangsabschnitt hindurch erstreckt, dadurch gekennzeichnet, daß er auch
Mittel (18, 20) zum elektrischen Trennen von Eingangsabschnitt, Mittelabschnitt und Ausgangsabschnitt voneinander,
angekoppelte Mittel (Idc), um an jeden der drei Abschnitte eine Durchlaßvorspannung anzulegen, und
angekoppelte Mittel (22, 24, 26, 28, 30, 32) zum Erfassen der Spannungsänderung am Eingangsabschnitt und am Ausgangsabschnitt, so daß die optische Verstärkung des Verstärkers durch Vergleichen der spannungsänderungen an dem Eingangsabschnitt und dem Ausgangsabschnitt überwacht werden kann, enthält.
2. Optischer Halbleiterverstärker nach Anspruch 1, weiterhin mit
angekoppelten Mitteln, um das Verhältnis aus der Spannung am Eingangsabschnitt und am Ausgangsabschnitt zu bestimmen.
3. Optischer Halbleiterverstärker nach Anspruch 1 mit
einem an den Eingangsabschnitt angekoppelten ersten elektrischen Kontakt (14) zum Anlegen einer Durchlaßvorspannung an den Eingangsabschnitt,
einem an den Mittelabschnitt angekoppelten zweiten elektrischen Kontakt (12) zum Anlegen einer Durchlaßvorspannung an den Mittelabschnitt und
einem an den Ausgangsabschnitt angekoppelten dritten elektrischen Kontakt (16) zum Anlegen einer Durchlaßvorspannung an den Ausgangsabschnitt.
4. Optischer Halbleiterverstärker nach Anspruch 3, wobei
der Eingangsabschnitt und der Ausgangsabschnitt jeweils eine Länge aufweisen, die unter der Länge des Mittelabschnitts liegt.
5. Optischer Halbleiterverstärker nach Anspruch 3 oder 4, wobei
der Eingangsabschnitt, der Ausgangsabschnitt und der Mittelabschnitt jeweils eine Länge aufweisen, die im wesentlichen gleich ist.
6. Optischer Halbleiterverstärker nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei
jeder elektrische Kontakt im wesentlichen die ganze Oberfläche seines zugeordneten Abschnitts überdeckt und jeder elektrische Kontakt von jedem anderen elektrisch getrennt ist.
7. Optischer Halbleiterverstärker nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei
das Mittel zum elektrischen Trennen des Eingangsabschnitts, des Ausgangsabschnitts und des Mittelabschnitts voneinander Ionen umfaßt, die in dem zwischen dem Eingangsabschnitt und dem Mittelabschnitt und dem Mittelabschnitt und dem Ausgangsabschnitt liegenden Bereich in das Halbleiterbauelement implantiert worden sind.
8. Optischer Halbleiterverstärker nach Anspruch 7, wobei es sich bei den im Halbleiterbauelement implantierten Ionen um Wasserstoffionen handelt.
9. Optischer Halbleiterverstärker nach Anspruch 7, wobei es sich bei den im Halbleiterbauelement implantierten Ionen um Heliumionen handelt.
10. Optischer Halbleiterverstärker nach Anspruch 7, wobei es sich bei den im Halbleiterbauelement implantierten Ionen um Fluorionen handelt.
11. Optischer Halbleiterverstärker nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei
jeweils am Eingangsabschnitt, am Mittelabschnitt und am Ausgangsabschnitt Durchlaßvorspannung anliegt,
erste Mittel (22, 26, 30) an den Eingangsabschnitt angekoppelt sind, um das Vorspannungspotential am Eingangsabschnitt zu erfassen, und
zweite Mittel (24, 28, 32) an den Ausgangsabschnitt angekoppelt sind, um das Vorspannungspotential am Ausgangsabschnitt zu erfassen.
12. Optischer Halbleiterverstärker nach Anspruch 11, wobei
der Eingangsabschnitt über einen ersten Vorspannungsabzweig (22, 26) an das Vorspannungsmittel angekoppelt ist;
der Ausgangsabschnitt über einen zweiten Vorspannungsabzweig (28, 24) an das Vorspannungsmittel angekoppelt ist; und
der Mittelabschnitt direkt an das Vorspannungsmittel angekoppelt ist.
DE69308984T 1992-10-28 1993-10-20 Überwachung der optischer Verstärkung eines optischen Halbleiterverstärkers Expired - Lifetime DE69308984T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/967,593 US5309469A (en) 1992-10-28 1992-10-28 Monitoring optical gain of semiconductor optical amplifier

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69308984D1 DE69308984D1 (de) 1997-04-24
DE69308984T2 true DE69308984T2 (de) 1997-07-03

Family

ID=25513020

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69308984T Expired - Lifetime DE69308984T2 (de) 1992-10-28 1993-10-20 Überwachung der optischer Verstärkung eines optischen Halbleiterverstärkers

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5309469A (de)
EP (1) EP0595537B1 (de)
JP (1) JP2735474B2 (de)
DE (1) DE69308984T2 (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5371757A (en) * 1993-10-22 1994-12-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Integrated semiconductor laser oscillator and off-axis amplifier
EP1130709A2 (de) * 2000-01-20 2001-09-05 Cyoptics (Israel) Ltd. Optische Strahlungsüberwachung in Halbleitervorrichtungen
US6760350B1 (en) * 2002-04-12 2004-07-06 The United States Of America As Represented By The National Security Agency Method for measuring gain of photonic inverters
US6771682B2 (en) * 2002-08-12 2004-08-03 Infinera Corporation Electrical isolation of optical components in photonic integrated circuits (PICs)
KR100617693B1 (ko) * 2003-08-20 2006-08-28 삼성전자주식회사 광검출기를 구비하는 반도체 광증폭 장치 및 그 제조방법
JP2005135956A (ja) * 2003-10-28 2005-05-26 Mitsubishi Electric Corp 半導体光増幅器およびその製造方法ならびに光通信デバイス

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4523961A (en) * 1982-11-12 1985-06-18 At&T Bell Laboratories Method of improving current confinement in semiconductor lasers by inert ion bombardment
JPS62291987A (ja) * 1986-06-12 1987-12-18 Mitsubishi Electric Corp 光集積化素子
JPH02184828A (ja) * 1989-01-12 1990-07-19 Toshiba Corp 半導体光増幅器
US5099489A (en) * 1989-09-15 1992-03-24 At&T Bell Laboratories Apparatus comprising a quantum well device
EP0562518B1 (de) * 1992-03-23 1997-12-29 Canon Kabushiki Kaisha Optische Vorrichtung und Methode unter Benutzung dieser Vorrichtung, welche die Änderung einer über die beiden Anschlussenden eines verstärkenden Bereichs abfallenden Spannung ausnutzt

Also Published As

Publication number Publication date
US5309469A (en) 1994-05-03
JPH06216434A (ja) 1994-08-05
JP2735474B2 (ja) 1998-04-02
EP0595537A1 (de) 1994-05-04
EP0595537B1 (de) 1997-03-19
DE69308984D1 (de) 1997-04-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69636481T2 (de) Optischer sender
DE60026367T2 (de) Integrierter opto-elektronischer wellenlängenwandler
DE69404760T2 (de) Monolithisch integrierte Laser-Modulator-Anordnung mit Multiquantumwell-Struktur
DE69316375T2 (de) Nichtlineare halbleitende optische vorrichtung
DE4328777B4 (de) Optische Filtervorrichtung
DE69315872T2 (de) Optische Vorrichtung und Methode unter Benutzung dieser Vorrichtung, welche die Änderung einer über die beiden Anschlussenden eines verstärkenden Bereichs abfallenden Spannung ausnutzt
DE69819219T2 (de) Stabilisation der Wellenlänge in verstimmbaren Halbleiterlasern
DE69532083T2 (de) Optische vorrichtung
DE69104573T2 (de) Optischer Verstärker.
DE69614602T2 (de) Optische Halbleitervorrichtung, Verfahren zu ihrer Ansteuerung, Verwendung der Vorrichtung als Lichtquelle und optisches Kommunikationssystemes mit einer derartigen Lichtquelle
DE69735327T2 (de) Optische Halbleitervorrichtung und Verfahren zum Herstellen derselben
DE69516493T2 (de) Verfahren zur Ansteuerung eines breitbandigen polarisationsmodenselektiven Halbleiterlasers, und ein optisches Kommunikationssystem
DE69217273T2 (de) Abstimmbare optische Quelle zur Erzeugung eines kohärenten optischen Strahls mit breitem Durchstimmbereich
DE3146795A1 (de) &#34;superlumineszente, lichtemittierende diode (sld) mit wirksamer ankopplung an optische wellenleiter&#34;
WO1997049149A1 (de) Laserdiode-modulator-kombination
DE69606596T2 (de) Halbleitende Emissionsvorrichtung mit schneller Wellenlängenmodulation
DE69801709T2 (de) Optisches Übertragungssystem mit dynamischer Kompensation der übertragenen Leistung
DE19520739A1 (de) Lichtemittierende Halbleitervorrichtung, Laser-Resonanzverstärker und Lichtverstärker mit integriertem Wellenlängen-abstimmbaren Filter
DE69308984T2 (de) Überwachung der optischer Verstärkung eines optischen Halbleiterverstärkers
DE69610449T2 (de) Halbleiterquelle mit grosser spektraler Breite und hoher Ausgangsleistung
DE69706080T2 (de) Elektroabsorptionsmodulator
DE69030175T2 (de) Optische Halbleitervorrichtung
DE69033773T2 (de) Anordnung zur optischen Verbindung
DE69400656T2 (de) Integrierte Lichtquelle mit Multiquantumwell-Diodenlaser/Modulator
DE10201126A1 (de) Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zu seiner Herstellung

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition