DE68903726T2 - Glasbehaelter-pruefapparat. - Google Patents

Description

• Die Erfindung bezieht sich auf einen Apparat zum Prüfen der Wanddikke von runden Behältern, wie z.B. Glasflaschen.
• Die vor dem Prioritätsdatum der vorliegenden Anmeldung, aber erst nach diesem Datum veröffentlichte europäische Patentanmeldung 300,616 offenbart einen Glasbehälter-Prüfapparat zum Messen der Dicke der Wand einer Flasche unter Verwendung eines Sensors in der Form einer verrlängerten Elektrode, die gefedert gegen die Flasche gedrückt wird, während die Flasche an der Elektrode entlang gerollt wird.
• Bei der Verwendung eines solchen Apparats wird, wenn eine Naht an der Flasche an dem Sensor vorbeirollt, im allgemeinen ein falsches Signal eines "dicken Punktes" erzeugt, wenn sich die Naht nähert, und ein falsches Signals eines "dünnen Punktes", sobald die Naht bei dem Sensor und unmittelbar dahinter ist. Solch ein Apparat erfaßt daher die Naht, indem er die Änderungsrate oder das Differential periodischer Dickeproben bestimmt, und immer; wenn das Differential eine ausgewählte Schwelle überschreitet, ist eine Schwelle erfaßt worden, und ein Zeitgeber, der eine feste Periode hat, wird gestartet. Nachfolgende Proben, die während des Fensters dieses Zeitgebers empfangen sind, wurden ignoriert.
• Eine solche Anordnung hat zwei Nachteile. Zum ersten muß, wenn die Geschwindigkeit, mit der der Apparat betrieben wird, geändert wird, die Einstellung des Zeitgebers auch geändert werden. Zum zweiten werden die ungewollten durch eine sich annähernde Naht verursachten Ablesungen nicht ignoriert.
• Es ist ein Ziel der Erfindung, wie sie in den Ansprüchen definiert ist, die obigen Nachteile zu überwinden. Gemäß der in den Ansprüchen definierten Erfindung ist ein Glasbehälter-Prüfapparat bereitgestellt zum Prüfen der Dicke einer Wand eines Behälters unter Verwendung einer Abtasteinrichtung, welche ein die Dicke der Wand eines Behälters darstellendes Signal erzeugt, welcher ihr dargeboten wird, mit einer Einrichtung zum Darbieten eines Glasbehälters der Abtasteinrichtung, so daß ihre Wanddicke abgetastet werden kann, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Darbieten des Behälters angeordnet ist, um den Behälter an der Abtasteinrichtung vorbei zu bewegen, so daß aufeinanderfolgende Abschnitte der Wand des Behälters von der Abtasteinrichtung abgetastet werden und die Abtasteinrichtung ein kontinuierliches, die Dicke des Abschnittes der Wand darstellendes Signal erzeugt, welches von der Abtasteinrichtung abgetastet wird, und daß der Apparat aufweist: eine Kodiereinrichtung zum Ausgeben von der Bewegung des Behälters vorbei an der Abtasteinrichtung entsprechenden Impulsen, einer Einrichtung zum Prüfen des Signals, immer, wenn die Kodiereinrichtung während einer vorbestimmten Prüfperiode einen Impuls ausgibt, einer Einrichtung zum Erfassen des Vorhandenseins einer Wandnaht an der Abtasteinrichtung, eine Einrichtung zum Nichtbeachten des geprüften Signals für eine erste ausgewählte Anzahl von Impulsen, die vor dem Erfassen einer Naht auftreten und eine Einrichtung zum Nichtbeachten des geprüften Signals für eine zweite ausgewählte Anzahl von Impulsen, die nach dem Erfassen der Naht auftreten.
• Vorzugsweise weist die Abtasteinrichtung in einem Apparat gemäß der Erfindung eine Kapazitätsabtasteinrichtung auf. Vorzugsweise weist die Kapazitätsabtasteinrichtung einen verlängerten Sensor auf, und die Einrichtung zum Darbieten ist so angeordnet, daß sie den Behälter an dem Sensor entlang rollt.
• Es folgt nun eine mit Bezug auf die begleitende Zeichnung zu lesende Beschreibung eines bevorzugten Auführungsbeispiels eines Glasbehälter- Prüfapparats, welches ausgewählt wurde, um die Erfindung exemplarisch zu beschreiben. In der begleitenden Zeichnung:
• Fig. 1 zeigt schematisch eine Prüfstation eines Glasbehälter-Prüfapparats;
• Fig. 2 ist ein den Betrieb einer Steuerungsvorrichtung des Apparats darstellendes Logikdiagramm, um zu bestimmen, ob ein Behälter verworfen werden soll oder nicht;
• Fig. 3 zeigt schematisch eine Mechanik zum Bewegen von Behältern durch die Prüfstation;
• Fig. 4 ist ein Logikdiagramm, welches Schritte zum Eliminieren der Auswirkung einer Seitennaht auf die Prüfung darstellt;
• Fig. 5 zeigt einen Behälter mit einer Seitennaht und schematisch die Auswirkung der in Fig. 4 dargestellten Logik;
• Fig. 6 ist ein den elektronischen Schaltkreis des Prüfapparats darstellendes schematisches Diagramm.
• Der zur Veranschaulichung dienende Glasbehälterprüfapparat dient zum Messen der Dicke einer Wand eines Behälters, z.B. einer runden Glasflasche, unter Verwendung einer Kapazitätsabtasteinrichtung, welche ein die Dicke der Wand einer ihr dargebotenen Flasche darstellendes Signal erzeugt.
• Der zur Veranschaulichung dienende Apparat weist eine Einrichtung zum Darbieten einer Glasflasche der Abtasteinrichtung auf, so daß ihre Wanddicke abgetastet werden kann, mit Flaschenträgern 14 (Fig. 1 und 3), die mit runden von einer Platte 12 gestützten Glasflaschen 10 in Eingriff sind. Die Träger 14 sind in Eingrifff mittels eines verlängerten Nockens 13, der mit einer konstanten Geschwindigkeit rotiert wird, um die Flaschen der Reihe nach durch eine Prüfstation S zu befördern. Da jeder Träger 14 eine Flasche 10 durch die Prüfstation S befördert, rollt er die Flasche entlang einer Anzahl (drei wie in Fig. 1 aus Gründen der Klarheit dargestellt, wobei jedoch vier normalerweise verwendet werden) paralleler sich horizontal erstreckender, vertikal mit Abständen zueinander angeordneter, verlängerter Kapazitätssensoren 16 in der Form von Streifen, die an federnden, passenden Halterungen montierten Schaumstreifen 18 befestigt sind. Die Halterungen sind durch Stangen 22 mit entsprechenden Hauptoszillatoranordnungsgehäusen, welche Oszillatoranordnungen 24 enthalten, verbunden. Jede Oszillatoranordnung 24 empfängt ein Kapazitätssignal von ihrem zugeordneten Kapazitätssensor 16 über ein kalibriertes Kabel 26 und erzeugt ein kontinuierliches Spannungssignal, welches einem Computer 30 zugeführt wird.
• Wenn der Nocken 13 einen Träger 14 zu der Prüfstation S hin befördert, wird eine Anfangsposition des Trägers 14 durch einen passenden Sensor 33 abgetastet. Die Rotationsposition des Nockens 13 wird durch eine Kodiervorrichtung 134 überwacht, wobei der Kodierablesewert, wenn der Träger 14 in der Anfangsposition ist, als der Anfangsimpuls durch den Computer 30 definiert wird. Wenn der Nocken weiterhin den Träger 14 fortbewegt, wird eine eingefangene Flasche 10 nach rechts verschoben, bis die Flasche mit dem Kapazitätssensor 16 in Eingriff kommt und den Beginn der Prüftstation erreicht, wie durch eine ausgewählte Kodierimpulszählung (L) definiert. Die Prüfung beginnt dann mit einer durch den Computer 30 bewerteten Datenprobe bei jeder nachfolgenden Zählung bis die Zählung eine ausgewählte Zahl (N) erreicht, welche sicherstellt, daß die gesamte Peripherie der Flasche geprüft worden ist (das Prüftortende). Für kleinere Flaschen kann ein Abschnitt dieses peripheren Rings zweimal analysiert werden. Die Bedienperson gibt den Durchmesser der Flasche über ein tragbares Terminal oder dergleichen 38 ein, und der Computer stellt die richtige Zahl (N) von Impulsen fär die Flasche ein.
• Der Computer 30 des zur Veranschaulichung dienenden Apparats weist ein Feld von jedem der Kapazitätssensoren zugeordneten einstellbaren Drehschaltern 32, 34, 36 auf, wobei die Schalter 32 zum Einstellen einer minimalen Wanddicke, die Schalter 34 zum Einstellen einer maximalen Wanddicke und die Schalter 36 zum Einstellen eines Verhältnisses der minimalen/maximalen Wanddicke angepaßt sind.
• Glasdickenmessungen werden durchgeführt jeweils unter Verwendung des Sensors 16 und des Kabels 26, welche eine Kapazität von ungefähr 50 pF haben, wobei Glas nicht abgetastet wird. Die Empfindlichkeit des Sensors 16 gegenüber Glas ist ungefähr 0,002 pF Kapazität für alle 2,54 x 10&supmin;³ cm Glas und nimmt ab, wenn die Glasdicke zunimmt.
• Jede Oszillatoranordnung 24 (siehe Fig. 6) weist einen Kapazitäts-abgestimmten Meßoszillator auf (ein Transformator-gekoppelter LC-Oszillator), der gebildet wird, indem man den Sensor 16 mit einer Ferrit-Topfkern- Spule parallel anordnet, die eine gesonderte Wicklung zur Rückkopplung hat. Dieser Meßoszillator wird durch die Kapazität des Sensors abgestimmt und wandelt kleine Kapazitätsänderungen (eine Änderung der Flaschendicke) entsprechend in kleine Frequenzänderungen um. Diese Ausgabefrequenz wird an einen abgestimmten Zwischenverstärker weitergeleitet, welcher Signale verwirft, die außerhalb des in Betracht kommenden Frequenzbereiches liegen. Ein Kapazitäts-abgestimmter Referenzoszillator, der mit dem Meßoszillator identisch ist, ist gebildet unter Verwendung einer identischen Spule und einem stabilen Kondensator, der gleich der Kapazität des Sensors und der Kabelanordnung ohne Glas ist.
• Jedem Oszillator ist etwas zusätzliche Kapazität in der Form eines Varaktors hinzugefügt (ein Kondensator in Serie mit einer in Sperrichtung gepolten Abstimmdiode). Die Netzwerkwerte sind so gewählt, daß die Diode vorgespannt werden kann mittels eines Vorspannungswiderstands über einen Spannungsbereich (von -3 bis -10 V). Der Wert der Kapazitätsänderung aufgrund des Netzwerkes und des Varaktors hierzu wird gewählt, daß er ungefähr gleich der Kapazitätsänderung für die größte erwartete Glasdicke ist.
• Vorzugsweise wird die Varaktorvorspannung des Meßoszillators als ein Anfangspunkt ungefähr an dem Mittelpunkt seines Bereichs eingestellt, und die Vorspannung des Varaktors in dem Bezugsoszillator wird bei seinem Mimmalpunkt eingestellt (-10 V in obigem Beispiel).
• Wie nun beschrieben wird, wird der Computer 30 so angeordnet, damit er anspricht, um Flaschen zu verwerfen, falls die durch die Sensoren 16 erzeugten Signale anzeigen, daß die Dicke der Wand des Behälters bei jedem abgetasteten Punkt größer ist als ein ausgewählter Maximalwert oder weniger als ein ausgewählter Minimalwert oder falls das Verhältnis der die minimale abgetastete Wanddicke darstellenden Signale zu denen die maximale Wanddicke darstellenden geringer ist als ein ausgewählter Wert.
• Wie aus dem in Fig. 2 dargestellten Logikdiagramm ersichtlich, wird in dem Computer 30 das durch jede Oszillatoranordnung erzeugte Spannungssignal verarbeitet, um ein Rauschen zu verwerfen (z.B. durch Mittelung). Ein Nahterfassungsschaltkreis bestimmt, daß Daten in der Nachbarschaft einer Naht erzeugt werden und ignoriert diese Daten, die eine falsche Anzeige eines dünnen Punkts erzeugen würden, wie später genauer beschrieben wird. Zwei- bis dreihundert Anzeigen oder Datenproben werden bei jedem Sensor um die Flasche herum aufgenommen und dann bewertet, um die niedrigste und höchste Spannung um die Flasche herum zu identifizieren. Diese Spannungen werden in passenden Registern gespeichert, die auf den neuesten Stand gebracht werden, jedesmal wenn eine niedrigere oder höhere Spannung abgetastet wird, bis Meßwerte vollständig um die Flasche herum aufgenommen worden sind. Ein Register der höchsten Spannung und niedrigsten Spannung kann für jeden Sensor (Kanal) eingerichtet werden, und ein höchstes und niedrigstes Register kann für die Daten aller Sensoren (Kanäle) bereitgestellt werden. Zu diesem Zeitpunkt werden die Spannung, die den dünnsten Punkt enflang der geprüften Peripherie darstellt (entweder für einen oder alle Kanäle), und die Spannung, welche den dicksten Punkt entlang der geprüften Peripherie darstellt (entweder für einen oder für alle Kanäle), über einen passenden A/D-Wandler in Dimensionen umgewandelt (z.B. Millimeter) und die Register werden für die nächste Flasche freigemacht. Falls die minimale Dimension geringer ist als der minimale Einstellpunkt oder falls die maximale Dimension höher ist als der maximale Einstellpunkt oder wenn das Verhältnis der minimalen zu der maximalen der beiden Dimensionen weniger ist als der minimale zu dem maximalen Einstellpunkt, wird die Flasche durch eine passende in Fig. 1 schematisch gezeigte Verwerfmechanik 40 verworfen.
• Wie aus den Fig. 4 und 5 ersichtlich, werden die letzten "S" (vier zum Beispiel) Datenproben in einer Speicherschrank-"S"-Probe gespeichert und jedesmal, wenn eine neue Datenprobe eingespeichert wird, wird die älteste Datenprobe bei jedem Impuls entsprechend bewertet, bis die Flaschenwandnaht durch den Computer 30 auf eine herkömmliche Art erfaßt worden ist; d.h., der Computer 30 bestimmt die Änderungsrate oder das Differential der die Glasdicke darstellenden Spannung, und jedesmal, wenn dieses Differential eine ausgewählte Schwelle überschreitet, wurde eine Naht erfaßt. Somit beinhaltet der Computer 30 eine Nahterfassungseinrichtung. Zu diesem Zeitpunkt werden alle Probendaten in den Speicherschrank-"S"-Proben ignoriert wie auch zukünftige Datenproben für eine "W"-Impulszählung. "S" und "W" sind über eine herkömmliche Computereingabe, wie z.B. einer Tastatur einstellbar, um ein ausgewähltes Fenster abzudecken, während dem Nahtdaten normalerweise bewertet würden. Nach dem Zählen der "W"-Impulse werden die Probendaten bei jedem Impuls erneut bewertet, bis das Prüfortende erreicht ist.
• Kommen wir nun zu einer kompletteren Beschreibung des kapazitiven Wanddickenabtastschaltkreises von Fig. 6. Eine Phasen-verriegelte Schleife (PPL-Schleife) ist ausgebildet, um die Spannung einzustellen, für eine genaue Anpassung der Kapazität des Sensors und des Glases an die Referenzkapazität (Varaktor) des Referenzoszillators, indem man die zwei Oszillatorausgaben mit einem Phasendetektorvervielfacher koppelt. Die erfaßte Phase wird in ein Schleifenkompensationsnetzwerk (ein Bandbreitenformgebungsfilter) und einen Verstärker eingespeist. Aufgrund der Verstärkung des Verstärkers wird sich ein kleiner Phasenfehler in einer substantiellen Ausgabespannung ergeben. Die Schleife wird durch einen Verstärkung- und Vorspannungsverstärker geschlossen, der wie folgt eingestellt wird: Wenn die Verstärkerausgabe bei dem gewünschten Minimum ist (0 V in dem dargestellten Fall), wird der Varaktor auf eine minimale Kapazität eingestellt (-10 V an den Varaktor). Die Verstärkung wird so eingestellt, daß das gewünschte Maximum aus dem Verstärker heraus (5 V) den Varaktor auf die maximale Kapazität einstellt (-3 V an den Varaktor).
• Die PLL-Schleife wird geschlossen, um den Meßoszillator und den Bezugsoszillator dazu zu zwingen, bei genau den gleichen Frequenzen zu arbeiten. Wenn durch den Sensor kein Glas abgetastet wird, sind die Frequenzen gleich, wenn der Bezugsoszillator-Varaktor bei einem Minimum ist, so daß die Ausgabe des Schleifenverstärkers Null ist. Wird nun durch den Sensor Glas abgetastet, verursacht die Ausgabe des Schleifenverstärkers, daß der Varaktor in dem Bezugsoszillator seine Kapazität um einen Betrag ändert, der gleich der Änderung der Meßoszillator-Kapazität aufgrund der Glaswanddicke ist. Die Kapazität/Spannungscharakteristiken des Varaktors sind bekannt, und dementsprechend können diese Daten invertiert werden, um eine Spannungs/Kapazitätstafel zu bilden. Die Varaktorkapazität ändert sich langsam als eine Funktion der angelegten Spannung. Diese Tabelle wird durch die Wirkung des Verstärkungs- und Vorverstärkers weiter zu einer angenehmeren Spannungsskala verschoben.
• Die Varaktor-Spannungs-Kapazitäts-Kurve ist nichtlinear. Eine Verschiebung des Arbeitspunktes des Varaktors würde eine unerwünschte Verschiebung des Skalenfaktors innerhalb dieses Schemas verursachen. Wenn dementsprechend Änderungen auftreten, die den Wert ohne Glas von dem gewünschten Einstellpunkt verschieben, wird an dem Varaktor in dem Meßoszillator eine Spannungsänderung durchgeführt. Da die überwiegenden auftretenden Änderungen aufgrund der Temperatur auftreten, kann man die Steuereingabe als die Temperatur-Kompensationseingabe bezeichnen. Dies bewahrt die Skala der PLL-Ausgabe.
• Das Glasdickensignal erhält man, indem man die Ausgabe der PLL- Schleife durch ein begrenzendes Tiefpaßfilter und einen Einheitsverstärkungs-Pufferverstärker hindurch schickt. Von dort aus geht es zu einem A/D-Wandler und dann zu dem Computer.
• Proben, die dem Fall "kein Glas" entsprechen, werden durch einen Rückkopplungsalgorithmus verarbeitet, der den D/A-Wandler justiert. Dies hält die Basisfrequenz beider Oszillatoren auf der gleichen Frequenz, d.h., wenn kein Glas anwesend ist, bleibt die Frequenz selbst bei Temperaturänderungen und Streukapazitäten bei einem ausgewählten Wert fixiert.
• Der Meßoszillator wird als die Eingabe an eine PLL-Schleife angelegt, bei der der Referenzoszillator als der Spannungs-gesteuerte Oszillator (VCO) verwendet wird, weil die PLL-Schleife den VCO abstimmt und keinen stationären Frequenzfehler zwischen ihm und der Eingabefrequenz zuläßt. Die Kapazität der Refererzkapazität muß der Kapazität der Sensor/Flaschen-Kombination genau angepaßt sein. Die Spannung an der Referenzkapazität liefert eine gute Darstellung der Flaschenwanddicke, die in der Praxis nur durch den Grad der Übereinstimmung zwischen dem Meßreferenzoszillator und den Temperaturdriftkoeffizienten und die Empfindlichkeit des Varaktors begrenzt ist.
• Da es eine nichtlineare Änderung der Kapazität als eine Funktion der Dicke in dem von Glasbehältern gelieferten Bereich gibt, weist der Computer eine Linearisiervorrichtung auf, die so angeordnet ist, daß sie die Spannungsausgabe der Meßoszillatoreinrichtung so einstellt, daß die Spannung in linearer Beziehung zu der abgetasteten Wanddicke steht.
• Die Linearisiervorrichtung verwendet grundlegende nichtlineare Regressionstechniken zusammen mit einem "plausiblen" Modell der Kapazität- Wanddicke-Beziehung. Obwohl Regressionstechniken wohlbekannt sind, ist es auch wohlbekannt, daß ihr Erfolg von einer richtigen Modellwahl abhängt. Wenn das Modell die Daten nicht mit ausreichender Genauigkeit darstellt, sind die Ergebnisse der Regression nicht genau. Auch ist es sehr schwierig, ein "gutes" Modell zu postulieren. Die Beziehung zwischen der Sensorkapazität und der Wanddicke des Behälters ist sehr nichtlinear. Diese Situation kann verbessert werden durch besseren Sensorentwurf, weil die benötigte Umfangsauflösung der Messung von der gleichen Größenordnung ist wie die Wanddicke. Daher müssen die elektrischen Felder in dem Behälter im wesentlichen über dem Bereich der Behälterwanddicke abfallen, was eine anteilsmäßig nichtlineare Kapazitätsfunktion erzeugt. Die Beziehung zwischen Wanddicke und Kapazität kann nicht analytisch erhalten werden, da es eine dreidimensionale Lösung der Maxwell-Gleichungen für hochgradig nicht idealisierte Geometrien ist. Numerische Lösungen auf Computerbasis sind möglich und bieten zwar Einsicht in den Sensorentwurf, sie sind jedoch zu mühselig und zeitraubend, um sie in einem Wanddickeninstrument zu verwenden, um den Dickewert entsprechend einer gemessenen Kapazität zu bestimmen. Da jedoch die Beziehung zwischen Dicke und Kapazität linear sein muß für kleine Dicken und wenn die Dicke zunimmt, nähert sich die Kapazität einem Wert für "unendliche Dicke". Angenommen, daß der "Kreuzungs-"Punkt zwischen diesen beiden Lösungen bei einem Dickewert der Größenordnung von der Hälfte des Sondenabstands liegt, kann ein Modell vorgeschlagen werden, bei dem sich empirisch gezeigt hat daß es die Wanddickedaten sehr gut darstellt. Dieses Modell ist das folgende:
• C(T) = A x T/(1 + B x T)
• wobei C die gemessene Kapazität, T die Wanddicke, A ein die lineare Beziehung für die kleine Dicke beschreibender Koeffizient und B ein die nichtlineare Beziehung der großen Dicke beschreibender Koeffizient ist. Die Kapazität der "unendlichen Dicke" ist A/B und die Überkreuzungswanddicke ist 1/B. Dieses Modell läßt sich leicht in einer Wanddickenvorrichtung verwenden, da "pseudo-"lineare Regressionstechniken verwendet werden können, um A und B aus zwei oder mehr bekannten Paaren (z.B. empirisch bestimmt) von C und T zu bestimmen. Das Modell kann auch verwendet werden, um T in Abhängigkeit von C, d.h.
• T = C/(A - B x C)
• auszudrücken.

Claims (5)

1. Glasbehälter-Prüfapparat zum Überprüfen der Dicke einer Wand eines Behälters unter Verwendung einer Abtasteinrichtung (16), welche ein die Dicke der Wand eines Behälters darstellendes Signal erzeugt, welcher ihr dargeboten wird, mit einer Einrichtung zum Darbieten eines Glasbehälters der Abtasteinrichtung, so daß seine Wanddicke abgetastet werden kann, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Darbieten des Behälters angeordnet ist, um den Behälter an der Abtasteinrichtung vorbeizubewegen, so daß aufeinanderfolgende Abschnitte der Wand des Behälters von der Abtasteinrichtung abgetastet werden und die Abtasteinrichtung ein kontinuierliches, die Dicke des Abschnittes der Wand darstellendes Signal erzeugt, welcher von der Abtasteinrichtung abgetastet wird, und

eine Kodiereinrichtung zum Ausgeben von der Bewegung des Behälters an der Abtasteinrichtung vorbei entsprechenden Impulsen,

eine Einrichtung zum Prüfen des Signals, wenn immer die Kodiereinrichtung während einer vorbestimmten Prüfperiode einen Impuls abgibt,

eine Einrichtung zum Anzeigen des Vorhandenseins einer Wandnaht an der Abtasteinrichtung,

eine Einrichtung zum Nichtbeachten des geprüften Signals für eine erste ausgewählte Anzahl von Impulsen, die vor dem Erfassen einer Naht auftreten,

und eine Einrichtung zum Nichtbeachten des geprüften Signals während einer zweiten ausgewählten Anzahl von Impulsen vorgesehen sind, die nach dem Erfassen der Naht auftreten.

2. Prüfapparat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste und die zweite ausgewählte Anzahl von Impulsen entsprechend dem Durchmesser des zu überprüfenden Behälters auswählbar sind.

3. Prüfapparat nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Auswählen der Anzahl der Impulse durch Eingeben des Durchmessers des zu überprüfenden Behälters betätigbar ist.

4. Prüfapparat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtasteinrichtung eine Kapazität-Abtasteinrichtung umfaßt.

5. Prüfapparat nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die die Kapazität abtastende Einrichtung einen länglichen Sensor umfaßt und daß die Einrichtung zum Darbieten so angeordnet ist, daß sie den Behälters längs des Sensors rollt.