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Die Erfindung bezieht sich auf den Bereich der digitalen
Übertragung.
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Sie betrifft insbesondere die Modulatoren für digitale
Übertragung unter Ausnutzung der Verfahren zur Signalumsetzung
in einem Grundband bekannter Art, wie in Figur 1 gezeigt.
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Wie in dieser Figur gezeigt, wird bei einem solchen
herkömmlichen Demodulator das empfangene Hochfrequenz-Signal
zunächst von einer automatischen Verstärkungs-Steuerschaltung
10 verstärkt, die dessen Pegel regeln soll. Das verstärkte
empfangene Signal wird dann in einem Koppler 12 in zwei
identische Signale aufgeteilt.
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Parallel wird das Ausgangssignal eines nicht
synchronisierten Lokaloszillators 14, mit einer Nennfrequenz nahe bei der
des empfangenen Signales, an eine Zelle 16 angelegte die an
einem ihrer Ausgänge 17 ein Inphase-Oszillatorsignal und an
ihrem zweiten Ausgang 18 ein um 90º phasenverschobenes
Quadratur-Oszillatorsignal ausgibt.
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Eines der zwei vom Koppler 12 ausgegebenen Signale wird in
einem Mischer 20 durch Multiplikation mit dem
Inphase-Oszillatorsignal am Ausgang 17 der Zelle 16 im Inphase-Grundband
umgesetzt. Das andere vom Koppler 17 ausgegebene Signal wird
in einem Mischer 30 durch Multiplikation mit dem am Ausgang
18 der Zelle 16 ausgegebenen um 90º phasenverschobenen
Taktsignal im um 90º phasenverschobenen Grundband oder
Quadratur-Grundband umgesetzt.
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Die von den Mischern 20, 30 ausgegebenen Signale werden an
Tiefpaß-Filter 22 bzw. 32 angelegt. Auf diese Weise erhält
man an den Ausgängen der beiden Filter 22, 32 die zwei
Bestandteile, phasenrichtig (in Phase) und um 90º
phasenverschoben (Quadratur), die dem empfangenen Signal entsprechen.
Diese Bestandteile werden an Verstärker 24 bzw. 34 angelegt
und darauf an Analog/Digital-Umsetzer 26 bzw. 36. Am Ausgang
der Analog/Digital-Imsetzer 26 bzw. 36 erhält man so die
Stichproben Yp,k und Yq,k (p bezeichnet die Stichproben der
Inphase-Bestandteile, q bezeichnet die Stichproben der
Quadratur-Bestandteile und k bezeichnet den Rang der
Stichproben).
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Die Funktionen zur Synchronisierung und Entscheidung werden
darauf durch eine spezielle digitale
Modulations-Verarbeitung in einer in Figur 1 allgemein mit 40 bezeichneten
Einheit durchgeführt.
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Die Erfinder haben festgestellt, daß der analoge Teil des
Demodulators, der der digitalen Verarbeitung vorgeschaltet
ist, von verschiedenen Störungen betroffen ist:
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- unzureichende Regelung des Pegels setzt sich durch
eine Abweichung des Pegels der Stichproben als Funktion
der Schwankung des empfangenen Signals fort,
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- Unausgeglichenheit der Amplitude zwischen den bei den
Kanälen aufgrund unterschiedlicher Verstärkungen,
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- Verschiebung der Ruhespannungen in jedem Kanal, in
den Verstärkern 24 und 34 und den
Analog/Digital-Umsetzern 26, 36 und
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- Quadratur-Fehler zwischen den beiden demodulierten
Kanälen.
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Diese Störungen hängen vor allem von der Betriebsfrequenz
und der Temperatur ab. Sie sind daher mit den bekannten
Verfahren schwer zu kompensieren. Sie bringen eine
Verschlechterung der Leistungsfähigkeit des Demodulators mit
sich (eine Erhöhung der binären Fehlerhäufigkeit).
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Die Leistungsfähigkeit einer digitalen Verbindung ist im
allgemeinen durch die Kurve der Fehlerhäufigkeit über den
Bit (TEB) als Funktion des Verhältnisses Eb/No bestimmt (Eb
= die zur Übertragung eines Bits benötigte Energie, No = die
Dichte der Rauschleistung auf der Verbindung).
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Die Existenz von Fehlern im Demodulator äußert sich durch
die Notwendigkeit, das Verhältnis Eb/No um eine Größe
Δ Eb/No zu erhöhen, um dieselbe Fehlerhäufigkeit zu
erhalten wie ohne Störungen. Die folgenden Beispiele dienen zur
Erläuterung dieses Phänomens.
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Bei einer MDP2 (Modulation durch eine Phasenverschiebung um
zwei Zustände) mit einer Spannungsverschiebung auf einem
Kanal oder bei einer MDP4 (Modulation durch
Phasenverschiebung um vier Zustände) mit einer identischen Verschiebung
auf zwei Kanälen beträgt die Verschlechterung des
Verhältnisses Eb/No bei geringer Fehlerhäuf igkeit (TEB < 10&supmin;&sup6;):
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Δ Eb/No = 0,3 dB für eine Verschiebung um 5º des
Nutzsignales und
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Δ Eb/No = 0,7 dB für eine Verschiebung um 10º des
Nutzsignales.
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Bei einer MDP4 mit einem Quadratur-Fehier zwischen den zwei
Kanälen kann die Verschlechterung einer solchen
gleichgesetzt werden, die sich aus einem Fehler oder einer
Abweichung der Grundwellen-Rückspeisung vonΔΘ/2 ergibt, wobei
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ΔEb/No = 0,4 dB fürΔΘ = 5º und
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ΔEb/No = 0,8 dB fürΔΘ= 10º.
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In der US-A-4 574 244 ist ein Demodulator beschrieben, der
dem bekannten, oben mit Bezug auf Figur 1 beschriebenen
Demodulator genau gleich ist. Um die Störung der Quadratur
zwischen den beiden vom Lokaloszillator ausgegebenen
Signalen zu berücksichtigen, schlägt diese Druckschrift jedoch
vor, ein aus dem niederwertigen Bit des von jedem Kanal
ausgegebenen numerischen Signals ein Fehlersignal zu bilden und
diese Fehlersignale zum Korrigieren der Quadratur-Störungen
durch eine Korrektur der Phasenverschiebungen und
Rückführungen zu nutzen.
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Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung
anzugeben, mit der dynamisch, numerisch die vom analogen
Teil des Demodulators vorhergehend aufgezeigten Fehler oder
Störungen abgeschätzt und korrigiert werden können, ohne daß
ein Testsignal nötig wäre und ohne die Verbindung im Betrieb
zu stören, um die Leistungsfähigkeit der Übertragung zu
verbessern.
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Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch einen Demodulator
für die digitale Übertragung unter Ausnutzung der an sich
bekannten Verfahren zur Signalumsetzung in einem Grundband
gelöst, mit einer Vorrichtung zur Trennen eines in Form von
zwei identischen Hilfssignalen empfangenen HF-Signals, einem
ersten Mischer zum Umsetzen eines ersten Hilfssignals in
eine Inphase-Basiskomponente durch Multiplikation mit dem
Ausgangssignal eines lokalen Oszillators, einem zweiten
Mischer zum Umsetzen des zweiten Hilfssignals in eine um 90º
phasenverschobene Komponente (Quadratur-Komponente) durch
Multiplikation des zweiten Hilfssignals mit dem um 90º
phasenverschobenen Ausgangssignal des lokalen Oszillators,
einer Filter- und Verstärkervorrichtung und mit jeweils mit
den Ausgängen der Mischer verbundenen
Analog/Digital-Wandlern, gekennzeichnet durch eine Abschätzvorrichtung zum
Abschätzen der Fehler in am Ausgang der Analog/Digital-Wandler
abgegriffenen Gruppen von Stichproben in Form von fünf
Parametern:
die im Inphasepfad zuzuführende
Korrekturverstärkung, die im Quadraturpfad zuzuführende
Korrekturverstärkung, die Spannungsverschiebung im Inphasenpfad, die
Spannungsverschiebung im Quadraturpfad und den Phasenfehler
bezüglich der Quadratur, und durch eine Vorrichtung zum
laufenden Korrigieren der Stichproben auf der Basis der aufgrund
einer vorhergehenden Stichprobengruppe abgeschätzten
Parameter.
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Weitere Eigenschaften, Aufgaben und Vorteile der
Erfindung werden im folgenden anhand der Beschreibung der
Ausführungsbeispiele mit Bezug auf die Zeichnung mit weiteren
Einzelheiten ersichtlich. Es zeigen:
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Figur 1 ein schematisches Block-Funktionsdiagramm eines
Demodulators nach dem Stand der Technik,
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Figur 2 ein schematisches Block-Funktionsdiagramm eines
erfindungsgemäßen Demodulators,
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Figur 3 ein Flußdiagramm der in der Vorrichtung zum
Abschätzen der Fehler in Form von fünf Parametern
ablaufenden Verarbeitung,
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Figur 4 ein schematisches Block-Funktionsdiagramm der
Korrekturvorrichtung und
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Figuren 5,6,7 und 8 schematische Darstellungen von vier
Unter-Anordnungen der Korrekturvorrichtung.
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Figur 2 zeigt eine automatische Verstärkungs-Steuerschaltung
10, einen Koppler 12, einen lokalen Oszillator 14, eine
Zelle 16, zwei Mischer 20, 30, zwei Filter 22, 32, zwei
Verstärker 24, 34, zwei Analog/Digital-Umsetzer 26, 36 und eine
digitale Verarbeitungseinheit 40, die der oben mit Bezug auf
Figur 1 beschriebenen Anordnung entsprechen.
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Darüberhinaus sind in Figur 1 eine
Fehler-Abschätzvorrichtung 100 und eine Korrekturvorrichtung 200 zwischen dem
Ausgang der Analog/Digital-Umsetzer 26, 36 und dem Eingang des
Schaltkreises 40 zur Synchronisierung und Entscheidung
eingefügt.
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Wie bereits beschrieben, schätzt die
Fehlerabschätzvorrichtung 100 den Wert der Fehler in Form von fünf Parametern
aufgrund einer Stichprobenfolge Yp,k und Yq,k ab. Darauf
bildet die Korrekturvorrichtung 200 die korrigierten
Stichproben:
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Zp,n und Zq,n ausgehend von den geltenden Stichproben Yp,n
und Yq,n.
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Die Abschätzung des Parameters a, der der Phasenverschiebung
im Inphase-Kanal entspricht, wird aus den Stichproben Yp,k
erhalten:
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Die Abschätzung des Parameters b, der der
Spannungsverschiebung im Quadratur-Kanal entspricht, wird auf dieselbe Weise
aus den Stichproben Yq,k erhalten:
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Die Wahl der Anzahl N der bei der Berechnung
berücksichtigten Stichproben hängt vom Rauschpegel der Verbindung und der
gewünschten Genauigkeit ab.
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Wenn die komplementäre Regelung des Pegels der korrigierten
Stichproben Zp,n und Zq,n nicht erwünscht ist, müssen die
Parameter α und β, die der im Inphase-Kanal zuzuführenden
Korrekturverstärkung bzw. der im Quadratur-Kanal
zuzuführenden Korrekturverstärkung entsprechen, nicht berechnet werden,
sondern es genügt das Verhältnis α/β zu berechnen. Der Wert
von α (oder von β) wird also willkürlich festgelegt, und ein
Parameter weniger muß abgeschätzt werden.
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Die Abschätzung des Verhältnisses α/β wird mittels des
Quadrates der Differenzen Yp,k - a und Yq,k - b berechnet:
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Um α und β einzeln abzuschätzen, sowie die Parameter, die
den Phasenfehler bezüglich der Quadratur darstellen, muß man
darüberhinaus den Mittelwert des Produktes der Differenzen
Yp,k - a und Yq,k - b berechnen. Die Parameter α und β werden
aufgrund der folgenden Beziehung erhalten:
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In diesen Gleichungen entspricht ² dem Einstellwert für den
Mittelwert des Quadrates der korrigierten Stichproben. Der
Parameter ΔΘ kann in der Form:
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erhalten werden.
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In Anbetracht der Trägheit der Veränderungen der
abzuschätzenden Parameter kann die Abschätzvorrichtung 100 bezüglich
der Ausgabegeschwindigkeit der Stichproben Yp,k und Yq,k mit
geringer Geschwindigkeit arbeiten. Es genügt die Abschätzung
periodisch mit einem Block von N-Stichproben zu wiederholen,
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die nicht unbedingt unmittelbar aufeinander folgen müssen.
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Die Korrekturvorrichtung 200 bestimmt dann die korrigierten
Stichproben gemäß den Formeln:
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Wenn, wie beschrieben, die Abschätzvorrichtung 100 mit einer
im Vergleich zur Abtastfrequenz kleinen Geschwindigkeit
arbeiten kann, muß dagegen die Korrekturvorrichtung 200
unbedingt im Takt der von den Digital/Analog-Wandlern 26, 36
ausgegebenen Stichproben Yp,n und Yq,n arbeiten.
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Die Abschätzung der Fehler oder Abweichung in Form von fünf
Parametern a, b, α, β, ΔΘ in der Vorrichtung 100 kann
relativ langsam erfolgen und benötigt mehrere Rechenschritte, es
scheint daher vorteilhaft, die Abschätzvorrichtung 100 mit
Hilfe eines Mikroprozessors zu realisieren.
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Dagegen muß die Korrektur in der Vorrichtung 200 mit hoher
Geschwindigkeit erfolgen (bis zu 6 x 10&sup6;
Stichproben/Sekunde), wobei die Abschätzvorrichtung 200 vorzugsweise als
verdrahtete Logik ausgeführt ist.
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In Figur 3 ist das Ablaufdiagramm der Verarbeitung der
Fehlerabschätzung für a, b, α, β, ΔΘ durch die Vorrichtung 100
dargestellt.
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Das in Figur 3 gezeigte Ablaufdiagramm kann in zwei
verschiedene Phasen zerlegt werden.
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Eine laufende Berechnung, die im wesentlichen den Schritten
101 bis 105 entspricht, und eine Endberechnung, die im
wesentlichen den Schritten 110 bis 123 und 130 bis 135
entspricht.
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In der der laufenden Berechnung entsprechendem Phase nimmt
die Vorrichtung 100 N aufeinanderfolgende Stichproben Yp,k und
Yq,k der Eingangssignale auf, die beispielsweise mit 8 Bit
kodiert sind, und berechnet die Summen:
(Schritt 101)
(Schritt 102)
(Schritt 103)
(Schritt 104)
(Schritt 105)
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Wenn ein Block von N Stichproben Yp,k und Yq,k zur Berechnung
der oben genannten Summen berücksichtigt wurde, berechnet
die Vorrichtung 100 die folgenden Therme:
(Schritt 110 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 101)
(Schritt 111 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 101)
(Schritt 112 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 103)
(Schritt 113 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 103)
(Schritt 114 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 112)
(Schritt 115 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 104 u. 113)
(Schritt 116 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 102 u. 111)
(Schritt 117 unter Verwendung des Ergebnisses von
Schritt 114 und 105)
(Schritt 118 unter Verwendung des Ergebnisses von
Schritt 117)
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(23) Wert von α
(Schritt 119 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 115, 116
und 118 und des Wertes von N)
(Schritt 120 unter Verwendung des Ergebnisses des
Schritts 117 und 120)
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(25) Wert von β
(Schritt 121 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 115, 116
und 113 und des Wertes von N)
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(26) sin Δθ (Schritt 122 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 117 u. 120)
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(27) cos Δθ (Schritt 123 unter Verwendung des
Ergebnisses von Schritt 117 u. 120)
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Um die Operationen bei der späteren Korrektur in der
Vorrichtung 200 zu vereinfachen, liefert die Vorrichtung 100
nicht α, β, sin ΔΘ und cos ΔΘ, sondern deren Logarithmen
zur Basis 2: Logα, Logβ, Log sin ΔΘ , Log cos ΔΘ , sowie
die Vorzeichen von sin ΔΘ und cos ΔΘ.
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In Figur 3 wird
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- im Schritt 130 der Parameter a, beispielsweise mit 8
Bit, nach dem Schritt 110 erhalten,
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- im Schritt 131 der Parameter α beispielsweise mit 12
Bit, nach dem Schritt 119 erhalten,
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- im Schritt 132 der Parameter b, beispielsweise mit 8
Bit, nach dem Schritt 112 erhalten,
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- im Schritt 133 der Parameter log β, beispielsweise mit
12 Bit, nach dem Schritt 121 erhalten,
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- im Schritt 134 der Parameter log sinΔΘ ,
beispielsweise mit 12 Bit und das Vorzeichen von sin ΔΘ nach dem
Schritt 122 erhalten und
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- im Schritt 135 der Parameter log cosΔΘ ,
beispielsweise mit 12 Bit und das Vorzeichen von cos ΔΘ nach
dem Schritt 123 erhalten.
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Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform sind die
Logarithmen mit 12 Bit dargestellt, von denen 8 Bit für die Mantisse
und 4 Bit für den ganzzahligen Anteil und das Vorzeichen
verwendet sind.
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Die Parameter und N sind programmierbar. Übliche Werte
sind: = 64 und N = 4.096.
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In Figur 4 ist das Blockschaltbild der Korrekturvorrichtung
200 gezeigt. Diese Vorrichtung berechnet die korrigierten
Stichproben Zp und Zq als Funktion der Stichproben Qp und Qq
und der geschätzten Korrekturparameter a, b, Log α , Log β ,
Log sin ΔΘ und Log cos ΔΘ auf der Grundlage der
genannten Beziehungen (7) und (8).
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Um den Aufbau der Vorrichtung 200 zu vereinfachen, werden
die Produkte mit Hilfe der Logarithmen berechnet, wodurch
man die Multiplikation vermeidet und diese durch Additionen
ersetzt. Mögliche Vorzeichen werden durch ein getrenntes, im
einzelnen verarbeitetes Bit dargestellt.
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Die Umwandlung einer Zahl in ihren Logarithmus und die
inverse Operation werden durch Lesen von PROM-Speichern
erreicht.
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Die Additionen werden von speziellen arithmetischen und
logischen Einheiten durchgeführt.
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Wie in Figur 4 gezeigt, werden zum Synchronisieren der
Signale und Vermeiden von Unsicherheiten die Parameter a, b,
Log α , Log β , Log sin ΔΘ und Log cos ΔΘ an Gruppen von
Kippschaltungen 202, 203, 204, 205, 206 bzw. 207 angelegt.
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Wie in Figur 5 im einzelnen genauer gezeigt, umfaßt für die
Parameter a, b und Log α je Gruppe von Kippschaltungen
einen Eingangs-Kippgliedersatz und zwei Kippgliedersätze zum
Korrekturlesen.
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Aus Figur 5 ist ferner ein Eingangs-Kippgliedersatz 202a für
den Parameter a, ein Eingangs-Kippgliedersatz 203a für den
Parameter b und Eingangs-Kippgliedersätze 204a und 204c für
den Parameter Log α ersichtlich ; die Eingänge dieser
Eingangs-Kippgliedersätze sind mit einem Datenbus 201 verbunden.
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Das Laden des Eingangs-Kippgliedersatzes 202a wird beim
Auftreten eines Freigabesignals a bewirkt.
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Auf ähnliche Weise wird das Laden des
Eingangs-Kippgliedersatzes 203a beim Auftreten eines Freigabesignals b bewirkt.
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Das Laden der Eingangs-Kippgliedersätze 204a und 204c
schließlich wird beim Auftreten eine Freigabesignales α
bewirkt.
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Die Kippgliedersätze 202e, 203e, 204e, 204f sind jeweils mit
den Ausgängen der Kippgliedersätze 202a, 203a, 204a und 204c
verbunden.
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Die Kippglieder zum Korrekturlesen 202e, 203e, 204e und 204f
werden beim Auftreten eines allgemeinen Ladesignals mit dem
in den Kippgliedersätzen 202a, 203a, 204a und 204c
enthaltenen Wert geladen.
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Die Kippgliedersätze zum Korrekturlesen 202b, 203b, 204b und
204d sind jeweils mit den Ausgängen der Kippgliedersätze
202e, 203e, 204e und 204f verbunden.
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Die Kippglieder zum Korrekturlesen 202b, 203b, 204b und 204d
werden beim Auftreten eines Freigabesignals für die
Stichproben Yp und Yq mit dem in den Kippgliedersätzen 202a, 203a,
204a und 204c enthaltenen Wert geladen.
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Parameter a ist am Ausgang des Kippgliedersatzes zum
Korrekturlesen 202b verfügbar. Der Parameter b ist am Ausgang des
Kippgliedersatzes zum Korrekturlesen 203b verfügbar. Der
Parameter Log α ist am Ausgang der Kippgliedersätze zum
Korrekturlesen 204b und 204d verfügbar.
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Das Lesen der Parameter Log β , Log sinΔΘ und Log cosΔΘ
und der Vorzeichen von sin ΔΘ und cos ΔΘ wird auf ähnliche
Weise in den Kippgliedersätzen 205, 206 und 207
durchgeführt.
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Eine Addiereranordnung 210 empfängt an ihren Eingängen die
Stichproben Yp und den vom Kippglied 202 ausgegebenen
Parameter a. Sie erzeugt an ihrem Ausgang die Differenz Yp-a
sowie ein dem Vorzeichen dieser Differenz entsprechendes
Signal.
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Auf ähnliche Weise empfängt eine Addiereranordnung 202 an
ihrem Eingang die Stichproben Yq und den vom Kippglied 203
ausgegebenen Parameter b. Sie erzeugt an ihrem Ausgang die
Differenz Yq-b sowie ein das Vorzeichen zur Differenz
darstellendes Signal.
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Das die Differenz Yp-a darstellende, von der
Addiereranordnung 210 ausgegebene Signal wird am Eingang einer
PROM-Speichereinrichtung 211 angelegt. Diese erzeugt an ihrem Ausgang
ein dem Logarithmus Log Ya-a entsprechendes Signal. Das
Signal Log Yp-a wird von einem Kippgliedersatz zur
Synchronisation 212 angelegt. Dieser empfängt ferner das von der
Addiereranordnung 211 ausgegebene Vorzeichensignal.
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Auf ähnliche Weise wird die von der Addiereranordnung 220
ausgegebene Differenzsignal Yq-b an den Eingang einer PROM-
Speichereinrichtung 221 angelegt. Diese erzeugt an ihrem
Ausgang den Logarithmus Log Yq-b . Der Logarithmus Log Yq-b
wird an den Eingang eines Kippgliedersatzes zur
Synchronisation 222 angelegt. Dieser empfängt auch das von der
Addiereranordnung 220 ausgegebene Vorzeichensignal.
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Eine Addiereranordnung 230 empfängt an ihren Eingängen
einerseits das von den Kippgliedern 212 ausgegebene Signal
Log Yp-a andererseits das von den Kippgliedern 204
ausgegebene Signal Log α . Diese erzeugt an ihrem Ausgang das
Signal
Log Yp-a + Log α .
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Ähnlich empfängt eine Addiereranordnung 231 an ihren
Eingängen einerseits das von den Kippgliedern 222 ausgegebene
Signal Log Yq-b und andererseits das von den Kippgliedern 205
ausgegeben Signal Log β . Sie erzeugt an ihrem Ausgang das
Signal Log Yq-b + Log β .
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In Figur 6 ist beispielsweise eine Ausführungsform der
Addiereranordnung 210, der PROM-Speichereinrichtung 211, der
Kippglieder 212 von der Addiereranordnung 230 im einzelnen
gezeigt.
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Derselbe Aufbau wird zum Berechnen des Produkt Log Yq-β +
Log β in Form des Vorzeichens und des Logarithmus in der
Addiereranordnung 220, der PROM-Speichereinrichtung 221, den
Kippgliedern 222 und der Addiereranordnung 231 verwendet.
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Gemäß der Darstellung von Figur 6 wird die Addiereranordnung
210 von zwei kaskadenartig angeordneten Addiererchips mit
vier Bit 210a, 210b gebildet, beispielsweise vom 74F181-Typ.
Der Chip 210a empfängt an seinen Eingängen A0 bis A3 die
vier niederwertigen Bit der Stichproben Yp. Der Chip 210a
empfängt an seinen Eingängen B0, B1, B2 und B3 die vier
niederwertigen Bits von den Kippgliedern 202a ausgegebenen
Parameter a. Der Chip 210b empfängt an seinen Eingängen A0 bis
A3 die vier hochwertigen Bits des Parameters a und an seinen
Ausgängen B0 bis B3 die vier hochwertigen Bit der
Stichproben Yp.
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Die PROM-Speichereinrichtung 211 wird von zwei
PROM-Speicherchips mit acht Bit 211a und 211b gebildet,
beispielsweise vom 82S135-Typ (PROM 256 x 3).
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Der Chip 211a empfängt an seinen Eingängen A0 bis A3 die
vier vom Addiererchip 210a ausgegebenen Bits und an seinen
Eingängen A4 bis A7 die vier vom Addiererchip 210b
ausgegebenen Bits.
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Ähnlich empfängt der Chip 211b an seinen Eingängen A0 bis A4
die vier vom Addiererchip 210a ausgegebenen Bits und an
seinen Eingängen A4 bis A7 die vom Addiererchip 210b
ausgegebenen Bits.
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Der Kippgliedersatz 212 wird von zwei Chips 212a und 212b
mit acht Kippgliedern gebildet, beispielsweise vom 74F374
Typ. Die Eingänge der Chips 212a und 212b sind mit den
Ausgängen der PROM-Chips 211a bzw. 211b verbunden.
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Die Addiereranordnung 230 wird von drei Addiererchips mit
vier Bit 230a, 230b, 230c gebildet, beispielsweise vom
74F181 Typ.
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Der Chip 230a empfängt an seinen Eingängen A0 bis A3 die vier
vom Kippgliedersatz zum Korrekturlesen 204d ausgegebenen
niederwertigen Bits der Mantisse von Log(α) und an seinen
Eingängen B0 bis B3 die vier von den Kippgliedern 212a
ausgegebenen Bits der Mantisse.
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Der Chip 230b empfängt an seinen Eingängen A0 bis A3 die
vier vom Kippgliedersatz zum Korrekturlesen 204d ausgegebene
hochwertigen Bits der Mantisse des Log(α) und an seinen
Eingängen B0 bis B3 die vier vom Kippgliedersatz 212b
ausgegebenen hochwertigen Bits der Mantisse.
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Der Chip 230c empfängt an seinen Eingängen A0 bis A3 die
vier vom Kippgliedersatz zum Korrekturlesen 204d
ausgegebenen Bits des ganzzahligen Anteils und des Vorzeichens von
Log(α) und an seinen Eingängen B0 bis B3 die vom
Kippgliedersatz 212b ausgegebenen vier Bits des ganzzahligen Anteils
und des Vorzeichens.
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Das Vorzeichen von Yp-a, das gleich dem Vorzeichen des
Produktes α x (Yp-a) ist, wird getrennt ausgegeben. Es wird vom
Ausgang des Addiererchips 210b abgenommen und geht
vorzugsweise
über eine Stufe des Kippgliedersatzes zum
Korrekturlesen 204b.
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Eine Addiereranordnung 240 empfängt an ihren Eingängen
einerseits das von der Addiereranordnung 231 ausgegebene
Signal Log Yq-b + Log β andererseits das von der Gruppe von
Kippgliedern 206 ausgegebene Signal Log sin ΔΘ . Sie erzeugt
am Ausgang das Signal Log Yq-b + Log β + Log sinΔΘ .
Dieses Signal sowie das von einem Exklusiv-ODER-Gatter 243
ausgegebene Vorzeichensignal werden an eine Gruppe von
Kippgliedern 241 angelegt, deren Ausgang auf ein
PROM-Speichereinrichtung 242 geht, die die inverse Funktion zur
Logarithmusbildung bewirkt. Folglich ist das Signal β (Yq-b)sin(Δ
Θ) am Ausgang der PROM-Speichereinrichtung 242 verfügbar.
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In Figur 7 ist schematisch ein Ausführungsbeispiel der
Addiereranordnung 240, der Kippgliedergruppe 241 und der PROM-
Speichereinrichtung 242 gezeigt.
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Gemäß der Darstellung von Figur 7 wird die Addiereranordnung
240 von drei Addiererbits mit vier Bit 240a, 240b und 240c
gebildet. Der Chip 240a empfängt an seinen Eingängen A0 bis
A3 die vier von der Addiereranordnung 231 ausgegebenen,
niederwertigen Bits der Mantisse des Signales Log Yq-b + Log β
und an seinen Eingängen B0 bis B3 die vier von der
Kippgliedergruppe 206 ausgegebene niederwertigen Bits der Mantisse
des Signales Log sin ΔΘ .
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Der Addiererkasten 240b empfängt an seinen Eingängen A0 bis
A3 die vier hochwertigen Bits der Mantisse des von der
Addiereranordnung 231 ausgegebenen Signals und an seinen
Eingängen B0 bis B3 die vier niederwertigen Bits der Mantisse
des von den Kippgliedern 206 ausgegebenen Signals.
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Der Addiererkasten 240c empfängt an seinen Eingängen A0 bis
A3 die vier Bits des ganzzahligen Anteils und des
Vorzeichens des von der Addiereranordnung 231 ausgegebenen Signal
und an seinen Eingängen B0 bis B3 die vier Bits des
ganzzahligen Anteils und des Vorzeichens des von den Kippgliedern
206 ausgegebenen Signals.
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Die Addiererkästen 204a, 204b und 204c können beispielsweise
durch einen 74F181-Typ gebildet sein.
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Die Kippgliedergruppe 241 wird von zwei Kästen mit acht
Kippgliedern 241a und 241b gebildet, beispielsweise vom
74F374-Typ.
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Der Kasten 241a empfängt an seinen Eingängen D0 bis D3 die
vier vom Addiererkasten 240a ausgegebenen Bits und an seinen
Eingängen D0 bis D7 die vier vom Addiererkasten 240b
ausgegebenen Bits. Der Kasten 241b empfängt an seinen Eingängen
D2 bis D5 die vier vom Addiererkasten 240c ausgegebenen
Bits, an seinem Eingang D6 das vom Addiererkasten 240c
ausgegebene, zurückgehaltene Signal und an seinem Eingang D7
das von einem Exklusiv-ODER-Gatter 243 ausgegebene Signal,
beispielsweise von einem 74F86 Typ. Dieses Exklusiv-ODER-
Gatter empfängt an seinen Eingängen einerseits das
Vorzeichensignal von Yq-b und andererseits das Vorzeichensignal von
sin ΔΘ.
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Die PROM-Speichereinrichtung 242 der Darstellung von Figur 6
ist von einem Kasten mit vierzehn Adresseingängen und acht
Ausgängen gebildet, beispielsweise vom 82HS1281-Typ. Die
acht niederwärtigen Eingänge des PROM-Speichers 242 sind mit
den Ausgängen des Kastens 241a verbunden. Die sechs
hochwertigen Eingänge des Speicherkastens 242 sind mit den
niederwertigen Eingängen des Rückgliedes 241b verbunden.
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Das Produkt β (Yq-b)cos ΔΘ wird mit Hilfe einer
Addiereranordnung 250, einer Kippgliedergruppe 251, einer
PROM-Speichereinrichtung 251 und einem Exklusiv-ODER-Gatter 253 erhalten,
die in allen Gesichtspunkten der Addiereranordnung 240, den
Kippgliedern 241, der PROM-Speichereinrichtung 242 und dem
Exklusiv-ODER-Gatter 243 gleich sind.
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Die Addiereranordnung 250 empfängt an ihren Eingängen
einerseits das von der Addiereranordnung 231 ausgegebene Signal,
andererseits das von den Kippgliedern 207 ausgegebene
Signal. Die Ausgänge der Addiereranordnung 250 sind mit den
Eingängen des Kippgliedes 251 verbunden. Die Ausgänge des
letzteren sind mit den Eingängen der
PROM-Speichereinrichtung 252 verbunden.
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Das Exklusiv-ODER-Gatter 253 empfängt an seinen Eingängen
einerseits das Vorzeichensignal von Yq-b, andererseits das
von den Kippgliedern 207 ausgegebene Vorzeichensignal von
cosΔ Θ. Die korrigierten Stichproben Zq sind am Ausgang des
PROM-Speichers 252 verfügbar.
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Die Eingänge einer Kippgliedergruppe 260 empfangen die
Ausgangssignale der Addiereranordnung 230 und das von den
Kippgliedern 212 ausgegebene Signal des Vorzeichens von Yp-a.
Die Ausgänge der Kippglieder 260 sind mit den
Adresseingängen eines PROM-Speichers 261 verbunden. Dessen Funktion ist
die inverse Umwandlung zur Logarithmusbildung mit dem Signal
Log Yp-a + Log α durchzuführen. Dadurch ist am Ausgang des
PROM 261 das Signal α (Yp-a) verfügbar.
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Die Schlußberechnung von Zp wird in einer Addiereranordnung
262 durchgeführt, die an ihren Eingängen einerseits das
Ausgangssignal des PROM-Speichers 261, andererseits das
Ausgangssignals des PROM-Speichers 242 empfängt.
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In Figur 8 ist ein Beispiel der Umsetzung des PROM-Speichers
261 und des Addierers 262 dargestellt.
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In der Darstellung von Figur 7 wird der PROM-Speicher 261
von einen Kasten mit vierzehn Adresseingängen und acht
Ausgangsbit
gebildet, beispielsweise vom 82HS1281 Typ.
Vorzugsweise sind die Ausgänge des PROM-Speichers 261 mit einem
Zwischen-Kippgliedersatzes 263 verbunden.
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Die Addiereranordnung 262 der Darstellung von Figur 7 weist
zwei Addiererkästen mit vier Bit 262a und 262b auf,
beispielsweise vom 74F181-Typ.
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Der Kasten 262a empfängt an seinen Eingängen A0 bis A3 die
vier vom Kasten 263 ausgegebenen niederwertigen Bits und an
seinen Eingängen B0 bis B3 die vier niederwertigen Bits des
vom PROM-Speicher 242 ausgegebenen Signals.
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Der Addiererkasten 262b empfängt an seinen Eingängen A0 bis
A3 die vier hochwertigen Bits des vom PROM-Speicher
ausgegebenen Signals und an seinen Eingängen B0 bis B3 die vier vom
Kippgliedersatz 263 ausgegebenen, hochwertigen Bits.
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Die Erfindung bietet die folgenden Vorteile:
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Sie ermöglicht, die Fehler oder Abweichungen der analogen
Seite eines Demodulators dynamisch abzuschätzen und zu
korrigieren.
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Sie ermöglicht ferner, den Pegel des verarbeiteten Signals
zu regeln. Die numerische Realisierung erleichtert den Einbau
Demodulatoren mit digitaler Signalverarbeitung.
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Die erfindungsgemäße Vorrichtung kann bei einer digital
arbeitenden Verbindung eingesetzt werden, ohne diese verändern
müssen.