DE60222306T2 - Verfahren zum Bestimmen einer Änderung des Durchlassgrades eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums - Google Patents

Verfahren zum Bestimmen einer Änderung des Durchlassgrades eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums Download PDF

Info

Publication number
DE60222306T2
DE60222306T2 DE60222306T DE60222306T DE60222306T2 DE 60222306 T2 DE60222306 T2 DE 60222306T2 DE 60222306 T DE60222306 T DE 60222306T DE 60222306 T DE60222306 T DE 60222306T DE 60222306 T2 DE60222306 T2 DE 60222306T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
information
layer
laser beam
information layer
layers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE60222306T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60222306D1 (de
Inventor
Narumi Kenji
Nishiuchi Kenichi
Miyagawa Naoyasu
Kojima Rie
Nishihara Takashi
Yamada Noboru
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Publication of DE60222306D1 publication Critical patent/DE60222306D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE60222306T2 publication Critical patent/DE60222306T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/241—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material
    • G11B7/242—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of recording layers
    • G11B7/243—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of recording layers comprising inorganic materials only, e.g. ablative layers
    • G11B7/2433—Metals or elements of Groups 13, 14, 15 or 16 of the Periodic Table, e.g. B, Si, Ge, As, Sb, Bi, Se or Te
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/2403—Layers; Shape, structure or physical properties thereof
    • G11B7/24035—Recording layers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59—Transmissivity
    • G01N21/5907—Densitometers
    • G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/2403—Layers; Shape, structure or physical properties thereof
    • G11B7/24035—Recording layers
    • G11B7/24038—Multiple laminated recording layers
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
    • G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
    • G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
    • G11B11/10582—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form
    • G11B11/10584—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form characterised by the form, e.g. comprising mechanical protection elements
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B2007/0003—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
    • G11B2007/0009—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier for carriers having data stored in three dimensions, e.g. volume storage
    • G11B2007/0013—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier for carriers having data stored in three dimensions, e.g. volume storage for carriers having multiple discrete layers
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/241—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material
    • G11B7/242—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of recording layers
    • G11B7/243—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of recording layers comprising inorganic materials only, e.g. ablative layers
    • G11B2007/24302—Metals or metalloids
    • G11B2007/24312—Metals or metalloids group 14 elements (e.g. Si, Ge, Sn)
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/241—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material
    • G11B7/242—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of recording layers
    • G11B7/243—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of recording layers comprising inorganic materials only, e.g. ablative layers
    • G11B2007/24302—Metals or metalloids
    • G11B2007/24314—Metals or metalloids group 15 elements (e.g. Sb, Bi)
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/241—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material
    • G11B7/242—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of recording layers
    • G11B7/243—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of recording layers comprising inorganic materials only, e.g. ablative layers
    • G11B2007/24302—Metals or metalloids
    • G11B2007/24316—Metals or metalloids group 16 elements (i.e. chalcogenides, Se, Te)
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
    • G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
    • G11B7/00375—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045—Recording
    • G11B7/00454—Recording involving phase-change effects
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/005—Reproducing
    • G11B7/0052—Reproducing involving reflectivity, absorption or colour changes
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/241—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/241—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material
    • G11B7/252—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers
    • G11B7/258—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of reflective layers
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/241—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material
    • G11B7/252—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers
    • G11B7/258—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of reflective layers
    • G11B7/259—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of reflective layers based on silver
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
    • G11B7/268—Post-production operations, e.g. initialising phase-change recording layers, checking for defects
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/21—Circular sheet or circular blank

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Messverfahren zum Bestimmen einer Änderung des Durchlassgrades in einer ersten Informationsschicht eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums mit zwei oder mehreren Informationsschichten.
  • Auf die Erfindung bezogener Stand der Technik
  • In den letzten Jahren sind optische Speicherplatten, optische Karten und optische Magnetbänder als Medien vorgeschlagen und entwickelt worden, um Informationen optisch aufzuzeichnen. Vor allem sind optische Speicherplatten von anziehender Bedeutung als Medien, die zum Aufzeichnen und Reproduzieren von Informationen bei großem Speichervermögen und hoher Dichte geeignet sind.
  • Einer der typischen Vertreter löschbarer optischer Speicherplatten ist die Ausführung einer optischen Speicherplatte mit Phasenänderung. Die Aufzeichnungsschicht zur Verwendung in der optischen Speicherplatte mit Phasenänderung nimmt in Abhängigkeit von den Heiz- oder Kühlbedingungen mit einem Laserstrahl entweder einen amorphen Zustand oder einen kristallinen Zustand an, wobei die zwei Zustände untereinander reversibel sind. Die optische Konstante der Aufzeichnungsschicht ist zwischen amorphem Zustand und kristallinem Zustand unterschiedlich. Bei der optischen Speicherplatte mit Phasenänderung wird der eine oder der andere der zwei Zustände selektiv in der Aufzeichnungsschicht entsprechend den Informationssignalen ausgebildet, und die sich ergebende optische Änderung (d. h. die Änderung des Durchlassgrades oder Reflexionsvermögens) wird zum Aufzeichnen oder zum Reproduzieren der Informationssignale genutzt. Um die beiden Zustände zu erreichen, werden die Informationssignale durch das folgende Verfahren aufgezeichnet.
  • Wenn die Aufzeichnungsschicht der optischen Speicherplatte impulsförmig mit Energie bestrahlt wird, um die Temperatur der Aufzeichnungsschicht über ihren Schmelzpunkt zu erhöhen (im Folgenden als Maximalleistung bezeichnet), wird der geschmolzene Abschnitt mit dem Durchgang des Laserstrahls schnell abgekühlt, um ein Aufzeichnungszeichen des amorphen Zustandes darzustellen. Oder der bestrahlte Abschnitt der Aufzeichnungsschicht wandelt sich in den kristallinen Zustand um, wenn die Aufzeichnungsschicht mit einem umgeformten Laserstrahl mit einer Intensität zum Erhöhen der Temperatur der Aufzeichnungsschicht oberhalb ihrer Kristallisationstemperatur, jedoch nicht über den Schmelzpunkt (im Folgenden als Vorspannungsleistung bezeichnet) bestrahlt wird.
  • Außerdem hat sich in den vergangenen Jahren ein unbedingter Bedarf an optischen Speicherplatten höherer Dichte herausgestellt. In Verbindung damit ist ein mehrschichtiges Aufzeichnungsmedium mit zwei oder mehreren Schichten in der Dickenrichtung der Speicherplatte vorgeschlagen worden, in der Informationen auf jede Informationsschicht aufgezeichnet oder von dieser reproduziert werden können.
  • Wenn das Aufzeichnen durch das herkömmliche Verfahren jedoch auf einer von der Auftreffseite des Lasers weiter innen liegenden Informationsschicht vorgenommen werden soll, gibt es die Befürchtung, dass die weiter innen liegende Informationsschicht durch die näher liegende Informationsschicht beeinflusst wird.
  • Zum Beispiel unterscheidet sich der Durchlassgrad dieser Schicht in Abhängigkeit davon, ob ein beliebiges Signal in einem Aufzeichnungs-/Reproduzierbereich einer Informationsaufzeichnungsschicht aufgezeichnet wird oder nicht. Wenn eine Aufzeichnung auf einer weiter entfernten Informationsschicht vorgenommen werden soll, gibt es folglich das Problem, dass sich die Intensität des Laserstrahls, der die entfernter liegende Informationsschicht erreicht, mit dem Verhältnis zwischen dem amorphem Bereich und dem kristallinem Bereich im Lichtpunkt auf der näher liegenden Informationsaufzeichnungsschicht ändert, was es unmöglich macht, genaues Aufzeichnen durchzuführen.
  • Wenn Daten auf der weiter entfernten Informationsschicht reproduziert werden sollen, ist ein weiteres Problem, dass die Änderung des Durchlassgrades in Abhängigkeit von dem Aufzeichnungszustand der näher liegenden Informationsschicht einer Verschlechterung der Qualität von reproduzierten Signalen ausgesetzt ist.
  • Die Druckschrift US-B1-6 221 455 zeigt ein optisches System zum Aufzeichnen oder Reproduzieren von Informationssignalen für eine mehrschichtige optische Speicherplatte. In diesem optischen System wird das von einem Halbleiterlaser abgestrahlte Laserlicht durch eine Kollimationslinse kollimiert. Das kollimierte Licht durchläuft einen Strahlenteiler, ein Lambda-Viertel-Plättchen und eine Objektivlinse zum Bilden eines Lichtpunktes auf der Plattenoberfläche. Das reflektierte Licht von der Plattenoberfläche durchläuft wieder die Objektivlinse und das Lambda-Viertel-Plättchen und fällt auf den Strahlenteiler ein. Anschließend wird das Licht durch ein fokussierendes Servosystem reflektiert und durch eine Fotodiode über eine Lichtsammellinse und eine Zylinderlinse empfangen.
  • Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Bereitstellung eines optischen Messverfahrens zum Bestimmen einer Änderung des Durchlassgrades in der ersten Informationsschicht eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums mit zwei Informationsschichten. Die erste Informationsschicht besitzt eine Aufzeichnungsschicht, die zwischen zwei optisch detektierbaren Zuständen wechselt.
  • Dies wird durch die Merkmale erreicht, wie sie in den unabhängigen Ansprüchen erläutert sind. Weitere vorteilhafte Ausführungen nach der vorliegenden Erfindung werden in den abhängigen Ansprüchen erläutert.
  • Ein erstes optisches Messverfahren, durch welches ein Laserstrahl auf einem optischen Informationsaufzeichnungsmedium mit zwei Informationsschichten konvergent gemacht wird, konvergent gemachte Strahlung des Laserstrahls auf eine beliebige der Informationsschichten bewirkt, dass Informationssignale aufgezeichnet oder reproduziert werden, bei dem
    eine Informationsschicht, die näher als die am weitesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls positioniert ist, eine Aufzeichnungsschicht besitzt, die zwischen zwei optisch detektierbaren Zuständen wechselt, und der von einer beliebigen der Informationsschichten reflektierte Laserstrahl von einem Fotodetektor empfangen wird, um Änderungen des Durchlassgrades zu messen, umfassend:
    einen Schritt des Messens der Intensität des aus dem optischen Informationsaufzeichnurigsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn sich der Bereich in der in der näher positionierten Informationsschicht enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, in dem Zustand (a) befindet, die Intensität durch Sa dargestellt wird, wobei
    der Laserstrahl zuerst durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, dann von der am weitesten entfernten Informationsschicht reflektiert wird und wieder durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt,
    einen Schritt des Messens der Intensität des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn sich der Bereich in der in der näher positionierten Informationsschicht enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, in dem Zustand (b) befindet, die Intensität durch Sb dargestellt wird, wobei
    der Laserstrahl zuerst durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, dann von der am weitesten entfernten Informationsschicht reflektiert wird und wieder durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt, und
    einen Schritt des Ableitens einer Änderung des Durchlassgrades der näher positionierten Informationsschicht auf der Basis von Sa und Sb.
  • Ein zweites optisches Messverfahren, durch welches ein Laserstrahl auf einem optischen Informationsaufzeichnungsmedium mit drei oder mehreren Informationsschichten konvergent gemacht wird, konvergent gemachte Strahlung des Laserstrahls auf eine beliebige der Informationsschichten bewirkt, dass Informationssignale aufgezeichnet oder reproduziert werden, bei dem
    eine Vielzahl von Informationsschichten, die näher als die am weitesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls positioniert sind, eine Aufzeichnungsschicht aufweisen, die zwischen zwei optisch detektierbaren Zuständen wechselt, und der von einer beliebigen der Informationsschichten reflektierte Laserstrahl von einem Fotodetektor empfangen wird, um Änderungen des Durchlassgrades zu messen, wobei
    Fall (a) ein solcher Fall ist, dass ein synthetisierter Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten ein minimaler Wert innerhalb der synthetisierten Durchlassgrade ist, die aus Kombinationen der verschiedenen Zustände der entsprechenden Aufzeichnungsschichten abgeleitet werden, und
    Fall (b) ein solcher Fall ist, dass ein synthetisierter Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten ein maximaler Wert innerhalb der synthetisierten Durchlassgrade ist, die aus Kombinationen der verschiedenen Zustände der entsprechenden Aufzeichnungsschichten abgeleitet werden, und umfassend:
    einen Schritt des Messens der Intensität des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn die Kombination der Zustände der Aufzeichnungsschichten der näheren Vielzahl der Informationsschichten sich im Fall (a) befindet, die Intensität durch Sa dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, dann von einer vorgegebenen Informationsschicht reflektiert wird, die weiter innen als die Informationsschicht, die den Strahl durchgelassen hat, positioniert ist, und wieder durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt,
    einen Schritt des Messens der Intensität des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn die Kombination der Zustände der Aufzeichnungsschichten der näheren Vielzahl der Informationsschichten sich im Fall (b) befindet, die Intensität durch Sb dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, dann von der am weitesten entfernten Informationsschicht reflektiert wird und wieder durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt, und
    einen Schritt des Ableitens einer Änderung des Durchlassgrades der näheren Vielzahl der Informationsschichten auf der Basis von Sa und Sb.
  • Ein drittes optisches Messverfahren, durch welches ein Laserstrahl auf einem optischen Informationsaufzeichnungsmedium mit zwei Informationsschichten konvergent gemacht wird, konvergent gemachte Strahlung des Laserstrahls auf eine beliebige der Informati onsschichten bewirkt, dass Informationssignale aufgezeichnet oder reproduziert werden, bei dem
    eine Informationsschicht, die näher als die am weitesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls positioniert ist, eine Aufzeichnungsschicht aufweist, die zwischen zwei optisch detektierbaren Zuständen wechselt, und der von einer beliebigen der Informationsschichten reflektierte Laserstrahl von einem Fotodetektor empfangen wird, um Änderungen der Starke des Laserstrahls zu messen, umfassend:
    einen Schritt des Messens der Intensität des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn sich der Bereich in der in der näher positionierten Informationsschicht enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, im Zustand (a) befindet, die Intensität durch Sa dargestellt wird, wobei
    der Laserstrahl zuerst durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, dann von der am weitesten entfernten Informationsschicht reflektiert wird und wieder durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt,
    einen Schritt des Messens der Intensität des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn sich der Bereich in der in der näher positionierten Informationsschicht enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, im Zustand (b) befindet, die Intensität durch Sb dargestellt wird, wobei
    der Laserstrahl zuerst durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, dann von der am wertesten entfernten Informationsschicht reflektiert wird und wieder durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt, und
    einen Schritt des Ableitens einer Änderung der Starke des Laserstrahls auf der Basis von Sa und Sb.
  • Ein viertes optisches Messverfahren, durch welches ein Laserstrahl auf einem optischen informationsaufzeichnungsmedium mit drei oder mehreren Informationsschichten konvergent gemacht wird, konvergent gemachte Strahlung des Laserstrahls auf eine belie bige der Informationsschichten bewirkt, dass Informationssignale aufgezeichnet oder reproduziert werden, bei dem
    eine Vielzahl von Informationsschichten, die näher als die am weitesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls positioniert sind, eine Aufzeichnungsschicht aufweisen, die zwischen zwei optisch detektierbaren Zuständen wechselt,
    und der von einer beliebigen der Informationsschichten reflektierte Laserstrahl von einem Fotodetektor empfangen wird, um Änderungen der Stärke des Laserstrahls zu messen, wobei
    Fall (a) ein solcher Fall ist, dass ein synthetisierter Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten ein minimaler Wert innerhalb der synthetisierten Durchlassgrade ist, die aus Kombinationen der verschiedenen Zustände der entsprechenden Aufzeichnungsschichten abgeleitet werden, und
    Fall (b) ein solcher Fall ist, dass ein synthetisierter Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten ein maximaler Wert innerhalb der synthetisierten Durchlassgrade ist, die aus Kombinationen der verschiedenen Zustände der entsprechenden Aufzeichnungsschichten abgeleitet werden, und umfassend:
    einen Schritt des Messens der Intensität des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn die Kombination der Zustände der Aufzeichnungsschichten der näheren Vielzahl der Informationsschichten sich in dem Fall (a) befindet, die Intensität durch Sa dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, dann von einer vorbestimmten Informationsschicht reflektiert wird, die weiter innen als die Informationsschicht angeordnet ist, die den Strahl durchgelassen hat, und wieder durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt,
    einen Schritt des Messens der Intensität des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn die Kombination der Zustände der Aufzeichnungsschichten der näheren Vielzahl der Informationsschichten sich in dem Fall (b) befindet, die Intensität durch Sb dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, dann von der am weitesten entfernten Informationsschicht reflektiert wird und wie der durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt, und
    einen Schritt des Ableitens einer Änderung der Stärke des Laserstrahls auf der Basis von Sa und Sb.
  • Durch das dritte und das vierte Messverfahren kann der Umfang der Änderung des Durchlassgrades der näher positionierten Informationsschicht leicht erhalten werden, ohne den Übertragungsfaktor zu messen.
  • Ein fünftes optisches Messverfahren, durch welches ein Laserstrahl auf einem optischen Informationsaufzeichnungsmedium mit zwei Informationsschichten konvergent gemacht wird, konvergent gemachte Strahlung des Laserstrahls auf eine beliebige der Informationsschichten bewirkt, dass Informationssignale aufgezeichnet oder reproduziert werden, bei dem eine Informationsschicht, die näher als die am weitesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls positioniert ist, eine Aufzeichnungsschicht aufweist, die zwischen zwei optisch detektierbaren Zuständen wechselt, und der von einer beliebigen der Informationsschichten reflektierte Laserstrahl von einem Fotodetektor empfangen wird, um Änderungen des Durchlassgrades zu messen, umfassend: einen Schritt des Messens einer Modulationsamplitude des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn sich der Bereich in der in der näher positionierten Informationsschicht enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, in dem Zustand (a) befindet, die Modulationsamplitude durch A1 dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, dann durch die auf der am weitesten entfernten Informationsschicht aufgezeichneten Informationssignale moduliert wird und wieder durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt, einen Schritt des Messens der Modulationsamplitude des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn sich der gesamte Bereich oder ein Teil davon in der in der näher positionierten Informationsschicht enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, im Zustand (b) befindet, die Modulationsamplitude durch A2 dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, dann durch die auf der am weitesten entfernten Informationsschicht aufgezeichneten Informationssignale moduliert wird und wieder durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt, und
    einen Schritt des Ableitens einer Änderung des Durchlassgrades der näher positionierten Informationsschicht auf der Basis von A1 und A2.
  • Ein sechstes optisches Messverfahren, durch welches ein Laserstrahl auf einem optischen Informationsaufzeichnungsmedium mit drei oder mehreren Informationsschichten konvergent gemacht wird, konvergent gemachte Strahlung des Laserstrahls auf eine beliebige der Informationsschichten bewirkt, dass Informationssignale aufgezeichnet oder reproduziert werden, bei dem eine Vielzahl der Informationsschichten, die näher als die am weitesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls positioniert sind, Aufzeichnungsschichten aufweisen, die jeweils zwischen zwei optisch detektierbaren Zuständen wechseln, und der von einer beliebigen der Informationsschichten reflektierte Laserstrahl von einem Fotodetektor empfangen wird, um Änderungen des Durchlassgrades zu messen, und
    Fall (a) ein solcher Fall ist, dass ein synthetisierter Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten ein minimaler Wert innerhalb der synthetisierten Durchlassgrade ist, die aus Kombinationen der verschiedenen Zustände der entsprechenden Aufzeichnungsschichten abgeleitet werden, und
    Fall (b) ein solcher Fall ist, dass ein synthetisierter Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten ein maximaler Wert innerhalb der synthetisierten Durchlassgrade ist, die aus Kombinationen der verschiedenen Zustände der entsprechenden Aufzeichnungsschichten abgeleitet werden, und umfassend:
    einen Schritt des Messens einer Modulationsamplitude des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn die Kombination der Zustände der Aufzeichnungsschichten der näheren Vielzahl der Informationsschichten sich im Fall (a) befindet, die Modulationsamplitude durch A1 dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, dann durch die Informationssignale moduliert wird, die auf einer vorgegebenen Informationsschicht aufgezeichnet sind, die werter innen angeordnet ist als die Informationsschicht, die den Strahl durchgelassen hat, und wieder durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt,
    einen Schritt des Messeas einer Modulationsamplitude des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn die Kombination der Zustande der Aufzeichnungsschichten der näheren Vielzahl der Informationsschichten sich im Fall (b) befindet, die Modulationsamplitude durch A2 dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, dann durch die auf der am weitesten entfernten Informationsschicht aufgezeichneten Informationssignale moduliert wird und wieder durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt, und
    einen Schritt des Ableitens einer Änderung des Durchlassgrades der näher positionierten Informationsschicht auf der Basis von A1 und A2.
  • Ein siebentes optisches Messverfahren, durch welches ein Laserstrahl auf einem optischen Informationsaufzeichnungsmedium mit zwei Informationsschichten konvergent gemacht wird, konvergent gemachte Strahlung des Laserstrahls auf eine beliebige der Informationsschichten bewirkt, dass Informationssignale aufgezeichnet oder reproduziert werden, bei dem eine Informationsschicht, die näher als die am wertesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls positioniert ist, Aufzeichnungsschichten aufweist, die jeweils zwischen zwei optisch detektierbaren Zuständen wechseln, und der von einer beliebigen der Informationsschichten reflektierte Laserstrahl von einem Fotodetektor empfangen wird, um Änderungen einer Modulationsamplitude des Laserstrahls zu messen, umfassend:
    einen Schritt des Messens einer Modulationsamplitude des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn sich der Bereich in der in der naher positionierten Informationsschicht enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, im Zustand (a) befindet, die Modulations amplitude durch A1 dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, dann durch die auf der am weitesten entfernten Informationsschicht aufgezeichneten Informationssignale moduliert wird und wieder durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt,
    einen Schritt des Messens der Modulationsamplitude des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn sich ein Teil oder der gesamte Bereich in der in der naher positionierten Informationsschicht enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, im Zustand (b) befindet, die Modulationsamplitude durch A2 dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, dann durch die auf der am weitesten entfernten Informationsschicht aufgezeichneten Informationssignale moduliert wird und wieder durch die näher positionierte Informationsschicht durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt, und
    einen Schritt des Ableitens einer Änderung der Modulationsamplitude des Laserstrahls auf der Basis von A1 und A2.
  • Ein achtes optisches Messverfahren, durch welches ein Laserstrahl auf einem optischen Informationsaufzeichnungsmedium mit drei oder mehreren Informationsschichten konvergent gemacht wird, konvergent gemachte Strahlung des Laserstrahls auf eine beliebige der Informationsschichten bewirkt, dass Informationssignale aufgezeichnet oder reproduziert werden, bei dem eine Vielzahl der Informationsschichten, die näher als die am weitesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls positioniert sind, Aufzeichnungsschichten aufweisen, die jeweils zwischen zwei optisch detektierbaren Zuständen wechseln, und der von einer beliebigen der Informationsschichten reflektierte Laserstrahl von einem Fotodetektor empfangen wird, um Änderungen einer Modulationsamplitude des Laserstrahls zu messen, und
    Fall (a) ein solcher Fall ist, dass ein synthetisierter Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten ein minimaler Wert innerhalb der synthetisierten Durchlassgrade ist, die aus Kombinationen der verschiedenen Zustände der entsprechenden Aufzeichnungsschichten abgeleitet werden, und
    Fall (b) ein solcher Fall ist, dass ein synthetisierter Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten ein maximaler Wert innerhalb der synthetisierten Durchlassgrade ist, die aus Kombinationen der verschiedenen Zustände der entsprechenden Aufzeichnungsschichten abgeleitet werden, und umfassend:
    einen Schritt des Messens einer Modulationsamplitude des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn die Kombination der Zustände der Aufzeichnungsschichten der näheren Vielzahl der Informationsschichten sich im Fall (a) befindet, die Modulationsamplitude durch A1 dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, dann durch die Informationssignale moduliert wird, die auf einer vorgegebenen Informationsschicht aufgezeichnet sind, die werter innen angeordnet ist als die Informationsschicht, die den Strahl durchgelassen hat, und wieder durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt,
    einen Schritt des Messens einer Modulationsamplitude des aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austretenden Laserstrahls mit dem Fotodetektor, wenn die Kombination der Zustände der Aufzeichnungsschichten der näheren Vielzahl der Informationsschichten sich im Fall (b) befindet, die Modulationsamplitude durch A2 dargestellt wird, wobei der Laserstrahl zuerst durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, dann durch die auf der am weitesten entfernten Informationsschicht aufgezeichneten Informationssignale moduliert wird und wieder durch die nähere Vielzahl der Informationsschichten durchgelassen wird, so dass der Laserstrahl aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt, und
    einen Schritt des Ableitens einer Änderung der Modulationsamplitude des Laserstrahls auf der Basis von A1 und A2.
  • Durch das siebente und das achte Messverfahren kann der Umfang der Änderung des Durchlassgrades der näher positionierten Informationsschicht leicht erhalten werden, ohne den Übertragungsfaktor zu messen.
  • Das neunte optische Messverfahren basiert auf dem siebenten oder achten Verfahren, bei dem die
    Differenz A1 zwischen einem Nullpegel und einer oberen Hüllkurve der Modulationsamplitude anstelle der Modulationsamplitude A1 des Laserstrahls gemessen wird, die Differenz A2 zwischen einem Nullpegel und einer oberen Hüllkurve der Modulationsamplitude anstelle der Modulationsamplitude A2 des Laserstrahls gemessen wird, und die Änderung der oberen Hüllkurve der Modulationsamplitude des Laserstrahls auf der Basis von A1 und A2 detektiert wird, anstatt dass die Änderung der Modulationsamplitude des Laserstrahls auf der Basis von A1 und A2 detektiert wird.
  • Das zehnte optische Messverfahren basiert auf dem fünften Verfahren, durch welches die Modulationsamplitude A2 gemessen wird, wenn sich der Bereich der in der näheren Informationsschicht enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, im Zustand (b) befindet, nach dem Aufzeichnen von Informationssignalen auf der am weitesten entfernten Informationsschicht.
  • Das elfte optische Messverfahren basiert auf einem beliebigen des ersten, dritten, fünften, siebenten oder zehnten Verfahrens, bei dem der Zustand (a) ein kristalliner Zustand und der Zustand (b) ein amorpher Zustand ist.
  • Das zwölfte optische Messverfahren basiert auf dem elften Verfahren, bei dem sich die Aufzeichnungsschicht der näher positionierten Informationsschicht in einem Zustand befindet, wenn Sb oder A2 oder A3 gemessen wird, der aus vielen Aufzeichnungszeichen in einem amorphen Zustand und kristallinen Abschnitten um sie herum besteht.
  • Das dreizehnte optische Messverfahren basiert auf einem beliebigen des ersten, dritten, fünften, siebenten oder zehnten Verfahrens, wobei der Zustand (a) ein amorpher Zustand und der Zustand (b) ein kristalliner Zustand ist.
  • Das vierzehnte optische Messverfahren basiert auf dem dreizehnten Verfahren, bei dem sich die Aufzeichnungsschicht der näher positionierten Informationsschicht in einem Zustand befindet, wenn Sb oder A2 oder A3 gemessen wird, der aus vielen Aufzeichnungszeichen in einem kristallinen Zustand und amorphen Abschnitten um sie herum besteht.
  • Ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium mit der Konfiguration von: 0 ≤ |1 + (Sb/Sa)1/2| ≤ 0,1 αwobei α das Verhältnis der Fläche des Abschnitts von Aufzeichnungszeichen zu der Fläche ist, in der der Laserstrahl durchgelassen wird, wenn das Sb, das in dem im ersten Verfahren beschriebenen optischen Messverfahren verwendet wird, gemessen wird.
  • Ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium mit der Konfiguration von: 0 ≤ |1 – (A3/A1)1/2| ≤ 0,1 αwobei α das Verhältnis der Fläche des Abschnitts von Aufzeichnungszeichen zu der Fläche ist, in der der Laserstrahl durchgelassen wird, wenn das A3, das in dem im fünften Verfahren beschriebenen optischen Messverfahren verwendet wird, gemessen wird.
  • 1 ist eine Außenansicht und der Schnitt eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums;
  • 2 ist ein Schnitt einer ersten Informationsschicht in der ersten Ausführung;
  • 3 ist eine schematische Darstellung, die die Abhängigkeit der maximalen Leistung von C/N in der ersten Ausführung darstellt;
  • 4(a) und 4(b) sind schematische Darstellungen, die die Ergebnisse der Berechnung des mittleren Durchlassgrades und des Durchlassverhältnisses in der ersten Ausführung zeigen;
  • 5 ist ein Schnitt einer ersten Informationsschicht in der zweiten Ausführung;
  • 6(a) und 6(b) sind schematische Darstellungen, die die Ergebnisse der Berechnung des mittleren Durchlassgrades und des Durchlassverhältnisses in der zweiten Ausführung zeigen;
  • 7 ist eine schematische Darstellung, die die Wellenform eines reproduzierten Signals aus der zweiten Informationsaufzeichnungsschicht in der ersten und der zweiten Ausführungsart zeigt;
  • 8 ist eine Außenansicht und der Schnitt eines anderen optischen Informationsaufzeichnungsmediums;
  • 9(a) bis 9(c) sind schematische Darstellungen, die den Ablauf eines ersten optischen Messverfahrens veranschaulichen;
  • 10(a) bis 10(c) sind schematische Darstellungen, die den Ablauf eines zweiten optischen Messverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung veranschaulichen.
  • 11(a) bis 11(c) sind schematische Darstellungen, die den Ablauf eines dritten optischen Messverfahrens veranschaulichen.
    • 1
    optische Speicherplatte
    2
    erste Informationsschicht
    3
    zweite Informationsschicht
    4, 5
    Schichtträger
    6
    mittlere Schicht
    7
    Objektivlinse
    8
    Laserstrahl
    9
    erste dielektrische Schicht
    10
    zweite dielektrische Schicht
    11
    Aufzeichnungsschicht
    12
    reflektierende Schicht
    13
    dritte dielektrische Schicht
  • Mit Bezug auf die Zeichnungen werden nachstehend Ausführungen in spezielleren Formen beschrieben.
  • (Erste Ausführung)
  • 1 und 2 sind schematische Darstellungen eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums.
  • In 2 ist der Schnitt einer optischen Speicherplatte 1 von 1 dargestellt. 2 zeigt eine optische Speicherplatte mit zwei Informationsaufzeichnungsschichten und in dem Zustand, wo sie mit einem Laserstrahl bestrahlt wird. Die optische Speicherplatte 1 besitzt eine erste Informationsschicht 2, die näher zu der Lichtquelle positioniert ist, und eine zweite Informationsschicht 3, die von ihr weiter entfernt positioniert ist. Jede Informationsschicht wird hergestellt, indem im Voraus eine Wellenfalle oder ein Phasenpit in einem Schichtträger 4 oder 5 gebildet wird und Überzüge einer dielektrischen Schicht, einer Aufzeichnungsschicht, einer reflektierenden Schicht und dergleichen gebildet werden. Die Schichtträger werden mit einem bei UV-Strahlen abbindenden Kunstharz oder dergleichen geklebt, um eine Zwischenschicht 6 zu bilden.
  • Alternativ dazu ist es auch akzeptabel, nach dem Formen von jeder der Schichten, die die zweite Informationsschicht 3 im Schichtträger 4 bilden, in der bereits eine Wellenfalle oder ein Phasenpit ausgebildet ist, die Zwischenschicht 6 zu bilden, die eine Wellenfalle oder ein Phasenpit aufweist, und nach dem Formen von jeder der die erste Informationsschicht 2 bildenden Schichten mit dem Schichtträger 5 (auch als Deckschicht bezeichnet) zu kombinieren.
  • Als Schichtträger 4 und 5 werden flache, transparente Platten aus Glas, Kunstharz oder dergleichen verwendet. Alternativ dazu können sie durch Auflösen eines Kunstharzes in einem Schichtlösungsmittel und Trocknen gebildet werden.
  • 2 ist eine Schnittdarstellung, die bei Betrachtung von der Auftreffseite des Laserstrahls ein Beispiel der Ausführung der die nähere Informationsschicht in 1 bildenden ersten Informationsschicht 2 zeigt.
  • Als eine erste dielektrische Schicht 9 und eine zweite dielektrische Schicht 10 über dem Schichtträger 5 können Oxide wie SiO2, SiO, TiO2, MgO oder GeO2, Nitride wie Si3N4, BN oder AIN, Sulfide wie ZnS oder PbS oder deren Mischungen verwendet werden.
  • Als aufzeichnendes Schichtmaterial einer Aufzeichnungsschicht 11 kann ein Material, das einer Phasenänderung zwischen einem amorphen Zustand und einem kristallinen Zustand ausgesetzt ist, zum Beispiel eine auf SbTe basierende, InTe basierende, auf GeTeSn basierende, SbSe basierende, TeSeSb basierende, SnTeSe basierende, InSe basierende, TeGeSnO basierende, TeGeSnAu basierende, TeGeSnSb basierende oder TeGeSb basierende Chalkogenverbindung verwendet werden. Es kann auch ein auf Te-TeO2 basierender, auf Te-TeO2-Au basierender, Te-TeO2-Pd basierender oder auf einem beliebigen anderen Oxid basierender Werkstoff verwendet werden. Jeder dieser Werkstoffe führt zu einer Phasenänderung zwischen einem kristallinen Zustand (entspricht Zustand [a] und einem amorphen Zustand (entspricht Zustand [b]). Der Werkstoff kann ebenso eine auf AgZn basierende oder InSb basierende metallische Verbindung sein, die zu einer Phasenänderung zwischen einem kristallinen Zustand (Zustand [a]) und einem anderen kristallinen Zustand (Zustand [b]) führt.
  • Als reflektierende Schicht 12 kann ein metallischer Werkstoff wie zum Beispiel Au, Ag, Al oder Cu oder ein dielektrischer mehrlagiger Film mit hohem Reflexionsvermögen bei einer vorbestimmten Wellenlänge verwendet werden.
  • Aus diesen Werkstoffen können durch Vakuumbedampfen oder Sputtern dünne Schichten hergestellt werden.
  • Hinzuzufügen ist, dass die zweite Informationsschicht 3 in jeder beliebigen Form sein kann, wenn sie optische Änderungen des reflektierten Strahls als Information mit einem Laserstrahl detektieren kann. Ähnlich der ersten Informationsschicht 2 kann sie ein mehrlagiger Überzug sein, der eine Phasenänderungs-Aufzeichnungsschicht enthält, oder ein mehrlagiger Überzug, der eine magnetoptische Aufzeichnungsschicht oder eine Farbstoffschicht enthält. Oder sie kann in einer Form sein, die als ein Phasenpit in dem Schichtträger 4 aufgezeichnet ist.
  • Ein wesentlicher Punkt ist, dass die Durchlassgrade der ersten Informationsschicht 2 in zwei Zuständen vor und nach dem Aufzeichnen (aufgezeichneter Zustand und nicht aufgezeichneter [gelöschter] Zustand) kompensiert werden, indem die Filmdicke jeder Schicht in der oben beschriebenen Ausführung passend ausgewählt wird, so dass die Intensität des Laserstrahls, der die zweite Informationsschicht zum Zeitpunkt des Auf zeichnens oder einer Reproduktion erreicht, in jedem Zustand gleich bleiben kann. Des Weiteren sollte die Intensität des die zweite Informationsschicht erreichenden Laserstrahls zum Aufzeichnen und zur Reproduktion ausreichend sein. Nebenbei bemerkt wird sich die folgende Beschreibung beispielhaft auf einen Fall beziehen, bei dem der nicht aufgezeichnete (gelöschte) Teil sich in einem kristallinen Zustand und der aufgezeichnete Teil in einem amorphen Zustand befindet.
  • Der Durchlassgrad der ersten Informationsschicht 2 kann durch eine Berechnung, die als Matrizenrechnung bekannt ist, aus der optischen Konstante und der Filmdicke des Materials jeder Schicht, die die erste Informationsschicht bildet, abgeschätzt werden (die Matrizenrechnung ist zum Beispiel in Hiroshi Kubota, Hado Kogaku [Wave Optics] Iwanami Shoten, 1971, Kapitel 3 beschrieben).
  • Tabelle I zeigt das Beispiel einer Ausführung der Filmdicke der ersten Informationsschicht 2 einer Speicherplatte, die auf Versuchsbasis in dieser Ausführung hergestellt wurde, ihre berechneten Durchlassgrade im amorphen Zustand (Ta) und im kristallinen Zustand (Tc), Reflexionsgrade im amorphen Zustand (Ra) und im kristallinen Zustand (Rc), Absorptionskoeffizienten im amorphen Zustand (Aa) und im kristallinen Zustand (Ac), das Durchlassverhältnis zwischen dem amorphen Zustand und dem kristallinen Zustand (Tc – Ta)/Tc, und einen mittleren Durchlassgrad (Ta + Tc)/2.
  • Figure 00190001
  • Um die Intensitäten des Laserstrahls, der die zweite Informationsschicht zum Zeitpunkt des Aufzeichnens oder Reproduzierens zwischen dem amorphen und dem kristallinen Zustand erreicht, zu kompensieren, ist es in dieser Ausführung mehr wünschenswert je kleiner der absolute Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc ist. Es ist außerdem erwünscht, den mittleren Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 zu maximieren, um einen ausreichenden Pegel der Intensität des die zweite Informationsschicht erreichenden Laserstrahls zum Aufzeichnen und Reproduzieren zu gewährleisten. In dieser Ausführung wurden gemäß Tabelle 1 sechs Arten von Platten, die sich im Durchlassverhältnis und im mittleren Durchlassgrad der ersten Informationsschicht 2 unterscheiden, hergestellt, indem die Dicke ta der Aufzeichnungsschicht, die Dicke tb der reflektierenden Schicht, die Dicke t1 der ersten dielektrischen Schicht und die Dicke t2 der zweiten dielektrischen Schicht verändert wurden.
  • Jede Platte wurde auf folgende Art und Weise hergestellt. Als Schichtträger 4 wurde eine Polycarbonatplatte von 120 mm Durchmesser und 1,1 mm Dicke verwendet und in ihrer Oberfläche eine spiralförmige Wellenfalle von 0,25 μm Breite, einer Teilung von 0,32 μm und 20 nm Tiefe ausgebildet. Die zweite Informationsschicht 3 wurde über der Oberfläche dieses Schichtträgers 4 gebildet, und aufeinander folgend wurden eine reflektierende Schicht aus AgPdCu mit einer optischen Konstante von 0,32–2,06 i und einer Dicke von 100 nm, eine dielektrische Schicht aus ZnS-SiO2 mit einer optischen Konstante von 2,25–0,00 i in 15 nm, eine Aufzeichnungsschicht aus GeSbTe von 1,78–3,51 i im kristallinen Zustand und 3,31–2,29 i im amorphen Zustand einer optischen Konstante 3,31–2,29 i) in 12 nm sowie eine dielektrische Schicht aus ZnS-SiO2 in 60 nm ausgebildet.
  • Als Nächstes wurde die Aufzeichnungsschicht der zweiten Informationsschicht 3 aus dem amorphen Zustand in den kristallinen Zustand verändert, um sie durch Bestrahlung mit einem Laserstrahl zu initialisieren, dem sich die Bildung der Zwischenschicht 6 anschloss, auf die die gleiche Form der Wellenfalle wie die im Schichtträger 4 umgeschrieben wurde.
  • Des Weiteren wurde, wie bei der ersten Informationsschicht 2, aufeinander folgend eine reflektierende Schicht aus AgPdCu in einer Dicke von tb nm, eine zweite dielektrische Schicht aus ZnS-SiO2 in t2 nm, eine Aufzeichnungsschicht aus GeSbTe in ta nm und eine erste dielektrische Schicht aus ZnS-SiO2 in t1 nm ausgebildet. Nach der Bildung dieser Überzüge wurde die Aufzeichnungsschicht der ersten Informationsschicht 2 initialisiert, indem sie durch Bestrahlung mit einem Laserstrahl aus dem amorphen Zustand in den kristallinen Zustand verändert wurde.
  • Schließlich wurde der aus Polycarbonat bestehende Schichtträger 5 mit einem bei UV-Strahlen abbindenden Kunstharz geklebt. Die gesamte Dicke des Klebeabschnitts und des Schichtträgers 5 wurde auf 0,1 mm eingestellt.
  • Unter Verwendung dieser sechs unterschiedlichen Speicherplatten wurde ein Aufzeichnungs-/Reproduktionstest durchgeführt. Jede Platte wurde bei einer linearen Geschwindigkeit von 5 m/s gedreht, wobei jede der Informationsschichten 2 und 3 der Platte mit einem Halbleiterlaserstrahl der Wellenlänge von 405 nm bestrahlt wurde, die mit einer Objektivlinse der numerischen Apertur von 0,85 (NA) beschränkt wurde.
  • Als Modulationscode zum Aufzeichnen und zur Vervielfältigung wird (8–16) Modulation verwendet, und die modulierten Signale werden in einen Mehrfachimpuls verwandelt, um den Halbleiterlaser zu erzeugen. Die Markierungslänge von 3T wurde auf 0,20 μm eingestellt.
  • Als Nächstes wird mit Bezug auf 3 das Verfahren zum Einstellen der Aufzeichnungsleistung beschrieben. In einem Zustand, bei dem auf der ersten Informationsschicht 2 keine Aufzeichnung vorgenommen wird, wurden auf der zweiten Informationsschicht 3 periodische Signale mit 3T aufgezeichnet, indem die Maximalleistung verändert wurde, und nach dem Aufzeichnen wurde der C/N (Träger-Rausch-Abstand) der reproduzierten Signale gemessen. Die Abhängigkeit des C/N von der Maximalleistung wurde gemäß 3 aufgezeichnet, und mit der Maximalleistung (gesättigter C/N–3 dB), die durch Ppth dargestellt wird, wurde die zur Informationsaufzeichnung verwendete optimale Maximalleistung Pps berechnet, die definiert wurde mit: Pps = Ppth × 1,2
  • Die optimale Vorspannungsleistung wurde als Vorspannungsleistung Pbo abgeschätzt, die die höchste Löschrate ergeben würde, indem die Vorspannungsleistung mit der kon stant gehaltenen Maximalleistung verändert wird, 3T-Signale aufgezeichnet werden und später 11T-Signale überschrieben werden.
  • Als Nächstes wird der Einfluss der ersten, der Lichtquelle näher positionierten Informationsschicht auf die weiter entfernt positionierte, zweite Informationsschicht beschrieben.
  • In einem halbrunden Bereich, vom ganz innen liegenden Umfang zum ganz außen liegenden Umfang der ersten Informationsschicht 2, wurden Zufallssignale aufgezeichnet.
  • Des Weiteren schwankte die Amplitude der reproduzierten Signale gemäß 7 jede dem nicht aufgezeichneten Bereich und dem aufgezeichneten Bereich der ersten Informationsschicht 2 entsprechende halbe Runde, wenn periodische Signale von 3T die volle Runde einer Spur lang auf der zweiten Informationsschicht 3 mit einer Maximalleistung von Pps und einer Vorspannungsleistung von Pbo aufgezeichnet und diese Signale reproduziert wurden. Die schwankende Größe der Hüllkurve dieser reproduzierten Signale wurde gemessen und die erste Informationsschicht 2 der Änderungsrate der Hüllkurve in Bezug auf die Amplitude der reproduzierten Signale im nicht aufgezeichneten Bereich davon abgeschätzt. Des Weiteren wurde die Änderungsrate der Hüllkurve durch die folgende Gleichung definiert, wobei die reproduzierte Signalamplitude im nicht aufgezeichneten Bereich der ersten Informationsschicht 2 durch A1 dargestellt ist und die reproduzierte Signalamplitude in ihrem aufgezeichneten Bereich durch A2 dargestellt ist: Änderungsrate = (A1 – A2)/A1
  • Gleichzeitig wurde die Fehlerrate der reproduzierten Signale gemessen.
  • Die Messergebnisse der Änderungsrate der Hüllkurve und die Fehlerrate sind in Tabelle 2 dargestellt. [Tabelle 2]
    Platte Fehlerrate Änderungsrate [%]
    (1) 2 × 10–5 1
    (2) 7 × 10–5 5
    (3) 6 × 10–5 3
    (4) 1 × 10–3 4
    (5) 8 × 10–4 8
    (6) 1 × 10–3 10
  • Während die Platten (1) bis (3) zufrieden stellende Fehlerraten ergaben, geringere als der normalerweise akzeptierte Schwellenwert von 1 × 104 für Fehlerraten, waren die Fehlerraten der Platten (4) bis (6) nicht niedrig genug.
  • Die Änderungsrate der Hüllkurve war zufrieden stellend, nicht größer als 5% für Platten (1) bis (4), jedoch größer als die für die Platten (5) und (6).
  • Wenn aus der zweiten Informationsschicht 3 jeder Platte reproduzierte Signale innerhalb eines Verarbeitungsschaltkreises für reproduzierte Signale, der aus einem binär machenden Schaltkreis und einem PLL-Schaltkreis (Phasenregelkreis) besteht, gemessen wurden, waren die Platten (4) bis (6) bei Betrieb des binär machenden Schaltkreises wegen der großen Schwankungen ihrer Hüllkurve instabil, und die Platten (4) bis (6) waren bei Betrieb des Phasenregelkreises wegen ihrer reproduzierten mangelhaften Signalqualität nicht stabil.
  • Es wird in Betracht gezogen, dass diese Ergebnisse folgenden Gründen zuzuschreiben sind. Vorstellbar ist, dass in den Platten (1) bis (3), wenn sich der Durchlassgrad des aufgezeichneten Bereiches und der Durchlassgrad des nicht aufgezeichneten Bereiches in der ersten Informationsschicht 2 etwas ändern, die Intensität des die zweite Informati onsschicht 3 erreichenden Laserstrahls durch den Aufzeichnungszustand der ersten Informationsschicht 2 etwas verändert wird, und die Hüllkurve etwas schwankt, was zu einer stabilisierten binär machenden Funktion und einer verringerten Fehlerrate führt. Die in Tabelle 2 dargestellten Ergebnisse zeigen die Oberlegenheit der Platten (1), (2) und (3), und folglich lässt Tabelle 1 erkennen, dass eine zufrieden stellende Fehlerrate im Verhältnis von weniger als 1 × 10–4 erreicht wird, wenn der absolute Wert des Durchlassverhältnisses nicht mehr als 10% beträgt.
  • In den Speicherplatten (4) bis (6) ist die Intensität des diese Informationsschicht erreichenden Laserstrahls gering zum Zeitpunkt des Aufzeichnens auf die zweite Informationsschicht oder Reproduzierens daraus, weil der mittlere Durchlassgrad der ersten Informationsschicht 2 gering ist, wobei es denkbar ist, dass dies zu einer verschlechterten Qualität der reproduzierten Signale und einer höheren Fehlerrate führt. Die in Tabelle 2 dargestellten Ergebnisse zeigen die Minderwertigkeit der Platten (4), (5) und (6); und folglich lässt Tabelle 1 erkennen, dass die Fehlerrate nicht gut genug ist, 1 × 10–4 übersteigt, wenn der mittlere Durchlassgrad geringer als 40% ist.
  • Aus diesen Erkenntnissen war bekannt, dass Informationen auf die zweite Informationsschicht 3 zufrieden stellend aufgezeichnet und von dieser reproduziert werden könnten, well der absolute Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc der Platten (1) bis (3) auf 10% oder darunter reduziert und der mittlere Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 der ersten Informationsschicht 2 auf 40% oder darüber erhöht waren.
  • Darüber hinaus wurden durch Berechnung die Voraussetzungen der Schichtdicke ausführlich geprüft, um in der in 2 gezeigten Ausführung den mittleren Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 auf 40% oder darüber zu erhöhen und den absoluten Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc auf 10% oder darunter zu reduzieren. 4(a) und 4(b) sind Diagramme, in denen Änderungen des mittleren Durchlassgrades (Ta + Tc)/2 und des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc aufgezeichnet sind, wobei die Dicke ta der Aufzeichnungsschicht auf 10 nm, die Dicke tb der reflektierenden Schicht auf 10 nm und die Schichtdicke t1 der ersten dielektrischen Schicht und die Schichtdicke t2 der zweiten dielektrischen Schicht beispielhaft verändert sind. In 4 ist die Wellenlänge des Laserstrahls auf 405 nm und die Dicken der oberen dielektrischen und der unteren dielektri schen Schicht in Bezug auf die Wellenlänge (λ) des Laserstrahls als optische Länge angegeben.
  • Wenn die Filmdicke der dielektrischen Schicht, die in 4(a) einen mittleren Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 von 40% oder mehr ergibt, und die Filmdicke der dielektrischen Schicht, die in 4(b) einen absoluten Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc von 10% oder weniger ergibt, miteinander kompatibel gemacht werden können, wird die Kombination des Schichtdicken dieser Aufzeichnungsschicht und reflektierenden Schicht ermöglichen, die erste Informationsschicht 2 so zu konfigurieren, um zufrieden stellende Aufzeichnung und Reproduktion von Informationen auf die zweite Informationsschicht 3 und von dieser möglich zu machen.
  • Tabelle 3 zeigt, ob eine erste Informationsschicht 2 konfiguriert werden kann oder nicht, die das Potenzial besitzt, den mittleren Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 bei 40% oder darüber und den absoluten Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc bei 10% oder darunter zu halten, wenn die Filmdicke ta der Aufzeichnungsschicht von 2 auf 32 nm und die Filmdicke tb der reflektierenden Schicht von 2 auf 36 nm verändert wird.
  • In der Tabelle stellen die Zeichen O dar, dass die passenden Schichtdicken ta und tb den mittleren Durchlassgrad bei 40% oder darüber und den absoluten Wert des Durchlassverhältnisses bei 10% oder darunter halten können. Hinzuzufügen ist, dass x Zeichen angeben, dass es keine Möglichkeit gibt, welches ta und ta auch immer gewählt sein kann, den mittleren Durchlassgrad bei 40% oder darüber und den absoluten Wert des Durchlassverhältnisses bei 10% oder darunter zu halten. Mit anderen Worten, es gibt in 4(a) und 4(b) keinen Bereich, in dem der mittlere Durchlassgrad von 40 bis 50% und das Durchlassverhältnis von –10 bis +10% liegt.
  • Wenn an jeder Kombination von einzelnen Aufzeichnungsschichten und reflektierenden Schichten ähnliche Berechnungen wie die, auf die in 4(a) und 4(b) verwiesen wurde, vorgenommen werden und mit der veränderten Schichtdicke der dielektrischen Schicht ein Punkt gefunden wird, an dem der mittlere Durchlassgrad und das Durchlassverhältnis kompatibel sind, wird eine die Voraussetzungen erfüllende Schicht 2 für konfigurierbar gehalten.
    Figure 00260001
  • Diese Tabelle zeigt, dass eine die folgenden Bedingungen erfüllende Schichtdicke eine Konfiguration bewirkt, die das Potenzial besitzt, um die Forderungen von 40% oder mehr im mittleren Durchlassgrad und 10% oder weniger im absoluten Wert des Durchlassverhältnisses zu erfüllen. ta ≤ 12, wenn tb ≤ 18, ta ≤ 10, wenn 18 < tb ≤ 22, und ta ≤ 32 – tb, wenn 22 < tb ≤ 30 ist.
  • Tabelle 3 zeigt auch, dass eine die oben angegebenen Anforderungen des mittleren Durchlassgrades und des Durchlassverhältnisses erfüllende Konfiguration mit einer Konfiguration erreicht werden kann, bei der sowohl die Aufzeichnungsschicht als auch die reflektierende Schicht dünn ist. Dies bedeutet, dass die Schichten, die eine optische Dämpfung in der ersten Informationsschicht 2 aufweisen, hauptsächlich die Aufzeichnungsschicht und die reflektierende Schicht sind. Des Werteren kann festgestellt werden, dass der Absorptionskoeffizient der Aufzeichnungsschicht größer ist als der Absorptionskoeffizient der reflektierenden Schicht, weil die Aufzeichnungsschicht, bei Betrachtung von der Seite der Lichtquelle aus, näher ist als die reflektierende Schicht, und dass eine Zunahme der Schichtdicke der Aufzeichnungsschicht den Durchlassgrad mehr beeinflussen kann als die Zunahme der Schichtdicke der reflektierenden Schicht.
  • Außerdem war das Ergebnis Aa > Ac, wenn die Werte des Absorptionskoeffizienten Aa der Aufzeichnungsschicht im amorphen Zustand und des Absorptionskoeffizienten Ac der Aufzeichnungsschicht im kristallinen Zustand für die Platten (1) und (3) berechnet wurden. Weil die Reflexionsgrade von (1) und (3) auf Ra < Rc gesetzt wurden, um den absoluten Wert des Durchlassverhältnisses zu reduzieren (d. h. um Tc und Ta im Wesentlichen zu kompensieren), wird die Konfiguration dadurch leichter gemacht, dass dem Absorptionskoeffizienten der Aufzeichnungsschicht ein Verhältnis von Aa > Ac (≤ 100% – Reflexionsgrad – Durchlassgrad) gegeben wird. Umgekehrt kann ohne weiteres dort, wo Reflexionsgrade von Ra > Rc, wie im Fall der Platte (2), erzeugt werden, eine die oben genannten Anforderungen erfüllende Konfiguration dadurch erreicht werden, dass dem Absorptionskoeffizienten der Aufzeichnungsschicht ein Verhältnis von Aa < Ac gegeben wird. In Anbetracht dessen, dass sich relative Größen von Aa und Ac mit den optischen Konstanten und den Filmdicken der die Informatationsschichten bildenden ein zelnen Schichten ändern, wenn die optische Konstante der Aufzeichnungsschicht in dem amorphen Zustand auf na–ka und die optische Konstante im kristallinen Zustand auf nc–ikc gesetzt ist, ist es leichter, eine Konfiguration zu erreichen, bei der Tc und Ta im Wesentlichen dadurch kompensiert sind, wenn Aa > Ac als Absorptionskoeffizient der Aufzeichnungsschichten und Ra < Rc als Reflexionsgrade ist, wobei: na + ka > nc + kc ist.
  • Umgekehrt bei: na + ka < nc + kc gibt es die Tendenz, dass es leichter ist, eine Konfiguration zu erreichen, bei der Tc und Ta im Wesentlichen kompensiert sind, indem man Aa < Ac als Absorptionskoeffizienten der Aufzeichnungsschichten und Ra > Rc, als Reflexionsgrade nimmt.
  • Nebenbei bemerkt, weil die Aufzeichnungsschicht in der zuvor beschriebenen Ausführung die Beziehung na + ka > nc + kc besitzt, ist es leichter eine Konfiguration zu erreichen, bei der Tc und Ta im Wesentlichen dadurch kompensiert werden, wenn Aa > Ac als Absorptionskoeffizienten der Aufzeichnungsschichten und Ra < Rc als Reflexionsgrade sind.
  • Um das Vorangegangene zusammenzufassen, es ist wünschenswert, was auch immer die optische Konstante sein mag, dass die relativen Größen von Ta und Tc, die den relativen Größen von Ra und Rc im amorphen Zustand entsprechen, von den relativen Größen von Ta und Tc, die den relativen Größen von Ra und Rc im kristallinen Zustand entsprechen, abweichen.
  • Wie es soweit beschrieben ist, kann im optischen Informationsaufzeichnungsmedium nach dieser Ausführung eine ausreichende Intensität des Laserstrahls ermöglicht werden, um die zweite Informationsschicht 3 zu erreichen, indem der absolute Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc auf 10% oder weniger reduziert wird und der mittlere Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 der ersten Informationsschicht 2 auf 40% oder mehr erhöht wird, und können Informationen genau aufgezeichnet und reproduziert werden, un abhängig davon, ob Informationen auf der ersten Informationsschicht 2 aufgezeichnet werden oder nicht.
  • (Zweite Ausführung)
  • 5 ist eine Schnittansicht, die das Beispiel einer Konfiguration der ersten Informationsschicht 2 zeigt, die die bei Betrachtung von der Auftreffseite des Laserstrahls nähere Informationsschicht in 1 bildet. Diese Funktionsweise weicht von der ersten Ausführung dadurch ab, dass eine dritte dielektrische Schicht 13 über der reflektierenden Schicht 12 vorgesehen ist. 6 ist ein Diagramm, in dem Änderungen des mittleren Durchlassgrades (Ta + Tc)/2 und des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc aufgezeichnet sind, wobei die Dicke der Aufzeichnungsschicht auf 10 nm, die Dicke der reflektierenden Schicht auf 10 nm, die Dicke der dritten dielektrischen Schicht auf 10 nm und die Schichtdicken der ersten dielektrischen Schicht und der zweiten dielektrischen Schicht verändert sind. Im Vergleich von 6 mit 4 hat die Bereitstellung der dritten dielektrischen Schicht trotz gleicher Dicken der Aufzeichnungsschicht und der reflektierenden Schicht den Bereich erweitert, in dem der absolute Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc 10% oder weniger ist. Des Werteren wird es auch möglich sein, den mittleren Durchlassgrad zu verbessern, wenn die Dicke der dritten dielektrischen Schicht genau ausgewählt wird. Folglich spielt dies bei der Erhöhung der Unabhängigkeit der Konfiguration der ersten Informationsschicht 2 eine Rolle.
  • Tabelle 4 zeigt das Beispiel einer Schichtdickenausführung der ersten Informationsschicht 2 einer in dieser Ausführung auf Versuchsbasis hergestellten Speicherpllatte, ihre berechneten Durchlassgrade im amorphen Zustand (Ta) und im kristallinen Zustand (Tc), Reflexionsgrade im amorphen Zustand (Ra) und im kristallinen Zustand (Rc), Absorptionskoeffizienten im amorphen Zustand (Aa) und im kristallinen Zustand (Ac), das Durchlassverhältnis zwischen dem amorphen und dem kristallinen Zustand (Tc – Ta)/Tc sowie den mittleren Durchlassgrad (Ta + Tc)/2.
    Figure 00300001
  • In dieser Ausführung wurden gemäß Tabelle 4 Speicherplatten mit unterschiedlichem Durchlassverhältnis und mittlerem Durchlassgrad der ersten Informationsschicht 2 hergestellt, indem die Dicke ta der Aufzeichnungsschicht, die Dicke tb der reflektierenden Schicht, die Dicke t1 der ersten dielektrischen Schicht, die Dicke t2 der zweiten dielektrischen Schicht und die Dicke t3 der dritten dielektrischen Schicht verändert wurden.
  • Die Platten wurden in ähnlicher Weise wie die in der ersten Ausführung hergestellt und weichen von der ersten Ausführung in folgender Hinsicht ab. Wie bei der ersten Informationsschicht 2 wurden aufeinander folgend eine dritte dielektrische Schicht aus ZnS-SiO2 bis t3 nm, eine reflektierenden Schicht aus AgPdCu bis tb nm, eine zweite dielektrische Schicht aus ZnS-SiO2 bis t2 nm, eine Aufzeichnungsschicht aus GeSbTe bis ta nm und eine erste dielektrische Schicht aus ZnS-SiO2 bis t1 nm hergestellt.
  • Anschließend wurde ein Aufzeichnungs-/Reproduktionstest durchgeführt, indem die in Tabelle 3 gezeigten sechs unterschiedlichen Platten verwendet wurden. Wie in der ersten Ausführung wurde jede Platte mit einer linearen Geschwindigkeit von 5 m/s gedreht, wobei jede der Informationsschichten 2 und 3 der Platte mit einem Halbleiterlaserstrahl von 405 nm Wellenlänge bestrahlt wurde, die mit einer Objektivlinse der numerischen Apertur (NA) von 0,85 beschränkt wurde.
  • Die Messergebnisse der Änderungsrate der Hüllkurve und der Fehlerrate sind in Tabelle 5 dargestellt. [Tabelle 5]
    Platte Fehlerrate Änderungsrate [%]
    (7) 6 × 10–5 1
    (8) 3 × 10–5 2
    (9) 6 × 10–5 2
    (10) 1 × 10–3 8
    (11) 5 × 10–4 5
    (12) 4 × 10–3 14
  • Während die Platten (7) bis (9) zufrieden stellende Fehlerraten ergaben, geringere als der normalerweise akzeptierte Schwellenwert von 1 × 10–4 für Fehlerraten, waren die Fehlerraten der Platten (10) bis (12) nicht gering genug. Die Änderungsrate der Hüllkurve war zufrieden stellend, nicht größer als 5% für die Platten (7) bis (9) und (11), jedoch größer als die für die Platten (10) und (12).
  • Wenn aus der zweiten Informationsschicht 3 jeder Platte reproduzierte Signale innerhalb eines Verarbeitungsschaltkreises für reproduzierte Signale, der aus einem binär machenden Schaltkreis und einem PLL-Schaltkreis (Phasenregelkreis) besteht, gemessen wurden, waren die Platten (11) und (12) bei Betrieb des binär machenden Schaltkreises wegen der großen Schwankungen ihrer Hüllkurve instabil und zeigen höhere Fehlerraten. Die Platten (10) bis (12) waren bei Betrieb des Phasenregelkreises wegen ihrer reproduzierten mangelhaften Signalqualität nicht stabil, was zur Erhöhung der Fehlerraten beitrug.
  • Die in Tabelle 4 und Tabelle 5 dargestellten Ergebnisse zeigen, dass genügend kleine Fehlerraten, kleiner als 1 × 10–4 erreicht werden, wenn der absolute Wert des Durchlassverhältnisses nicht mehr als 10% und der mittlere Durchlassgrad nicht kleiner als 40% ist.
  • Aus diesen Erkenntnissen war bekannt, dass Informationen auf die zweite Informationsschicht 3 zufrieden stellend aufgezeichnet und von dieser reproduziert werden könnten, weil der mittlere Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 der ersten Informationsschicht 2 auf 40% oder darüber erhöht und der absolute Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc der Platten (7) bis (9) auf 10% oder darunter reduziert waren.
  • Darüber hinaus wurden durch Berechnung die Voraussetzungen der Schichtdicke ausführlich geprüft, um in der in 5 gezeigten Ausführung den mittleren Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 auf 40% oder darüber zu erhöhen und den absoluten Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc auf 10% oder darunter zu reduzieren.
  • Tabelle 6 zeigt, ob eine erste Informationsschicht 2 konfiguriert werden kann oder nicht, die das Potenzial besitzt, den mittleren Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 bei 40% oder darüber und den absoluten Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc bei 10% oder darunter zu halten, wenn die Filmdicke ta der Aufzeichnungsschicht von 2 auf 32 nm und die Filmdicke tb der reflektierenden Schicht von 2 auf 36 nm verändert wird. Außerdem zeigt Tabelle 7 einen Fall, bei dem die Schichtdicken der Aufzeichnungsschicht und der reflektierenden Schicht ähnlich verändert waren und die Schichtdicke t3 der dritten dielektrischen Schicht auf 30 nm eingestellt war; Tabelle 8 ist ein ähnlicher Fall, bei dem die Dicke 50 nm betrug, und Tabelle 9 ein anderer Fall, bei dem die Dicke 70 nm betrug.
    Figure 00340001
    Figure 00350001
    Figure 00360001
    Figure 00370001
  • Diese Tabellen zeigen, dass eine die folgenden Voraussetzungen erfüllende Schichtdicke eine Konfiguration zur Verfügung stellt, die die oben erwähnten Anforderungen an den mittleren Durchlassgrad und das Durchlassverhältnis erfüllt, wenn die Aufzeichnungsschicht ta [nm] dick und die metallische reflektierende Schicht tb [nm] dick gemacht wird, unabhängig davon, dass die Schichtdicke der dritten dielektrischen Schicht zwischen 10 und 70 nm liegt: tb ≤ 12, wenn tb ≤ 18, ta ≤ 38 – ta, wenn 16 < ta ≤ 18, ta ≤ 10, wenn 18 < ta ≤ 20 ta ≤ 30 – ta, wenn 20 < ta ≤ 24 und ta ≤ 28 – ta, wenn 24 < ta ≤ 26 ist.
  • Wie aus Tabelle 6 bis Tabelle 9 ersichtlich ist, kann eine die oben angegebenen Anforderungen des mittleren Durchlassgrades und des Durchlassverhältnisses erfüllende Konfiguration mit einer Konfiguration erreicht werden, in der sowohl die Aufzeichnungsschicht als auch die reflektierende Schicht dünn ist. Das bedeutet, dass die Schichten, die in der ersten Informationsschicht 2 optische Absorption besitzen, hauptsächlich die Aufzeichnungsschicht und die reflektierende Schicht sind.
  • Außerdem betrug das Ergebnis Aa > Ac, wenn die Werte des Absorptionskoeffizienten Aa der Aufzeichnungsschicht im amorphen Zustand und des Absorptionskoeffizienten Ac der Aufzeichnungsschicht im kristallinen Zustand für die Platten (7) bis (9) berechnet wurden. Dadurch dass die Reflexionsgrade von (7) bis (9) auf Ra < Rc eingestellt wurden, um den absoluten Wert des Durchlassverhältnisses zu reduzieren (d. h., um Tc und Ta im Wesentlichen zu kompensieren), wird eine Konfiguration leichter gemacht, indem dem Absorptionskoeffizienten der Aufzeichnungsschicht ein Verhältnis von Aa > Ac gegeben wird (≤ 100% Reflexionsgrad- Durchlassgrad).
  • Wie bisher beschrieben wurde, wird durch das optische Informationsaufzeichnungsmedium auch in dieser Ausführung, wenn so konfiguriert wird, dass der absolute Wert des Durchlassverhältnisses (Tc – Ta)/Tc auf 10% oder darunter reduziert und der mittlere Durchlassgrad (Ta + Tc)/2 der ersten Informationsschicht 2 auf 40% oder darüber erhöht wird, eine ausreichende Intensität des Laserstrahls ermöglicht, um die zweite In formationsschicht 3 zu erreichen, und Informationen können genau aufgezeichnet und reproduziert werden, unabhängig davon, ob auf der ersten Informationsschicht 2 Informationen aufgezeichnet sind oder nicht.
  • Schließlich wird es leichter gemacht, die Differenz zwischen Tc und Ta zu messen, indem reproduzierte Signale verwendet werden, die erhalten werden, wenn die zweite Informationsschicht mit einem Informationen reproduzierenden Laserstrahl wie in 7 dargestellt bestrahlt wird, wogegen die oben erwähnten Durchlassgrade Ta und Tc im Allgemeinen mit einem optischen Instrument wie ein Spektroskop gemessen werden. Ein solches optisches Messverfahren wird erneut mit Bezug auf eine Zeichnung beschrieben werden.
  • 9 sind schematische Darstellungen, die ein solches erstes optisches Messverfahren veranschaulichen, in denen der obere Teil schematische Schnitte umfasst, die zeigen, wie der Laserstrahl jede Informationsschicht und den unteren Teil bestrahlt, und das Wellenformdiagramm eines reproduzierten Signals, das aus dem durch die zweite Informationsschicht reflektierten Laserstrahl erhalten wird.
  • (Schritt 1)
  • Zuerst wird in einem Zustand, bei dem auf der ersten Informationsschicht nichts aufgezeichnet ist, wie es im oberen Teil von 9(a) gezeigt ist, eine Bestrahlung mit einem Laserstrahl mit Brennpunkt auf der zweiten Informationsschicht durchgeführt. Erwünscht ist, dass die zu bestrahlende Position in diesem Vorgang auf einen so genannten bewegungslosen Zustand eingestellt wird, bei dem eine Rückführung in die ursprüngliche Position zum Beispiel bei jeder vollen Drehung stattfindet, weil auf diese Weise ein Vergleich mit dem Messergebnis beim nächsten Schritt erleichtert wird. Die reflektierte Intensität wird durch einen Fotodetektor zur Signalreproduktion oder dergleichen in einen elektrischen Strom oder eine Spannung umgewandelt und als eine reproduzierte Wellenform eines im Wesentlichen Gleichstroms beobachtet wie es im unteren Teil von 9(a) gezeigt ist. Obwohl die tatsächliche Wellenform mehr oder weniger uneben ist, weil sie durch den Reflexionsgrad der optischen Platte oder dergleichen schwankt, kann sie als Gleichstromwellenform betrachtet werden, wenn über die Zeit gemittelt wird. Der Nullpegel der Längsachse dieser schematischen Darstellung stellt das Ausgangssignal des Fotodetektors dar, wenn die optische Platte aus dem Strahlengang des Laserstrahls entfernt wird. Deshalb stellt der in der schematischen Darstellung gezeigte Pegel Sa die reflektierte Intensität in einem Zustand dar, bei dem auf der ersten Informationsschicht nichts aufgezeichnet ist.
  • (Schritt 2)
  • Als Nächstes werden Zufallsignale oder monotone Signale in einer Position auf der ersten Informationsschicht unmittelbar unterhalb der Position aufgezeichnet, in der Sa im Schritt 1 gemessen wurde, wie es im oberen Teil von 9(b) dargestellt ist. Der Aufzeichnungsbereich wird so bezeichnet, dass er die gesamte Fläche umfasst, wenn ein Laserstrahl auf die zweite Informationsschicht fokussiert wird, wobei der Laserstrahl die erste Informationsschicht durchläuft. Wenn die Wellenlänge des Laserstrahls 405 nm, die numerische Apertur (NA) der Objektivlinse 0,85, die Dicke der mittleren Schicht 30 um und der Brechungsindex der mittleren Schicht 1,60 beträgt, wird der Durchmesser des Laserstrahls in der ersten Informationsschicht ungefähr 37,6 μm sein. Mit diesem Durchmesser und der Außermittigkeit zwischen der in Betracht gezogenen ersten und zweiten Schicht kann der erforderliche Aufzeichnungsbereich etwa 200 μm betragen.
  • (Schritt 3)
  • Schließlich wird eine Bestrahlung mit dem Laserstrahl mit Brennpunkt auf der zweiten Informationsschicht durch die erste Informationsschicht, auf der Zufallsignale oder monotone Signale aufgezeichnet werden wie es im oberen Teil von 9(c) dargestellt ist, durchgeführt. Im Hinblick auf eine größere Messgenauigkeit für die zu bestrahlende Position ist es erwünscht, anschließend genau der im Schritt 1 gemessenen Spur zu entsprechen. Die reflektierte Intensität wird als eine reproduzierte Wellenform eines im Wesentlichen Gleichstroms beobachtet, wie es im unteren Teil von 9(c) dargestellt ist. Der in der schematischen Darstellung gezeigte Pegel Sb stellt die reflektierte Intensität in einem aufgezeichneten Zustand der ersten Informationsschicht dar. Diese schematische Darstellung zeigt einen Fall, bei dem der Durchlassgrad im aufgezeichneten Zustand geringer ist als im nicht aufgezeichneten Zustand.
  • (Schritt 4)
  • Aus Sa und Sb kann die Differenz des Durchlassgrades zwischen dem nicht aufgezeichneten Zustand und dem aufgezeichneten Zustand der ersten Informationsschicht durch die folgende Berechnung abgeschätzt werden. So ist der äquivalente Durchlassgrad Ta' der beschriebenen ersten Informationsschicht, wenn α das Verhältnis der Fläche der Aufzeichnungsmarkierungen zur gesamten Schnittfläche des Laserstrahls im Abschnitt des Laserstrahls auf der ersten Informationsschicht ist, wenn der Laserstrahl auf die zweite Informationsschicht fokussiert wird: Ta' = (1 – α) Tc + α Ta = Tc – α(Tc – Ta)
  • Weil der Durchlassgrad der nicht beschriebenen ersten Informationsschicht Tc bleibt und der Laserstrahl durch die erste Informationsschicht zweimal durchgelassen wird, gilt den Messungen von Sa und Sb entsprechend die folgende Gleichung: Sb/Sa = (Ta'/Tc)2
  • Diese beiden Gleichungen zeigen, dass das oben erwähnte Durchlassverhältnis aus: (Tc – Ta)/Tc = (1 – (Sb/Sa)1/2)/α Gleichung (1)erhalten werden kann.
  • Normalerweise ist der Wert von α ungefähr 0,25, obwohl er durch die Aufzeichnungsbedingungen einschließlich der Aufzeichnungsleistung verändert wird.
  • Durch diese Schritte 1 bis 4 können Änderungen des Durchlassgrades zwischen dem nicht aufgezeichneten Zustand und dem aufgezeichneten Zustand der ersten Informationsschicht leicht gemessen werden, ohne ein spezielles Messinstrument verwenden zu müssen.
  • 10 sind schematische Darstellungen, die den Ablauf eines zweiten optischen Messverfahrens zeigen, bei denen der obere Teil schematische Abschnitte umfasst, die zei gen, wie der Laserstrahl jede Informationsschicht und den unteren Teil bestrahlt, und das wellenförmige Diagramm eines reproduzierten Signals, das von dem durch die zweite Informationsschicht reflektierten Laserstrahl erhalten wird.
  • (Schritt 1)
  • Zuerst wird in einem Zustand, bei dem auf der ersten Informationsschicht nichts beschrieben ist, wie im oberen Teil von 10(a) dargestellt, eine Bestrahlung mit einem Laserstrahl mit Brennpunkt auf die zweite Informationsschicht durchgeführt, und Zufallssignale oder monotone Signale werden auf einer vorgegebenen Spur der zweiten Informationsschicht aufgezeichnet. Anschließend werden die auf dieser Spur aufgezeichneten Signale mit einem Laserstrahl des Reproduktionsniveaus bestrahlt, durch einen Fotodetektor oder dergleichen in einen elektrischen Strom oder eine Spannung umgewandelt und als eine Hüllkurven-Wellenform mit einer festen Amplitude beobachtet, wie es im unteren Teil von 10(a) dargestellt ist. Die in der schematischen Darstellung gezeigte Amplitude A1 stellt die reproduzierte Signalamplitude in einem Zustand dar, bei der auf der ersten Informationsschicht nichts aufgezeichnet ist.
  • (Schritt 2)
  • Als nächstes werden die Zufallsignale oder monotonen Signale in einer Position auf der ersten Informationsschicht unmittelbar unterhalb der Position aufgezeichnet, in der A1 im Schritt 1 gemessen wurde, wie es im oberen Teil von 10(b) dargestellt ist. Der Aufzeichnungsbereich ist der gleiche wie entsprechend dem ersten optischen Messverfahren.
  • (Schritt 3)
  • Schließlich wird eine Bestrahlung mit dem Laserstrahl mit Brennpunkt auf die zweite Informationsschicht durch die erste Informationsschicht durchgeführt, auf der Zufallssignale oder monotone Signale aufgezeichnet sind wie es im oberen Teil von 10(c) dargestellt ist. Anschließend wird bewirkt, dass die Bestrahlungsposition genau der im Schritt 1 gemessenen Spur entspricht. Die reproduzierten Signale werden als eine Hüllkurven-Wellenformt beobachtet, die eine feste Amplitude besitzt wie es im unteren Teil von 10(c) dargestellt ist. Die in der schematischen Darstellung gezeigte Amplitude A2 stellt die reproduzierte Signalamplitude in dem aufgezeichneten Zustand der ersten Informationsschicht dar. Diese schematische Darstellung zeigt auch einen Fall, bei dem der Durchlassgrad in dem aufgezeichneten Zustand geringer ist als in dem nicht aufgezeichneten Zustand der ersten Informationsschicht.
  • (Schritt 4)
  • Indem in der Berechnung Sa durch A1 und Sb durch A2 ersetzt wird, wie es nach dem ersten optischen Messverfahren gezeigt ist, kann das Durchlassverhältnis (Tc – Ta)/Tc zwischen dem nicht aufgezeichneten Zustand und dem aufgezeichneten Zustand der ersten Informationsschicht abgeschätzt werden.
  • Durch diese Schritte 1 bis 4 können Änderungen des Durchlassgrades zwischen dem nicht aufgezeichneten Zustand und dem aufgezeichneten Zustand der ersten Informationsschicht leicht gemessen werden, ohne ein spezielles Messinstrument verwenden zu müssen. Außerdem kann die Differenz des Durchlassgrades mit größerer Genauigkeit gemessen werden, weil das Streulicht ausgelöscht werden würde, wenn die Amplituden gemessen werden, weil das mit Bezug auf die 10 beschriebene Verfahren reproduzierte Amplituden A1 und A2 nutzt, um die Pegel reflektierter Intensität zu vergleichen, auch wenn ein Teil des reflektierten Strahls aus der ersten Informationsschicht das Ziel verfehlt und auf dem Fotodetektor einfällt. Andererseits kann durch das mit Bezug auf 9 beschriebene Verfahren ebenso die Toleranz der Durchlassgraddifferenz, die gemessen wird, auf 2/100 unterdrückt werden, was eine ausreichend genaue Messung ermöglicht, wenn die Größe des Fotodetektors ausreichend klein gemacht wird und die Streuintensität auf zum Beispiel etwa 2% der gesamten einfallenden Intensität unterdrückt wird.
  • Inzwischen kann, was das zweite optische Messverfahren wie in 11 beschrieben betrifft, ein Durchlassverhältnis (|Tc – Ta|/Tc) zwischen dem aufgezeichneten Zustand und einem nicht aufgezeichneten Zustand der ersten Informationsschicht erhalten werden, derart, dass die Differenzen A1 und A2 zwischen dem Nullpegel und der oberen Hüllkurve der Modulationsamplitude detektiert werden und in der Berechnung, die in der Beschreibung des ersten optischen Messverfahrens beschrieben wurde, Sa durch A1 und Sb durch A2 ersetzt werden.
  • Indem die so weit beschriebenen optischen Messverfahren verwendet werden, kann das Durchlassverhältnis durch Gleichung (1) leicht abgeschätzt werden. Weil das erwünschte Durchlassverhältnis der ersten Informationsschicht 10% oder geringer ist, wird es bei Verwendung von Gleichung (1) zufrieden stellend sein, dass Sa und Sb, die durch das erste optische Messverfahren erhalten werden, die Forderung von: 0 ≤ |1 – (Sb/Sa)1/2| ≤ 0,1 αerfüllen. Oder es wird zufrieden stellend sein, dass A1, und A2, die durch das zweite optische Messverfahren erhalten werden, die Forderung von: 0 ≤ |1 – (A2/A1)1/2| ≤ 0,1 αerfüllen.
  • Hinzuzufügen ist, obwohl die erste Informationsschicht 2 aus vier Lagen gemäß 2 oder fünf Lagen gemäß 5 in den Medien der oben beschriebenen Ausführungsarten konfiguriert ist, kann auch eine mehrschichtige Konfiguration mit einer Zwischenlage zwischen jedem benachbarten Paar dieser Lagen genutzt werden, wenn sie so zu strukturieren ist, um die oben angegebenen Bedingungen, die das Durchlassverhältnis und /oder den mittleren Durchlassgrad betreffen, zu erfüllen. Ebenso können beliebige Konfigurationen genutzt werden, die etwas anders sind als die in 2 und 5 dargestellten, die keine reflektierende Schicht aufweisen. Auch die Materialien der einzelnen Schichten sind nicht auf die in diesen Ausführungsarten genutzten beschränkt.
  • Während jede optische Speicherplatte in den oben beschriebenen Ausführungsarten zwei Informationsschichten aufweist, ist es auch akzeptabel, dass jede Platte drei oder mehrere Informationsschichten gemäß 8 aufweist und eine Informationsschicht besitzt, die näher positioniert ist als die am weitesten entfernte Informationsschicht bei Be trachtung von der Auftreffseite des Laserstrahls, um die oben angegebene Forderung hinsichtlich des Durchlassverhältnisses zu erfüllen.
  • Dieser synthetisierte Durchlassgrad ist das Produkt der Durchlassgrade der Informationsschichten. Dort existiert in Abhängigkeit von der Kombination des aufgezeichneten und des nicht aufgezeichneten Zustandes unterschiedlicher Schichten ein Zustand, bei dem sich der synthetisierte Durchlassgrad auf seinem Minimum befindet (dieser Durchlassgrad wird durch Tmin dargestellt), und ein Zustand, bei dem er sich auf seinem Maximum befindet (dieser Durchlassgrad wird durch Tmax dargestellt). Ähnlich dem Fall, bei dem zwei Informationsschichten vorhanden sind, kann die Konfiguration, um die Veränderung der Intensität des Laserstrahls zu reduzieren, der eine beliebige Informationsschicht erreicht, die weiter entfernt ist als diese Vielzahl von Informationsschichten: 0 ≤ |Tc – Tmin|/Tc ≤ 0,1 und 0 ≤ |Tc – Tmax|/Tc ≤ 0,1sein, wobei T der synthetisierte Durchlassgrad ist, wenn sich jede der Vielzahl von Informationsschichten in einem nicht aufgezeichneten Zustand befindet.
  • In diesem Fall sollte das S/N-Verhältnis des Reproduktionsschaltkreises verbessert werden, um eine entsprechende Signalqualität zu gewährleisten, da alle näher positionierten Informationsschichten nicht zwangsläufig einen mittleren Durchlassgrad von 40% oder mehr sichern können.
  • Des Weiteren kann das zu detektierende Medium in dem oben beschriebenen optischen Messverfahren drei oder mehrere Informationsschichten aufweisen. In einem solchen Fall kann eine maximale Änderung des Durchlassgrades für die nähere Vielzahl der Informationsschichten detektiert werden, indem die entsprechenden Reflexionsgrößen von Fall (a) und Fall (b) erfasst werden. Hier bedeutet der Fall (a), dass der synthetisierte Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten, die näher positioniert sind als die am weitesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls, minimal ist. Der Fall (b) bedeutet, dass der synthetisierte Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten, die näher als die am weitesten entfernte Informationsschicht von der Auftreffseite des Laserstrahls positioniert sind, maximal ist.
  • Außerdem wird in dem oben beschriebenen optischen Messverfahren das Durchlassverhältnis beim Schritt 4 auf der Basis des gemessenen Sa (oder A1, A1') und Sb (oder A2, A2' berechnet. Stattdessen kann durch Detektieren der Änderung dieser gemessenen Werte die Güte der Änderung des Durchlassgrades der näher positionierten Informationsschicht leicht erreicht werden, ohne dass Verhältnis des Übertragungsfaktors zu messen.
  • Zum Beispiel ist als Parameter, die die Änderung der Signale darstellen, (Sa – Sb)/Sa oder (A1 – A2)/A1 oder (A'1 – A'2)/A'1 definiert. Durch Erreichung dieser Parameter kann die Größe der Wirkung, die durch die nähere Informationsschicht gegenüber der Qualität des reproduzierten Signals der am wertesten entfernten Informationsschicht bewirkt wird, abgeschätzt werden, ohne das Durchlassverhältnis (Ta – Tc)/Tc zu bekommen. Anschließend kann die Güte der Änderung des Durchlassgrades der näheren Informationsschicht leicht beurteilt werden.
  • Inzwischen ändern sich wegen der Unebenheit der Reflexionsgrade usw. der Platte bei der praktischen Messbedingung Sa (oder A1, A'1) und Sb (oder A2, A'2), wobei jedoch die Änderung des Durchlassgrades der näheren Informationsschicht weitgehend das Andern der Parameter beeinflusst.
  • Deshalb gibt es kein Problem bei einer Beurteilung der Güte der Änderung des Durchlassgrades der näheren Informationsschicht, auch wenn die oben genannten Parameter durch lokales Aufzeichnen von Signalen auf der näheren Informationsschicht, durch Messen der Änderung der Größe des reflektierten Strahls von der am wertesten entfernten Informationsschicht über die nähere Informationsschicht und durch Detektieren des maximalen Wertes als Sa und minimalen Wertes als Sb erreicht werden. Was die Modulationsamplitude A1, A'1, A2, A'2 betrifft, gibt es ebenfalls kein Problem.
  • Des Weiteren sind Modulationssystem und nutzbare Aufzeichnungsdichte in den oben beschriebenen Ausführungsarten nicht auf die oben beschriebenen beschränkt sondern es versteht sich von selbst, dass sie in beliebigen passenden Formen für das Medium selbst oder die Aufzeichnungs-/Reproduktionsvorrichtung sein können.
  • Wie soweit beschrieben ist, kann das optische Aufzeichnungsmedium eine genügende Intensität des Laserstrahls bewirken, um die Informationsschicht weiter innen zu erreichen und kann auf die weiter entfernte Informationsschicht genau aufzeichnen und davon reproduzieren, unabhängig davon, ob irgendwelche Informationen auf der näheren Informationsschicht aufgezeichnet sind oder nicht.
  • Außerdem kann das optische Messverfahren nach der vorliegenden Erfindung leicht die Änderung des Durchlassgrades der näheren Informationsschicht bei solchen Bedingungen von beschrieben oder nicht beschrieben detektieren.

Claims (7)

  1. Optisches Messverfahren zum Bestimmen einer Änderung des Durchlassgrades in einer ersten Informationsschicht (2) eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums mit zwei Informationsschichten (2, 3), wobei die erste Informationsschicht (2) eine Aufzeichnungsschicht aufweist, die zwischen einem unbeschriebenen Zustand und einem beschriebenen Zustand wechselt, die erste Informationsschicht (2) näher zu der Auftreffseite des Laserstrahls (8) positioniert ist als die zweite Informationsschicht (3), und der Laserstrahl (8) zuerst durch die erste Informationsschicht (2) durchgelassen wird, dann von der zweiten Informationsschicht (3) reflektiert wird und wieder durch die erste Informationsschicht (2) durchgelassen wird, so dass er aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt und von einem Fotodetektor empfangen wird, gekennzeichnet durch einen Schritt des Messens der Modulationsamplitude des Laserstrahls (8) mit dem Fotodetektor, wenn sich der Bereich, in der in der ersten Informationsschicht (2) enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, in einem unbeschriebenen Zustand befindet, wobei der Laserstrahl durch Informationssignale moduliert wird, die auf der zweiten Informationsschicht (3) aufgezeichnet sind, einen Schritt des Messens der Modulationsamplitude des Laserstrahls (8) mit dem Fotodetektor, wenn sich der Bereich in der in der ersten Informationsschicht (2) enthaltenen Aufzeichnungsschicht, der den Laserstrahl durchlässt, teilweise oder ganz in einem beschriebenen Zustand befindet, wobei der Laserstrahl durch die Informationssignale moduliert wird, die auf der zweiten Informationsschicht (3) aufgezeichnet sind, dadurch, dass während des Schrittes des Messens, wenn sich die erste Informationsschicht entweder in einem unbeschriebenen Zustand oder einem beschriebe nen Zustand befindet, der Laserstrahl auf die zweite Informationsschicht fokussiert wird, und durch einen Schritt des Bestimmens einer Änderung des Durchlassgrades der ersten Informationsschicht (2) gemäß
    Figure 00490001
    Ta und Tc den Durchlassgrad der ersten Informationsschicht (2) darstellen, wenn sich die Aufzeichnungsschicht in einem beschriebenen Zustand bzw. in einem unbeschriebenen Zustand befindet, A1 und A2 die Modulationsamplitude des Laserstrahls (8) darstellen, wenn sich der Bereich in der Aufzeichnungsschicht der ersten Informationsschicht (2), der den Laserstrahl durchlässt, in einem unbeschriebenen Zustand bzw. in einem beschriebenen Zustand befindet, und α das Verhältnis der Fläche von Aufzeichnungszeichen zu der gesamten Querschnittsfläche des Laserstrahls (8) in dem Querschnitt des Laserstrahls auf der ersten Informationsschicht (2) darstellt, wenn der Laserstrahl auf die zweite Informationsschicht (3) fokussiert wird.
  2. Optisches Messverfahren zum Bestimmen einer Änderung des Durchlassgrades in einer Vielzahl von Informationsschichten (2) eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums, das drei oder mehr Informationsschichten (2, 3) aufweist, wobei die Vielzahl von Informationsschichten (2) Aufzeichnungsschichten aufweisen, die jeweils zwischen einem unbeschriebenen Zustand und einem beschriebenen Zustand wechseln, und ein synthetisierter Durchlassgrad der Vielzahl von Informationsschichten (2) durch eine Kombination unbeschriebener und beschriebener Zustände jeweiliger Aufzeichnungsschichten bestimmt wird, die Vielzahl von Informationsschichten (2) näher zu der Auftreffseite des Laserstrahls (8) positioniert ist als eine vorgegebene Informationsschicht (3), der Laserstrahl (8) zuerst durch die Vielzahl von Informationsschichten (2) durchgelassen wird, dann durch die vorgegebene Informationsschicht (3) reflektiert wird, wieder durch die Vielzahl von Informationsschichten (2) durchgelassen wird, so dass er aus dem optischen Informationsaufzeichnungsmedium austritt und von einem Fotodetektor empfangen wird, gekennzeichnet durch einen Schritt des Messens einer Modulationsamplitude des Laserstrahls (8) mit dem Fotodetektor, wenn der synthetisierte Durchlässigkeitsgrad der Vielzahl von Informationsschichten (2) minimal ist, wobei der Laserstrahl durch die Informationssignale moduliert wird, die auf der vorgegebenen Informationsschicht (3) aufgezeichnet sind, die sich weiter innen befindet als die Vielzahl von Informationsschichten, einen Schritt des Messens einer Modulationsamplitude des Laserstrahls (8) mit dem Fotodetektor, wenn der synthetisierte Durchlässigkeitsgrad der Vielzahl von Informationsschichten (2) maximal ist, wobei der Laserstrahl durch die auf der vorgegebenen Informationsschicht (3) aufgezeichneten Informationssignale moduliert wird, dadurch, dass während des Schrittes des Messens, wenn der synthetisierte Durchlässigkeitsgrad der Vielzahl von Informationsschichten (2) entweder minimal oder maximal ist, der Laserstrahl auf die vorgegebene Informationsschicht fokussiert wird, und durch einen Schritt des Bestimmens einer Änderung des Durchlässigkeitsgrades der Vielzahl von Informationsschichten (2) gemäß
    Figure 00500001
    Tmin und Tmax den minimalen synthetisierten Durchlässigkeitsgrad bzw. den maximalen synthetisierten Durchlässigkeitsrad der Vielzahl von Informationsschichten (2) darstellen, und A1 und A2 die Modulationsamplitude des Laserstrahls (8) darstellen, wenn der synthetisierte Durchlässigkeitsgrad der Vielzahl von Informationsschichten (2) minimal bzw. maximal ist.
  3. Optisches Messverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 2, wobei entweder der unbeschriebene Zustand oder der beschriebene Zustand ein kristalliner Zustand ist und der andere von dem unbeschriebenen Zustand und dem beschriebenen Zustand ein amorpher Zustand ist.
  4. Optisches Messverfahren nach einem der Ansprüche 1 und 3, wobei Informationssignale auf der zweiten Informationsschicht (3) aufgezeichnet werden, bevor die Informationsschicht (2) in einen beschriebenen Zustand versetzt wird.
  5. Optisches Messverfahren nach einem der Ansprüche 1, 3 und 4, wobei beliebige Informationssignale auf die erste und die zweite Informationsschicht aufgezeichnet werden.
  6. Optisches Messverfahren nach Anspruch 2, wobei Informationssignale auf die weiter entfernte Informationsschicht (3) aufgezeichnet werden, bevor Informationssignale auf die Vielzahl von Informationsschichten (2) aufgezeichnet werden.
  7. Optisches Messverfahren nach Anspruch 6, wobei beliebige Informationssignale auf die weiter entfernte Informationsschicht (3) und die Vielzahl von Informationsschichten (2) aufgezeichnet werden.
DE60222306T 2001-10-12 2002-10-10 Verfahren zum Bestimmen einer Änderung des Durchlassgrades eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums Expired - Lifetime DE60222306T2 (de)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001314827 2001-10-12
JP2001314827 2001-10-12
JP2002067695 2002-03-12
JP2002067695 2002-03-12

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60222306D1 DE60222306D1 (de) 2007-10-18
DE60222306T2 true DE60222306T2 (de) 2008-01-03

Family

ID=26623863

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60222306T Expired - Lifetime DE60222306T2 (de) 2001-10-12 2002-10-10 Verfahren zum Bestimmen einer Änderung des Durchlassgrades eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums
DE60222072T Expired - Lifetime DE60222072T2 (de) 2001-10-12 2002-10-10 Optisches Aufzeichnungsmedium, Methode zu dessen Messung und Methode zur optischen Aufzeichnung/ zum optischen Abspielen von Information

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60222072T Expired - Lifetime DE60222072T2 (de) 2001-10-12 2002-10-10 Optisches Aufzeichnungsmedium, Methode zu dessen Messung und Methode zur optischen Aufzeichnung/ zum optischen Abspielen von Information

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6893698B2 (de)
EP (2) EP1302934B1 (de)
KR (1) KR100939850B1 (de)
DE (2) DE60222306T2 (de)
HK (1) HK1051594A1 (de)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4217214B2 (ja) * 2002-09-18 2009-01-28 パナソニック株式会社 光学情報記録媒体
CN1591626A (zh) * 2003-09-02 2005-03-09 皇家飞利浦电子股份有限公司 多层光盘及其制作方法
JP2005302261A (ja) * 2004-03-19 2005-10-27 Ricoh Co Ltd 光記録媒体
WO2006013978A1 (ja) * 2004-08-05 2006-02-09 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 光記録媒体、光記録媒体の情報記録／再生方法および情報記録／再生装置
TWI267846B (en) * 2004-11-25 2006-12-01 Ritek Corp Dual-layer recordable optical disc and manufacturing method thereof
JP4107290B2 (ja) * 2004-12-24 2008-06-25 ティアック株式会社 光ディスク装置
EP1714757B1 (de) * 2005-04-21 2008-09-10 Rohm and Haas Company Holzschutzmittel

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2002A (en) * 1841-03-12 Tor and planter for plowing
JPH11195243A (ja) * 1997-12-26 1999-07-21 Sony Corp 多層光ディスク及び記録再生装置
TW473712B (en) * 1998-05-12 2002-01-21 Koninkl Philips Electronics Nv Rewritable double layer optical information medium
EP0957477A3 (de) * 1998-05-15 2003-11-05 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optisches Aufzeichnungsmedium, Verfahren und Vorrichtung zur Informationsaufzeichnung und -wiedergabe dafür
JP2000235732A (ja) * 1999-02-12 2000-08-29 Sony Corp 多層光ディスク
JP4085503B2 (ja) * 1999-02-12 2008-05-14 ソニー株式会社 多層光ディスク
US7065035B1 (en) * 1999-10-25 2006-06-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical multilayer disk, multiwavelength light source, and optical system using them
JP4423518B2 (ja) 2000-01-25 2010-03-03 ノーリツ鋼機株式会社 ネットワークプレジャッジシステム
TW575873B (en) * 2000-07-13 2004-02-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Information recording medium, method for producing the same, and recording/reproducing method using the same
TWI233098B (en) * 2000-08-31 2005-05-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Data recoding medium, the manufacturing method thereof, and the record reproducing method thereof
JP2002230828A (ja) * 2001-01-31 2002-08-16 Pioneer Electronic Corp 情報記録媒体
EP1426939B1 (de) * 2001-09-12 2008-10-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optisches informationsaufzeichnungsmedium

Also Published As

Publication number Publication date
US20030134077A1 (en) 2003-07-17
EP1302934A3 (de) 2003-08-13
KR20030030982A (ko) 2003-04-18
DE60222072D1 (de) 2007-10-11
EP1513139B1 (de) 2007-09-05
DE60222072T2 (de) 2008-01-03
EP1302934A2 (de) 2003-04-16
EP1513139A1 (de) 2005-03-09
US6893698B2 (en) 2005-05-17
KR100939850B1 (ko) 2010-01-29
EP1302934B1 (de) 2007-08-29
DE60222306D1 (de) 2007-10-18
HK1051594A1 (en) 2003-08-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60030791T2 (de) Phasenwechselaufzeichnung mit Schicht zur Verbesserung der Kristallisation
DE60024972T2 (de) Wiederbeschreibbare cd und deren herstellungsverfahren
DE69723047T2 (de) Optisches informationsaufzeichnungsmedium, verfahren zu dessen herstellung, aufzeichnungsverfahren und aufzeichnungsvorrichtung
DE69835552T2 (de) Datenaufzeichnungsvorrichtung und Datenaufzeichnungsverfahren
DE60021968T2 (de) Optischer Informationsträger und Leseverfahren
DE69628499T2 (de) Datenaufzeichnungs-/-wiedergabeverfahren, Datenaufzeichnungs-/-wiedergabegerät und Verwendung eines Datenaufzeichnungsmedium
DE60125285T2 (de) Informationsaufzeichnungsmedium, Verfahren zu seiner Herstellung, und Aufzeichnungs- /-Wiedergabeverfahren dafür
DE19529621C2 (de) Optisches Aufzeichnungsmedium
DE69814761T2 (de) Aufzeichnungs- und Wiedergabeverfahren, die ein optisches Aufzeichnungsmedium verwenden
DE69233251T2 (de) Optisches Medium mit Mehrfachdatenoberfläche und Datenspeichersystem
DE4335799C2 (de) Verfahren zum optischen Abtasten einer Aufzeichnungsschicht und optisches Aufzeichnungsmedium
DE60300226T2 (de) Verfahren und Gerät zur optischen Datenaufzeichnung
DE69929739T2 (de) Optisches Informationsaufzeichnungsmedium
DE69022796T2 (de) Verfahren zur Herstellung von Matrizen für optische Platten und optische Platten.
DE3883174T2 (de) Optisches Informationsaufzeichnungsmedium.
DE602005003491T2 (de) Optisches Informationsaufzeichnungsmedium, Herstellungsverfahren, Aufzeichnungsverfahren und Aufzeichnungsvorrichtung dafür
DE3211273A1 (de) Optisches informationsspeichermedium
DE69023228T2 (de) Optisches Aufzeichnungsmedium.
DE68919455T2 (de) Optischer Aufzeichnungsträger und Antriebssystem.
DE60123859T2 (de) Mehrschichtige optische Platte und Verfahren zu deren Initialisierung
DE60013688T2 (de) Optisches Informationsaufzeichnungsmedium, Herstellungsverfahren dafür, und Verfahren und Vorrichtung zur Informationsaufzeichnung /-wiedergabe darauf
DE60211836T2 (de) Phasenwechselndes Auszeichnungselement für einmal beschreibbare Anwendungen
DE60020659T2 (de) Optisches Phasenwechselaufzeichnungsmedium mit Kristallkeimbildungsschicht
DE60222306T2 (de) Verfahren zum Bestimmen einer Änderung des Durchlassgrades eines optischen Informationsaufzeichnungsmediums
DE60206330T2 (de) Optisches Aufzeichnungsmedium sowie ein Aufzeichnungsverfahren wobei dieses Medium verwendet wird

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: PANASONIC CORP., KADOMA, OSAKA, JP