DE602004021469D1 - Vorrichtung zum lösbaren Verbinden eines Interfaces an einer Testeinrichtung - Google Patents

Vorrichtung zum lösbaren Verbinden eines Interfaces an einer Testeinrichtung

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DE602004021469D1
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test
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Peter Hirschmann
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Verigy Singapore Pte Ltd
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Verigy Singapore Pte Ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets

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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3875254B2 (ja) * 2005-05-30 2007-01-31 株式会社アドバンテスト 半導体試験装置及びインターフェースプレート
US7541819B2 (en) 2005-10-28 2009-06-02 Teradyne, Inc. Modularized device interface with grounding insert between two strips
US7504822B2 (en) 2005-10-28 2009-03-17 Teradyne, Inc. Automatic testing equipment instrument card and probe cabling system and apparatus
US7764079B1 (en) * 2007-01-31 2010-07-27 SemiProbe LLC Modular probe system
DE102015109022B4 (de) * 2015-06-08 2018-08-23 Infineon Technologies Ag Modulares Messgerät zum Testen von Prüflingen mittels Schnittstellenelementen
CN105388329A (zh) * 2015-11-17 2016-03-09 国网北京市电力公司 接线钳

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2674781B2 (ja) * 1988-05-23 1997-11-12 日本ヒューレット・パッカード株式会社 治具接続装置と接続手段
JPH04162740A (ja) * 1990-10-26 1992-06-08 Yokogawa Hewlett Packard Ltd 蓋状体の開閉機構
US5068601A (en) * 1991-02-11 1991-11-26 Credence Systems Corporation Dual function cam-ring system for DUT board parallel electrical inter-connection and prober/handler docking
JP3062268B2 (ja) * 1991-03-11 2000-07-10 アジレント・テクノロジー株式会社 テストヘッドにおけるｄｕｔボードの着脱機構
JP2550265Y2 (ja) * 1991-04-26 1997-10-08 横河電機株式会社 Ｌｓｉテスタ
DE69100204T2 (de) 1991-11-11 1994-01-13 Hewlett Packard Gmbh Einrichtung zur Erzeugung von Testsignalen.
JPH06148270A (ja) * 1992-11-04 1994-05-27 Hitachi Ltd テストボード着脱装置
DE4305442C2 (de) 1993-02-23 1999-08-05 Hewlett Packard Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Testvektors
US5923180A (en) * 1997-02-04 1999-07-13 Hewlett-Packard Company Compliant wafer prober docking adapter
US6166553A (en) * 1998-06-29 2000-12-26 Xandex, Inc. Prober-tester electrical interface for semiconductor test
DE69901220T2 (de) * 1999-08-23 2003-02-06 Agilent Technologies, Inc. (N.D.Ges.D.Staates Delaware) Modulare Schnittstelle zwischen Testeinrichtung und Anwendungseinrichtung
JP2003130919A (ja) * 2001-10-25 2003-05-08 Agilent Technologies Japan Ltd コネクションボックス及びｄｕｔボード評価システム及びその評価方法
US6747447B2 (en) * 2002-09-25 2004-06-08 Advantest Corporation Locking apparatus and loadboard assembly

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