-
Die
vorliegende Erfindung betrifft allgemein die Profilgebung eines
Werkstücks
mit strukturiertem Licht, und insbesondere ein Verfahren zur Bildbearbeitung,
um ein dreidimensionales Profil eines Werkstücks unter Verwendung einer
strukturierten Lichtquelle zu erhalten.
-
In
Anwendungen mit strukturiertem Licht, wie diese in der
US 5 999 840 beschrieben sind, wird
ein dreidimensionales Profil eines Werkstücks durch Verwendung einer
Laserquelle und mindestens einer Videokamera erhalten. Eine Laserquelle
emittiert einen Laserstrahl und teilt sich in Vielfache (einen oder mehrere)
Laserstreifen auf, die auf eine Oberfläche eines Werkstücks treffen.
Diese Streifen werden von einer oder mehreren Videokameras aus einem
Winkel betrachtet, der von dem Beleuchtungswinkel verschieden ist.
Typischerweise enthalten Anwendungen für die Profilgebung mit strukturiertem
Licht das Erhalten von Profilinformation der Gestalt des Werkstücks oder
die Erzeugung einer 3D-Konturkarte des Werkstücks.
-
Die
Beschränkungen
der Verwendung von Laserstreifen, um akkurate Profilinformation
zu erhalten, werden hauptsächlich
dem Sampling-Fehler oder Aufnahme-Fehler und dem Rauschen zugeordnet,
welches dem Laser zugeordnet ist, da das Zentrum eines Laserstreifens
nicht bildgebend an dem Zentrum des Pixel der Kamera dargestellt
werden kann, und nicht der detektierte Intensitätspeak sein kann. Der Sampling-Fehler
tritt auf, während
das Zentrum des Laserstreifens auf dem Bild lokalisiert wird. Es
gibt Bildbearbeitungstechniken, wie die maximale Intensität, das Intensitätszentrum,
das Gauß'sche Anpassen und
der Nulldurchgang, die versuchen die relevanten In formationen aus
dem Laserstreifen zu extrahieren. Das zugeordnete Problem mit verschiedenen
dieser Techniken ist, dass es den Ort des höchsten Peaks angibt, der nicht
das wahre Zentrum des Laserstreifens ist. Gegenwärtige Korrekturtechniken für diesen
Fehler enthalten die Nachbarschaftsmittelwertbildung über benachbarte
Pixel, und führen
eine gewichtete Mittelung durch oder verwenden Anpass-Verfahren,
aber diese Techniken versagen ebenfalls bei der adäquaten Adressierung des
Sampling-Fehlers.
-
Das
dem Laser zugehörige
Rauschen, hat in erster Linie die Form von Laserspeckles an, die
die Oszillation des Intensitätsprofils
für einen
Laser sind, wenn dieser von der Oberfläche des Werkstücks reflektiert
wird, und ist durch die Kohärenz
des Lasers bestimmt. Ein Weg um das Rauschen des Speckles oder Specklerauschen
zu verringern, geschieht durch Wahl eines geeigneten Betrachtungssystems. Durch Ändern der
Größe der Apertur,
verändert
sich die der Größe des Flecks,
durch Vergrößerung der Apertur,
wird die Größe des Flecks
verringert. In diesem Fall gibt es jedoch einen Kompromiss in der
Tiefenschärfe.
-
Deshalb
gibt es einen Bedarf an einer verbesserten Bildbearbeitungstechnik
für die
Reduzierung des Specklerauschens und ebenfalls des Samplings-Fehlers
bei Anwendungen mit strukturiertem Licht.
-
Kurz
gesagt, enthält
entsprechend Anspruch 1 gemäß einem
Aspekt der vorliegenden Erfindung ein Bildbearbeitungsverfahren
für die
Profilgebung mit strukturiertem Licht das die Aufnahme eines Bildes
eines strukturierten Lichtmusters enthält, das mindestens einen Laserstreifen
aufweist, um eine Intensitätsverteilung
zu erhalten. Eine Anzahl von Sätzen
von aufge nommenen Punkten wird dann aus der Intensitätsverteilung
ausgewählt,
worin jeder der jeweiligen Sätze
mehrere aufgenommene Punkte aufweist. Jeder der Sätze der
aufgenommenen Punkte wird an eine jeweilige Verteilungsfunktion
angepasst. Zum Schluss werden die Verteilungsfunktionen angepasst,
um eine jeweilige Verteilungsfunktion für die Intensitätsverteilung
auszuwählen.
-
Die
Erfindung verwendet eine Vorrichtung zum Erhalten eines dreidimensionalen
Profils eines Werkstückes
unter Verwendung eines strukturierten Lichtmusters, das eine Quelle
von strukturiertem Licht enthält,
die an einer vorherbestimmten Entfernung von dem Werkstück positioniert
ist, wobei die Quelle einen Strahl von strukturiertem Licht emittiert, um
das Werkstück
zu bestrahlen. Die Vorrichtung enthält mindestens eine Bildgebungs-Einrichtung, die
eingerichtet ist, um ein Bild eines strukturierten Lichtmusters
des Werkstücks
zu akquirieren, worin die mindesten eine Bildgebungs-Einrichtung
so positioniert, dass ein Betrachtungswinkel der Bildgebungs-Einrichtung
verschieden ist von dem Beleuchtungswinkel der Quelle ist. Ein Prozessor
ist mit der mindestens einen Bildgebungs-Einrichtung gekoppelt und
der Prozessor ist für
eine Vielfalt von Aufgaben eingerichtet, enthaltend: die Aufnahme
des Bildes eines strukturierten Lichtmusters, um eine Intensitätsverteilung
zu erhalten, das Auswählen
einer Anzahl von Sätzen
der aufgenommenen Punkte von der Intensitätsverteilung, worin jedes der
Sätze mindestens
drei aufgenommene Punkte enthält,
das Anpassen jedes der Sätze
der aufgenommenen Punkte in eine repräsentative Gaußverteilungsfunktion,
das Extrahieren eines Zentrums für
jede der Gaußverteilungsfunktionen,
das Anpassen der Gaußverteilungsfunktionen
durch die Verwendung der Zentren, um eine repräsentative Verteilungsfunktion
für die
Intensitätsverteilung
zu wählen,
und die Rekonstruktion einer dreidimensionalen Profils des Werkstücks unter
Verwendung der repräsentativen
Verteilungsfunktion.
-
Diese
und andere Merkmale, Aspekte und Vorteile der vorliegenden Erfindung
werden besser verstanden, wenn die nachfolgende genauere Beschreibung
in Bezug auf die nachfolgenden Zeichnung gelesen wird, in der in
der gesamten Zeichnung gleiche Bezugszeichen gleiche Teile betreffen,
worin:
-
1 eine
Vorrichtung darstellt, zum Erhalten eines dreidimensionalen Profils
eines Werkstückes
unter Verwendung einer strukturierten Lichtquelle;
-
2 einen
Satz von Graphen für
drei verschiedene Orientierungen einer gekrümmten Fläche darstellt, die durch zwei
Kameras betrachtet wird;
-
3 eine
graphische Darstellung einer Anzahl von aufgenommenen Punkten an
drei verschiedenen Orten einer Intensitätsverteilung ist;
-
4 eine
graphische Darstellung von aufgenommenen Intensitätsprofilen
an den in 3 dargestellten drei Orten ist;
-
5 eine
graphische Darstellung eines aufgenommenen Intensitätsprofils
mit Specklerauschen und Aufnahmefehlern ist;
-
6 ein
Ablaufdiagramm ist, das einen Aspekt eines Bildbearbeitungsverfahrens
für die
Profilgebung mit strukturiertem Licht zur Verwendung in der Vorrichtung
gemäß 1 darstellt;
-
7 ein
Ablaufdiagramm zur Bestimmung der Position eines Laserstreifens
durch die Verwendung eines Zentrums der repräsentativen Verteilungsfunktion
gemäß einem
Aspekt der Bildbearbeitungstechnik darstellt; und
-
8 ein
Ablaufdiagramm zur Bestimmung der Position eines Laserstreifens
durch die Verwendung von Zentren der Verteilungsfunktionen gemäß einem
Aspekt des Bildbearbeitungsverfahrens darstellt.
-
1 stellt
eine Vorrichtung 10 zum Erhalten eines dreidimensionalen
Profils eines Werkstückes 16 unter
Verwendung eines strukturierten Lichtmusters 18 dar. Die
Vorrichtung enthält
eine Quelle 12 von strukturiertem Licht 14, die
an einer vorbestimmten Entfernung von dem Werkstück positioniert ist. Die Quelle 12 projiziert
einen Strahl von strukturiertem Licht 14, um das Werkstück 16 zu
bestrahlen oder zu beleuchten. In der dargestellten Ausführungsform
wird ein Laser als Quelle des strukturierten Lichts 14 verwendet.
Es können
jedoch ebenfalls andere Medien, wie weißes Licht verwendet werden. Mindestens
eine Bildgebungseinrichtung 20 ist eingerichtet, um ein
Bild 28 eines strukturierten Lichtmusters des Werkstückes 16 durch
die Betrachtung entlang der Richtung 22 zu akquirieren.
Die Bildgebungseinrichtung 20 ist so positioniert, dass
ein Betrachtungswinkel (α)
der Bildgebungseinrichtung 20 verschieden von einem Beleuchtungswinkel
(β) der Quelle 12 ist.
Ein Prozessor 26 ist durch 24 mit der Bildgebugnseinrichtung 20 verbunden,
und ist eingerichtet zur Rekonstruktion des dreidimensionalen Profils
des Werkstückes
unter Verwendung der nachstehend beschriebenen Verfahren.
-
Wie
für den
Fachmann klar sein würde,
bleibt das Intensitätsprofil
für eine
ebene Fläche
in dem Fall der Beleuchtung mit einem Gaußprofile durch die Quelle 12 und
unter jedem Betrachtungswinkel in der Bildgebungseinrichtung 20 für jeden
gekippten Winkel (θ)
der Fläche
des Werkstücks 16 eine
Gaußverteilung.
Für ein
derartige symmetrisches Intensitätsprofil
auf einer ebenen Fläche
wird von dem Fachmann angenommen, dass die Aufnahme des symmetrischen
Punktes und die Anwendung des Nulldurchgangs, der eine zweite Ableitung
des Profils ist, dazu führt,
dass das Zentrum zu der maximalen Intensität gehört.
-
Im
Fall eines komplexen Werkstücks
jedoch, bei dem die Fläche
nicht eben ist, ist das Intensitätsprofil
nicht länger
symmetrisch. In dem Fall einer gebogenen Fläche kann die Krümmung der
Fläche durch
einen Zylinder angenähert
werden, um die Intensitätsprofile
für eine
Gaußverteilung
zu analysieren. Es wurde herausgefunden, dass der Grad der Asymmetrie δ (die maximale
Entfernung zwischen zwei Punkten mit derselben Intensität zu dem
Punkt der maximalen Intensität)
klein ist, und folglich der Effekt auf das Bild auf Grund dessen
Asymmetrie klein ist. Deshalb kann das Intensitätsprofil nahe einer zylindrischen
Nachbarschaft in einer gebogenen Fläche ebenfalls als eine Gaußverteilung
angenommen werden. In diesem Fall, unter der Annnahme, dass der
Punkt der maximalen Intensität
aufgenommen wird, ist die Bild-Neigung oder Bild-Bias nach der Anwendung
des Nulldurchgangs ebenfalls klein, in der Größenordnung von 10–2.
Dies ist durch einen Satz von Graphen in 2 gezeigt,
für drei
verschiedene Orientierungen einer gekrümmten Fläche bei den Winkeln von –40 Grad,
0 Grad und 40 Grad, der durch zwei verschiedene Kameras betrachtet
wird, wobei die Betrachtung jeweils als eine linke Betrachtung und
eine rechte Betrachtung dargestellt ist. Ebenfalls in 2 ist VV → die
Betrachtungswinkeleinheit, die aus dem Betrach tungswinkel α bestimmt
ist. N → ist die Flächennormaleneinheit,
die durch den Kippwinkel θ der
Fläche
bestimmt ist, und B → ist der Vektoreinheit der Zentrumslinie des Strahls,
die durch einen Strahl-Divergenzwinkel β bestimmt ist. Der Grad der
Asymmetrie δ ist
in 2 für
die linke und die rechte Ansicht gezeigt jeweils für verschiedene
Kippwinkel der gekrümmten
Fläche
gezeigt.
-
Wenn
jedoch der Punkt der maximalen Intensität nicht aufgenommen ist, beispielsweise
es gibt einen Aufnahmefehler, liefert der Nulldurchgang keine genauen
Ergebnisse und führt
zu einer größeren Bild-Neigung,
wie dies durch den Satz der graphischen Darstellungen in 3 und 4 gezeigt
ist. 3 zeigt eine Anzahl von Aufnahmepunkten 43 bei
drei verschiedenen Orten 44, 46, 48 einer
Intensitätsverteilung 36. 4 stellt
die aufgenommen Intensitätsprofile 50, 52 und 54 jeweils
für die
Orte 44, 46 und 48 dar. Diese Profile 52 und 54 (wie
aus 4 deutlich ist) sind auf Grund des Aufnahmefehlers nicht
eine wahre Darstellung des Intensitätsprofils 36. Darüber hinaus
führt das
Speckle zu einem verstärkten
Bild-Neigungs-Fehler,
ebenso wie dies das Intensitätsprofil
veranlasst, sich zu verändern,
wie in 5 dargstellt ist. Deshalb, wenn es Fehlerrauschen
gibt, wird das Intensitätsprofil 36 von 4 als das
aufgenommene Intensitätsprofil 58 mit
dem Aufnahmefehler und hinzugefügtem
Specklerauschen 56 erscheinen.
-
Um
den Aufnahmefehler und das Specklerauschen zu verringern, wird ein
Bildgebungs-Bearbeitungsverfahren geschaffen. 6 stellt
einen Aspekt eines Bildbearbeitungs-Verfahrens für die Profilgebung mit strukturiertem
Licht für
die Verwendung in der Vorrichtung 10 von 1 dar.
Das Verfahren enthält
die Akquirierung des Bildes des strukturierten Lichtmusters eines
Werkstücks.
Das strukturierte Lichtmuster enthält mindestens einen Laserstreifen und
die Intensitätsverteilung
ist ein Intensitätsprofil über einen
der Laserstreifen. Nachfolgend Bezug nehmend auf 6 beginnt
das Verfahren bei Schritt 60 mit einem Bild 28,
das aufgenommen wird, um eine Intensitätsverteilung des strukturierten
Lichtmusters in Schritt 62 zu erhalten. Als nächstes wird
in Schritt 64 eine Anzahl von Sätzen der aufgenommenen Punkte
aus der Intensitätsverteilung
aufgenommen, worin jedes der jeweiligen Sätze eine Anzahl der aufgenommenen
Punkte enthält.
In einem Beispiel enthält
jeder der Sätze
der aufgenommenen Punkte mindestens drei aufgenommene Punkte. In Schritt 66 wird
jeder der Sätze
der aufgenommenen Punkte an eine jeweilige Verteilungsfunktion angepasst.
In einem Beispiel ist jede der Verteilungsfunktionen eine Gauß-Funktion.
Es wurde herausgefunden, dass das Anpassen des Intensitätsprofils
für eine
gebogene Fläche
mit einer Gauß-Verteilung zu verringerten
Aufnahmefehlern führt.
In Schritt 68 werden die Verteilungsfunktionen angepasst,
um eine repräsentative
Verteilungsfunktion mit reduziertem Effekt des Specklerauschens
für die
Intensitätsverteilung
auszuwählen.
Das Verfahren wird mit Schritt 69 mit einer Ausgabe der
repräsentativen
Verteilungsfunktion beendet, die weiter bearbeitet wird, um das dreidimensionale
Profil des Werkstücks
zu rekonstruieren.
-
7 stellt
zusätzliche
Aspekte des Bildbearbeitungs-Verfahrens
dar. Für
diese Ausführungsform
enthält
das Bildbearbeitungs-Verfahren ebenfalls die Extraktion eines Zentrums
der repräsentativen
Verteilungsfunktion, die in Schritt 72 in 7 gezeigt
sind. Die Eingabe 70 in den Prozess, die in 7 dargstellt
ist, ist die repräsentative
Verteilungsfunktion, und die Ausgabe 74 ist das Zentrum
der repräsenta tiven
Verteilungsfunktion, die die Position des Laserstreifens auf dem
komplexen Werkstück darstellt.
Das Zentrum der repräsentativen
Verteilungsfunktion kann extrahiert werden, beispielsweise unter
Verwendung des Nulldurchganges. Das beispielhafte Anpass-Verfahren
passt gemäß einem
Aspekt der vorliegenden Technik Sätze von drei aufgenommenen
Punkten an die repräsentative
Verteilungsfunktion an, wie dies vorstehend erwähnt ist. Wie einem Fachmann
akzeptiert würde,
können ebenfalls
mehr als drei aufgenommene Punkte verwendet werden.
-
8 stellt
eine andere Ausführungsform des
Bildbearbeitungs-Verfahrens dar. Für diese Ausführungsform
wird ein Zentrum für
jede der Verteilungsfunktionen extrahiert, wie dies in Schritt 82 von 8 gezeigt
ist. Die Zentren können
unter Verwendung des Nulldurchgangs extrahiert werden. Die Eingabe 80 in
diesen Prozess werden die Verteilungsfunktionen sein, die in Schritt 66 von 6 erzeugt wurden.
Der Schritt des Filterns enthält
die Verwendung dieser Zentren in dem nachfolgenden Schritt 84.
Beispielsweise können
vielfache Zentren unter Verwendung verschiedener Sätze von
drei Punkten von dem Intensitätsprofil
berechnet werden. Wenn die vielfachen Zentren nahe beieinander liegen,
kann der Mittelwert oder Median als ein Anpass-Zentrum der Gauß-Verteilung
verwendet werden. Insbesondere enthält für dieses Ausführungsbeispiels
der Schritt des Filterns, die Auswahl des Median der Zentren, und
die repräsentative
Verteilungsfunktion gehört
zu dem Median der Zentren. Ein Histogramm kann verwendet werden,
um den Median zu bestimmen. Alternativ können die Zentren gespeichert
werden, um den Median zu bestimmen. Wie dem Fachmann klar sein wird,
wählen
diese Anpass-Techniken das repräsentative
Zentrum für
die Verteilungsfunktionen aus, das in der Position des Zentrums
des Lasersteifens auf dem komplexen Werkstück dargestellt ist.
-
Im
Falle dass es einen Fleck gibt, der als ein Ausreißer in dem
Intensitätsprofil
beobachtet werden kann, kann das dazugehörige Zentrum unter Verwendung
des Ausreißers
leicht verworfen werden, und das Specklerauschen kann adressiert
werden. Dies ist in 8 angezeigt, in der Schritt 84 des
Filterns die Verwerfung einer Anzahl von Verteilungsfunktionen enthält, die
die Ausreißer
einbeziehen. Ein Beispiel für
das Filtern wird in Bezug auf 5 diskutiert. Wie
in 5 gezeigt ist, ist ein Speckle in dem Aufnahmepunkt
4 (insgesamt neun Punkte) hinzugefügt, und die berechneten sieben
Zentren sind: 0, –6.06, 0.16, –0.32, 0,
0, 0. Für
dieses Filter-Beispiel ist eine nächste Gruppe unter den berechneten
Zentren ausgewählt,
und die Null ist ausgewählt.
Die statistischen Analyseverfahren können weiter Histrogramme verwenden,
um das Specklerauschen unter Verwendung des Median abzutasten oder
zu screenen. Glücklicherweise
verlangt dieses Anpassen nur drei Probepunkte zur gleichen Zeit,
um die vielfachen Werte für
die Zentren zu berechnen, die zur Filterung ohne eine Rechengeschwindigkeit
aufzuweisen verwendet werden können.
-
Wie
vorstehend bemerkt wurde, beschreiben die Ablaufdiagramme, die in 6, 7 und 8 dargestellt
sind, die Aspekte des vorstehend diskutierten Verfahrens. Die vorstehenden
Ablaufdiagramme zeigen ebenfalls die Funktionalität und die
Bedienung des Verfahrens und der Vorrichtung zur Rekonstruktion
eines dreidimensionalen Profils eines Werkstückes. Darauf bezogen stellt
jeder Block/Komponente ein Modul, Segment oder Teil des Codes oder Programmcodes
dar, der eine oder mehr ausführbare Anweisungen
zur Implementierung der spezifischen logischen Funktionen aufweist.
Es sollte ebenfall bemerkt werden, dass in einigen alternativen
Implemen tierurigen die Funktionen, die in den Blöcken notiert sind, außerhalb
der Reihenfolge, in der diese in den Blöcken aufgeschrieben sind, auftreten
können, beispielsweise
können
diese in der Tat im Wesentlichen gleichzeitig oder in umgekehrter
Reihenfolge ausgeführt
werden, abhängig
von der betreffenden Funktionalität. Der Fachmann wird ebenfalls
feststellen, dass zusätzliche
Blöcke
hinzugefügt
werden können.
Darüber
hinaus können
die Funktionen implementiert werden in Programmiersprechen, wie
beispielsweise C++ oder JAVA; es können jedoch
auch andere Sprachen verwendet werden.
-
Die
verschiedenen Ausführungsformen
und Aspekte der Erfindung, die vorstehend beschrieben wurden, enthalten
eine geordnete Auflistung der ausführbaren Anweisungen für die Implementierung
logischer Funktionen. Die geordnete Auflistung kann in jedem computerlesbaren
Medium zur Verwendung durch oder in Verbindung mit einem auf einem
Rechner basierenden System eingefügt sein, das die Anweisungen
ausführen
kann und diese ausführen kann.
In dem Zusammenhang mit dieser Anwendung kann das vom Rechner lesbare
Medium jede Einrichtung sein, die die Instruktionen enthalten, speichern, kommunizieren,
verteilen, übertragen
oder transportieren kann. Das vom Rechner lesbaren Medium können ein
elektronisches, magnetisches oder optisches, ein elektromagnetisches
oder ein infrarotes System, eine Einrichtung oder Vorrichtung sein.
Eine darstellende, aber nicht abgeschlossene Liste der vom Rechner
ausführbaren
Medien kann eine elektrische Verbindung (elektronisch) sein, die
eine oder mehrer Leitungen aufweist, eine transportierbare Computerdiskette
(magnetisch), ein RAM (random access memory: RAM) (magnetisch),
eine Lesespeicher (read only memory: ROM) (magnetisch), eine optische
Faser (optisch) und eine transportable CDROM (compact disc read
only memory: CDROM) (optisch) sein.
-
Es
sollte bemerkt werden, dass das vom Rechner lesbare Medium auch
Papier aufweisen kann oder ein anderes geeignetes Medium, auf dem Anweisungen
ausgedruckt sein können.
Beispielsweise können
die Anweisungen elektronisch über
ein optisches Scannen von Papier oder einem anderen Medium aufgenommen
sein, dann kompiliert, interpretiert oder auf andere Art und Weise
in einer geeigneten Art bearbeitet sein, wenn dies notwendig ist, und
dann auf einem Speicher eines Rechners gespeichert werden.
-
Die
verschiedenen Aspekte der Technik, die hierin beschrieben wurden,
finden Einsatz in der Industrie, ebenso wie in der medizinischen
Umgebung. Die Verfahren können
zur kontaktlosen Messung von komplexen Werkstücken verwendet werden, beispielsweise
Flugzeug-Teilen zur Inspektion oder Begutachtung, in einem Extrusionsprozess
in der Stahlindustrie und in einer anderen Umgebung bei einer Herstellung
oder Fabrikation, in der Hochtemperaturprozesse eingesetzt werden,
in denen eine Kontaktmessung der Werkstücke schwierig ist. Diese Verfahren
sind ebenfalls h in dem medizinischen Bereich der Operationsplanung
nützlich,
wo diese bei der Profilgebung verschiedener Teile des menschlichen Körpers verwendet
werden können,
um eine genaue Operation zu gewährleisten.
-
Der
Vollständigkeit
halber sind verschiedene Aspekte der Erfindung in den nachfolgenden
nummerierten Fällen
aufgelistet. Der Umfang der gesamten Erfindung ist jedoch in den
nachfolgenden Ansprüchen
definiert.
- 1. Ein Bildbearbeitungsverfahren
für die
Profilgebung mit strukturiertem Licht, wobei das Verfahren aufweist:
Aufnehmen
eines Bildes (28) eines strukturierten Lichtmusters (18),
um eine Intensitätsverteilung (36)
zu erhalten,
Auswählen
von mehreren Sätzen
von aufgenommenen Punkten (43) aus der Intensitätsverteilung, worin
jeder der jeweiligen Sätze
mehrere aufgenommene Punkte aufweist;
Anpassen jedes der Sätze der
aufgenommenen Punkte an eine jeweilige Verteilungsfunktion; und
Filtern
der Verteilungsfunktionen, um eine jeweilige Verteilungsfunktion
für die
Intensitätsverteilung auszuwählen.
- 2. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 1, weist ferner das
Extrahieren eines Mittelpunktes der jeweiligen Verteilungsfunktion.
- 3. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 2, worin das Extrahieren
des Mittelpunktes die Verwendung des Nulldurchgangs aufweist.
- 4. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 1, worin jeder der Sätze der
aufgenommenen Punkte mindestens drei aufgenommene Punkte aufweist.
- 5. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 1, worin jede der Verteilungsfunktionen
eine Gauß-Verteilung
aufweist.
- 6. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 1 weist ferner das Extrahieren
eines jeweiligen Zentrums für
jede der Verteilungsfunktionen auf, worin das Filtern die Verwendung
der Zentren enthält.
- 7. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 6, worin das Extrahieren
die Verwendung des Nulldurchgangs aufweist.
- 8. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 6, worin das Filtern
das Verwerfen von mehreren Ausreißern enthält.
- 9. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 6, worin das Filtern
die Auswahl eines Medians des Zentrums enthält, worin die repräsentative
Verteilungsfunktion zu dem Median gehört.
- 10. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 9, worin das Filtern
ferner ein Histogramm enthält, um
den Median zu bestimmen.
- 11. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 9, worin das Filtern
ferner die Sortierung der Zentren enthält, um den Median zu bestimmen.
- 12. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 1, worin das strukturierte
Lichtmuster mindestens einen Laserstreifen aufweist, und worin die
Intensitätsverteilung
ein Intensitätsprofil über einen
der Laserstreifen ist.
- 13. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 1 weist ferner die Akquirierung
des Bildes des strukturierten Lichtmusters eines Werkstückes (16) auf.
- 14. Das Bildbearbeitungsverfahren gemäß Fall 13 weist ferner die
Rekonstruktion eines dreidimensionalen Profils des Werkstückes oder
Bauteils unter Verwendung der repräsentativen Verteilungsfunktion
auf.