DE60128550T2 - Verfahren und gerät zur automatischen pin-detektion in instrumenten zur erzeugung von mikroarrays - Google Patents

Verfahren und gerät zur automatischen pin-detektion in instrumenten zur erzeugung von mikroarrays Download PDF

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Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen Mikroarray-Spottinginstrumente und insbesondere ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Detektieren des Vorhandenseins von Nadeln an bestimmten Stellen in einem Druckkopf eines solchen Instruments.
  • Beschreibung des Standes der Technik
  • Wie wohl bekannt ist (und z.B. in dem US-Patent Nr. 5.807.522, ausgestellt an Brown u.a., und in „DNA Microarrays: A Practical Approach", Schena, Mark, New York, Oxford University Press, 1999, ISBN 0-19-963776-8 beschrieben wurde), sind Mikroarrays Felder mit sehr kleinen Proben gereinigter DNA oder mit Protein-Zielmaterial, die als ein Raster von hunderten oder tausenden kleiner Probenpunkte (Spots) auf einem festen Träger angeordnet sind. Wenn das Mikroarray einem ausgewählten Sondenmaterial ausgesetzt wird, bindet das Sondenmaterial, durch einen Prozess, der Hybridisierung genannt wird, selektiv nur dort an die Zielspots, wo komplementäre Bindungsstellen auftreten. Anschließend kann ein quantitatives Scannen in einem Mikroarray-Fluoreszenzscanner verwendet werden, um eine Bildpunktabbildung von Fluoreszenz-Intensitäten zu erzeugen (siehe z.B. das US-Patent NR-5,895,915, ausgestellt an DeWeerd u.a.). Diese Fluoreszenz-Intensitätsabbildungen können dann mittels Quantisierungsalgorithmen für den jeweiligen Zweck analysiert werden, welche die relativen Konzentrationen der fluoreszenten Sonde aufzeigen, und damit das Niveau einer Genexpression, einer Proteinkonzentration, etc., die in den Zellen vorhanden ist, von welchen die Sondenproben entnommen wurden.
  • Das Mikroarray-Trägermaterial ist im Allgemeinen aus Glas erzeugt, welches chemisch behandelt wurde, um für ein molekulares Anhaften der Proben-Spots eines Mikroarray-Zielmaterials zu sorgen. Das Mikroarray-Trägermaterial weist im Allgemeinen dieselbe Größe und Form auf, wie ein üblicher Objektträger, etwa 25mm × 75mm × 1mm Dicke. Der Feldbereich kann sich bis etwa 1,5mm zu den Trägerkanten hin erstrecken, oder er kann kleiner sein. Die Spots des Zielmaterials (typischerweise DNA) sind annähernd rund. In Abhängigkeit der verwendeten Verteilungs- oder Spottingtechnik, variiert Der Spotdurchmesser üblicherweise von etwa 75μm bis etwa 500μm. Der Abstand von Mittelpunkt zu Mittelpunkt zwischen Spots fällt üblicherweise in den Bereich von 1,5 bis 2,5 Spotdurchmesser.
  • 1A, die nicht maßstäblich gezeichnet ist, ist eine Draufsicht eines Mikroarrays 100 des Standes der Technik. In dieser Zeichnung repräsentiert jeder der Kreise einen winzigen Spot Zielmaterial, welches auf einem rechteckigen Glasträger 101 abgelagert worden ist. Die Spots sind im Bezug auf den Träger 101 vergrößert dargestellt. Aus Gründen der Zweckmäßigkeit der Darstellung sind nur ein paar Spots (ein Feld sechs mal sechs) dargestellt, die einen kleinen Bereich des Trägers bedecken. In einem typischen Mikroarray sind jedoch üblicherweise tausende von Spots abgelagert, und die Spots können fast den ganzen Träger bedecken.
  • Es gibt einige wohlbekannte Verfahren zum Ablagern der Spots auf dem Träger eines Mikroarrays, und Instrumente, welche die Spots ablagern, werden typischerweise als „Spottinginstrumente" bezeichnet. Ein solches Instrument arbeitete ähnlich einem Tintenstrahldrucker, wobei ein paar Mikroliter der Probe mittels Vakuum aus einem Probenbehälter in eine hohle Röhre oder Nadel angesaugt werden. Dann werden ein oder mehrere Tröpfchen der Probe von einer Düse am Ende der Röhre auf den Träger abgegeben, um einen Spot zu bilden.
  • Andere Spottinginstrumente verwenden Nadeln als Spot-Abgabeeinheiten. Dieses Spottingverfahren beinhaltet im Allgemeinen (1) das Eintauchen einer Nadel in die flüssige Probe in einem Probenbehälter, wobei eine gewisse Menge durch Kapillarwirkung oder Oberflächenspannung aufgenommen wird, (2) das Bewegen der Nadel zu einer vorbestimmten Stelle oberhalb eines Mikroarray-Trägers (typischerweise unter Verwendung eines Roboterarms), und (3) senken der Nadel, bis ihre Spitze mit dem Träger in Kontakt kommt. Ein Teil des Probenmaterials wird entweder aufgrund der Trägheit oder der Oberflächenspannung auf den Träger übertragen, um einen Mikroarray-Spot zu erzeugen.
  • Nadeln sind in verschiedenen unterschiedlichen Formen kommerziell verfügbar. Die einfachsten Nadeln sind voll. 1B zeigt ein Beispiel solch einer vollen Nadel 102 des Standes der Technik, welche einen Nadelkopf 104 und einen Schaft 106 enthält. Sowohl der Nadelkopf 104, als auch der Schaft 106 sind im Allgemeinen zylindrisch und koaxial angeordnet. Der Durchmesser des Schafts 106, der etwa 1mm beträgt, ist geringer als der Durchmesser des Druckkopfes 104. Ein Ende oder die Spitze 107 des Schafts 106 ist abgeschrägt oder geschärft, und das andere Ende ist an den Druckkopf 104 angebracht oder mit diesem einteilig ausgebildet. Die Spitze enthält typischerweise eine kleine Abflachung, und die Fläche der Abflachung (zusammen mit der Oberflächenbeschaffenheit der Probenflüssigkeit und des Mikroarray-Trägers) bestimmen die Größe des Spots, den die Nadel ausbilden wird. Volle Nadeln sind einfach und robust, sie nehmen jedoch, wenn sie in das Zielmaterial in einer Kammer getaucht werden, typischerweise nur genug Material auf, um einen Spot zu bilden. Daher muss das Spottinginstrument die Nadel für jeden Mikroarray-Spot, der gedruckt werden soll, einmal eintauchen.
  • Andere Arten bekannter Nadeln können genug Zielmaterial von einem Probenbehälter enthalten um einige, möglicherweise sogar hunderte von Spots zu bilden, bevor sie wieder in den Behälter getaucht werden müssen. Ein solcher Nadeltyp (nicht gezeigt) ist aus einer hohlen zylindrischen Röhre ausgebildet, wobei ein axialer Schlitz in die Spitze geschnitten ist (siehe z.B. das US-Patent Nr. 5.770.151, ausgestellt an Roach u.a.). Diese Nadel zieht durch Kapillarwirkung Probenflüssigkeit in die Röhre und den Schlitz hoch, und lagert sie, aufgrund der Kapillarwirkung, bei Kontakt mit dem Mikroarray-Träger in kleinen Mengen auf dem Träger ab. Das Aufnahmevolumen der Nadel reicht aus, um durch aufeinanderfolgende Kontakte mit anderen Mikroarray-Trägern in der Charge, die gerade bearbeitet wird, duzende von Spots auszubilden.
  • Eine andere Art einer Mehrspot-Verteilungsnadel ist eine volle „zweiteilige" Nadel (nicht gezeigt), welche einen Spalt oder Schlitz an der Schaftspitze aufweist. Dies Nadelart zieht Fluid durch Kapillarwirkung in den Spalt oder Schlitz, und lagert es durch die Trägheit des Fluids in kleinen Mengen auf dem Träger ab, wenn die Nadel beim leichten Antippen auf den Träger schnell abgebremst wird. Wiederum ist die Menge, die verteilt wird, um einen Spot auszubilden, gering im Vergleich zum aufgenommenen Probenvolumen, sodass durch jedes Eintauchen der Nadel in die Probenflüssigkeit genug Probenmaterial aufgenommen wird, um duzende von Spots auszubilden.
  • Noch ein weiterer Typ von Mehrspot-Verteilungsnadeln, der zum Beispiel von TeleChem International, Inc. verfügbar ist, sieht ähnlich aus, wie die zweiteilige Nadel, arbeitet jedoch ein wenig unterschiedlich. Diese Nadeln sind voll, mit einer pyramidenartigen Abschrägung an der Spitze, die in einer kleinen, rechteckigen Abflachung endet. Quer über die Spitze ist ein kleiner Schlitz geschnitten, welcher einen Vorratsraum zum Halten der Probenflüssigkeit bietet. Die Nadelspitze wird dann zusammengedrückt oder leicht gebogen, um die zwei Abschnitte der geschlitzten Spitze näher zusammenzubringen. Bei der Verwendung werden diese geschlitzten Nadeln in eine Probenflüssigkeit getaucht, wobei eine geringe Menge (z.B. ein Bruchteil eines Mikroliters) der Probe durch Kapillarwirkung in den Schlitz aufgenommen wird. Die bestimmte Geometrie und das Material der Nadel bewirken auch, dass eine sehr kleine Menge der Flüssigkeit in dem Schlitz auf die zwei Abschnitte der gespalteten Nadelspitze aussickert. Dann wird die Nadel mit dem Mikroarray-Träger in Kontakt gebracht, wobei die Kapillarwirkung den Teil der Probe, der sich auf der Nadelspitze befindet, anzieht, und einen Spot ausbildet.
  • Ein weiterer Nadeltyp ist aus der PCT-Patentanmeldung WO 00/01798 bekannt, welche eine keramische Spitze und einen Druckkopf mit wahlfreiem Zugriff für den Transfer mikrofluidischer Fluidmengen offenbart. Der Druckkopf kann wahllos Fluidproben aufnehmen und ablagern, um die Proben von einer Quellenplatte zu einem Ziel zu übertragen. Der Druckkopf kann auch programmiert werden, um auf dem Ziel eine direkte Abbildung der Fluidproben von der Quellenplatte zu erzeugen, oder um irgendein gewünschtes Muster oder einen Druck auf dem Ziel zu erzeugen. An jeder Nadelstelle kann die Spitze für die Aufnahme oder Ablagerung angehoben oder gesenkt werden. Optional können ein oder mehrere optische Sensoren verwendet werden, um die Ausrichtung und die Positionierung der Spitzen im Bezug auf die Quelle und das Ziel zu überwachen. Die Spitze und der Druckkopf können für eine breite Vielfalt von Anwendungen verwendet werden, wie etwa zur Bildung von DNA-Mikroarrays und für das Reformatieren von Verbindungen. In einer Ausführungsform wird die Spitze als Kapillarnadel oder „Schwerkraftnadel" verwendet, um Quellenfluid anzuziehen oder aufzunehmen, und um das Fluid über physischen Kontakt (Auslösen) auf dem Ziel zu „spotten" oder abzulagern. In einer weiteren Ausführungsform wird die Spitze in Verbindung mit einem Ansaug-Verteilungssystem verwendet, um Quellenfluid aktiv anzusaugen, und um das Fluid über einen berührenden oder berührungsfreien Ansatz abzulagern.
  • Jede Nadelart muss mit sehr genauen Toleranzen gefertigt sein, um sicherzustellen, dass jeder von der Nadel gebildete Spot eine vorgegebene Größe aufweist. Aufgrund dieser anspruchsvollen Spezifikationen sind die Nadeln teuer (z.B. kostet eine einzelne Nadel typischerweise einige hundert Dollar). Auch sind, angesichts derartig kleiner und präzise geformter Nadelspitzen, die Nadeln sehr zerbrechlich. Daher können die Spitzen, um eine Beschädigung zu vermeiden, nur einer sehr kleinen Kraft ausgesetzt werden, wenn sie mit dem Träger oder einem anderen festen Objekt in Kontakt gebracht werden.
  • Spottinginstrumente bilden typischerweise Mikroarrays in Chargen aus. In einem einzelnen „Durchlauf" kann ein Spottinginstrument beispielsweise bis zu 100 identische Mikroarrays bilden. Nachdem genügend Spots ausgebildet wurden, um die Charge der zu spottenden Mikroarrays fertigzustellen, müssen die Nadeln im Allgemeinen gewaschen werden (um überschüssiges flüssiges Zielmaterial zu entfernen), und dann getrocknet werden, bevor sie in einen weiteren Behälter mit Zielmaterial getaucht werden. Somit beinhaltet das Verfahren zum Ausbilden von Mikroarrays mit einem Spottinginstrument vom „Nadeltyp" die folgenden Schritte: (1) Positionieren einer Nadel über einem Behälter mit Zielmaterial; (2) Eintauchen des spitzen Endes der Nadel in den Behälter; (3) Herausziehen des spitzen Endes der Nadel aus dem Behälter; (4) Bewegen der Nadel über eine ausgewählte Stelle innerhalb des aktiven Bereichs eines Mikroarrays; (5) Senken der Spitze, um das spitze Ende der Nadel in Kontakt mit dem Mikroarray-Träger zu bringen, um einen einzelnen Spot vorgegebener Größe an der ausgewählten Stelle zu bilden; (6) Anheben der Nadel, um das spitze Ende der Nadel von dem Träger zu lösen; (7) Wiederholen der Schritte (4), (5) und (6), bis der Nadelvorrat an Zielmaterial verbraucht ist, oder bis die gewünschte Anzahl an Spots auf der Charge der gerade erzeugten Mikroarrays angeordnet worden sind; (8) Waschen der Nadel, entweder indem die Nadel in einen Strom einer Reinigungslösung eingebracht wird, oder indem die Nadel in einen Behälter mit Reinigungslösung getaucht wird; und (9) Trocknen der Nadel. Das Spottinginstrument wiederholt alle diese Schritte viele Male, um ein einzelnes Mikroarray auszubilden.
  • Da Mikroarrays typischerweise tausende von Spots enthalten, währe es äußerst Zeitaufwändig, nur eine einzelne Nadel zu verwenden, um das Mikroarray zu bilden. Dementsprechend sind Spottinginstrumente typischerweise ausgebildet, um mehrere Nadeln simultan zu handhaben. 1C, 1D und 1E zeigen eine Seitenansicht, eine Draufsicht, bzw. eine Perspektivansicht eines vereinfachten Druckkopfs 110, der bis zu sechzehn Nadeln 102 gleichzeitig halten kann. Der Druckkopf 110 ist ein Block aus einem Material, typischerweise Metall, der ein Feld von sechzehn durchgehenden Löchern oder Öffnungen 112 enthält. Die Öffnungen 112 sind geringfügig größer als der äußere Durchmesser der Nadelschäfte 106, sodass die Schäfte sich durch die Öffnungen 112 hindurch erstrecken können. Die Öffnungen 112 sind auch kleiner als der äußere Durchmesser der Nadelköpfe 104, sodass der Druckkopf 104, wenn der Nadelschaft in eine der Öffnungen 112 abgesenkt wird, von der oberen Oberfläche des Druckkopfes 110 gestützt wird. Die Nadeln sind dabei in die Öffnungen des Druckkopfes „gleitend eingepasst". 1F und 1G zeigen eine Seitenansicht, bzw. eine Draufsicht des Druckkopfes mit sechzehn darin eingesetzten Nadeln.
  • 1H zeigt, wie der Druckkopf 110 gesenkt wird, um die Spitzen der Nadeln 102 in Kontakt mit dem Träger 101 zu bringen, und dabei gleichzeitig sechzehn Spots des Zielmaterials auf dem Träger zu bilden. Wie gezeigt ist, wird der Druckkopf im Allgemeinen um etwa 1 mm weiter gesenkt, als dies notwendig ist, um die Spitzen der Nadeln in Kontakt mit dem Träger 101 zu bringen. Die Gleitpassung erlaubt es, die obere Oberfläche des Druckkopfes unter die Unterseite der Nadelköpfe zu senken, ohne eine erhebliche Kraft auf die Nadelspitzen aufzubringen. Der Druckkopf wird vorzugsweise ausreichend langsam gesenkt, sodass die auf die Spitzen der Nadeln aufgebrachte Kraft (1) prinzipiell durch das Gewicht der Nadel plus einer geringfügigen zusätzlichen Kraft, die auf die Reibung der Gleitpassung zurückzuführen ist, bestimmt wird, und (2) durch Trägheitskräfte nicht wesentlich beeinträchtigt ist. Die Tätigkeit des Senkens des Druckkopfes, um die Nadelspitzen in Kontakt mit dem Träger zu bringen und dabei Spots auf dem Mikroarray auszubilden wird allgemein als „Drucken" bezeichnet.
  • Manchmal bleiben Nadeln in einer „oberen" oder angehobenen Position in dem Druckkopf stecken, d.h. in der in 1H gezeigten Position. Die Nadeln wiegen im Allgemeinen 0,4-1,0 Gramm und sind darauf angewiesen, dass die Schwerkraft sie herunterzieht, sodass der Nadelkopf auf der oberen Oberfläche des Druckkopfes ruht, wenn der Druckkopf angehoben wird (wie in 1F gezeigt). Eine Reibung, die beispielsweise durch Verschmutzungen oder Fingerfett auf dem Nadelschaft, oder durch einen leicht gebogenen Schaft entsteht, kann die Nadel daran hindern, richtig in ihre Ruheposition hinabzufallen. Wenn eine Nadel in der oberen Position stecken bleibt, ist sie nicht für das Drucken verwendbar. Es besteht daher ein Bedarf für ein Verfahren und eine Vorrichtung, um schnell und genau zu ermitteln, ob es irgendwelche Nadeln in dem Druckkopf gibt, die in einer oberen Position stecken.
  • Kommerziell verfügbare Druckköpfe bieten zwischen 4 und 72 Öffnungen, wodurch sie zwischen 4 und 72 Nadeln unterbringen. Kommerziell verfügbare Behälter bieten eine Vielzahl an Kammern, oder individuellen Behältern, und ermöglichen, dass jede Nadel, die in einem Druckkopf montiert ist, in eine eigene Kammer eingetaucht wird. Zwei gängige Behälter, die für die Herstellung von Mikroarrays verwendbar sind, sind die „96-Kammer Platte" und die „384 Kammer Platte". Jede dieser Platten bietet ein rechteckiges Feld von Kammern, wobei jede Kammer in der Lage ist, eine einzigartige Probe flüssigen Zielmaterials zu enthalten. 1I zeigt eine Draufsicht einer 96-Kammer Platte. In 96-Kammer Platten sind die Mitten der einzelnen Behälter 9,0 mm voneinander entfernt, und bei 384-Kammer Platten sind die Mitten der einzelnen Behälter 4,5 mm voneinander entfernt. Die Mitten angrenzender Öffnungen kommerziell verfügbarer Druckköpfe sind dementsprechend entweder 9,0 oder 4,5 mm voneinander entfernt. Spottinginstrumente vom Nadeltyp enthalten im Allgemeinen Mechanismen, um eine oder mehrere Platten (z.B. entweder mit 96-Kammern oder mit 384-Kammern) zu halten oder zu handhaben, einen Druckkopf, einen Roboter-Manipulator, um die Bewegung des Druckkopfes zu steuern, Mechanismen zum Halten einer Vielzahl von Trägern, einen Nadelwäscher und einen Trockner.
  • Bei vielen Spottinginstrumenten kann der Benutzer leicht auf den Druckkopf zugreifen, und der Benutzer konfiguriert den Druckkopf mit der gewünschten Anzahl und Anordnung von Nadeln. Oft wird ein Druckkopf, der 32 oder mehr Nadeln aufnehmen kann, nur mit 4, 8, oder 16 Nadeln bestückt. Es kann mehrere Gründe geben, den Druckkopf nicht voll zu bestücken. Erstens könnte der Benutzer ein kompaktes Spotmuster in dem fertiggestellten Mikroarray wünschen. Ein Feld, das beispielsweise mit einem voll bestückten 48-Nadel-Druckkopf hergestellt wird, würde wahrscheinlich eine Größe von 18mm × 54mm haben. Diese Feldabmessung ist so groß, dass es eine große Menge an fluoreszentem Sondenmaterial erfordert, um es zu bedecken, und dass es eine besondere Sorgfalt erfordert, um sicherzustellen, dass die Hybridisierungsreaktion der Sonde einheitlich ist. Zweitens kann es vorkommen, dass die Nadelabstände in dem Druckkopf nicht mit den Abständen der Kammern in den Kammerplatten übereinstimmen. 96-Kammer Platten haben beispielsweise Kammern mit 9,0mm Mittenabständen, und 384-Kammer Platten haben Kammern mit 4,5mm Mittenabständen. Wenn beim Spotten ein Druckkopf mit einem Nadelabstand von 4,5 mm mit einer 96-Kammer Platte verwendet wird, dann kann nur jedes vierte Loch in dem Druckkopf mit einer Nadel bestückt sein, andernfalls werden nicht alle Nadeln auf die Kammern in der Platte ausgerichtet sein. Drittens kann es sein, dass der Benutzer nicht genügend Nadeln zur Verfügung hat, um einen Druckkopf zu füllen. Nadeln können leicht beschädigt werden, und sind teuer. Viele Benutzer investieren nicht in einen vollständigen Nadelsatz, wenn sie ihr Mikroarray-Verfahren anfänglich ausbilden, und/oder es könnte sein, dass sie eine beschädigte Nadel nicht sofort ersetzen.
  • Spottinginstrumente enthalten Roboter-Manipulatorarme, welche durch einen oder mehrere Computer-Steuereinheiten durch eine Abfolge von wiederholten Bewegungen geführt werden. Der Druckkopf und/oder die Mikroarray-Probenplatten und/oder die Mikroarray-Träger werden durch Roboterarme in drei Dimensionen (z.B. in X-, Y- und Z-Achsen) im Bezug aufeinander bewegt. Wie oben erwähnt, beinhaltet ein Spotting-Durchlauf die Aufnahme einer Probe (Tauchen der Nadeln in bestimmte Kammern einer bestimmten Platte), das Spotting (Ablagern von Spots der Probe an bestimmten Stellen auf einem oder mehreren Mikroarray-Trägern), und dann das Waschen und Trocknen der Nadeln auf dem Druckkopf. Jeder nachfolgende Druckdurchlauf wird durchgeführt, indem die Nadelpositionen des Druckkopfes indiziert werden, um in die nächste Reihe von Kammern auf der Platte (oder auf der nächsten Platte) einzutauchen, und um auf die nächsten Spotpositionen auf einem Träger zu drucken. Die Steuereinheit des Instruments behält die Übersicht über die Indexierung der Positionen für die Probenaufnahme und die Druckbewegungen für jeden Durchlauf und steuert diese.
  • Um diese Positionierungsaufgaben auszuführen, müssen bei kommerziell verfügbaren Spottinginstrumenten vom Nadeltyp die Parameter, welche der Druckkopfpositionen mit Nadeln besetzt sind, der Steuereinheit bekannt sein und in das Steuerungsprogramm eingegeben werden. Bei bekannten Spottinginstrumenten wird diese Information vom Benutzer manuell eingegeben, entweder als alphanumerische Information oder unter Verwendung eines Displays mit einer graphischen Benutzerschnittstelle. Wenn der Benutzer irrtümlich eine falsche Nadelanordnungs-Information eingibt, können Spottingfehler oder gar Schäden an den Nadeln auftreten. Nadelanordnungen können üblicherweise leicht durch eine visuelle Kontrolle ermittelt werden, wenn der Druckkopf klein ist und wenige Nadeln enthält. Bei einem Druckkopf mit einer Kapazität für 32 Nadeln oder mehr und bei duzenden von Nadeln ist es jedoch mühsam und fehleranfällig, Nadelpositionen zu ermitteln, und sie manuell in den Steuerungscomputer einzugeben. Daher besteht ein Bedarf für ein Verfahren und eine Vorrichtung um die Nadelpositionen in Spottinginstrumenten vom Nadeltyp schnell und genau zu ermitteln.
  • Kurzbeschreibung der Erfindung
  • Es werden ein Verfahren und eine Vorrichtung für das automatische Abfühlen der Gegenwart (oder Abwesenheit) von Spot-Abgabeeinheiten, wie etwa Nadeln, in verschiedenen möglichen Anbringungsstellen im Druckkopf eines Mikroarray-Spottinginstruments bereitgestellt. Nadelstellendaten, die durch das Verfahren und die Vorrichtung erhalten werden, werden der Computer-Steuereinheit des Instruments bereitgestellt, welche die Daten verwendet, um die Bewegung des Druckkopfes während des Betriebs des Instruments zu steuern. Eine Nadeldetektions-Vorrichtung gemäß der Erfindung enthält ein oder mehrere Sensorelemente, welche das Vorhandensein von Nadeln in möglichen Nadelstellen des Druckkopfes automatisch abfühlen. Die Sensorelemente können in einem Feld angeordnet sein, welches dem Feld der Nadelstellen in dem Druckkopf entspricht, sodass eine Nadeldetektion an jeder Nadelstelle gleichzeitig ausgeführt werden kann. Die Nadeldetektions-Vorrichtung kann ermitteln, ob während eines Druckbetriebs irgendwelche Nadeln in einer „oberen" Lage stecken.
  • Es können verschieden Arten von Sensorelementen verwendet werden, um Nadeln in einem Druckkopf gemäß der Erfindung zu lokalisieren. Zum Beispiel können Sensoren verwendet werden, die von dem Druckkopf entfernt oder an diesem angebracht sind. Es können Nadelsensoren verwendet werden, welche Nadelstellen von, bezogen auf den Druckkopf, verschiedenen Positionen aus abfühlen, einschließlich von oberhalb oder unterhalb des Druckkopfes. Auch kann das Abfühlen der Nadeln gemäß der Erfindung durch berührende oder berührungsfreie Mechanismen geschehen.
  • Das erfinderische Verfahren und die Vorrichtung ermöglichen es, Nadelpositionen in einem Druckkopf schnell und genau zu bestimmen, und ohne ein erhebliches Risiko, die Nadeln, die zerbrechlich sind, zu beschädigen.
  • Diese und andere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden leicht aus der folgenden detaillierten Beschreibung klar werden, in welcher Ausführungsformen der Erfindung mittels einer Erläuterung der besten Weise der Erfindung gezeigt und beschrieben sind. Es wird zu erkennen sein, dass die Erfindung für andere und unterschiedliche Ausführungsformen geeignet ist, und dass ihre besonderen Details auf verschiedene Arten modifiziert werden können, ohne von der Erfindung abzuweichen. Dementsprechend sollen die Zeichnungen und die Beschreibung als Erläuterung des Wesens gesehen werden, und nicht in einem einschränkenden oder begrenzenden Sinn, wobei der Umfang der Anmeldung in den Ansprüchen angegeben ist.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnungen
  • Für ein vollständigeres Verständnis des Wesens und der Ziele der vorliegenden Erfindung sollte auf die folgende detaillierte Beschreibung in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen verwiesen werden, wobei:
  • 1A eine Draufsicht eines Mikroarrays des Standes der Technik ist.
  • 1B eine Seitenansicht einer Nadel des Standes der Technik ist.
  • 1C, 1D und 1E eine Seitenansicht, eine Draufsicht, bzw. eine Perspektivansicht eines Druckkopfes des Standes der Technik ist.
  • 1F und 1G eine Seitenansicht bzw. eine Draufsicht des in den 1C, 1D und 1E gezeigten Druckkopfes ist, wobei sechzehn Nadeln darin angebracht sind.
  • 1H eine Seitenansicht des in 1F und 1G gezeigten Druckkopfes ist, der in einer auf den Träger abgesenkten Lage gezeigt ist, um die in dem Druckkopf montierten Nadeln in Kontakt mit dem Träger zu bringen, um Spots eines Mikroarrays auszubilden.
  • 1I eine Draufsicht einer 96-Kammer Platte des Standes der Technik ist.
  • 2 ein vereinfachtes Blockdiagramm eines Spottinginstruments gemäß der Erfindung ist.
  • 3A eine Unteransicht einer Nadeldetektionsvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung ist.
  • 3B eine Seitenansicht der Nadeldetektionsvorrichtung der 3A ist, die im Einsatz gezeigt ist, wobei sie das Vorhandensein von Nadeln in einem Druckkopf detektiert.
  • 4A eine Draufsicht einer Nadeldetektionsvorrichtung gemäß einer weiteren Ausfuhrungsform der Erfindung ist.
  • 4B eine vergrößerte Perspektivansicht eines Sensorelements der Vorrichtung der 4A ist.
  • 5A eine Draufsicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche Dehnmesseinheiten gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung aufweist.
  • 5B eine Seitenansicht der Nadeldetektionsvorrichtung der 5A ist, die im Einsatz gezeigt ist, wobei sie das Vorhandensein von Nadeln in einem Druckkopf detektiert.
  • 6A eine Draufsicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche piezoelektrische Sensorelemente gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung aufweist.
  • 6B eine Seitenansicht der Nadeldetektionsvorrichtung der 6A ist, die im Einsatz gezeigt ist, wobei sie das Vorhandensein von Nadeln in einem Druckkopf detektiert.
  • 7A eine Draufsicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche Mikroschalter-Sensorelemente gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung verwendet.
  • 7B eine Seitenansicht der Nadeldetektionsvorrichtung der 7A ist, die im Einsatz gezeigt ist, wobei sie das Vorhandensein von Nadeln in einem Druckkopf detektiert.
  • 8A eine Draufsicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche kapazitive Sensorelemente gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung aufweist.
  • 8B und 8C vergrößerte Perspektivansichten von Beispielen kapazitiver Sensoren sind, die in den Vorrichtungen der 8A verwendet werden können.
  • 9A eine Draufsicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche induktive Sensorelemente gemäß einer anderen Ausführungsform der Erfindung aufweist.
  • 9B eine vergrößerte Perspektivansicht eines induktiven Sensors in der Vorrichtung der 9A ist.
  • 10 eine vergrößerte Perspektivansicht eines alternativen induktiven Sensors ist; der in der Vorrichtung der 9A verwendbar ist.
  • 11 eine Perspektivansicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche einen Vakuummechanismus gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung verwendet.
  • 12 eine Seitenansicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche optisches Abfühlen gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung verwendet.
  • 13 eine Unteransicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche optisches Abfühlen gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung verwendet.
  • 14 eine Seitenansicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche optisches Abfühlen gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung verwendet.
  • 15 eine Seitenansicht einer Nadeldetektionsvorrichtung ist, welche optisches Abfühlen gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung verwendet.
  • Ähnliche Bezugszeichen bezeichnen in den Zeichnungen ähnliche Teile.
  • Detaillierte Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen
  • Die vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen ein Verfahren und eine Vorrichtung für das automatische Abfühlen des Vorhandenseins (oder der Abwesenheit) von Spot-Abgabeeinheiten, wie etwa Nadeln, in verschiedenen möglichen Anbringungsstellen im Druckkopf eines Mikroarray-Spottinginstruments. Nadelstellendaten, die durch das Verfahren und die Vorrichtung erhalten werden, werden einer Computer-Steuereinheit des Instruments bereitgestellt, welche die Daten verwendet, um die Bewegung des Druckkopfes während des Betriebs des Instruments zu steuern. Insbesondere verwendet die Steuereinheit die Nadelstellendaten, um die richtigen Positionierungskoordinaten für den Druckkopf für die nachfolgende Probenaufnahme und für den Vorgang des Mikroarray-Spotdrucks für eine oder mehrere Mikroarrays, die bedruckt werden, zu ermitteln. Nadelsensoren können dem Benutzer auch einen Fehlerzustand berichten.
  • Ein Abfühlen der Nadelstellen gemäß der Erfindung kann jederzeit während der Benutzung des Instruments nach Bedarf durchgeführt werden. Das System der Erfindung ist jedoch besonders nützlich für das automatisieren des Initialisierungsvorgangs für eines Mikroarray-Spottinginstruments bei der Bearbeitung einer Charge von Mikroarrays. Die Nadelstelle wird üblicherweise nur am Beginn einer Drucktätigkeit einer Charge von Mikroarrays bestimmt werden müssen, da nicht zu erwarten ist, dass sich die Nadelkonfiguration in einem Druckkopf während des Bedruckens der Charge ändert.
  • Das erfinderische Nadelabfühl-Verfahren und die -Vorrichtung können vorzugsweise auch verwendet werden, um zu ermitteln, ob irgendwelche Nadeln in einer oberen oder angehobenen Position stecken (d.h. Nadeln, die im Bezug auf den Druckkopf angehoben bleiben, wenn der Druckkopf während eines Druckvorgangs von einem Träger weg angehoben wird). Wenn ermittelt wird, dass irgendwelche Nadeln in einer oberen Position stecken, kann der Betrieb des Spottinginstruments angehalten werden und/oder die Bedienperson des Instruments gewarnt werden. Auch kann, wenn, wie unten erörtert, herausgefunden wird, dass eine Nadel in einer oberen Position steckt, das Spottinginstrument die Steuerungssequenz des Instruments automatisch rekonfigurieren, um unter Verwendung eines Nadelhebe-Mechanismus zu vermeiden, dass die steckende Nadel verwendet wird.
  • 2 ist ein vereinfachtes Blockdiagramm eines Spottinginstruments 200 gemäß der Erfindung. Das Instrument 200 enthält eine Computer-Steuereinheit 210 (z.B. eine Mikroprozessor-Steuereinheit), einen Druckkopf 110, einen Druckkopf-Positionierungsmechanismus 212 (z.B. einen oder mehrere Roboter-Manipulatorarme), eine Nadeldetektionsvorrichtung 216, eine Trägerstation 218 zum Halten eines oder mehrerer Träger eines Mikroarrays, und eine Kammerstation 220 zum Halten eines oder mehrerer Behälter eines flüssigen Zielmaterials (z.B. eine 96-Kammer Platte). Die Roboter-Manipulatorarme 212 bewegen den Druckkopf 110 (und die Vorrichtung 216, wenn sie an den Druckkopf angebracht ist, wie unten beschrieben wird) zu Stellen, die von der Steuereinheit 210 ausgewählt werden. (Während der Positionierungsmechanismus normalerweise den Druckkopf im Bezug auf die Mikroarray-Träger und Kammerplatten bewegt, sollte zu erkennen sein, dass der Druckkopf stationär gehalten werden könnte, und die Träger und Kammerplatten im Bezug auf den Druckkopf bewegt werden könnten. Alternativ könnten der Druckkopf, die Träger und die Kammerplatten alle bewegbar sein.)
  • 3A und 3B stellen Unter- bzw. Seitenansichten einer Nadeldetektionsvorrichtung 300 gemäß einer Ausführungsform der Erfindung dar. Die Vorrichtung 300 weist eine Sensorplatte auf, welche eine Vielzahl individueller Sensorelemente aufweist, nämlich die elektrischen Kontakte 302. Die Sensorplatte kann beispielsweise die Struktur einer Platine (PCB) aufweisen. Die elektrischen Kontakte 302 sind in einem Feld angeordnet, welches dem Feld der möglichen Nadelstellen in einem Druckkopf entspricht. (Beispielsweise kann, wie dargestellt, die Sensorplatte 16 Kontakte aufweisen, die entsprechend der 16 Nadelöffnungen in einem Druckkopf für 16 Nadeln angeordnet sind.) Bei der Verwendung wird, wie in 3B dargestellt, der Positionierungsmechanismus (z.B. ein Roboter-Manipulatorarm 212) verwendet, um den Druckkopf 110 unterhalb der Sensorplatte auszurichten, sodass jeder der Kontakte in der Platte auf eine entsprechende Nadelöffnung in dem Druckkopf 110 ausgerichtet ist. Dann wird die Oberseite des Druckkopfes 110 mit einer Aufwärtsbewegung (d.h. in der Z-Achse) des Positionierungsmechanismus zur Sensorplatte hin bewegt, um die Nadelköpfe 104 der Nadeln 102 in dem Druckkopf 110 in Kontakt mit den Kontakten 302 in der Sensorplatte zu bringen.
  • Wie vorher erwähnt wurde, weisen die Druckköpfe und die Nadeln typischer Weise ein leitfähiges Material auf, wie etwa ein Metall. Dementsprechend kann das Vorhandensein von Nadeln in jeder Nadelöffnung in dem Druckkopf elektrisch abgefühlt werden. Gemäß der Erfindung wird eine Spannung an den Druckkopf angelegt (und damit auf die Nadeln, die in Kontakt mit dem Druckkopf sind). Die Kontakte in der Sensorplatte sind geerdet. (Alternativ ist der Druckkopf geerdet, und eine Spannung wird auf die Kontakte der Sensorplatte angelegt.) Die elektrische Leitung wird an jedem Kontakt einzeln abgefühlt, um zu ermitteln, ob eine Nadel an der entsprechenden Nadelstelle vorhanden ist. Es wird ein Signal erzeugt, das anzeigt, ob eine Leitung an jedem Kontakt abgefühlt wird, und dieses wird zu der Steuereinheit 210 übermittelt.
  • Die Spannungsquelle legt vorzugsweise Wechselstrom (AC) an den Druckkopf (oder alternativ an die Kontakte der Sensorplatte) an. Wechselstrom ist bevorzugt, da er wahrscheinlich bessere Ergebnisse bietet, als Gleichstrom (DC), da ein gewisser Prozentsatz davon kapazitiv gekoppelt sein kann, was bei einem schlechten elektrischen Kontakt zwischen dem Kontakt und der Nadel, beispielsweise aufgrund einer Oxidation der Teile, notwendig sein kann. Vorzugsweise wird Wechselstrom mit einer Frequenz von 1-100kHz und einer Spannung von 5-10 Volt Peak-to-Peak vorgesehen, um die Leitung durch die Oxidation hindurch zu verbessern.
  • Die Kontakte in der Sensorplatte sind ausgebildet, um verlässliche elektrische Kontakte mit den Nadelköpfen bereitzustellen. Die Kontakte sind vorzugsweise nachgiebig, um einen befriedigenden Kontakt quer über ein ganzes Nadelfeld vorzusehen, da es sein könnte, dass die Höhe der Nadelköpfe nicht innerhalb ausreichend enger Toleranzen gehalten werden kann, oder leicht vertieft sein kann. Die Kontakte können z.B. Federnadeln, leitfähige Gummifelder, oder eine andere Art von Elastomer beinhalten, wie etwa solche, die in LCD-Anwendungen verwendet werden.
  • Ein Vorteil der Sensorvorrichtung 300 ist, dass sie das Vorhandensein oder die Abwesenheit von Nadeln 102 abfühlt, ohne die zerbrechlichen Nadelspitzen 107 zu berühren. Dadurch kann die Sensorvorrichtung 300 arbeiten, ohne zu riskieren, die Nadeln zu beschädigen. Da die Nadelköpfe 104 verhältnismäßig robust sind, kann eine erhebliche Kraft von den Sensorelementen auf die Nadelköpfe aufgebracht werden.
  • 4A und 4B stellen eine alternative Nadeldetektionsvorrichtung 400 gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. 4A ist eine Draufsicht der Vorrichtung 400. Ähnlich der Vorrichtung 300 weist die Vorrichtung 400 eine Sensorplatte auf, welche eine Vielzahl von Kontakten 402 enthält, beispielsweise in einer PCB-Struktur. Die Kontakte sind in einem Feld angeordnet, welches den Stellen der Nadelöffnungen in einem Druckkopf entspricht. Die Vorrichtung 400 soll das Vorhandensein von Nadeln 102 in dem Druckkopf durch einen Kontakt mit den Nadelspitzen 107 abfühlen. 4B ist eine vergrößerte Ansicht einer Nadelspitze 107, die mit einem in Kontakt 402 in der Sensorplatte im Eingriff ist. Wie dargestellt weist der Kontakt vorzugsweise einen ringförmigen Abfühlbereich auf, der beispielsweise als ein Testloch vom Typ einer Platine ausgebildet ist.
  • Bei der Verwendung wird der Positionierungsmechanismus (z.B. ein Roboter-Manipulatorarm 212) verwendet, um den Druckkopf 110 oberhalb der Sensorplatte auszurichten, sodass die Kontakte in der Platte jeweils auf eine entsprechende Nadelöffnung in dem Druckkopf 110 ausgerichtet sind. Dann wird der Druckkopf 110 mit einer Abwärtsbewegung des Positionierungsmechanismus zur Sensorplatte hin bewegt, um die Spitzen 107 der Nadeln 102 in dem Druckkopf 110 in Kontakt mit den Kontakten 402 in der Sensorplatte zu bringen. Wie in 4B gezeigt ist, sind die Spitzen 107 in die Löcher in den Kontakten 402 eingesetzt.
  • Wie bei der Vorrichtung 300 wird eine Spannung an den Druckkopf angelegt (und damit auf die Nadeln, die in Kontakt mit dem Druckkopf sind). Die Kontakte in der Sensorplatte sind geerdet. (Alternativ ist der Druckkopf geerdet, und eine Spannung wird auf die Kontakte der Sensorplatte angelegt.) Die elektrische Leitung wird an jedem Kontakt einzeln abgefühlt, um zu ermitteln, ob eine Nadel an der entsprechenden Nadelstelle vorhanden ist. Es wird ein Signal erzeugt, das anzeigt, ob eine Leitung an jedem Kontakt abgefühlt wird, und dieses wird zu der Steuereinheit 210 übermittelt.
  • Wie bei der Vorrichtung 300 wird in der Spannungsquelle vorzugsweise Wechselstrom verwendet, da Wechselstrom wahrscheinlich bessere Eigenschaften bietet, als Gleichstrom, da ein gewisser Prozentsatz davon kapazitiv gekoppelt sein kann, was bei einem schlechten elektrischen Kontakt, beispielsweise aufgrund von Oxidation, notwendig sein kann. Vorzugsweise wird Wechselstrom mit einer Frequenz von 1-100kHz und einer Spannung von 5-10 Volt Peak-to-Peak vorgesehen, um die Leitung durch die Oxidation hindurch zu verbessern.
  • Die Konfiguration der Kontakte 402 als ein Sonden-Abfühlbereich ist vorteilhaft, um Schäden an den zerbrechlichen Nadelspitzen zu reduzieren, da die Nadelspitzen in Löchern in den Kontakten 402 aufgenommen sind.
  • 5A und 5B stellen eine Nadeldetektionsvorrichtung 500 gemäß einer weiteren alternativen Ausführungsform der Erfindung dar. Die Vorrichtung 500 weist eine Sensorplatte auf, die eine Vielzahl von Dehnmesseinheiten 502 aufweist, die einen physischen Kontakt mit den Nadeln in dem Nadelkopf detektieren. Wie wohlbekannt ist, enthalten Dehnmesser ein auf Dehnung empfindliches Element, wie etwa einen Metalldraht, der an einer Oberfläche fixiert ist. Wenn die Oberfläche gedehnt wird (zum Beispiel aufgrund eines Gewichts, das auf die Oberfläche aufgebracht wird), streckt sich der Draht, wobei er eine Änderung des elektrischen Widerstandes erfährt, der Proportional zur Dehnungsänderung ist. Zur Messung der Widerstandsänderungen können Schaltungen, wie etwa eine Wheatstone-Brückenschaltung, verwendet werden.
  • Die Dehnmesseeinheiten 502 sind vorzugsweise in einem Feld angeordnet, welches dem Feld der möglichen Nadelstellen in dem Druckkopf 110 entspricht. Im Betrieb wird der Druckkopf unter Verwendung des Positioniermechanismus 212 oberhalb der Sensorplatte angeordnet und auf diese ausgerichtet. Der Druckkopf wird dann auf die Nadel-Sensorplatte 500 gesenkt, sodass die Spitzen 107 der Nadeln 102 in dem Druckkopf in Kontakt mit entsprechenden Dehnmesseeinheiten in der Sensorplatte 500 sind, und die Nadeln von dieser gestützt werden. Durch das Nadelgewicht wird in jeder Dehnmesseeinheit, die mit einer Nadelspitze in Kontakt ist, eine Spannung aufgebracht. Das Vorhandensein einer aufgebrachten Spannung in einer gegebenen Dehnmesseinheit zeigt dabei das Vorhandensein einer Nadel in einer entsprechenden Nadelstelle im Druckkopf an.
  • 6A und 6B stellen eine Nadeldetektionsvorrichtung 600 gemäß noch einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. Die Vorrichtung 600 ist der Vorrichtung 500 dahingehende ähnlich, dass sie eine Sensorplatte aufweist, die eine Vielzahl von Sensorelementen enthält. Anstatt jedoch ein Feld von Dehnmesseinheiten 502 zu verwenden, wird ein Feld piezoelektrischer Sensorelemente 602 verwendet, um das Vorhandensein von Nadeln in einem Druckkopf zu detektieren. Wie wohlbekannt ist, erzeugen piezoelektrische Materialien eine elektrische Ladung, wenn sie mechanisch belastet werden.
  • Die piezoelektrischen Sensorelemente 602 sind vorzugsweise in einem Feld angeordnet, welches dem Feld der Nadelstellen in dem Druckkopf 110 entspricht. Im Betrieb wird der Druckkopf 110 auf die Sensorplatte 600 ausgerichtet und auf diese abgesenkt, wodurch die Spitzen 107 der Nadeln 102 in dem Druckkopf 110 in Kontakt mit entsprechenden piezoelektrischen Sensorelementen 602 in der Sensorplatte 600 gebracht werden. Durch das Nadelgewicht wird in jedem der piezoelektrischen Sensorelemente 602, die mit einer Nadelspitze 107 in Kontakt sind, eine Ladung erzeugt. Eine in einem piezoelektrischen Sensorelement 602 detektierte Ladung wird dabei das Vorhandensein einer Nadel 102 in einer entsprechenden Nadelstelle im Druckkopf 110 anzeigen.
  • 7A und 7B stellen eine Nadeldetektionsvorrichtung 700 gemäß noch einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. Die Nadeldetektionsvorrichtung 700 weist eine Sensorplatte auf, die eine Vielzahl von Mikroschaltern 702 mit niedriger Stellkraft aufweist, um das Vorhandensein von Nadeln in einem Druckkopf zu detektieren.
  • Die Mikroschalter 702 sind vorzugsweise in einem Feld angeordnet, welches dem Feld der Nadelstellen in dem Druckkopf 110 entspricht. Im Betrieb wird der Druckkopf 110 auf die Nadel-Sensorplatte 700 ausgerichtet und auf diese abgesenkt, wodurch die Spitzen 107 der Nadeln 102 in dem Druckkopf 110 in Kontakt mit entsprechenden Mikroschaltern 702 in der Sensorplatte 700 gebracht werden. Der mechanische Kontakt zwischen einer Nadelspitze 107 und einem Mikroschalter 702 aktiviert den Mikroschalter (auch bei einer geringen Kraft), wodurch das Vorhandensein einer Nadel in einer entsprechenden Nadelstelle im Druckkopf angezeigt wird.
  • 8A-8C stellen eine Nadeldetektionsvorrichtung 800 gemäß noch einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. Die Nadeldetektionsvorrichtung 800 weist eine Sensorplatte auf, die vorzugsweise eine PCB-Struktur hat und mehrere Annäherungssensoren enthält, vorzugsweise kapazitive Sensoren 802, um das Vorhandensein von Nadeln in einem Druckkopf zu detektieren. Die kapazitiven Sensoren 802 sind in einem Feld angeordnet, welches dem Feld der Nadelstellen in einem Druckkopf 110 entspricht. Die kapazitiven Sensoren 802 sind in der Lage, abzufühlen, wenn eine Nadelspitze 107 in der 0 Nähe des Sensors ist, auch wenn die Nadelspitze nicht in Kontakt mit dem Sensor ist.
  • Im Betrieb wird ein Hochfrequenz-Wechselstromsignal (z.B. im Bereich von 1-100 kHz) an den Druckkopf 110 angelegt. Der Druckkopf 110 wir in eine Ausrichtung mit der Sensorplatte 800 und zu dieser hin bewegt, wobei die Spitzen 107 der Nadeln 102 in dem Druckkopf 110 in die Nähe der entsprechenden ringförmigen Sensoren 802 in der Sensorplatte 800 gebracht werden. Jeder Sensor enthält einen Oszillator, dessen Frequenz durch einen Induktions-Kapazitäts-(LC-)Schaltkreis bestimmt ist, der an den Sensor angeschlossen ist. Wenn die Nadeln 102 in dem Druckkopf 110 in die Nähe entsprechender Sensoren bewegt werden, verändert die gegenseitige Kapazität die Oszillatorfrequenz. Die Detektion dieser Änderung wird das Vorhandensein einer Nadel in einer entsprechenden Nadelstelle im Druckkopf 110 anzeigen. Keine Veränderung zeigt an, dass eine Nadel fehlt.
  • 8B und 8C zeigen Beispiele unterschiedlicher Sensorformen (802 und 802'). Um die Sensorleistung zu verbessern, ist der Sensor für eine Verbesserung der dielektrischen Kopplung ausgelegt, wobei er kleine Breiten für den kapazitiven Spalt und/oder große Oberflächen für den kapazitiven Spalt aufweist.
  • 9A und 9B stellen eine Nadeldetektionsvorrichtung 900 gemäß noch einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. Die Vorrichtung 900 weist eine Sensorplatte auf (vorzugsweise mit einer PCB-Struktur), welche eine Vielzahl induktiver Sensoren 902 enthält, um das Vorhandensein von Nadeln in einem Druckkopf zu detektieren. Die induktiven Sensoren sind vorzugsweise in einem Feld angeordnet, welches dem Feld der Nadelstellen in dem Druckkopf 110 entspricht. Die induktiven Sensoren 902 fühlen das Vorhandensein einer Nadelspitze ab, vorzugsweise ohne die Nadel zu berühren. Jeder induktive Sensor 902 beinhaltet vorzugsweise eine Luftkern-Induktionsspule, wie zum Beispiel einen Kunststoff-Spulenkern, um den viele Wicklungen eines magnetischen Drahtes oder dergleichen gewunden sind. Das Einsetzen der Nadel 102 in die Mitte des Induktors 902 wird dessen Induktivität erheblich erhöhen, was als Impedanzänderung in einem Schaltkreis abgefühlt wird, welcher Wechselstrom durch die Spule leitet.
  • Im Betrieb wird der Druckkopf 110 in eine Ausrichtung mit der Nadel-Sensorplatte 900, und zu dieser hin bewegt, wobei zumindest ein Teil der Spitzen 107 der Nadeln 102 in dem Druckkopf 110 in die Mitte der entsprechenden induktiven Sensoren 902 in der Sensorplatte 900 eingesetzt werden. Induktivitätsänderungen an einem induktiven Sensor 902 in der Sensorplatte 900 zeigen das Vorhandensein einer Nadel 102 in einer entsprechenden Nadelstelle in dem Druckkopf 110 an. Keine Veränderung zeigt an, dass eine Nadel fehlt.
  • 10 stellt einen alternativen induktiven Sensor 1002 dar, der in der Sensorplatte 900 anstelle des Sensors 902 verwendet werden kann. Der Sensor 1002 beinhaltet zwei nebeneinanderliegende (jedoch getrennte) Spulen: Eine Ansteuerspule 1004 und eine Sensorspule 1006. An die Ansteuerspule 1004 wird Wechselstrom angelegt. Ohne das Vorhandensein einer Nadel 102 gäbe es nur eine sehr geringe gegenseitige Induktionskopplung zwischen den Spulen 1004, 1006, und durch die Sensorspule 1006 würde nur wenig Wechselstrom fließen. Wenn jedoch eine Metallnadel 102 von dem Druckkopf 110 durch die Spulen eingesetzt ist, wie dies dargestellt ist, erhöht sich die Kupplung stark, wodurch der Wechselstromfluss in der Sensorspule 1006 messbar erhöht wird. Der gemessene Stromfluss in der Sensorspule 1006 zeigt dabei das Vorhandensein einer Nadel 102 in dem Sensor 1002 an. Keine Veränderung zeigt an, dass eine Nadel fehlt.
  • Die induktiven Sensoren der 9B und 10 können als einspulige oder zweispulige Spiral- oder spiralartige Konfigurationen der ebenen Leiterbahnen auf einer Platine implementiert sein. Der zweispulige Mechanismus ist bevorzugt, wobei jede Spule etwa drei Wicklungen hat, wobei sich eine Spiralbahn-Spule mit drei Wicklungen auf jeder Seite der Platine befindet. Das Ansteuern einer Spule mit Rechteckwellen von einer Stromquelle mit etwa 10-100 kHz bei etwa 300-400 mA (Peak-to-Peak), führt zu einer stabilen induktiven Detektion einer Nadel in der anderen Spule. Dieser Mechanismus bietet eine Stabilität, ohne der Kosten und der Komplexität, die das Anbringen und Anschließen mehrerer einzelner Drahtspulen auf Spulenkernen an einer Platine mit sich bringen.
  • 11 stellt eine Vakuum-Sensorvorrichtung 1100 gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. Die Vorrichtung 1100 beinhaltet eine Sensorplatte mit einer Vielzahl von Löchern 1102, um die Spitzen 107 von Nadeln 102 in einem Druckkopf aufzunehmen, und einen Vakuummechanismus 1104, um ein Vakuum an die Löcher 1102 anzulegen. Die Löcher 1102 sind in einem Feld angeordnet, welches dem Feld möglicher Nadelstellen in dem Druckkopf entspricht. Ein Druck-Messgeber 1106 ist an jedem Loch vorgesehen, um Druckänderungen zu detektieren.
  • Im Betrieb wird der Druckkopf in eine Ausrichtung mit der Nadel-Sensorplatte 1100, und zu dieser hin bewegt, wobei die Spitzen 107 der Nadeln 102 in dem Druckkopf 110 in entsprechende Löcher 1102 der Sensorplatte 1100 eingesetzt werden. An jedem Loch, in das eine Nadelspitze eingesetzt worden ist, behindert die Nadel zumindest teilweise den Fluss der Umgebungsluft in die Öffnung des Lochs. Infolgedessen nimmt das Vakuum in dem Loch 1102 zu (und der Druck nimmt ab), und diese Druckänderung wird von dem entsprechenden Druck-Messgeber 1104 abgefühlt, wodurch das Vorhandensein einer Nadel 102 in einer entsprechenden Nadelstelle in dem Druckkopf angezeigt wird.
  • 12 stellt eine optische Nadelsensor-Vorrichtung 1200 gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. Die Vorrichtung 1200 beinhaltet eine optische Emitterplatte 1202 und eine optische Detektorplatte 1204. Die Emitterplatte 1202 enthält eine Vielzahl optischer Emitter 1206, wie zum Beispiel Leuchtdioden (LED). Die optischen Emitter 1206 sind in einem Feld angeordnet, das den möglichen Nadelstellen in einem Druckkopf 110 entspricht. Die optische Detektorplatte 1204 enthält eine Vielzahl optischer Detektoren 1208 (z.B. Photodioden und Phototransistoren), die ebenfalls in einem Feld angeordnet sind, sodass jeder optische Detektor 1208 auf einen optischen Emitter 1206 der Emitterplatte 1202 ausgerichtet ist, und ein Lichtsignal von diesem empfangen kann.
  • Wie in 12 gezeigt ist, sind die Emitter- und die Empfängerplatte 1202, 1204 an gegenüberliegenden Seiten eines Druckkopfes 110 (oberhalb und unterhalb des Druckkopfes) angeordnet, sodass die entsprechenden Emitter, Detektoren und Nadelöffnungen aufeinander ausgerichtet sind. Wenn eine Öffnung leer ist (d.h. keine Nadel enthält), wird Licht von dem entsprechenden Emitter 1206 durch den Druckkopf 110 durch gehen, und von dessen entsprechenden optischen Detektor 1208 detektiert werden, wodurch ein Signal erzeugt wird, welches die Lichtdetektion anzeigt. Wenn eine Nadel in der Öffnung angeordnet ist, wird das Licht von dem Emitter nicht von dessen entsprechendem optischen Detektor detektiert werden, und es wird kein Signal ausgegeben. Auf diese Weise kann jede Öffnung in dem Druckkopf 110 simultan untersucht werden, um das Vorhandensein oder die Abwesenheit einer Nadel zu detektieren.
  • Während es bevorzugt ist, dass die verschiedenen oben beschriebenen Vorrichtungen je ein Feld von Sensorelementen enthalten, um gleichzeitig das Vorhandensein oder die Abwesenheit von Nadeln in allen Nadelstellen in dem Druckkopf abzufühlen, könnte die Vorrichtung auch mit einem oder nur wenigen solcher Sensorelemente versehen sein, im Bezug auf die der Druckkopf bewegt wird, um nacheinander abzufühlen, ob eine Nadel in jeder Nadelstelle vorhanden ist.
  • 13 stellt eine optische Sensorvorrichtung 1300 gemäß nach einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. 13 ist eine Unteransicht des Druckkopfes 110, wobei ein optischer Emitter 1302 und ein optischer Detektor 1304 der Vorrichtung 1300 gezeigt sind, welche Nadeln in dem Nadelkopf horizontal scannen. Der Emitter und der Detektor sind an gegenüberliegenden Seiten des Nadelfeldes angeordnet. Licht, das vom Emitter ausgestrahlt und von dem Detektor empfangen wird, wird entlang einer Linie (d.h. einer „Sichtlinie") verlaufen, welche durch die Strichlinie 1306 dargestellt ist, die in einem vorbestimmten Winkel im Bezug auf die X- und Y-Achse des Druckkopfes verläuft, sodass einzelne Nadeln getrennt detektiert werden können. Bei der Verwendung werden der Druckkopf und/oder das Emitter/Detektorpaar entlang der X- oder Y-Achse relativ zueinander bewegt. Jede Nadel in dem Druckkopf für sich kann das Licht zwischen dem Emitter/Detektorpaar zu einer vorbestimmten Zeitperiode während des Scannens unterbrechen. Dementsprechend kann jede Nadelstelle einzeln auf das Vorhandensein oder die Abwesenheit einer Nadel untersucht werden.
  • 14 stellt eine optische Sensorvorrichtung 1400 gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. Die Vorrichtung 1400 untersucht die Nadelköpfe 104 der Nadeln 102 in einem Druckkopf 110, um das Vorhandensein von Nadeln zu ermitteln. Wie in der Zeichnung dargestellt ist, ist das Spottinginstrument mit einer Prüfstufe 1402 ausgerüstet. Der Druckkopf 110 wird angehoben und gesenkt, um nacheinander jede Nadelöffnung über der Prüfstufe 1402 zu positionieren. Wenn in der Öffnung eine Nadel vorhanden ist, wie in 14 gezeigt, wird der Nadelkopf 104 im Verhältnis zu den anderen Nadeln und dem Druckkopf 110 angehoben. Die Vorrichtung 1400 enthält einen optischen Emitter 1404 und einen optischen Detektor 1406, die oberhalb des Druckkopfes angeordnet sind, wobei sie das Vorhandensein oder die Abwesenheit einer Nadel in der Öffnung basierend darauf detektieren, ob das Lichtsignal von dem Emitter zu dem Detektor unterbrochen ist oder nicht.
  • Obwohl dies nicht dargestellt ist, könnte die Vorrichtung 1400 mit mehreren Emitter/Detektorpaaren ausgestattet sein, um eine ganze Nadelreihe in dem Druckkopf gleichzeitig zu untersuchen. In diesem Fall könnte die Prüfstufe ausgebildet sein, um die gesamte Reihe zu stützen. Die Emitter/Detektorpaare werden optische Signale entlang Linien übermitteln und empfangen, die im Rechten Winkel auf die Reihen der Nadeln stehen, die untersucht werden.
  • Gemäß einer weiteren alternativen Ausführungsform der Erfindung könnte ein nichtoptischer Sensor anstatt der in 14 gezeigten optischen Sensorvorrichtung 1400 verwendet werden. Ein solcher Sensor könnte eine Luftkern-Induktionsspule (ähnlich der oben im Zusammenhang mit 9A und 9B beschriebenen) als Induktionssensor oberhalb des Druckkopfes beinhalten. Der Sensor könnte oberhalb des Druckkopfes angeordnet und über die Nadelöffnung gesenkt werden, die untersucht wird. Wenn eine Nadel in der Öffnung vorhanden ist, wird der Nadelkopf der Nadel angehoben (da die Nadel von der Prüfstufe gestützt wird) und in den Kern der Luftkern-Spule eingesetzt. Das Vorhandensein des Nadelkopfes in dem Kern würde die Induktivität der Spule erheblich erhöhen, was als Impedanzänderung in einer Schaltung, welche Wechselstrom durch die Spule leitet, abgefühlt werden könnte.
  • In einer weitem alternativen Ausführungsform könnten andere Arten induktiver Sensoren anstatt der Luftkern-Spulensensoren verwendet werden. Beispielsweise könnte ein zweispuliger Induktionssensor von der Art, wie sie oben in 10 beschrieben ist, verwendet werden. Zusätzlich könnten Sensoren verwendet werden, die sich von induktiven Sensoren unterscheiden. Es könnte beispielsweise ein Mikroschalter (ähnlich dem oben in 7A und 7B beschriebenen) oder ein Halleffekt-Sensor verwendet werden, um einen angehobenen Nadelkopf zu detektieren.
  • 15 stellt eine Sensorvorrichtung 1500 gemäß noch einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dar. Diese Vorrichtung enthält einen optischen Emitter 1502 und einen optischen Detektor 1504, die angeordnet sind, um eine Nadelspitze 107 zu detektieren, die zwischen einem Paar Prüfstufen 1506 angeordnet ist. Demgemäß wird der Druckkopf 110 im Bezug auf die Prüfstufen 1506 angehoben und gesenkt, um nacheinander jede Nadelöffnung in dem Druckkopf 110 an eine Stelle oberhalb des Abfühlbereichs (d.h. zwischen den zwei Prüfstufen) zu positionieren. Wenn eine Nadel 102 in der Nadelöffnung angeordnet ist, wird die Nadelspitze 107 den optischen Strahl oder das Signal von dem Emitter 1502 zu dem Detektor 1504 unterbrechen, und dadurch abgefühlt werden. Ein Vorteil des Sensormechanismus 1500 ist, dass auf dem Druckkopf selbst keine Verkabelungen oder Mechanismen erforderlich sind.
  • Es können auch andere Arten optischer Sensoren verwendet werden, um Nadeln in einem Druckkopf zu detektieren, einschließlich z.B. optischer Reflexionssensoren. Ein optischer Reflexionssensor strahlt ein Lichtsignal aus, und detektiert eine Reflexion des Signals von dem Objekt, dass abgefühlt wird. Solch ein optischer Sensor würde in der Nähe der Nadelöffnung angeordnet werden, die abgefühlt werden soll. Wenn in der Öffnung eine Nadel angeordnet ist, empfängt und detektiert der Sensor ein reflektiertes optisches Signal. Wenn keine Nadel in der Öffnung vorhanden ist, empfängt der Sensor kein reflektiertes Signal. Ein optischer Reflexionssensor könnte in jeder der oben beschriebenen optischen Sensorvorrichtungen verwendet werden.
  • Die gleichzeitig anhängige US-Patentanmeldung Serial-Nummer 09/527,893 mit dem Titel „METHOD AND APPARATUS FOR PRODUCING COMPACT MICROARRAYS" (Attorney-Docket-Nr. GSI-002) beschreibt verschiedene Nadelhebe-Mechanismen, die verwendet werden können, um kompakte Mikroarrays zu erzeugen. Mikroarray-Spottinginstrumente, die gemäß der Erfindung konstruiert sind, können diese Nadelhebe-Mechanismen in Verbindung mit den Sensorvorrichtungen verwenden, die in der vorliegenden Erfindung beschrieben sind, um die Erzeugung von Mikroarrays zu erleichtern. Wenn beispielsweise der Sensor detektiert, dass in einer bestimmten Nadelöffnung im Druckkopf keine Nadel montiert ist, wird das Spottinginstrument wissen, dass der Nadelheber für diese Öffnung nicht aktiviert werden muss. Es könnten auch Sensoren verwendet werden, um zu detektieren, welche Nadeln innerhalb der Gruppe von Öffnungen montiert sind, die von einem Nadelheber angesteuert werden, und ob es überhaupt welche gibt. Auch wenn gemäß der Erfindung die Nadeldetektionsvorrichtung abfühlt, dass eine Nadel in einer oberen (d.h. angehobenen) Position steckt, kann das Spottinginstrument die Steuerungsabfolge des Instruments automatisch rekonfigurieren, um zu vermeiden, dass die steckenden Nadeln vom Nadelheber verwendet werden. Der Nadelheber hat vorzugsweise ein ausreichendes Spiel, um zu vermeiden, dass die Nadel in die Probe getaucht wird, vorzugsweise zumindest 5 min.
  • Da gewisse Änderungen an der obigen Vorrichtung durchgeführt werden können, ohne vom Umfang der hieran beteiligten Erfindung abzuweichen, ist beabsichtigt, dass alle Gegenstände, die in der obigen Beschreibung enthalten, oder in den beigefügten Zeichnungen dargestellt sind, in einem erläuternden und nicht in einem einschränkenden Sinn ausgelegt werden sollen.

Claims (23)

  1. Verfahren zum Ermitteln, welche Nadelstellen in einem Druckkopf eines Mikroarray-Spottinginstruments mit Fluidabgabe-Nadeln besetzt sind, welches Verfahren aufweist: Bereitstellen eines Druckkopfes (110) eines Mikroarray-Spottinginstruments, wobei der Druckkopf eine Vielzahl an Nadelstellen enthält, wobei an jeder davon eine Fluidabgabe-Nadel (102) lösbar positionierbar ist; Bereitstellen einer Nadelerkennungs-Vorrichtung (216; 300; 400; 500; 600; 700; 800; 900; 1100; 1200; 1300; 1400); wobei das Verfahren dadurch gekennzeichnet ist, dass es weiters aufweist: für jede Nadelstelle Verwenden der Nadelerkennungs-Vorrichtung, um automatisch zu detektieren, ob eine Nadel (102) an besagten Nadelstellen vorhanden ist.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Nadelerkennungs-Vorrichtung einen Sensor (302; 402; 502; 602; 702; 802; 902; 1004, 1006; 1202, 1204; 1302, 1304; 1404, 1406; 1502, 1504) aufweist, um abzufühlen, ob eine Nadel in einer gegebenen Nadelstelle vorhanden ist.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei der Sensor einen Kontakt (302; 402) und eine Schaltung aufweist, um eine elektrische Leitung zwischen dem Kontakt (302; 402) und der Nadel (102) zu detektieren.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, wobei der Kontakt (402) ein Prüfloch in einer Platine aufweist.
  5. Verfahren nach Anspruch 3, wobei der Kontakt nachgiebig ist, beispielsweise ist der Kontakt gefedert oder weist ein leitfähiges Gummikissen auf.
  6. Verfahren nach Anspruch 2, wobei der Sensor (302) das Vorhandensein des Nadelkopfes (104) der Nadel abfühlt, oder wobei der Sensor (402) das Vorhandensein einer Spitze (107) der Nadel abfühlt.
  7. Verfahren nach Anspruch 2, wobei der Sensor einen Dehnmessstreifen-Sensor (502) oder ein piezoelektrisches Sensorelement (602) oder einen Mikroschalter (702) oder einen kapazitiven Sensor (802) oder einen induktiven Sensor (902; 1004, 1006) oder einen optischen Sensor (1302, 1304) aufweist.
  8. Verfahren nach Anspruch 2, wobei der Sensor einen induktiven Sensor aufweist, und wobei der induktive Sensor einen Luftkern-Spuleninduktor (902), einschließlich eines Loches, um zumindest einen Teil einer Nadel aufzunehmen, oder ein Paar beabstandeter, jedoch naher Spulen (1104, 1106), die beide geeignet sind, um einen Teil einer Nadel aufzunehmen, aufweist.
  9. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Nadelerkennungs-Vorrichtung (11) eine Platte mit einem Loch (1102) aufweist, und wobei die Verwendung der Nadelerkennungs-Vorrichtung aufweist: Anlegen eines Vakuums an das Loch (1102); Positionieren des Druckkopfes im Bezug auf die Platte, sodass, wenn eine Nadel in einer gegebenen Nadelstelle des Druckkopfes angeordnet wäre, besagte Nadel in das Loch eingesetzt sein würde; und Abfühlen (1106) irgendwelcher Druckänderungen in dem Loch (1102).
  10. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Nadelerkennungs-Vorrichtung eine Oberfläche mit einer Stufe (1402) aufweist, und wobei die Benutzung der Vorrichtung aufweist: Positionieren des Druckkopfes (110) im Bezug auf die Stufe (1402), sodass eine gegebene Nadelstelle oberhalb der besagten Stufe angeordnet ist, und dass, wenn eine Nadel in der gegebenen Nadelstelle angeordnet wäre, die besagte Nadel von der Stufe gestützt würde und ein Nadelkopf (104) der Nadel in Bezug auf den Druckkopf angehoben würde; und Abfühlen irgendeines Nadelkopfes (104), welcher im Bezug auf den Druckkopf angehoben ist.
  11. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Nadelerkennungs-Vorrichtung (3-9; 11; 12) ein Feld von Sensorelementen aufweist, welche in ihrer Anordnung den Nadelstellen in dem Druckkopf entsprechen, um das Vorhandensein von Nadeln in jeder Nadelstelle simultan zu detektieren.
  12. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Nadeln volle Nadeln, gespaltene Nadeln oder röhrenförmige Nadeln aufweisen.
  13. Verfahren nach Anspruch 1, welches weiters die Verwendung der Nadelerkennungs-Vorrichtung aufweist, um automatisch zu detektieren, ob eine Nadel in einer erhöhten Position in dem Druckkopf steckt.
  14. Mikroarray-Spottinginstrument, welches aufweist: einen Druckkopf, einschließlich einer Vielzahl von Nadelstellen; eine Vielzahl von Fluidabgabe-Nadeln, die lösbar in dem Druckkopf montiert sind; eine Trägerstation für das Halten von zumindest einem Mikroarray-Träger; eine Well-Station für das Halten von Probenmaterial, welches auf dem zumindest einen Mikroarray-Träger unter Verwendung des Druckkopfes deponiert werden soll; einen Positionierungsmechanismus, um den Druckkopf zu bewegen; eine Steuereinheit, um die Bewegung des Druckkopfes zu steuern; wobei das Instrument dadurch gekennzeichnet ist, dass es weiters aufweist: eine Nadelerkennungs-Vorrichtung, um automatisch die Abwesenheit oder das Vorhandensein von Fluidabgabe-Nadeln in jeder Nadelstelle in dem Druckkopf zu detektieren.
  15. Instrument nach Anspruch 14, wobei die Nadelerkennungs-Vorrichtung zumindest ein Sensorelement aufweist, wobei das Sensorelement einen Kontakt und eine Schaltung aufweist, um eine elektrische Leitung zwischen dem Kontakt und der Nadel zu detektieren.
  16. Instrument nach Anspruch 15, wobei der Kontakt ein Prüfloch (402) in einer Platine aufweist.
  17. Instrument nach Anspruch 15, wobei der Kontakt nachgiebig ist, beispielsweise ist der Kontakt gefedert, oder wobei der Kontakt ein leitfähiges Gummikissen aufweist.
  18. Instrument nach Anspruch 14, wobei das zumindest eine Sensorelement das Vorhandensein des Nadelkopfes (104) der Nadel abfühlt, oder wobei das zumindest eine Sensorelement das Vorhandensein einer Spitze (107) der Nadel abfühlt.
  19. Instrument nach Anspruch 14, wobei das zumindest eine Sensorelement einen Dehnmessstreifen-Sensor (502) oder ein piezoelektrisches Sensorelement (602) oder einen Mikroschalter (702) oder einen kapazitiven Sensor (802) oder einen induktiven Sensor (902; 1004, 1406) oder einen optischen Sensor (1302, 1304) aufweist.
  20. Instrument nach Anspruch 19, wobei das zumindest eine Sensorelement einen induktiven Sensor aufweist, wobei der induktive Sensor einen Luftkern-Spuleninduktor (902), einschließlich eines Loches, um zumindest einen Teil einer Nadel aufzunehmen, aufweist, oder wobei der induktive Sensor ein Paar beabstandeter, jedoch naher Spulen (1104, 1106) aufweist, die beide geeignet sind, um einen Teil einer Nadel aufzunehmen.
  21. Instrument nach Anspruch 14, wobei das zumindest eine Sensorelement einen Vakuumsensor (1106), einschließlich einer Platte mit einem Loch (1102), Mittel, um ein Vakuum an das Loch anzulegen, und an dem Loch einen Druck-Messwandler (1106), um Druckänderungen an dem Loch (1102) vom Anordnen einer Nadel in dem Loch abzufühlen, aufweist, oder wobei das zumindest eine Sensorelement eine Oberfläche mit einer Stufe (1402) und einen Sensor (1404, 1406) aufweist, um einen angehobenen Nadelkopf (104) einer Nadel (102) in dem Druckkopf (110) zu detektieren, wenn der Druckkopf im Bezug auf die Stufe (1402) so positioniert ist, dass die Nadel von der Stufe (1402) gestützt ist, oder wobei das zumindest eine Sensorelement ein Feld von Sensorelementen (3-9; 11; 12) aufweist, die in ihrer Anordnung den Nadelstellen in dem Druckkopf entsprechen, um die Abwesenheit oder das Vorhandensein von Nadeln in jeder Nadelstelle simultan zu detektieren.
  22. Instrument nach Anspruch 14, wobei die Nadeln volle Nadeln, gespaltene Nadeln oder röhrenförmige Nadeln aufweisen.
  23. Instrument nach Anspruch 14, wobei das zumindest eine Sensorelement auch automatisch detektiert, ob eine Nadel in einer erhöhten Position in dem Druckkopf steckt.
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