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HINTERGRUND DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine optische Plattenvorrichtung
zur Aufnahme und Wiedergabe von Daten auf einer und von einer optischen
Patte. Noch genauer betrifft die Erfindung eine optische Plattenvorrichtung,
welche einen Fokuswert innerhalb einer kurzen Zeit genau korrigieren
kann, und welche somit eine gute Aufnahme-/Aufzeichnungs-Charakteristik
aufweist. Die Erfindung betrifft ein Fokuswertkorrekturverfahren,
welches einen Fokuswert innerhalb einer kurzen Zeit genau korrigieren kann.
Die Erfindung betrifft weiterhin eine optische Platte.
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Auf
dem Gebiet der optischen Plattenvorrichtungen zum Aufzeichnen und
Wiedergeben von Daten auf und von optischen Platten sind Audioplatten (CDs),
welche auf ihnen aufgezeichnet Audiosignale aufweisen, in großer Anzahl
verwendet worden. In der letzten Zeit sind die digitalen Videoplatten (DVDs),
welche eine große
Speicherkapazität
aufweisen, und von welchen Daten mit hoher Geschwindigkeit übertragen
werden können,
als Medien zum Aufzeichnen von bewegten Bildern gebräuchlich
geworden. Zusätzlich
sind MO (magneto-optische) Platten, PDs (Phasenänderungsplatten) und DVD-RAMs praktisch
als Aufzeichnungs-/Wiedergabeplatten eingesetzt worden.
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Dank
der fortgeschrittenen Mikroprozessortechnologie und dergleichen
können
nicht nur Textdaten sondern auch Audiodaten, Standbilddaten, Bewegungsbilddaten
und dergleichen auf den oben erwähnten
verschiedenen Arten von Platten aufgezeichnet und davon reproduziert
werden. Es besteht daher ein zunehmender Bedarf, dass Plattensysteme entwickelt
werden, welche eine Speicherkapazität aufweisen, die groß genug
ist, um diese verschiedenen Elemente von Daten zu speichern, und
welche die Geschwindigkeit des Übertragens
der Daten ändern
können.
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Um
die Datenspeicherkapazität
des optischen Plattensystems zu erhöhen, ist es allgemein notwendig,
die Größe des Strahlflecks
bei der Operation des Aufzeichnens und Wiedergebens von Daten auf
und von der Platte zu reduzieren, um dadurch Daten mit hoher Dichte
auf der optischen Platte aufzuzeichnen. Die Größe eines Strahlflecks wird
wie folgt angegeben: a = α×λ/NAwobei α die Konstante
ist, welche durch die Verteilung der Lichtstrahlintensität bestimmt
wird, λ die Wellenlänge des
Lichtstrahls ist und NA die numerische Apertur der Objektivlinse
ist, welche in dem optischen Plattensystem vorgesehen ist.
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Somit
kann ein kleiner Strahlfleck auf der Oberfläche der optischen Platte gebildet
werden, wenn das optische Plattensystem einen Halbleiterlaser zum
Emittieren eines Strahls von kurzer Wellenlänge aufweist und eine Objektivlinse
einen großen NA-Wert
aufweist. Wenn dem so ist, kann das System auf der optischen Platte
mit hoher Dichte aufzeichnen und kann dadurch eine große Speicherkapazität aufweisen.
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Wenn
der Strahlfleck durch dieses Verfahren klein gemacht wird, wird
jedoch die Brennweite abnehmen. Mit anderen Worten wird die Toleranz
für ein Defokussieren
(d. h. Fokussierfehler) unvermeidlich abnehmen. Die Brennweite d
wird gewöhnlich
wie folgt ausgedrückt: d ∝ λ/(NA)2.
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Das
heißt,
je kürzer
die Wellenlänge
des Lichtstrahls ist und je größer die
NA ist, umso mehr wird die Brennweite abnehmen. Bei der optischen Plattenvorrichtung
zum Aufzeichnen und Wiedergeben von Daten auf eine und von einer
optischen Platte mit hoher Dichte sollte daher eine Hochpräzisions-Fokussiersteuerung
ausgeführt
werden, um die Aufzeichnungsoberfläche der Platte innerhalb der Brennweite
der Objektivlinse anzuordnen.
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Das
Defokussieren tritt in der Fokussiersteuerung aufgrund von verschiedenen
Ursachen auf. Es kann ein Ergebnis einer stationären Abweichung sein, die nicht
vollständig
während
der Servosteuerung eliminiert worden ist. Es kann das Ergebnis von dem
Unterschied zwischen optischen Platten hinsichtlich der Substratdicke
sein. Es kann durch Änderungen
in dem Servozielwert aufgrund der Fehljustierungsänderungen
verursacht werden, die auftreten, wenn die Temperatur in der optischen
Plattenvorrichtung ansteigt.
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Von
diesen Ursachen des Defokussierens wird die stationäre Abweichung
durch die Größe und Verstärkung des
Fokus störenden
Elementes bestimmt. In den meisten Fällen des hochdichten Datenaufzeichnens/-Wiedergebens
wird die Störung
(z. B. Deformieren der Platten reduziert und die Verstärkung des
Fokus störenden
Elementes wird erhöht, wodurch
die stationäre
Abweichung minimiert wird. Um das Defokussieren, was von dem Unterschied zwischen
optischen Platten in der Substratdicke resultiert, wodurch die Fokussierungspräzision erhöht wird,
kann der Fokus automatisch in Übereinstimmung
mit dem Jitterwert oder dergleichen des ROM-Abschnitts eingestellt
werden. In diesem Fall ist es ausreichend, den systematischen Fokusfehler auf
verschiedene Werte zu ändern
und den am meisten wünschenswerten
in Übereinstimmung
mit dem Jitterwert auszuwählen,
welcher zu der Zeit des Einfügens
der Platte in die optische Plattenvorrichtung detektiert wird.
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Während die
optische Plattenvorrichtung arbeitet, ist es schwierig, die Fehljustierungsänderungen
oder dergleichen, welche aus dem Temperaturanstieg in der optischen
Plattenvorrichtung resultieren, zu eliminieren. Um die Fehljustierungsänderung oder
dergleichen während
des Betriebs der optischen Plattenvorrichtung zu eliminieren, muss
die Änderung
der Fehljustierung in kurzen Intervallen durch einfache Mittel detektiert
werden, wodurch der Fokus zu einem optimalen Punkt bewegt wird.
In der Praxis kann jedoch die Änderung
der Fehljustierung schwer in kurzen Intervallen durch einfache Mittel während des
Betriebs der optischen Plattenvorrichtung detektiert werden.
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Eine
optische Plattenvorrichtung, in welcher alle Merkmale der Präambel des
Anspruchs 1 offenbart sind, ist in
WO 99/17283 A beschrieben.
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Aus
US-A-5 574 706 ist
ein Aufzeichnungsverfahren bekannt, bei welchem der Fokus durch Hinzufügen eines
Fokusfehljustierungssignals zu dem Fokusservofehlersignal optimiert
wird.
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Weiterhin
ist aus
EP-A-0 392 561 ein
optisches Plattenlaufwerk zum Aufzeichnen/Wiedergeben von Information
auf/von einem optischen Plattenmedium bekannt, in welchem Kalibrierungswerte zum
Einstellen der Servoschaltungen in jeder von einer Vielzahl von
Regionen auf der Plattenoberfläche bestimmt
werden.
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Gemäß
US-A-5 828 636 ist
eine optische Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Plattenvorrichtung bekannt,
welche einen Fokusversatzmechanismus zum Steuern einer Linse aufweist,
um einen Laserstrahl auf einer Platte zu fokussieren, einen Auswerter
eines wiedergegebenen Signals zum Auswerten der Qualität des wiedergegebenen
Signals auf der Basis der Ausgabe von einem Detektor eines wiedergegebenen
Signals, ein Controller zum Einstellen des Betriebszielpunktes des
Fokusversatzmechanismus, wobei die beste Qualität des wiedergegebenen Signals
auf der Basis der Ausgabe von dem Auswerter des wiedergegebenen
Signals erhalten wird, und eine Fehljustierungsgeneratorschaltung
zum Ausgeben eines Fokusfehljustierungssignals in Reaktion auf einen
Befehl von dem Controller.
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KURZE ZUSAMMENFASSUNG DER
ERFINDUNG
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Es
ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine optische Plattenvorrichtung
und ein Fokuswertkorrekturverfahren vorzusehen, welche einen Fokuswert
innerhalb einer kurzen Zeit genau korrigieren können, und welche somit eine
gute Aufzeichnungs-/Wiedergabecharakteristik aufweisen.
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Diese
Aufgabe wird durch eine optische Plattenvorrichtung und ein Fokuswertkorrekturverfahren gemäß den angefügten unabhängigen Ansprüchen erreicht.
Vorteilhafte Merkmale der vorliegenden Erfindung sind in den entsprechenden
unabhängigen Ansprüchen definiert.
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Mit
der vorliegenden Erfindung wird der Beobachtungspunkt, an welchem
der Fokuswert korrigiert wird, um eine zuverlässige Fokussiersteuerung zu
erreichen, von einem optimalen Punkt abgelenkt, wobei der Brennwert
innerhalb einer kurzen Zeit genau korrigiert wird. Die optische
Plattenvorrichtung der Erfindung kann daher eine gute Aufzeichnungs-/Wiedergabe-Charakteristik
aufweisen.
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KURZE BESCHREIBUNG DER MEHREREN
ANSICHTEN DER ZEICHNUNG
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1 ist
ein Blockdiagramm einer optischen Plattenvorrichtung gemäß dieser
Erfindung;
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2 ist
ein Blockdiagramm, welches die Hauptkomponenten der optischen Plattenvorrichtung zeigt;
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3 ist
ein Diagramm, welches eine optische Platte darstellt, auf welcher
und von welcher die optische Plattenvorrichtung Daten aufzeichnet
und wiedergibt;
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4 ist
ein Flussdiagramm, welches den Betrieb der optischen Plattenvorrichtung
erläutert;
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5 ist
ein Evaluierungsfunktionscharakteristikdiagramm zum Erläutern der
Beziehung zwischen einem eingestellten Brenn(punkt)wert und einem
Beobachtungspunkt;
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6 ist
ein Evaluierungsfunktionscharakteristikdiagramm, welches erläutert, wie
sich der optimale Brennpunkt und der Beobachtungspunkt bewegen,
wenn die Temperatur ansteigt; und
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7 ist
ein Evaluierungsfunktionscharakteristikdiagramm, welches erläutert, wie
sich der optimale Brennpunkt und der Beobachtungspunkt bewegen,
wenn die Temperatur fällt.
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DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
DER ERFINDUNG
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Eine
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wird mit Bezug auf die begleitenden Zeichnungen
beschrieben werden. Die Ausführungsform ist
eine optische Plattenvorrichtung, die einen optischen Kopf 2 aufweist,
wie in 1 gezeigt ist. Die Vorrichtung ist ausgelegt,
um Daten auf und von der Signal aufzeichnenden Oberfläche einer
optischen Platte 1 aufzuzeichnen und wiederzugeben.
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Die
optische Plattenvorrichtung umfasst zusätzlich zu dem optischen Kopf 2 eine
Matrixschaltung 3, eine PLL-Schaltung 4, eine
Evaluierungsfunktionserzeugungsschaltung 5, einen Controller 6 und eine
Servoschaltung 7. Die Matrixschaltung 3 erzeugt
verschiedene Fehlersignale und dergleichen von der Ausgabe des optischen
Kopfes 2. Die PLL-Schaltung 4 erzeugt ein Systemtaktsignal
aus dem wiedergegebenen RF-Signal, welches durch die Matrixschaltung 3 erzeugt
wird. Das Systemtaktsignal wird der Evaluierungsfunktionserzeugungsschaltung
zugeführt.
Die Evaluierungsfunktionserzeugungsschaltung 5 erzeugt
eine Evaluierungsfunktion (später
beschrieben) aus dem Jitter, welchen die PLL-Schaltung 4 erzeugt
hat. Der Controller 6 steuert die Servoschaltung 7 in Übereinstimmung
mit der Evaluierungsfunktion, welche durch die Evaluierungsfunktionserzeugungsschaltung 5 erzeugt
wird. Die Servoschaltung 7 führt eine Fokussiersteuerung,
wie später
im Detail beschrieben wird, unter der Steuerung des Controllers 6 durch.
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Die
optische Plattenvorrichtung umfasst weiterhin eine Schnittstellenschaltung 8,
eine ECC-Schaltung 9, einen Modulator 10 und eine Wellenformaufzeichnungssteuerschaltung 11.
Die Schnittstellenschaltung 8 verbindet die ECC-Schaltung 9 mit
einem externen Hostcomputer (nicht gezeigt). Die ECC-Schaltung 9 empfängt Befehle
und Daten von dem externen Hostcomputer über die Schnittstellenschaltung 8 und
fügt den
Daten Datenkorrekturcodes hinzu. Der Modulator 10 moduliert
die Ausgabe der ECC-Schaltung 9. Die Wellenformaufzeichnungssteuerschaltung 11 konvertiert
die Daten, welche von dem Modulator 10 ausgegeben werden, zu
einem Aufzeichnungssignal einer geeigneten Magnitude. Das Aufzeichnungssignal
wird dem optischen Kopf 2 zugeführt, welcher Markierungen auf der
optischen Platte 1 in Übereinstimmung
mit der Wellenform des aufgezeichneten Signals aufzeichnet.
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Die
optische Plattenvorrichtung umfasst weiterhin eine Wellenformentzerrungsschaltung 12,
eine Datenextraktionsschaltung 13 und einen Demodulator 14.
Die Wellenformentzerrungsschaltung 12 entzerrt die Wellenform
des RF-Signals, welches von der Matrixschaltung 3 zugeführt wird.
Die Datenextraktionsschaltung 13 extrahiert binäre Daten
von der Ausgabe der Wellenformentzerrungsschaltung 12. Der
Demodulator 14 demoduliert die binären Daten, welche von der Datenextraktionsschaltung 13 ausgegeben
werden.
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Um
Daten auf der optischen Platte 1 aufzuzeichnen, empfängt die
ECC-Schaltung 9 Befehle und Daten von dem externen Hostcomputer
durch die Schnittstellenschaltung 8 und fügt den Daten
Datenkorrekturcodes hinzu. Die Ausgabe der ECC-Schaltung 9 wird
dem Modulator 10 zugeführt. Der
Modulator 10 moduliert die Daten, welche von der ECC-Schaltung 9 ausgegeben
werden. Die Daten, welche moduliert werden, werden der Steuerschaltung 11 zugeführt, welche
die Daten zu einem Aufzeichnungssignal einer geeigneten Magnitude konvertiert.
Das aufgezeichnete Signal wird dem optischen Kopf 2 zugeführt. Der
Kopf 2 erzeugt einen Laserstrahl, welcher eine Intensität aufweist,
die der Wellenform des aufgezeichneten Signals entspricht. Der optische
Kopf 2 wendet einen Laserstrahl an, welcher auf die optische
Platte 1 angewandt wird, wodurch die Daten auf der optischen
Patte 1 aufgezeichnet werden.
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Um
die Daten von der optischen Platte 1 wiederzugeben, entzerrt
die Wellenformentzerrungsschaltung 12 die Wellenform des
RF-Signals, welches von der Matrixschaltung 3 zugeführt wird.
Die Datenextraktionsschaltung 13 extrahiert binäre Daten
von der Ausgabe der Wellenformentzerrungsschaltung 12.
Der Demodulator 14 demoduliert die binären Daten, welche von der Datenextraktionsschaltung 13 ausgegeben
werden. Die ECC-Schaltung 9 korrigiert Lesefehler, falls
vorhanden, welche aus den Defekten resultieren, welche in der Aufzeichnungsoberfläche der
Platte 1 vorhanden sind. Die binären Daten, welche so korrigiert
sind, werden dem externen Hostcomputer durch die Schnittstellenschaltung 8 zugeführt.
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Die
Servoschaltung 7 empfangt verschiedene Fehlersignale von
der Matrixschaltung 3. In Übereinstimmung mit den Fehlersignalen
führt die
Servoschaltung 7 eine Fokussiersteuerung, eine Spurführungssteuerung,
eine Spiralensteuerung und dergleichen durch, wodurch der Strahlfleck
auf der optischen Platte 1 genau positioniert wird, wobei
der Strahlfleck, welcher dem Laserstrahl des optischen Kopfes 2 zugehörig ist,
auf die optische Platte 1 angewandt wird. Die vorliegende
Erfindung wird auf die Fokussiersteuerung angewandt, bei welcher
die Signalaufzeichnungsoberfläche
der optischen Platte 1 innerhalb der Brennweite der Objektivlinse,
welche in dem Kopf 2 inkorporiert ist, angeordnet ist.
Die Fokussiersteuerung, welche durch die Servoschaltung 7 erreicht
wird, wird durch Änderungen
in der Fehljustierung bewirkt, welche aus einem Temperaturanstieg
und dergleichen in der optischen Plattenvorrichtung resultieren.
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Der
Anfangsfokuswert, welcher in der Servoschaltung 7 eingestellt
ist, wird daher in der optischen Plattenvorrichtung, wie unten beschrieben
werden wird, korrigiert.
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Zuerst
erzeugt die Evaluierungsfunktionserzeugungsschaltung 5 eine
Evaluierungsfunktion aus dem Signal, welche die Matrixschaltung 3 aus
dem Lichtstrahl erzeugt hat, welcher von der optischen Platte 1 reflektiert
wird, und welcher durch den optischen Kopf 2 detektiert
wird. Noch genauer erzeugt die Schaltung 5 die Evaluierungsfunktion
aus dem Jitter, welchen die PLL-Schaltung 4 erzeugt, wenn
sie das Systemtaktsignal aus dem RF-Signal erzeugt, welches von
der Matrixschaltung 3 zugeführt wird. Die Evaluierungsfunktion,
welche so erzeugt wird, wird in der Fokussiersteuerung verwendet
werden. Die Evaluierungsfunktionserzeugungsschaltung 5 kann
die Evaluierungsfunktion aus der Amplitude des RF-Signals erzeugen,
nicht aus dem Jitter, welchen die PLL-Schaltung 4 erzeugt.
Die Evaluierungsfunktion, welche so erzeugt wird, wird durch den
Controller 6 gelesen.
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Der
Controller 6 korrigiert den Fokuswert durch Durchführen des
Fokuswertkorrekturverfahrens gemäß dieser
Erfindung. In dem Verfahren (später
im Detail beschrieben) wird ein Anfangsbrennwert an einem Punkt
eingestellt, wo die Evaluierungsfunktion minimal ist, und ein Beobachtungspunkt
wird eingestellt, welcher von dem Punkt abweicht, wo der Anfangsbrennwert
eingestellt ist. Der Controller 6 korrigiert den Anfangsbrennwert,
welcher so eingestellt wird, in der Servoschaltung 7 in Übereinstimmung
mit der Änderung
in der Evaluierungsfunktion an dem Beobachtungspunkt.
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Die
Servoschaltung 7 verwendet den Brennwert, welcher durch
den Controller 6 korrigiert wird, wodurch eine Fokussiersteuerung
erreicht wird. 2 zeigt die Servoschaltung 7 und
die peripheren Komponenten der Schaltung 7. Wie in 2 gezeigt ist,
wird der Brennwert, welcher so korrigiert wird, von dem Controller 6 zu
der Komparatorschaltung 15 zugeführt, welcher in der Servoschaltung 7 vorgesehen ist.
Ein Fokusfehlersignal wird von der Matrixschaltung 3 zu
der Komparatorschaltung 15 zugeführt. Die Komparatorschaltung 15 vergleicht
das Fokusfehlersignal mit dem Fokuswert, wobei der Unterschied zwischen
dem Fokusfehler und dem Fokuswert gefunden wird. Die Komparatorschaltung 15 führt ein Steuersignal
zu einer Spule 2a durch einen Steuerverstärker 16 zu,
bis der Unterschied zwischen dem Fokusfehler und dem Fokuswert auf
Null abnimmt. Eine Fokussiersteuerung wird dadurch an dem optischen
Kopf 2 durchgeführt.
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Die
optische Platte 1 wird mit Bezug auf 3 beschrieben
werden. Wie 3 zeigt, weist die optische
Platte 1 einen Aufzeichnungsbereich 21, einen
ROM-Bereich 22 und vier Pit-Bereiche 23 auf ihrer
Aufzeichnungsoberfläche
auf. Jeder Pit-Bereich 23 besteht aus einem Sektormarkierungs-(SM)-Bereich 24,
einem VFO-Bereich 25, einem Präambel-(PA)-Bereich 26,
einem Adressmarkierungs-(AM)-Bereich 27, einem Adress-ID-Daten-(ID)-Bereich 28 und
einem Fokussiereinstellungs-(FA)-Bereich 29. Eine Sektormarkierung
wird in dem SM-Bereich 24 aufgezeichnet, um eine gewöhnliche
Pit-Adressierung zu erreichen. Der VFO-Bereich 25 wird
vorgesehen, um eine PLL-Datenextraktion zu erreichen. Die Adressdaten,
welche die Positionen der Spuren bestimmen und die Zufallsdaten
zur Verwendung in der Fokuseinstellung werden auf der optischen
Platte 1 aufgezeichnet. Nichtsdestotrotz können Zufallsdaten
nicht aufgezeichnet werden, und die Adressdaten können auch verwendet
werden, um eine Fokuseinstellung zu erreichen. Der ROM-Bereich 22 und
die Pit-Bereiche 23 sind optische hinsichtlich der linearen
Dichte, Spurabstand und dergleichen äquivalent.
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Währen die
optische Platte 1 in der Richtung des Pfeils 30 gedreht
wird, bewegt sich der Strahlpunkt, den der Laserstrahl, welcher
von dem Kopf 2 emittiert wird, auf der optischen Platte
bildet, auf jeden Pit-Bereich 23 in der Richtung des Pfeils 31.
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Spurzahlen
sind in dem SM-Bereich 24 kaum in der Form von Muster,
die leicht gelesen werden können,
beschrieben. Der VFO-Bereich 25 ist vorgesehen, um eine
PLL-Operation zu erreichen, um eine Synchronisation in dem ID-Bereich 28 zu
verhindern. Der PA-Bereich 26 ist ein sogenannter "Schutzbereich". Der AM-Bereich 27 ist
einer PLL-Operation unterzogen worden, was anzeigt, dass der ID-Bereich 28 als
nächstes
folgen wird. Der ID-Bereich 28 ist notwendig, um die Spurzahl,
Sektorzahl und andere Daten in der Spur aufzuzeichnen.
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Der
FA-Bereich 29 ist vorgesehen, um einen Brennwert zum Durchführen einer
Fokussiersteuerung in der optischen Plattenvorrichtung einzustellen. In
dem FA-Bereich 29, ist z. B. ein zufälliges Trägermuster beschrieben. Die
Evaluierungsfunktionserzeugungsschaltung 5 verwendet das
Zufallsträgermuster,
um den Jitter zu messen, welchen die PLL-Schaltung 4 erzeugt
hat. An dem Ende des ID-Bereichs 28 startet die Fokusänderungsoperation, wobei
der Jitter durch Verwenden des Zufallsträgermusters gemessen wird.
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Wie
in 3 gezeigt ist, sind Pit-Bereiche 23 angeordnet,
wodurch ein Kreuz gebildet wird. Somit führt die optische Plattenvorrichtung
eine Fokussiersteuerung viermal durch, wobei jedes Mal die optische
Platte 1 einmal gedreht wird.
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Wie
die optische Plattenvorrichtung die Fokussiersteuerung hinsichtlich
der optischen Platte 1 durchführt, wird mit Bezug auf das
Flussdiagramm von 4 erläutert werden. Das Flussdiagramm zeigt
die Sequenz des Korrigierens des eingestellten Fokuswertes oder
das Fokuswertkorrekturverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung.
Es ist der Controller 6, der das Fokuswertkorrekturverfahren
bewirkt.
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In
Schritt S1 wird die optische Platte 1 in die optische Plattenvorrichtung
eingeführt.
In Schritt S2 wird der optische Kopf 2 zu dem ROM-Bereich 22 bewegt,
d. h. der innersten kreisförmigen
Spur der Platte 1. Eine Gradientenmethode wird z. B. durchgeführt, wodurch
der Fokuswert korrigiert wird, so dass die Evaluierungsfunktion
minimal werden kann.
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Wie
oben beschrieben, wird die Evaluierungsfunktion von dem Jitter erzeugt,
welchen die PLL-Schaltung 4 erzeugt hat. Stattdessen kann
die Funktion solch eine werden, welche sich wie eine quadratische
Funktion mit dem Grad des Defokussierens ändert, welcher durch die Amplitude
der kleinsten Markierung repräsentiert
wird, und welche ausreichend empfindlich gegenüber dem Defokussieren ist. In
Schritt S3 wird ein Anfangsfokuswert fb eingestellt. Gleichzeitig
wird eine Beobachtungspunkt f0 eingestellt, wie in 5 dargestellt
ist. Vorzugsweise ist der Beobachtungspunkt f0 ein derartiger, vor
und nach welchem das Servosystem zuverlässig arbeitet, und welcher
soviel wie möglich
von dem Anfangsfokuswert fb abweicht. Ein Fokuswert wird an dem
Beobachtungspunkt f0 eingestellt, wodurch die Evaluierungsfunktion
F(f0) an dem Beobachtungspunkt f0 erlangt wird. Die Evaluierungsfunktion
F(f0) wird in dem Speicher oder dergleichen gespeichert.
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Danach
wird der Anfangsfokuswert fb angewandt. In Schritt S4 zeichnet die
optische Plattenvorrichtung Daten auf der optischen Platte 1 auf
oder reproduziert Daten von der optischen Patte 1. In Schritt S5
wird bestimmt, ob die Daten vollständig aufgezeichnet oder reproduziert
worden sind. Wenn bestimmt wird, dass die Daten nicht vollständig aufgezeichnet
oder reproduziert worden sind, wird der Fokuswert temporär zu dem
Beobachtungspunkt f0 in dem Fokuseinstellungs-(FA)-Bereich 29 von
jedem Pit-Bereich 23 verschoben, welcher periodisch erscheint,
da er auf der sich drehenden optischen Platte 1 vorgesehen
ist. Dann wird zu dieser Zeit eine Evaluierungsfunktion F'(f0) erlangt. Die
Evaluierungsfunktion F'(f0)
kann größer sein
als die Evaluierungsfunktion F(f0), welche zuvor erlangt wurde,
d. h.: F'(f0) > F(f0)
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In
diesem Fall kennzeichnet die Evaluierungsform F'(f0), dass der Fokuswert eine Fehljustierung
oder dergleichen enthält,
die z. B. aus dem Temperaturanstieg oder dergleichen in der optischen Plattenvorrichtung
resultiert. Mit anderen Worten hat die Evaluierungsfunktion eine
offensichtliche Änderung
durchlaufen. Somit wird der Anfangsfokuswert fb auf einen Fokuswert
f'b geändert, wodurch
der Fokuswert wieder an dem optimalen Punkt eingestellt wird. Zu
dieser Zeit wird der Beobachtungspunkt f0 erneut auf f'0 eingestellt, was
wie folgt definiert ist: f'0 = F0 + (f'b – fb)
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Die
Evaluierungsfunktion F'(f0)
kann kleiner als die Evaluierungsfunktion F(f0), welche zuvor erlangt
wurde, sein, d. h.: F'(f0) < F(f0)
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Wenn
dies der Fall ist, kennzeichnet die Evaluierungsfunktion F'(f0), dass die Temperatur
in der optischen Plattenvorrichtung gefallen ist. Somit wird der
Anfangsfokuswert fb auf einen Fokuswert f'b, wie in 7 gezeigt
ist, in Übereinstimmung
mit dem absoluten Wert des Unterschieds zwischen der Funktion F'(f0) und der Funktion
F(f0) geändert.
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Wie
beschrieben worden ist, kann das Fokuswertkorrekturverfahren gemäß der Erfindung
die Änderung
in einem Servozielwert aufgrund der Fehljustierung, welche in dem
Fokuswert enthalten ist, sowohl in der Magnitude als auch in der
Richtung, durch Messen der Evaluierungsfunktion an nur einem Beobachtungspunkt
korrigieren. Da die Evaluierungsfunktion an dem Beobachtungspunkt
minimal ist, kann der Brennwert korrigiert werden, sogar, während der
Kopf 2 Daten auf der Platte 1 aufzeichnet oder
Daten von der Platte 1 reproduziert, da die optische Platte 1 Pit-Bereiche 23 aufweist.
Somit kann das Defokussieren zuverlässig während des Datenaufzeichnungsbetriebs
und des Datenreproduktionsbetriebs minimiert werden. Dies ermöglicht,
dass die optische Plattenvorrichtung Daten auf und von der optischen
Platte 1 mit hoher Dichte aufzeichnet und reproduziert.
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Der
Brennwert zur Fokussiersteuerung kann jedes Mal korrigiert werden,
wenn die optische Platte 1 eine vorgeschriebene Anzahl
von Malen gedreht wird. Alternativ kann der Brennwert korrigiert
werden, warm immer sich die Temperatur in der optischen Plattenvorrichtung
um einen vorbestimmten Wert ändert.
Noch weiterhin alternativ kann der Brennwert in regelmäßigen Zeitintervallen
korrigiert werden. Die CPU 6 bestimmt die Zeitgabe des
Korrigierens des Brennwerts aus einer Anzahl von Malen, wo die optische
Platte 1 gedreht worden ist, aus den Änderungen der Temperatur in
der optischen Plattenvorrichtung, oder aus der Zeit, die abgelaufen
ist.