DE4430043A1 - Optischer integrierter Schaltkreis - Google Patents
Optischer integrierter SchaltkreisInfo
- Publication number
- DE4430043A1 DE4430043A1 DE4430043A DE4430043A DE4430043A1 DE 4430043 A1 DE4430043 A1 DE 4430043A1 DE 4430043 A DE4430043 A DE 4430043A DE 4430043 A DE4430043 A DE 4430043A DE 4430043 A1 DE4430043 A1 DE 4430043A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- optical
- integrated circuit
- optical integrated
- circuit according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
- G02B6/12—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
- G02B6/122—Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
- G02B6/12—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
- G02B6/12004—Combinations of two or more optical elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
- G02B6/12—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
- G02B2006/12035—Materials
- G02B2006/12069—Organic material
- G02B2006/12071—PMMA
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen optischen integrierten Schalt
kreis, welcher insbesondere in einem optischen Übertragungsge
rät, einem optischen Meßinstrument u. a. verwendet wird.
Üblicherweise gibt es eine Prismen-, eine Gitter-Kopplung,
u. a., um einen Laser an einen Wellenleiter zu koppeln. In die
sem Fall trifft der Laser von oben auf eine obere Seite des
Wellenleiters und wird an den Wellenleiter gekoppelt. Die ge
lenkte optische Welle wird übertragen, durch eine Linsenanord
nung fokussiert, von einem Ultraschallenwellen-Gitter reflek
tiert und durch eine elektro-optische Vorrichtung moduliert.
Danach wird die optische Welle an den Koppler abgegeben, wel
cher wiederum das Gitter, das Prisma u.ä. ist, oder wird in
einem Photodetektor detektiert. Obwohl der Photodetektor so
ausgebildet ist, daß seine detektierende Seite die obere ist,
kann die optische Welle ohne weiteres absorbiert werden, indem
die tieferliegende Mantelschicht dünn gemacht wird. Folglich
kann die optische Welle fein detektiert werden.
Anhand von Fig. 7 wird ein erster bekannter optischer inte
grierter Schaltkreis beschrieben. In einem Substrat 1 ist eine
Pufferschicht 1b auf einem Si-Substrat eines Halbleiters aus
gebildet. Eine Kernschicht 2 ist in diesem Substrat 1 ausge
bildet, und eine erste Mantelschicht 3 wird auf der Kernschicht
2 ausgebildet. Eine zweite Mantelschicht 4 wird auf der ersten
Mantelschicht 3 ausgebildet. In diesem Fall setzt sich ein Wel
lenleiter 5 aus der Pufferschicht 1b, der Kernschicht 2, der
ersten und der zweiten Mantelschicht 3 bzw. 4 zusammen. Der
Brechungsindex der Kernschicht 2 ist etwas kleiner als derjeni
ge der beiden Mantelschichten 3, 4 und der Pufferschicht 1b.
Eine Schräge T ist in dem Wellenleiter 5 ausgebildet, und ein
Detektor 6 einer PIN-Photodiode ist unter dem Wellenleiter an
grenzend an die Schräge T ausgebildet. Eine Elektrode 8 ist mit
einer Kontaktbohrung 7 verbunden, welche über dem Detektor 6
ausgebildet ist und ist mit einem Draht 9 kontaktiert. Eine
Öffnung 10 ist in der zweiten Mantelschicht 4 ausgebildet, und
ein Prisma 11 ist an einer Öffnung 10 festgelegt.
In diesem Aufbau trifft ein Laser 12 auf das Prisma 11 von der
linken oberen Seite in Fig. 7 und trifft über die Öffnung 10 auf
die erste Mantelschicht 3. Wenn ein hoher Brechungsindex wie
bei dem Prisma 10 verwendet wird und ein niedriger Brechungsin
dex wie bei der ersten Mantelschicht 3 verwendet wird und wenn
eine Dämpfungswelle des Lasers, welche im Zustand einer Total
reflektion auftrifft, in der Phase an einen Wellenleitermodus
angepaßt ist, wird auftreffende Strahlenergie zu einer Sende
strahlenergie hin verschoben. Daher wird eine geführte optische
Welle 13 angeregt und in der richtigen Richtung übertragen. Auf
diese Weise wird der Laser von dem Prisma 11 aus an den Wellen
leiter 5 gekoppelt. Eine elektrische Feldverteilung eines Kop
plungsmodus ist in der ersten Mantelschicht 3 stark und in der
zweiten Mantelschicht 4 schwach und die geführte optische Welle
13 wird daher begrenzt. Daher wird der zugeführte Laserstrahl
nicht wieder abgegeben, sondern wird in dem Wellenleiter 5
übertragen. Wenn in diesem Fall die zweite Mantelschicht 4 dick
ist und der Brechungsindex der ersten Mantelschicht 3 derselbe
wie derjenige der zweiten Mantelschicht ist, wird, selbst wenn
ein Material mit einem hohen optischen Wellenabsorptionsver
hältnis in der zweiten Mantelschicht 4 verwendet ist, die ge
führte optische Welle 13 nicht verringert. Ferner ist die Puf
ferschicht 1b unter der Kernschicht 2 ausgebildet, um zu ver
hindern, daß die optische Welle in dem Si-Substrat 1a absor
biert wird. Folglich wird dann die geführte optische Welle 13
in dem Wellenleiter 5 übertragen und sie kann an dem Detektor 6
wirksam gefühlt werden, da sie durch die Schräge T geführt ist.
Danach wird ein elektrisches Signal von dem Detektor 6 aus an
die Elektrode 8 abgegeben und über den Draht 9 nach außen ge
leitet. In der Praxis ist eine Elektrode unter dem Substrat 1
(was in Fig. 7 nicht dargestellt ist) ausgebildet, und es wird
eine Potentialdifferenz zwischen den Elektroden abgegeben.
Schließlich wird ein Ausgangssignal abgegeben.
Wenn in diesem Fall der Photodetektor 6 so ausgebildet ist, daß
seine detektierende Seite oben auf dem Substrat 1 liegt, wird
eine optische Welle von der höher liegenden Außenseite des Sub
strats ohne weiteres gefühlt und sie wird eine optische Stör
welle. Wenn ein optischer integrierter Schaltkreis in einem
Schattierungsbehälter installiert ist, kann die optische Stör
welle gemindert werden. Wenn jedoch der Laser von der Außensei
te her eingegeben werden muß, kann er nicht in einem vollstän
dig dunklen Behälter untergebracht werden. Wenn daher ein hohes
Signal/Rausch-Verhältnis notwendig ist, ist dies nicht genug.
Obwohl eine Struktur des optischen integrierten Schaltkreises,
in welchem die optische Welle von außen her nicht auf den De
tektor 6 auftreffen kann, notwendig ist, ist beim Stand der
Technik eine solche Vorrichtung nicht bekannt.
Jedoch wird eine geführte optische Welle 13, welche in dem Wel
lenreiter 5 übertragen wird, durch die Gleichförmigkeit einer
kristallinen Struktur einen Brechungsindex oder eine Schicht
dicke oder eine Fremdkörperpartikel gestreut. Daher werden ge
streute optische Wellen, deren Ausbreitungrichtungen gestört
sind, erzeugt. Da einige dieser gestreuten optischen Wellen in
der Kernschicht 2 übertragen werden, erreichen sie den Photode
tektor 6. Wenn deren Wellenfronten in Unordnung sind, werden
sie gestörte optische Wellen, welche optische Störwellen sind.
Da einige dieser gestreuten optischen Wellen in dem Wellenlei
ter 5 übertragen werden, welcher die Kernschicht 2 enthält, er
reichen auch sie den Photodetektor 6 und werden optische Stör
wellen. Obwohl ein Aufbau, in welchem die gestreuten optischen
Wellen wirksam absorbiert werden können, notwendig ist, um op
tische Störwellen zu verhindern, ist ein derartiger Aufbau bis
her nicht bekannt geworden.
Als nächstes wird eine zweite bekannte Lösung beschrieben. In
der offengelegten japanischen Patentanmeldung 01-144002 ist ein
optischer integrierter Schaltkreis beschrieben. In diesem opti
schen integrierten Schaltkreis wird eine optische TM-Welle in
einem Wellenleiter übertragen. Es wird ein komplexes Dielektri
kum verwendet, um unnötige optische TM-Wellen zu absorbieren.
Fig. 8 ist ein Beispiel, in welchem diese bekannte Lösung bei
einem optischen integriertem Kopf für einen optischen Tisch
bzw. ein optisches Pult verwendet wird. Ein Wellenleiter 15 ist
in einem Substrat 14 ausgebildet, welches sich aus einem Si-
Substrat 14a und einer Pufferschicht 14b zusammensetzt. Komple
xe Dielektrika 16a und 16b sind an dem Wellenleiter 15 ausge
bildet. Eine (in Fig. 8 nicht dargestellte) Pufferschicht ist
unter dem Dielektrikum 16a ausgebildet. Folglich werden unnöti
ge optische TM-Wellen von einem Laser, welche sekundär erzeugt
werden, durch das komplexe Dielektrikum 16 gemindert. Fig. 9 ist
ein Beispiel, bei welchem diese bekannte Methode bei einem op
tischen integrierten Fluidstrommesser angewendet ist. Ein Die
lektrikum 16 ist an dem Wellenleiter 15 auf dem Substrat 14
ausgebildet. Wenn eine nicht-gebeugte optische TM-Welle 18 des
Lasers wirksam absorbiert wird, wird ein Verlust an optischer
Leistung reduziert.
In den Ausführungen ist ein komplexes Dielektrikum als ein
Material mit einer komplexen dielektrischen Konstante defi
niert, und als Beispiele sind ein Metall und leitfähige Keramik
offenbart. Das Metall oder die leitfähige Keramik ist an dem
Wellenleiter ausgebildet. Folglich wird eine unnötige optische
TM-Welle in einer Schicht aus dem Metall oder der leitfähigen
Keramik absorbiert. Jedoch können gestreute optische Wellen,
welche nicht TM-Wellen sind, nicht absorbiert werden und sie
werden an der Schicht aus Metall oder der leitfähigen Keramik,
welche ein hohes Reflexionsvermögen haben, wieder zu dem Wel
lenleiter hin reflektiert. Folglich besteht tatsächlich eine
Schwierigkeit, daß die gestreuten optischen Wellen nicht absor
biert werden können.
Gemäß der Erfindung soll daher ein optischer integrierter
Schaltkreis geschaffen werden, in welchem verhindert ist, daß
störende optische Wellen von außen her auftreffen, und in wel
cher unnötige gestreute optische Wellen, welche in einem Wel
lenleiter erzeugt werden, absorbiert werden. Ferner soll gemäß
der Erfindung ein optischer integrierter Schaltkreis geschaffen
werden, dessen Herstellungsprozeß preiswert ist.
Gemäß der Erfindung ist dies bei einem optischen integrierten
Schaltkreis durch die Merkmale im Anspruch 1 erreicht. Vorteil
hafte Weiterbildungen sind Gegenstand der auf den Anspruch 1
unmittelbar oder mittelbar rückbezogenen Ansprüche. Gemäß einer
bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist ein optischer in
tegrierter Schaltkreis geschaffen, welcher ein Substrat, einen
Wellenleiter, welcher eine Kernschicht und zumindest eine Man
telschicht aufweist, die auf dem Substrat ausgebildet ist, in
welchem eine optische Welle geführt und übertragen wird, und
eine Deckschicht aufweist, deren Material einen hohen optischen
Wellenabsorptionsgrad hat, welche teilweise oder ganz an dem
Wellenleiter ausgebildet ist.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand von bevorzugten Ausfüh
rungsformen unter Bezugnahme auf die anliegenden Zeichnungen im
einzelnen erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine Schnittansicht eines optischen integrierten Schalt
kreises gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfin
dung;
Fig. 2 eine Draufsicht auf einen optischen integrierten Schalt
kreis gemäß der ersten Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 3 eine Schnittansicht eines Bewegungszustands einer opti
schen Welle gemäß der Erfindung;
Fig. 4(a) eine schematische Darstellung einer Struktur einer
hochmolekularen Verbindung gemäß einer dritten Ausfüh
rungsform der Erfindung;
Fig. 4(b) eine schematische Darstellung einer Struktur einer
hochmolekularen Verbindung einer weiteren Ausführungs
form gemäß der Erfindung;
Fig. 5 eine schematische Darstellung einer Struktur einer hoch
molekularen Verbindung noch einer weiteren Ausführungs
form der Erfindung;
Fig. 6 eine Schnittansicht eines optischen integrierten Schalt
kreises einer fünften Ausführungsform gemäß der Erfin
dung;
Fig. 7 eine Schnittansicht einer bekannten ersten Ausführung
eines optischen integrierten Schaltkreises;
Fig. 8 ein schematisches Diagramm einer zweiten bekannten Aus
führung, und
Fig. 9 ein schematisches Diagramm noch einer weiteren bekannten
Ausführung.
Anhand von Fig. 1 bis 3 wird nunmehr eine erste Ausführungsform
beschrieben. Hierbei werden dieselben Teile wie bei der anhand
von Fig. 7 erläuterten Ausführung nicht mehr beschrieben und die
selben Bezugszeichen werden immer für die gleichen Teile verwen
det.
Fig. 1 ist eine Schnittansicht eines optischen integrierten
Schaltkreises und Fig. 2 ist eine Draufsicht davon. Eine Kern
schicht 2 ist auf einem Substrat 1 ausgebildet, welches ein Si-
Substrat 1a und eine Pufferschicht 1b aufweist, und eine erste
Mantelschicht 3 sowie eine zweite Mantelschicht 4 sind auf der
Kernschicht 2 ausgebildet. Der Brechungsindex der Kernschicht 2
ist etwas kleiner als diejenigen der beiden Mantelschichten 3
und 4 und der Pufferschicht 1b. In diesem Fall ist eine Deck
schicht 19 (19a, 19b, 19c), deren Material einen hohen optischen
Wellenabsorptionsgrad hat und welche als ein Hauptmaterial eine
hochmolekulare Verbindung enthält, auf der zweiten Mantelschicht
4, in einer Kontaktbohrung 7 und an beiden Endseiten eines Sub
strats 1 ausgebildet. Die hochmolekulare Verbindung ist PMMA
(Polymethylmethacrylat), die Azo-Farbstoff enthält. Wenn der op
tische Wellenabsorptionsgrad dieser hochmolekularen Verbindung
hoch ist, treten keine Schwierigkeiten auf. Wenn jedoch nicht,
kann das optische Wellenabsorptionsverhältnis durch den Farb
stoffgehalt erhöht werden. Da jedoch eine solche hochmolekulare
Verbindung eine geringe Leitfähigkeit hat, kann sie in Kontakt
mit einer Elektrode 8 stehen. Daher ist die Deckschicht 19, wel
che eine hochmolekulare Verbindung geringer Leitfähigkeit ist,
in die Kontaktbohrung 9 an einem Detektor 6 gefüllt, welcher mit
der Elektrode 8 verbunden ist.
Eine thermoplastische hochmolekulare Verbindung wird als die
Deckschicht 19 verwendet, und dieses Material kann leicht durch
Erwärmen abdecken. Da ein Kontaktierungsteil 9a, welcher mit
einem Draht 9 verbunden ist, in der Elektrode 8 ausgebildet ist
und ein Prisma 11 an dem Wellenleiter 9 haftet, müssen Teile,
welche keine Abdeckschicht 19 haben, an dem Wellenleiter 5 aus
gebildet werden. Diese Teile können ohne weiteres mittels Sieb
drucktechnik u.ä. ausgebildet werden. Selbst nachdem das Prisma
11 an dem Wellenleiter 5 haftet, können sie durch diese Technik
ausgebildet werden. Somit kann der Herstellungsprozeß preiswert
durchgeführt werden.
Die hochmolekulare Verbindung der Deckschicht 19 wird leicht
hergestellt, selbst wenn die Schicht 19 dick wird. In diesem
Fall hat die Schicht 19 die Funktion einer Schutzschicht. Wenn
jedoch eine (in Fig. 1 nicht dargestellte) Metallschicht auf der
Deckschicht 19 als eine oberste Schicht ausgebildet wird, kann
die Deckschicht 19 als eine Zwischenschicht geringer Leitfähig
keit verwendet werden. Darüber hinaus kann die Deckschicht 19
dadurch ausgebildet werden, daß der Farbstoff in der hochmoleku
laren Verbindung eines Klebstoffs u.ä. enthalten ist.
Als nächstes wird nunmehr die Wirkungsweise beschrieben. Fig. 3
ist eine schematische Darstellung, welche gestreute optische
Wellen zeigt, welche in dem Wellenleiter 5 erzeugt werden. Eine
Fremdkörper-Partikel 20a, welcher ein Streuen bewirkt, ist in
der Kernschicht 2 vorhanden, und eine Fremdkörper-Partikel 20b
ist in der ersten Mantelschicht 3 enthalten. Störende optische
Wellen 21a und 21b treffen auf eine Endseite des Wellenleiters
5. Die Fremdkörper-Partikel 20a erzeugt gestreute optische Wel
len 22a bis 22e, die von der optischen störenden Welle 21a aus
gehen. Die Fremdkörper-Partikel 20b erzeugt eine gestreute opti
sche Welle 22f, welche von der störenden optischen Welle 21b
ausgeht. Die störenden optischen Wellen 23a und 23b treffen von
oben auf die Deckschicht 19 auf.
Die störende optische Welle 21a von dem Ende des Wellenleiters
wird in die Kernschicht 2 übertragen. Ein Teil der optischen
Welle 21a kollidiert mit der Fremdkörper-Partikel 20a, und es
werden mehrere gestreute optische Wellen erzeugt. Viel von der
optischen gestreuten Welle 22a, welches an der Fremdkörper-Par
tikel 20a in der Richtung weiter nach unten gestreut wird,
trifft auf das Si-Substrat 1a auf und wird dort absorbiert. Ein
gewisser Teil der optischen Welle 22a wird wieder in der Rich
tung nach oben reflektiert. Viel von der gestreuten optischen
Welle 22c, welche in die Richtung nach oben gestreut wird,
trifft auf die Deckschicht 19 und wird dort absorbiert. Ein Teil
der optischen Welle 22c wird dann wieder in der Richtung nach
unten reflektiert. Auf diese Weise erfolgen die Reflexion und
die Absorption mehrmals in dem Si-Substrat 1a und an der Deck
schicht 19. Folglich werden, die gestreuten optischen Wellen 22a
und 22c sehr stark reduziert. Der Fall bei der gestreuten opti
schen Welle 22d liegt so , daß der Neigungswinkel der Reflexion
der gestreuten optischen Welle 22d kleiner ist als derjenige der
gestreuten optischen Welle 22c. Wenn der Reflexionsgrad an der
ersten Schicht 3, der zweiten Mantelschicht 4 und der Deck
schicht 19 größer ist, wird der optische Wellenabsorptionsgrad
geringer. Wenn jedoch die Reflexion und die Absorption mehrmals
wie im Fall der gestreuten optischen Welle 22c erfolgt ist, wird
die gestreute optische Welle 22d allmählich kleiner. Ferner
liegt der Fall bei der gestreuten optischen Welle 22e so, daß
der Reflexions-Neigungswinkel klein ist. Wenn die Kernschicht 2
ein Mehrmodentyp ist, wird die optische Welle 22e in der Schicht
übertragen. Ferner wird die gestreute optische Welle 20d, deren
Bewegungs- oder Ausbreitungsrichtung sich nicht ändert, übertra
gen, ohne kleiner zu werden. Diese gestreuten optischen Wellen,
welche ohne Absorption übertragen werden, werden an dem Detektor
6 detektiert und werden optische Störwellen. Jedoch können, wenn
die Deckschicht 19 in der Kontaktbohrung 7 ausgebildet ist, die
se optischen Wellen absorbiert werden. Darüber hinaus ist es
vorteilhaft, daß die Deckschichten 19a und 19b an den Enden des
Wellenleiters ausgebildet werden.
Andererseits wird viel von der störenden optischen Welle 21b,
welche unter einem gewissen Winkel von der Endseite des Wellen
leiters aus auffällt, absorbiert, bis sie an dem Detektor 6 ein
trifft. Ein Teil der optischen Welle 21b kollidiert mit der
Fremdkörper-Partikel 20b und es wird eine gestreute optische
Welle 22f erzeugt. Wenn der Reflexionswinkel dieser gestreuten
optischen Welle 22f so wie bei einer optischen Welle ist, wird
der Absorptionsgrad geringer, und die optische Welle 22f wird
eine geführte optische Welle 13. Wenn jedoch die Deckschicht 19
auch in der Kontaktbohrung 7 ausgebildet ist, können diese opti
schen Wellen absorbiert werden. Es ist jedoch auch vorteilhaft,
daß die Deckschichten 19a und 19b an den Enden des Wellenleiters
ausgebildet sind. Außerdem können die störenden optischen Wellen
23a und 23b, welche von oben auf die Deckschicht 19 auftreffen,
leicht in der Deckschicht 19 absorbiert werden.
Wenn, wie oben beschrieben, die Deckschicht 19, welche aus der
hochmolekularen Verbindung PMMA besteht, die Azofarbstoff ent
hält, gebildet ist, kann verhindert werden, daß die störenden
optischen Wellen auf den Wellenleiter 5 auftreffen, und es kann
verhindert werden, daß die gestreuten optischen Wellen den De
tektor 6 erreichen. Wenn außerdem thermoplastisches Kunstharz
als Material der Deckschicht 19 verwendet wird, kann der Her
stellungsprozeß leicht und preiswert sein.
Als nächstes wird eine zweite Ausführungsform beschrieben, wo
bei dieselben Teile wie bei der ersten Ausführungsform nicht
nochmals beschrieben werden und dieselben Bezugszeichen für die
gleichen Teile verwendet werden. In dieser Ausführungsform wird
ein Material mit beinahe demselben Brechungsindex der Deck
schicht 19 wie denjenigen der Mantelschichten in der optischen
integrierten Schaltung der ersten Ausführungsform (siehe Fig. 1)
verwendet. Nachstehend werden spezifische Beispiele beschrieben.
Ein Brechungsindex einer in der Deckschicht 19 verwendeten hoch
molekularen Verbindung kann durch Austauschen von Molekülen ge
gen Atome ohne weiteres zwischen 1,34 und 1,7 geändert werden.
Darüber hinaus kann eine hochmolekulare Verbindung mit einem ho
hen Brechungsindex zusammengestellt werden, und deren Brechungs
index kann dann ebenso wie bei optischem Glas eingestellt wer
den. Auf diese Weise kann der Brechungsindex der Deckschicht 19
beinahe derselbe sein, wie derjenige der ersten und der zweiten
Mantelschicht 3 bzw. 4.
Wenn der Brechungsindex der Deckschicht 19 beinahe derselbe ist
wie derjenige der ersten und zweiten Mantelschicht 3 bzw. 4,
können die gestreuten optischen Wellen, welche auf die Grenzflä
che zwischen der Deckschicht 19 und der zweiten Mantelschicht 4
auftreffen, an der Grenzfläche nicht reflektieren und treffen
auf die Deckschicht 19. Wenn der Absorptionsgrad der Deckschicht
19 hoch ist, können alle gestreuten optischen Wellen absorbiert
werden. Das heißt, die Deckschicht 19 hat die Funktion einer
dritten Mantelschicht. Wenn die Dicke der ersten und zweiten
Mantelschicht 3 und 4 für die zu bregrenzende, geführte optische
Welle 13 groß genug ist, wirkt sich ein Übertragungsverlust der
geführten optischen Welle 13 in der Kernschicht 2 nicht aus, und
der Übertragungsverlust der gestreuten optischen Wellen außer
der geführten optischen Welle 13 ist sehr hoch.
In diesem Fall ist, selbst wenn der Brechungsindex der Deck
schicht 19 nicht genau derselbe wie derjenige der ersten und
zweiten Mantelschichten 3 und 4 ist und der Brechungsindex der
Deckschicht 19 beinahe derselbe wie derjenige der beiden Mantel
schichten 3 und 4 ist, das Reflexionsvermögen von der Mantel
schicht zu der Deckschicht durch den Fresnel-Koeffizienten nied
rig. Daher können die gestreuten optischen Wellen auf diese Wei
se absorbiert werden. Darüber hinaus ist es möglich, daß der
Brechungsindex der gesamten Deckschicht 19 nicht derselbe ist
wie derjenige der Mantelschicht, und der Brechungsindex der
Deckschicht 19 nahe bei der zweiten Mantelschicht 4 ist derselbe
wie derjenige der Mantelschicht 4 und der Brechungsindex in der
Deckschicht 19 ändert sich allmählich. Wenn dagegen der Bre
chungsindex in einer Schicht nicht geändert werden kann, ist ein
Aufbau aus mehreren Schichten möglich, welche unterschiedliche
Brechungsindizes haben.
Nunmehr werden typische Werte beschrieben. Es wird nunmehr der
Fall bezüglich des Reflexionsvermögens der optischen Welle be
trachtet, welche in der vertikalen Richtung des Wellenleiters 5
gesteuert wird. Die erste und die zweite Mantelschicht 3 und 4
sind aus SiO₂ von OCD hergestellt und ihr Brechungsindex beträgt
1,47. Es werden nunmehr zwei Fälle betrachtet, bei welchen die
hochmolekulare Verbindung der Deckschicht PMM, deren Brechungs
index 1,49 ist, und Polycarbonat sind, dessen Brechungsindex
1,58 ist. Das Reflexionsvermögen beträgt im Falle von PMMA
0,676%, während das Relfexionsvermögen im Falle von Polycarbonat
3,61% beträgt. Somit ist das letztere fünfmal so hoch wie das
erstere. Folglich ist es vorteilhaft, daß der Brechungsindex der
hochmolekularen Verbindung der Deckschicht 19 beinahe derselbe
ist wie derjenige der Mantelschicht.
Wenn dagegen der Unterschied in den Brechungsindizes zwischen
der Deckschicht 19 und der Mantelschicht groß ist, ist das Re
flexionsvermögen an der Grenzfläche zwischen der Deckschicht 19
und der Mantelschicht hoch, und die gestreuten optischen Wellen,
welche insgesamt reflektiert werden, werden größer und werden
durch die Deckschicht 19 in der Mantelschicht begrenzt.
Wie vorstehend beschrieben, ist der Brechungsindex der hochmo
lekularen Verbindung der Deckschicht 19 beinahe derselbe wie
derjenige der Mantelschicht. Folglich kann die Reflexion der ge
streuten optischen Wellen an der Grenzfläche zwischen der Deck
schicht 19 und der Mantelschicht geringer sein; die gestreuten
optischen Wellen können dann wirksamer in der Deckschicht 19 ab
sorbiert werden.
Als nächstes wird eine dritte Ausführungsform beschrieben, wo
bei dieselben Teile wie in den ersten und zweiten Ausführungs
formen nicht nochmal erläutert werden und dieselben Bezugszei
chen für die gleichen Teile verwendet werden.
In dieser Ausführungsform sind sehr kleine Partikel, welche den
hohen optischen Wellenabsorptionsgrad aufweisen, in der hochmo
lekularen Verbindung der Deckschicht 19 in dem optischen inte
grierten Schaltkreis der ersten Ausführungsform (siehe Fig. 1)
enthalten. Spezifische Beispiele werden hierfür nachstehend be
schrieben. Fig. 4(a) zeigt PMMA-Material 24 der hochmolekularen
Verbindung, das eine Dicke von 1 mm hat und welches die Deck
schicht 19 bildet. In Fig. 4 sind sehr kleine Rußpartikel 25 als
sehr kleine Partikel, welche den hohen Wellenabsorptionsgrad ha
ben, in der PMMA 24 enthalten. Der Ruß 25 hat eine durchschnitt
liche Größe von 2 pm. Wenn solche sehr kleinen Rußpartikel 25 in
dem transparentem PMMA 24 enthalten sind und sie als eine Par
tikel in dem PMMA 24 separiert werden, kann die Deckschicht 19
einen hohen optischen Wellenabsorptionsgrad und eine entspre
chende Haltbarkeit haben. Wenn in diesem Fall jede Fläche der
Rußteilchen mit Molekülen von PMMA 24 bedeckt ist, kommen sie
nicht unmittelbar in Kontakt mit der zweiten Mantelschicht 4.
Daher ist der Brechungsindex der Grenzfläche der Deckschicht
beinahe derselbe wie derjenige von PMMA. Folglich kann der opti
sche Wellenabsorptionsgrad der Deckschicht 19 ohne Ändern der
PMMA-Charakteristik hoch sein. Dies unterscheidet sich sehr zu
dem Fall, bei welchem die Rußpartikel 25 unmittelbar die Man
telschicht bedecken. Ferner hat Ruß den hohen optischen Wellen
absorptionsgrad und wird als ein Färbemittel von Toner in einer
elektrophotographischen Bilderzeugungseinrichtung verwendet.
Fig. 4(b) zeigt die Deckschicht 19 außer bei dieser Ausführungs
form. Im allgemeinen kann, wenn die hochmolekulare Verbindung,
welche den hohen optischen Wellenabsorptionsgrad hat, mit einem
organischen Farbstoff vermischt wird, die gleichförmige Deck
schicht erhalten werden. Wenn jedoch die Dicke dieser Deck
schicht 19 dünn ist, kann der organische Farbstoff eine optische
Welle nicht absorbieren. Ferner können sich, wenn die Menge an
organischem Farbstoff erhöht wird, die Undurchlässigkeit bezüg
lich Wasser und Chemikalien ändern und die Lebensdauer kann kür
zer sein. Andererseits kann bei der Struktur in Fig. 4(a) der op
tischen Wellenabsorptionsgrad ohne die Schwierigkeiten, wie im
Fall der Fig. 4(b), höher sein.
Ein organisches Pigment und ein anorganisches Pigment außer dem
Ruß können als Partikel in der hochmolekularen Verbindung ver
wendet werden. Ferner kann ein Gemisch aus beiden Pigmenten ver
wendet werden. Darüber hinaus können nicht nur Festkörperparti
kel, sondern auch sehr kleine Flüssigkeitstropfen bzw. -blasen
verwendet werden, welche den hohen optischen Wellenabsorptions
grad haben. Außerdem können der Ruß und die anorganischen und
organischen Pigmente vorher in der hochmolekularen Verbindung
enthalten sein, welche durch Reaktion als ein Klebstoff herge
stellt wird, da sie kaum durch eine chemische Reaktion des Kleb
stoff beeinflußt werden.
Als nächstes wird eine vierte Ausführungsform beschrieben, bei
welcher ebenfalls wieder dieselben Teile wie bei den ersten bis
dritten Ausführungsformen nicht noch einmal beschrieben werden
und dieselben. Teile mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet
sind. In dieser Ausführungsform werden Mikrostrukturen, welche
als Streukörper fungieren, in der hochmolekularen Verbindung der
Deckschicht 19 in dem optischen integrierten Schaltkreis der er
sten Ausführungsform (siehe Fig. 1) ausgebildet. Nunmehr werden
spezifische Beispiele beschrieben. Fig. 5 zeigt, daß viele Hohl
räume 26 als Mikrostrukturen 26 in dem PMMA 24 ausgebildet sind.
Wenn in diesem Fall der Brechungsindex der Hohlräume nahe bei 1
liegt, und derjenige des PMMA 24 1,49 ist, ist der Unterschied
im Brechungsindex groß. Folglich wird die optische Welle in der
Deckschicht 19 gesteuert.
Wenn, wie vorstehend beschrieben, das PMMA keine Zusätze ent
hält und transparent ist, ist dessen optischer Wellenabsorp
tionsgrad niedriger. Jedoch kann der optische Wellenabsorptions
grad der Deckschicht 19 durch das Streuen an den Hohlräumen grö
ßer sein. Ferner kann, wenn das PMMA keine Zusätze enthält und
sich dessen chemische Eigenschaften kaum ändern, beständig gegen
Chemikalien sein. Ferner ist vorteilhaft, daß eine Unebenheit an
der Oberfläche des PMMA als die Mikro-Struktur ausgebildet ist.
Da jedoch eine optische Welle von der Außenseite her durch das
Ausbilden der Hohlräume 26 nicht vollständig unterbunden ist,
ist es vorteilhafter, daß die Hohlräume in dem PMMA ausgebildet
sind, welches mit dem Farbstoff und/oder den sehr kleinen Parti
keln durchmischt ist, und/oder in einer Schicht der Mehrfach
schichten ausgebildet sind.
Als nächstes wird eine fünfte Ausführungsform beschrieben, wo
bei wiederum dieselben Teile der ersten bis vierten Ausführungs
formen nicht noch einmal beschrieben werden und dieselben Be
zugszeichen bei den gleichen Teilen verwendet sind.
In dieser Ausführungsform ist eine Klebstoffschicht 27 zwischen
der Deckschicht 19 und der zweiten Mantelschicht 4 ausgebildet.
Der Grund, warum die Klebstoffschicht 27 ausgebildet ist, wird
nachstehend beschrieben. Im allgemeinen kann, wie vorstehend be
schrieben, wenn ein thermoplastisches Kunstharz als die hochmo
lekulare Verbindung verwendet wird, die Kunstharzschicht ohne
weiteres auf der Oberfläche der zweiten Mantelschicht 4 durch
Erwärmen ausgebildet werden. Wenn jedoch lösliches Kunstharz in
einem Lösungsmittel als die hochmolekulare Verbindung verwendet
wird, kann die Kunstharzschicht ohne weiteres darauf ausgebildet
werden, indem das Lösungsmittel nach dessen Aufbringen verdampft
wird. Außerdem kann die hochmolekulare Verbindung dadurch herge
stellt werden, daß der Farbstoff oder das Pigment in dem Kleb
stoff vermischt wird. Folglich sind diese Herstellungsprozesse
kostengünstig.
Wenn dagegen ein bei Wärme aushärtendes Kunstharz als die hoch
molekulare Verbindung verwendet wird, kann diese Art des thermo
plastischen Kunstharzes nicht verwendet werden. Wenn außerdem
die Fläche, um das Prisma 11 aufzukleben, und die Fläche, um den
Draht 9 an der Elektrode 8 zu kontaktieren, an der zweiten Man
telschicht 4 notwendig sind, muß auf dieser eine freigelegte
Fläche ausgebildet werden. Wenn darüber hinaus das Material,
welche den hohen optischen Wellenabsorptionsgrad hat, als die
hochmolekulare Verbindung verwendet wird, ist eine Muster- oder
Strukturbildung durch ein bei Wärme aushärtendes Harz nicht
wirksam. Folglich ist der Herstellungsprozeß kompliziert und
teuer.
Wenn daher in dieser Ausführungsform die Klebstoffschicht 27
auf der zweiten Schicht 4 ausgebildet wird und die Deckschicht
19 auf dieser haftet und auf der Klebstoffschicht 27 fixiert
wird, kann die Deckschicht des bei Wärme aushärtenden Kunsthar
zes ohne weiteres ausgebildet werden. Darüber hinaus kann die
freigelegte Fläche ohne weiteres durch eine Muster-Strukturie
rung erzeugt werden, bevor die Klebstoffschicht 19 noch nicht
ausgebildet ist. Auf diese Weise kommt es nicht zu der Komplika
tion bei dem Herstellungsprozeß aufgrund der Verwendung des bei
Wärme aushärtenden Kunstharzes. Zu diesem Zeitpunkt besteht der
Prozeß des Haftens dadurch, daß die Deckschicht 19 auf der Kleb
stoffschicht haftet und auf der Klebstoffschicht 27 auf der
zweiten Mantelschicht 4 fixiert ist, oder daß die Klebstoff
schicht 27 unter der Deckschicht 19 im voraus ausgebildet wird
und auf der zweiten Mantelschicht 4 haftet, wenn ein Klebeband
verwendet wird. Daher kann der Herstellungsprozeß preiswert
sein. Außerdem werden im Falle der Mehrfachschichten mehrere
Klebstoffschichten ausgebildet.
Wie vorstehend beschrieben, gibt es bei den verschiedenen Aus
führungsformen die folgenden Vorteile. Wenn bei der ersten Aus
führungsform die Deckschicht, welche aus einer hochmolekularen
Verbindung aus PMMA besteht, welche Azofarbstoff enthält, gebil
det ist, kann verhindert werden, daß die störenden optischen
Wellen auf den Wellenleiter auftreffen, und es kann ferner ver
hindert werden, daß die gestreuten optischen Wellen den Detektor
erreichen. Darüber hinaus kann, wenn thermoplastisches Kunstharz
als die hochmolekulare Verbindung verwendet wird, der Herstel
lungsprozeß preiswert durchgeführt werden.
Bei der zweiten Ausführungsform ist der Brechungsindex der
hochmolekularen Verbindung der Deckschicht beinahe derselbe wie
derjenige der Mantelschicht. Folglich kann die Reflexion der ge
streuten optischen Wellen an der Grenzfläche zwischen der Deck
schicht und der Mantelschicht niedriger sein, und die gestreuten
optischen Wellen können wirksamer an der Deckschicht absorbiert
werden.
In der dritten Ausführungsform sind die sehr kleinen Partikel,
welche einen hohen optischen Wellenabsorptionsgrad haben, in der
hochmolekularen Verbindung der Deckschicht enthalten. Folglich
kann der optische Wellenabsorptionsgrad der Deckschicht ohne ein
Ändern der chemischen Charakteristik u.ä. der hochmolekularen
Verbindung hoch sein.
In der vierten Ausführungsform kann, wenn die hochmolekulare
Verbindung der Deckschicht die Mikro-Struktur hat, welche eine
Streufunktion ausübt, deren optischer Wellenabsorptionsgrad ohne
ein Ändern der chemischen Charakteristik u.ä. der hochmolekula
ren Verbindung hoch sein.
In der fünften Ausführungsform kann, wenn die Klebstoffschicht
auf der zweiten Schicht ausgebildet ist und die Deckschicht an
der Klebstoffschicht haftet und auf dieser fixiert ist, die
Deckschicht des bei Wärme aushärtendem Kunstharzes ohne weiteres
ausgebildet werden, und die Herstellungskosten können niedrig
sein.
Claims (12)
1. Optischer integrierter Schaltkreis, mit
einem Substrat;
einem Wellenleiter, welcher eine Kernschicht und zumindest ei ne Mantelschicht hat, die auf dem Substrat ausgebildet ist, und in welchem eine optische Welle geführt und übertragen wird, und
eine Deckschicht, deren Material einen hohen optischen Wellen absorptionsgrad hat, welcher an dem Wellenleiter partiell oder ganz ausgebildet ist.
einem Substrat;
einem Wellenleiter, welcher eine Kernschicht und zumindest ei ne Mantelschicht hat, die auf dem Substrat ausgebildet ist, und in welchem eine optische Welle geführt und übertragen wird, und
eine Deckschicht, deren Material einen hohen optischen Wellen absorptionsgrad hat, welcher an dem Wellenleiter partiell oder ganz ausgebildet ist.
2. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Material der Deckschicht eine hochmo
lekulare Verbindung aufweist.
3. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß das Material der hochmolekularen Verbin
dung ein thermoplastisches Kunstharz ist.
4. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 1, bei
welchem das Material der Deckschicht die hochmolekulare Ver
bindung und einen Farbstoff aufweist.
5. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 4, bei
welchem die hochmolekulare Verbindung Polymethylmethacrylat
ist und der Farbstoff Azofarbstoff ist.
6. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 1, bei
welchem ein Brechungsindex der Deckschicht beinahe oder genau
derselbe wie derjenige der Mantelschicht ist.
7. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 2, bei wel
chem die hochmolekulare Verbindung sehr kleine Partikel mit
einem hohen optischen Wellenabsorptionsgrad enthält.
8. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 7, bei wel
chem die sehr kleinen Partikel Rußpartikel sind.
9. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 2, bei wel
chem die hochmolekulare Verbindung eine Mikro-Struktur hat.
10. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 9, bei
welchem die Mikro-Struktur Hohlräume aufweist.
11. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 1, bei
welchem eine Klebstoffschicht zwischen der Deckschicht und zu
mindest der Mantelschicht ausgebildet ist.
12. Optischer integrierter Schaltkreis nach Anspruch 11, bei
welchem ein Material der hochmolekularen Verbindung ein bei
Wärme aushärtendes Kunstharz ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5210012A JPH0763933A (ja) | 1993-08-25 | 1993-08-25 | 光集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4430043A1 true DE4430043A1 (de) | 1995-03-02 |
DE4430043C2 DE4430043C2 (de) | 2000-01-05 |
Family
ID=16582371
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4430043A Expired - Fee Related DE4430043C2 (de) | 1993-08-25 | 1994-08-24 | Optischer integrierter Schaltkreis |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5719981A (de) |
JP (1) | JPH0763933A (de) |
DE (1) | DE4430043C2 (de) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1039151A (ja) * | 1996-07-25 | 1998-02-13 | Hitachi Cable Ltd | 光導波路及びその製造方法 |
US5894538A (en) * | 1997-09-17 | 1999-04-13 | Lucent Technologies Inc. | Method of forming integrated optical circuit planar waveguide turning mirrors |
AU2900999A (en) * | 1998-03-09 | 1999-09-27 | Corning Incorporated | Optical waveguide having non absorbing cladding region |
US6185648B1 (en) * | 1999-03-31 | 2001-02-06 | International Business Machines | Printer circuit board for an optoelectric computer system |
US6748125B2 (en) | 2001-05-17 | 2004-06-08 | Sioptical, Inc. | Electronic semiconductor control of light in optical waveguide |
US6891685B2 (en) * | 2001-05-17 | 2005-05-10 | Sioptical, Inc. | Anisotropic etching of optical components |
US6912330B2 (en) * | 2001-05-17 | 2005-06-28 | Sioptical Inc. | Integrated optical/electronic circuits and associated methods of simultaneous generation thereof |
US7125121B2 (en) * | 2002-02-25 | 2006-10-24 | Ricoh Company, Ltd. | Image display apparatus |
CN100341589C (zh) * | 2002-05-24 | 2007-10-10 | 血管技术国际股份公司 | 用于涂覆医用植入物的组合物和方法 |
DE10226135B4 (de) * | 2002-06-12 | 2004-08-05 | Siemens Ag | Optisches Modul und optisches System |
US7215842B2 (en) * | 2003-04-18 | 2007-05-08 | Ricoh Company, Ltd. | Light control element and light control device |
AU2004293030A1 (en) * | 2003-11-20 | 2005-06-09 | Angiotech International Ag | Electrical devices and anti-scarring agents |
JP4278597B2 (ja) * | 2004-10-29 | 2009-06-17 | 株式会社リコー | 光制御素子 |
US7858183B2 (en) * | 2005-03-02 | 2010-12-28 | Boston Scientific Scimed, Inc. | Particles |
US7742672B2 (en) * | 2005-08-24 | 2010-06-22 | General Electric Company | Composition, optical device article, and associated method |
US20080305255A1 (en) * | 2007-06-07 | 2008-12-11 | Fujifilm Manufacturing U.S.A. Inc. | Optical waveguide coating |
US7496263B2 (en) * | 2007-06-07 | 2009-02-24 | Fujifilm Manfacturing U.S.A. Inc. | Thermosetting optical waveguide coating |
JP5743143B2 (ja) | 2011-04-13 | 2015-07-01 | 株式会社リコー | 電子写真用キャリアの製造方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4693543A (en) * | 1983-07-08 | 1987-09-15 | Hitachi, Ltd. | Optical integrated circuit |
DE3704378A1 (de) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur herstellung eines optischen streifenwellenleiters fuer nicht-reziproke optische bauelemente |
EP0336421A2 (de) * | 1988-04-08 | 1989-10-11 | Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. | Aus Polymer gefertigter optischer Wellenleiter |
FR2681146A1 (fr) * | 1991-09-06 | 1993-03-12 | France Telecom | Dispositif optoelectronique a guide optique et a photodetecteur integres et procede de realisation d'un tel dispositif. |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6215875A (ja) * | 1985-07-12 | 1987-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
US4881235A (en) * | 1985-07-26 | 1989-11-14 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor laser having a multiple quantum well structure doped with impurities |
JP2599276B2 (ja) * | 1987-11-30 | 1997-04-09 | 株式会社日立製作所 | 光集積回路 |
US4932743A (en) * | 1988-04-18 | 1990-06-12 | Ricoh Company, Ltd. | Optical waveguide device |
US5091982A (en) * | 1989-07-11 | 1992-02-25 | Ricoh Company, Ltd. | Waveguide type optical detection apparatus |
US5157746A (en) * | 1990-06-08 | 1992-10-20 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical waveguide array including two-dimensional lens and its manufacturing method |
-
1993
- 1993-08-25 JP JP5210012A patent/JPH0763933A/ja active Pending
-
1994
- 1994-08-24 DE DE4430043A patent/DE4430043C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-08-25 US US08/295,429 patent/US5719981A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4693543A (en) * | 1983-07-08 | 1987-09-15 | Hitachi, Ltd. | Optical integrated circuit |
DE3704378A1 (de) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur herstellung eines optischen streifenwellenleiters fuer nicht-reziproke optische bauelemente |
EP0336421A2 (de) * | 1988-04-08 | 1989-10-11 | Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. | Aus Polymer gefertigter optischer Wellenleiter |
FR2681146A1 (fr) * | 1991-09-06 | 1993-03-12 | France Telecom | Dispositif optoelectronique a guide optique et a photodetecteur integres et procede de realisation d'un tel dispositif. |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Teubner-Texte zur Physik, Band 27: Integrated Optics and Micro-Optics with Polymers (Leipzig 1993), S. 219-247, und 273-290 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5719981A (en) | 1998-02-17 |
DE4430043C2 (de) | 2000-01-05 |
JPH0763933A (ja) | 1995-03-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4430043C2 (de) | Optischer integrierter Schaltkreis | |
EP0618441B1 (de) | Vorrichtung zur lateral aufgelösten Untersuchung einer lateral heterogenen ultradünnen Objektschicht | |
DE69227332T2 (de) | Nichtlinearoptisches Element und seine Verwendung | |
DE10019359C2 (de) | SPR-Sensor | |
DE68905757T2 (de) | Integrierte optikvorrichtung zur messung des brechungsindex einer fluessigkeit. | |
DE69323958T2 (de) | Optische Wellenleiter-Anordnung und Herstellungsmethode | |
DE69226572T2 (de) | Sensorsystem mit mehreren Oberflächen für evaneszente Wellen | |
DE69532638T2 (de) | Optoelektronischer Koppler | |
DE69226228T2 (de) | Optisches Rastertunnelmikroskop | |
EP1057008B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur lumineszenzmessung | |
DE69515574T2 (de) | Kombiniertes optisches Nahfeld-Rastermikroskop und Rasterkraftmikroskop mit Beobachtung in einer Flüssigkeit | |
DE2142263C3 (de) | Lichtwellenkopplungsanordnung in Dünnfilm-Lichtleiter | |
DE102008046320B3 (de) | Faseroptischer Oberflächenplasmonen-Resonanz-Sensor zur Bestimmung von Brechzahlen faserangrenzender Medien | |
DE10012793C2 (de) | Sensorelement zur optischen Detektion von chemischen oder biochemischen Analyten | |
DE69816809T2 (de) | Vorrichtung für fluoreszenznachweis | |
DE2819590A1 (de) | Vorrichtung zur messung der in einem festen koerper vorliegenden spannung | |
DE3017509A1 (de) | Halbleiterlaservorrichtung und bildaufzeichnungsgeraet | |
DE3227083A1 (de) | Optisches uebertragungssystem fuer bohrlochsonden | |
DE69635494T2 (de) | Optisches steuerungsverfahren und optische steuerungsvorrichtung | |
DE60110495T2 (de) | Vorrichtung zur Bildung der Öffnung einer Sonde und optisches Nahfeldmikroskop mit der Sonde | |
DE19925855A1 (de) | Flachbildschirmvorrichtung, die einen Lichtwellenleiter verwendet | |
WO2005047939A1 (de) | Schichtstruktur und optischer wellenleiter-sensor basierend auf photoadressierbaren polymeren | |
EP0728322B1 (de) | Mikroskopischer sender oder detektor elektromagnetischer strahlung | |
DE69017317T2 (de) | Mikroskopisches Verfahren und "Nahfeld"-Reflexionsmikroskop. | |
CH669050A5 (de) | Sensor zum nachweis von aenderungen der brechzahl einer festen oder fluessigen messsubstanz. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |