DE4427317A1 - Interferometer für die Prüfung optischer Elemente - Google Patents
Interferometer für die Prüfung optischer ElementeInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Interferometer für die Prüfung optischer Elemente
und stellt ein Basismodell für beispielsweise Twyman-Green und Fizeau-Interferometrie
dar. Aus dem Stand der Technik ist allgemein bekannt, Fizeau- oder Twyman-Green-
Interferometer zur Prüfung optischer Flächen oder kompletter optischer Systeme zu ver
wenden.
Die Fizeau-Interferometer weisen als Voraussetzung für visuelle Prüfanordnungen
gleiche Lichtwege für die Prüf- und Referenzwelle auf.
Die Twyman-Green-Interferometer bieten dagegen aufgrund der Möglichkeit einer
günstigen Variation der Phasendifferenz zwischen Prüf- und Referenzwelle gute Voraus
setzungen für die Anwendung einer hochgenauen rechnergekoppelten Interferometer
auswertung.
So ist eine Interferometeranordnung der Anmelderin bekannt, die bei der Prüfung von
optischen Funktionsflächen und optischen Systemen sowohl als visuelles Fizeau-Inter
ferometer als auch als rechnergekoppeltes digitales Twyman-Green Interferometer ein
setzbar ist (AP 233 174).
Nachteilig ist jedoch u. a. der hohe Aufwand an optischen Bauteilen, die relativ großen
Abmessungen des Prüfgerätes und den damit verbundenen Stabilitätsproblemen des
Meßvorganges.
Eine andere Lösung ist von der Fa. "Fisba Optiks" bekannt geworden (Firmenprospekt
301). Hier wird versucht die einzelnen separaten optischen Bauteile in miniturisierter
Form aufzubauen und damit eine Verbesserung der Stabilität und Reproduzierbarkeit
des Meßvorganges zu erreichen.
Ausgehend von dem geschilderten Stand der Technik liegt der Erfindung die Aufgabe
zugrunde, ein Interferometer für die Prüfung optischer Flächen zu Verfügung zu stellen,
mit dem in kleiner kompakter Ausführung eine hohe Stabilität und Reproduzierbarkeit
des Meßvorganges verbunden mit geringer Justage erreicht werden soll.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einem gattungsgemäßigen Interferometer
dadurch gelöst, daß mittels bekannter Füge- und Klebetechnik mindestens zwei
Prismen, ein Strahlteiler und ein Kollimatorobjektiv zu einem optischen Bauelement
verbunden sind und daß das optische Bauelement zwischen optischer Baugruppe und
optischer Meßordnung angeordnet ist.
Beim erfindungsgemäßen Interferometer wird durch die geringen äußeren Abmessun
gen, verbunden mit einer hohen mechanischen und optischen Stabilität eine hohe Sta
bilität und Reproduzierbarkeit des Meßvorganges, eine geringe Justage bei der Her
stellung, geringe thermische Empfindlichkeit und geringe Staubanfälligkeit erreicht.
Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung des erfindungsgemäßen Interferometers
besteht das optische Bauelement aus einem Prisma, einem zwischen dem Prisma und
einem weiteren Prisma angeordneten Strahlteiler, einem weiteren Prisma, einem Kolli
matorobjektiv aufnehmenden Prisma und einer zwischen zwei Prismen angeordneten
Reflexionsschicht.
Gemäß einer weiteren vorteilhaften Ausbildung der Erfindung ist der Strahlteiler auf
dem Prisma aufgebracht, das der Einkopplung des Strahlenbündel in das optische
Bauelement dient, insbesondere auf die der mittels Füge- und Klebetechnik mit einem
weiteren Prisma verbundenen optischen Fläche.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen finden sich in den Unteransprüche.
Die Erfindung soll nachfolgend anhand der Figuren im Prinzip noch näher erläutert
werden.
Es zeigt
Fig. 1 eine Prinzipdarstellung eines Ausführungsbeispiels für ein erfindungsgemäßes
Interferometer
Fig. 2 eine Ausführungsform für ein erfindungsgemäßes optisches Bauelement.
Bei dem in Fig. 1 schematisch dargestellten Interferometer wird mittels einer Laserbau
gruppe 1, vorteilhafterweise ein Halbleiterlaser mit Kollimator, linear polarisiertes Licht
ausgesendet, das auf eine optische Baugruppe 2, bestehend aus Polarisationsfilter mit
λ/4-Platte, auftrifft. Die optische Baugruppe 2 dient der Intensitätsanpassung des linear
polarisierten Laserlichtes und verhindert zum anderen die Rückkopplung auf die Laser
baugruppe 1.
Die λ/4-Platte ist um 45° zur Durchlaßrichtung des Polarisators gedreht, so daß am Aus
gang der optischen Baugruppe 2 ein Bündel zirkular polarisierten Lichtes zur Verfügung
steht, das auf eine optische Baugruppe 3, bestehend aus einer Sammeloptik mit pin
hole, trifft.
Die optische Baugruppe 3 bündelt das zirkular polarisierte Licht in der Ebene der
Öffnung des pin hole. Ein durch das pin hole austretendes divergentes Strahlenbündel E
tritt in ein optisches Bauelement 4 ein.
Die Einkopplung des Strahlenbündels E erfolgt mittels eines Prisma 410. Ein auf der
Austrittsfläche des Prismas 410 aufgebrachter Strahlteiler 411 spaltet das Strahlen
bündel in 2 Komponenten auf.
Das erste Strahlenbündel wird reflektiert und verläßt das Prisma 410 in Richtung y.
Das zweite Strahlenbündel durchtritt den Strahlteiler 411 entlang der optischen Achse x
und gelangt über ein Prisma 412 über eine Fügefläche 413 auf ein Kollimatorobjektiv
414 und verläßt das optische Bauelement 4 als paralleles Strahlenbündel.
Prinzipiell ist es auch möglich den Strahlteiler 411 auf die Eintrittsfläche des Prismas 412
aufzubringen.
Einen besonders günstiger Wirkungsgrad für die Ausnutzung des Lichtes wird erreicht,
wenn der Durchlaß- und Reflexionsgrad des Strahlteilers 411 annähernd überein
stimmen.
Das das optische Bauelement 4 verlassende parallele Strahlenbündel wird durch einen
Prüfling 5 reflektiert und gelangt über das Kollimatorobjektiv 414, die Fügefläche 413
und das Prisma 412 auf den Strahlteiler 411.
Am Strahlteiler 411 erfolgt eine Aufteilung des Strahlenbündels in 2 Komponenten, in
ein reflektiertes und durchlaufendes Strahlenbündel. Das reflektierte Strahlenbündel A
gelangt auf eine optische Meßanordnung 6, bestehend aus Sammeloptik und Streu
lichtblende. Die optische Meßordnung 6 erzeugt somit das Bild des Prüflings 5 mit
gleichzeitiger Darstellung des Interferenzbildes auf einen Empfänger 7, der mittels eines
Auswertesystems 8 eine Darstellung bzw. Aufbereitung des Meßergebnisses vornimmt.
Das den Strahlenteiler 411 durchlaufende Strahlenbündel durchsetzt die optische Bau
gruppe 3 und trifft auf die λ/4-Platte der optischen Baugruppe 2.
Beim Durchlaufen der λ/4-Platte wird das zirkular polarisierte Licht in linear polarisiertes
Licht mit einer um 90° versetzten Phasenlage umgewandelt. Damit kann es den Polari
sationsfilter der optischen Baugruppe 2 nicht mehr passieren und nicht zu Störungen
des Lasers 1 führen.
Die Länge des optischen Bauelementes 4 ist abhängig von einem Öffnungsverhältnis des
Strahlenbündels hinter dem pin hole und der Austrittsöffnung des Kollimatorobjektivs.
Geht man von einem Öffnungsverhältnis des Strahlenbündels hinter dem pin hole von
1 : 10 aus, so erfordert eine Austrittsöffnung von 13 mm eine Kollimatorbrennweite von
130 mm.
Um das Kollimatorobjektiv einlinsig ausführen zu können, sollte das vorgenannte
Öffnungsverhältnis 1 : 10 nicht überschritten werden.
Die optischen Glieder des optischen Bauelements (Prismen, Prisma mit Strahlenteiler,
Kollimatorobjektiv) werden mittels in der Optik allgemein bekannte Füge- und Klebe
techniken und allgemein üblicher Kleber zu einem Bauelement verbunden.
Die optischen Glieder (Prismen, Kollimatorobjektiv) sollten vorzugsweise aus optischem
Glas bestehen. Der Einsatz anderer Materialien mit vergleichbaren optischen Eigen
schaften ist möglich.
Der Strahlteiler besteht aus den in der Optik allgemein bekannten Strahlteilerschichten
und wird in allgemein bekannter Weise aufgebracht.
Eine vorteilhafte Ausführungsform für ein erfindungsgemäßes optisches Bauelement ist
in Fig. 2 dargestellt.
Das Strahlenbündel E tritt über ein Prisma 420 in das optische Bauelement 4 ein. Das
Strahlenbündel trifft auf einen Strahlenteiler 421, der die gleiche Wirkung und Aufbau
wie der beschriebene Strahlenteiler 411 in Fig. 1 hat.
Das erste Strahlenbündel wird reflektiert und verläßt das Prisma 420 in Richtung y. Das
den Strahlenteiler 421 durchlaufende Licht gelangt über ein Prisma 422 und eine Füge
fläche 423 in ein Prisma 424.
Das Strahlenbündel wird an den zwei Glas-Luftflächen 425 und 426 total reflektiert und
gelangt über die Fügefläche 423 in ein Prisma 427.
An einer Glas-Luftfläche 428 des Prismas 427 wird das Strahlenbündel total reflektiert
und trifft auf eine voll verspiegelte Reflexionsschicht 429. Die Reflexionsschicht 429
sollte möglichst lichtundurchlässig sein und ist technologisch vorteilhafterweise auf dem
Prisma 427 aufgebracht.
Der Aufbau und die Herstellung der Reflexionsschicht entspricht dem allgemein in der
Optik üblichen Aufbau und Verfahren.
Das an der Reflexionsschicht 429 reflektierte Strahlenbündel gelangt über eine Füge
fläche 430 in ein Kollimatorobjektiv 431 und verläßt das optische Bauelement 4 als
paralleles Strahlenbündel und trifft auf einen nicht in Fig. 2 dargestellten Prüfling.
Das von dem Prüfling reflektierte Strahlenbündel tritt über das Kollimatorobjektiv 431
wieder in das optischen Bauelement 4 ein und gelangt über die Fügefläche 430, die
Reflexionsschicht 429, dem Prisma 427 mit der Reflexion der Glas-Luftfläche 428 in das
Prisma 424. Im Prisma 424 erfolgt eine Reflexion an den Glas-Luftflächen 426 und 425.
Über die Fügefläche 423 und das Prisma 422 gelangt das Strahlenbündel auf den
Strahlteiler 421; der reflektierte Teil des Strahlenbündels verläßt das optische Bau
element 4 nach nochmaliger Umlenkung an der Reflexionsschicht 429 in Richtung A.
Der durch den Strahlteiler 421 durchtretende Anteil des Strahlenbündels kehrt über das
Prisma 420 an die Einkoppelstelle zurück und tritt dort entgegen der Richtung E aus. In
der optischen Baugruppe 2 wird dieser Anteil am Wiedereintritt in den Laser gehindert.
Durch die erfindungsgemäße Anordnung des optischen Bauelementes 4 gemäß Fig. 2
wird der Aufbau eines besonders kleinen und kompakten Interferometers ermöglicht,
verbunden mit den bereits geschilderten Vorteilen der erfindungsgemäßen Lösung.
Claims (6)
1. Interferometer für die Prüfung optischer Elemente mit einer linear polarisierten
lichtaussendenden Laserbaugruppe, mit einer optischen Baugruppe, einem
prismatischen Körper mit Strahlteiler, einem Kollimatorobjektiv, einer optischen
Meßordnung und einem Empfänger mit Auswertesystem, dadurch gekenn
zeichnet, daß mittels an sich bekannter Füge- und Klebetechnik mindestens zwei
Prismen (410, 412), ein Strahlteiler (411) und ein Kollimatorobjektiv (413) zu einem
optischen Bauelement (4) verbunden sind und daß das optische Bauelement (4)
zwischen der optischen Bau-gruppe (3) und der optischen Meßanordnung (6)
angeordnet ist.
2. Interferometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das optische
Bauelement (4) aus einem Prisma (420), einem zwischen dem Prisma (420) und
einem Prisma (422) angeordneten Strahlenteiler (421), einem Prisma (424), einem
ein Kollimatorobjektiv (431) aufnehmendes Prisma (427) und einer zwischen dem
Prisma (427) und dem Prisma (422) angeordneten Reflexionsschicht (429) besteht.
3. Interferometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen den
Prismen (410, 412) ein Strahlteiler (411) angeordnet ist.
4. Interferometer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlteiler
(411) auf dem Prisma (410) oder (412) aufgebracht ist.
5. Interferometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlteiler
(421) auf dem Prisma (420) oder (422) aufgebracht ist.
6. Interferometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Reflexions
schicht (429) auf dem Prisma (427) aufgebracht ist.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
DE19944427317 DE4427317C2 (de) | 1994-08-02 | 1994-08-02 | Interferometer für die Prüfung optischer Elemente |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE4427317A1 true DE4427317A1 (de) | 1996-02-08 |
DE4427317C2 DE4427317C2 (de) | 1999-04-01 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19944427317 Expired - Fee Related DE4427317C2 (de) | 1994-08-02 | 1994-08-02 | Interferometer für die Prüfung optischer Elemente |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4427317C2 (de) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DD233174A1 (de) * | 1984-12-27 | 1986-02-19 | Zeiss Jena Veb Carl | Interferometer |
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DE3623244A1 (de) * | 1985-12-23 | 1987-06-25 | Suhl Feinmesszeugfab Veb | Beruehrungsloser interferometrischer sensor zur inkrementalen abtastung veraenderlicher interferenzstrukturen |
DD296753A5 (de) * | 1990-07-30 | 1991-12-12 | Carl Zeiss Jena Gmbh,De | Polarisationsstrahlenteiler fuer ein zwei-frequenzen-differential-interferometer mit achtfachem lichtweg und dessen volumen gering ist |
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-
1994
- 1994-08-02 DE DE19944427317 patent/DE4427317C2/de not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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DE4427317C2 (de) | 1999-04-01 |
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