DE4424502A1 - Reflektionsmeßwerk - Google Patents

Reflektionsmeßwerk

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Description

Die Erfindung betrifft ein Meßwerk (23), welches zum messen von lichttech­ nischen Reflektionseigenschaften bestimmter Raumbegrenzungsflächen, oder anderen Flächen, in die Betrachtung der Reflektion einbezogen werden müssen, die für eine korrekte lichttechnische Berechnung von Bedeutung sind und ein Berechnungsergebnis spezifiziert.
Bisher ist es nicht möglich, die vorbenannte Eigenschaft mit dieser einfachen technischen Anordnung zu präzisieren.
Erfindungsgemäß wird vorgeschlagen, daß Messungen über Reflektionseigen­ schaften glatter bzw. diffuser Flächen durch eine künstliche Lichtquelle so fokussiert wird, daß die Lichtquelle aus der Reflektorstellung (1 oder 2) durch die Meßwerksöffnung (7) gegen die betrachtete Referenzfläche strahlt und je nach der Beschaffenheit der Referenzfläche reflektiert diese Fläche den Lichtstrom in den Spiegel (4), welcher dann diesen Lichtstrom in den Fluoreszenzkollektor (3) leitet. Ein Teil des auf den Fluoreszenzkollektor (3) fallenden Lichtstromes (etwa 15%) wird von dem Fluoreszenzfarbstoff absorbiert und mit seiner charakteristischen Farbe wieder abgestrahlt. Das verbleibende Fluoreszenzlicht (24) (ca. 85%) bleibt aufgrund der Total­ reflektion zum größten Teil in der Fluoreszenzplatte (3) gefangen und wird zickzackförmig zwischen Ober- und Unterseite der Fluoreszenzplatte (3) hin- und hergespiegelt (Fig. 2), bis es an einer Kante oder einer anderen Störung der Oberfläche (z. B. Gravuren, Wassertropfen, Fettflecken oder auch hintermalte Zeichen) den Fluoreszenzkollektor verläßt. Erfindungsgemaß wird mit einem Spiegelrahmen (11) die Fluoreszenzplatte (3) an drei Seiten verspiegelt. Die vierte Seite wird mit einer Solarzellenleiste (10) abgedeckt, so daß das Fluoreszenzlicht (24) von den verspiegelten drei Flächen reflektiert wird und ausschließlich auf die Solarzellenleiste trifft. Das Fluoreszenzlicht (24) erzeugt in der Solarzellenleiste (10) eine elektrische Spannung. Je nach Strahlungsverhältnis von ausgestrahltem und reflektiertem Lichtstrom erhöht oder vermindert sich die elektrische Spannung in der Solarzellenleiste (10). Die vorbenannte Konstellation arbeitet nach zwei lichttechnischen Gesetzen:
Bei glatten Flächen verhält sich die Lichtstrahlung gleich Einfallswinkel gleich Ausfallswinkel. Bei diffusen Flächen verhält sich die Lichtstrahlung gleich Einfallswinkel gleich 67,5 Grad, Ausfallswinkel gleich 45 Grad. Dieses Gesetz wird mittels Winkelversteller (16) am Meßwerk (23) von außen bedienbar umgesetzt. Der Drehschenkel (18) und die Reflektorführung (21) hält den Reflektor (1, 2) in der gewählten Gradstellung. Die Reflektorverstellung (9) führt die Reflektor Position (15) bzw. (15.1) und wird durch die Rastfeder (17) fixiert. Die Solarzellenleiste (10) wird an ein Verstärker (12) geschaltet, an dieser ebenfalls der einstellbare Widerstand (22) und das Zeigerinstrument (13) nachgeschaltet ist. Der Zellenblock (5 + 6) liefert die Spannung für die elektronische Schaltung, welche über den Schalter (14) ein- bzw. ausgeschaltet werden kann.
Bezugszeichenliste
1 Reflektor 45 Grad-Stellung
2 Reflektor 67,5 Grad-Stellung
3 Fluoreszenzkollektor, bzw. Fluoreszenzplatte
4 Spiegel
5 Batterie-Block für Pos. 19. (3 × Mignon 115 V)
6 Zelle für Pos. 12 (1 × Mignon 1,5 V)
7 Meßwerksöffnung
8 Umlaufende Moosgummi-Dichtung
9 Reflektorverstellung 45-67,5 Grad
10 Solarzellenleiste
11 Spiegel-Rahmen
12 Verstärker
13 Zeigerinstrument
14 Schalter
15 Reflektor Position 45 Grad
16 Reflektor Position 67,5 Grad
17 Rastfeder für Winkelposition
18 Drehschenkel
19 Mini Watt Halogenlampe 5,2 V, 0,5 A
20 Filzdichtung
21 Reflektorführung
22 Einstellbarer Widerstand
23 Meßwerk
24 Fluoreszenzlicht
25 Molekül

Claims (7)

1. Meßwerk (23) für die Ermittlung der Reflektionseigenschaften von Raumbe­ grenzungsflächen oder anderen Flächen, welche in die lichttechnische Berechnung einbezogen werden müssen und nach dem folgenden Prinzip arbeitet: Auftreffender Lichtstrom aus einer fokussierten Spiegeloptik auf eine definierte Fläche, begrenzt durch Meßwerksöffnung (7). Die Leucht­ dichtereflektion der definierten Fläche wird abgelenkt über einen Spiegel in einem Fluoreszenzkollektor.
2. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Reflektorstellung (1) jeweils das lichttechnische Gesetz: Einfallswinkel gleich Ausfallswinkel für glatte, plane Fläche meßtechnisch bearbeitet und die Reflektorstellung (2) das lichttechnische Gesetz: Einfallswinkel 67,5 Grad gleich Ausfallswinkel 45 Grad, das Reflektionsgesetz für diffuse und rauhe Fläche zeichnet.
3. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegel (4) die Leuchtdichtereflektion einer zu messenden definierten Fläche 1 zu 1 reflektiert und in den Fluoreszenzkollektor leitet.
4. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Fluoreszenzkollektor die Leuchtdichtereflektion über seine Fläche aufnimmt und nur über seine unverspiegelte Kante in die Solarzellenleiste richtet.
5. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßwerkswandung schwarz lackiert oder eingefärbt ist und somit die echte Leuchtdichtereflektion im Fluoreszenzkollektor wirksam ist.
6. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Fluoreszenzkollektor zur Meßwerksöffnung (7) lichttechnisch direkt abgeschottet ist und nur über den Spiegel (4) lichttechnisch wirksam ist.
7. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Solarzellenleiste (10) direkt auf eine elektronische Schaltung wirksam ist und dadurch die Leuchtdichtereflektion in elektrische Energie umsetzt. Dieses Signal wird dann in ein Analog-Feinmeßwerk geführt und zeigt die Reflektion direkt in Prozent an.
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DE1944088U (de) * 1966-06-16 1966-08-11 Bayer Ag Vorrichtung zur beurteilung der glanzeigenschaften von oberflaechen.
US4830504A (en) * 1987-06-24 1989-05-16 Measurex Corporation Gloss gauge

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