DE4424502A1 - Reflektionsmeßwerk - Google Patents
ReflektionsmeßwerkInfo
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Meßwerk (23), welches zum messen von lichttech
nischen Reflektionseigenschaften bestimmter Raumbegrenzungsflächen, oder
anderen Flächen, in die Betrachtung der Reflektion einbezogen werden
müssen, die für eine korrekte lichttechnische Berechnung von Bedeutung sind
und ein Berechnungsergebnis spezifiziert.
Bisher ist es nicht möglich, die vorbenannte Eigenschaft mit dieser einfachen
technischen Anordnung zu präzisieren.
Erfindungsgemäß wird vorgeschlagen, daß Messungen über Reflektionseigen
schaften glatter bzw. diffuser Flächen durch eine künstliche Lichtquelle so
fokussiert wird, daß die Lichtquelle aus der Reflektorstellung (1 oder 2) durch
die Meßwerksöffnung (7) gegen die betrachtete Referenzfläche strahlt und je
nach der Beschaffenheit der Referenzfläche reflektiert diese Fläche den
Lichtstrom in den Spiegel (4), welcher dann diesen Lichtstrom in den
Fluoreszenzkollektor (3) leitet. Ein Teil des auf den Fluoreszenzkollektor (3)
fallenden Lichtstromes (etwa 15%) wird von dem Fluoreszenzfarbstoff
absorbiert und mit seiner charakteristischen Farbe wieder abgestrahlt. Das
verbleibende Fluoreszenzlicht (24) (ca. 85%) bleibt aufgrund der Total
reflektion zum größten Teil in der Fluoreszenzplatte (3) gefangen und wird
zickzackförmig zwischen Ober- und Unterseite der Fluoreszenzplatte (3) hin-
und hergespiegelt (Fig. 2), bis es an einer Kante oder einer anderen Störung
der Oberfläche (z. B. Gravuren, Wassertropfen, Fettflecken oder auch
hintermalte Zeichen) den Fluoreszenzkollektor verläßt. Erfindungsgemaß wird
mit einem Spiegelrahmen (11) die Fluoreszenzplatte (3) an drei Seiten
verspiegelt. Die vierte Seite wird mit einer Solarzellenleiste (10) abgedeckt,
so daß das Fluoreszenzlicht (24) von den verspiegelten drei Flächen reflektiert
wird und ausschließlich auf die Solarzellenleiste trifft. Das Fluoreszenzlicht
(24) erzeugt in der Solarzellenleiste (10) eine elektrische Spannung. Je nach
Strahlungsverhältnis von ausgestrahltem und reflektiertem Lichtstrom erhöht
oder vermindert sich die elektrische Spannung in der Solarzellenleiste (10).
Die vorbenannte Konstellation arbeitet nach zwei lichttechnischen Gesetzen:
Bei glatten Flächen verhält sich die Lichtstrahlung gleich Einfallswinkel gleich Ausfallswinkel. Bei diffusen Flächen verhält sich die Lichtstrahlung gleich Einfallswinkel gleich 67,5 Grad, Ausfallswinkel gleich 45 Grad. Dieses Gesetz wird mittels Winkelversteller (16) am Meßwerk (23) von außen bedienbar umgesetzt. Der Drehschenkel (18) und die Reflektorführung (21) hält den Reflektor (1, 2) in der gewählten Gradstellung. Die Reflektorverstellung (9) führt die Reflektor Position (15) bzw. (15.1) und wird durch die Rastfeder (17) fixiert. Die Solarzellenleiste (10) wird an ein Verstärker (12) geschaltet, an dieser ebenfalls der einstellbare Widerstand (22) und das Zeigerinstrument (13) nachgeschaltet ist. Der Zellenblock (5 + 6) liefert die Spannung für die elektronische Schaltung, welche über den Schalter (14) ein- bzw. ausgeschaltet werden kann.
Bei glatten Flächen verhält sich die Lichtstrahlung gleich Einfallswinkel gleich Ausfallswinkel. Bei diffusen Flächen verhält sich die Lichtstrahlung gleich Einfallswinkel gleich 67,5 Grad, Ausfallswinkel gleich 45 Grad. Dieses Gesetz wird mittels Winkelversteller (16) am Meßwerk (23) von außen bedienbar umgesetzt. Der Drehschenkel (18) und die Reflektorführung (21) hält den Reflektor (1, 2) in der gewählten Gradstellung. Die Reflektorverstellung (9) führt die Reflektor Position (15) bzw. (15.1) und wird durch die Rastfeder (17) fixiert. Die Solarzellenleiste (10) wird an ein Verstärker (12) geschaltet, an dieser ebenfalls der einstellbare Widerstand (22) und das Zeigerinstrument (13) nachgeschaltet ist. Der Zellenblock (5 + 6) liefert die Spannung für die elektronische Schaltung, welche über den Schalter (14) ein- bzw. ausgeschaltet werden kann.
Bezugszeichenliste
1 Reflektor 45 Grad-Stellung
2 Reflektor 67,5 Grad-Stellung
3 Fluoreszenzkollektor, bzw. Fluoreszenzplatte
4 Spiegel
5 Batterie-Block für Pos. 19. (3 × Mignon 115 V)
6 Zelle für Pos. 12 (1 × Mignon 1,5 V)
7 Meßwerksöffnung
8 Umlaufende Moosgummi-Dichtung
9 Reflektorverstellung 45-67,5 Grad
10 Solarzellenleiste
11 Spiegel-Rahmen
12 Verstärker
13 Zeigerinstrument
14 Schalter
15 Reflektor Position 45 Grad
16 Reflektor Position 67,5 Grad
17 Rastfeder für Winkelposition
18 Drehschenkel
19 Mini Watt Halogenlampe 5,2 V, 0,5 A
20 Filzdichtung
21 Reflektorführung
22 Einstellbarer Widerstand
23 Meßwerk
24 Fluoreszenzlicht
25 Molekül
2 Reflektor 67,5 Grad-Stellung
3 Fluoreszenzkollektor, bzw. Fluoreszenzplatte
4 Spiegel
5 Batterie-Block für Pos. 19. (3 × Mignon 115 V)
6 Zelle für Pos. 12 (1 × Mignon 1,5 V)
7 Meßwerksöffnung
8 Umlaufende Moosgummi-Dichtung
9 Reflektorverstellung 45-67,5 Grad
10 Solarzellenleiste
11 Spiegel-Rahmen
12 Verstärker
13 Zeigerinstrument
14 Schalter
15 Reflektor Position 45 Grad
16 Reflektor Position 67,5 Grad
17 Rastfeder für Winkelposition
18 Drehschenkel
19 Mini Watt Halogenlampe 5,2 V, 0,5 A
20 Filzdichtung
21 Reflektorführung
22 Einstellbarer Widerstand
23 Meßwerk
24 Fluoreszenzlicht
25 Molekül
Claims (7)
1. Meßwerk (23) für die Ermittlung der Reflektionseigenschaften von Raumbe
grenzungsflächen oder anderen Flächen, welche in die lichttechnische
Berechnung einbezogen werden müssen und nach dem folgenden Prinzip
arbeitet: Auftreffender Lichtstrom aus einer fokussierten Spiegeloptik auf
eine definierte Fläche, begrenzt durch Meßwerksöffnung (7). Die Leucht
dichtereflektion der definierten Fläche wird abgelenkt über einen Spiegel in
einem Fluoreszenzkollektor.
2. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Reflektorstellung (1) jeweils das lichttechnische Gesetz: Einfallswinkel
gleich Ausfallswinkel für glatte, plane Fläche meßtechnisch bearbeitet und
die Reflektorstellung (2) das lichttechnische Gesetz: Einfallswinkel 67,5
Grad gleich Ausfallswinkel 45 Grad, das Reflektionsgesetz für diffuse und
rauhe Fläche zeichnet.
3. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
Spiegel (4) die Leuchtdichtereflektion einer zu messenden definierten
Fläche 1 zu 1 reflektiert und in den Fluoreszenzkollektor leitet.
4. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
Fluoreszenzkollektor die Leuchtdichtereflektion über seine Fläche aufnimmt
und nur über seine unverspiegelte Kante in die Solarzellenleiste richtet.
5. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Meßwerkswandung schwarz lackiert oder eingefärbt ist und somit die echte
Leuchtdichtereflektion im Fluoreszenzkollektor wirksam ist.
6. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
Fluoreszenzkollektor zur Meßwerksöffnung (7) lichttechnisch direkt
abgeschottet ist und nur über den Spiegel (4) lichttechnisch wirksam ist.
7. Meßwerk nach dem Schutzanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Solarzellenleiste (10) direkt auf eine elektronische Schaltung wirksam ist
und dadurch die Leuchtdichtereflektion in elektrische Energie umsetzt.
Dieses Signal wird dann in ein Analog-Feinmeßwerk geführt und zeigt die
Reflektion direkt in Prozent an.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4424502A DE4424502C2 (de) | 1994-07-12 | 1994-07-12 | Reflexionsmesswerk |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4424502A DE4424502C2 (de) | 1994-07-12 | 1994-07-12 | Reflexionsmesswerk |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4424502A1 true DE4424502A1 (de) | 1996-01-18 |
DE4424502C2 DE4424502C2 (de) | 2000-12-21 |
Family
ID=6522914
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4424502A Expired - Fee Related DE4424502C2 (de) | 1994-07-12 | 1994-07-12 | Reflexionsmesswerk |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4424502C2 (de) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1944088U (de) * | 1966-06-16 | 1966-08-11 | Bayer Ag | Vorrichtung zur beurteilung der glanzeigenschaften von oberflaechen. |
US4830504A (en) * | 1987-06-24 | 1989-05-16 | Measurex Corporation | Gloss gauge |
-
1994
- 1994-07-12 DE DE4424502A patent/DE4424502C2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4424502C2 (de) | 2000-12-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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8122 | Nonbinding interest in granting licences declared | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: BRAUN, UWE PETER, DIPL.-ING., 19309 LENZEN, DE |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |